JPH0332745B2 - - Google Patents
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- JPH0332745B2 JPH0332745B2 JP57211164A JP21116482A JPH0332745B2 JP H0332745 B2 JPH0332745 B2 JP H0332745B2 JP 57211164 A JP57211164 A JP 57211164A JP 21116482 A JP21116482 A JP 21116482A JP H0332745 B2 JPH0332745 B2 JP H0332745B2
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- magnetic field
- field strength
- mass
- ion
- computer
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- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁場型質量分析計における磁場強度設
定装置に関し、特に磁場型質量分析計でマスフラ
グメントグラフイを行う場合に適する磁場強度設
定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a magnetic field strength setting device for a magnetic field type mass spectrometer, and particularly to a magnetic field strength setting device suitable for performing mass fragment graphing in a magnetic field type mass spectrometer.
磁場型質量分析計を用いてマスフラグメントグ
ラフイを行う場合、磁場強度を或る特定の質量の
イオンのピークが検出器スリツトの中心に来るよ
うに設定し、イオン加速電圧を切換えて、検出し
ようとする幾つかのフラグメントイオンが検出器
スリツトに到達するように段階的な質量走作を行
う。本発明はこのような場合に、磁場強度をデイ
ジタル方式で制御する装置において、特定質量の
イオンのピークが検出器スリツト位置に来るよう
に磁場強度を設定する装置を提供するものであ
る。 When performing mass fragment graphing using a magnetic field mass spectrometer, set the magnetic field strength so that the peak of an ion with a certain mass is at the center of the detector slit, and then switch the ion acceleration voltage to detect it. Stepwise mass scanning is performed so that some fragment ions reach the detector slit. In such a case, the present invention provides a device that digitally controls the magnetic field strength and sets the magnetic field strength so that the peak of ions of a specific mass is located at the detector slit position.
特定の質量のイオンのピークが検出器スリツト
位置に来るように磁場強度を設定するには磁場強
度を変えながら質量分析計に質量既知の標準試料
を導入し、その試料のイオンピークが検出器によ
り検出された所で磁場強度を固定(マスロツク)
する。このとき磁場強度がデイジタル方式で制御
されていると磁場強度は段階的に変化して行くた
め、イオンピークの中心と検出器スリツトの中心
がうまく一致すると云うことは希で通常は最大デ
イジタル制御の一ビツト分に相当するだけの磁場
強度のずれが出来、それに伴つて標準試料のイオ
ンピークも正しい位置よりずれる。標準試料のイ
オンピークに対してこのようなずれがあると、分
析しようとする試料のフラグメントイオンのピー
ク位置も同じずれを生じ、イオン強度の測定に誤
差を生ずる。 To set the magnetic field strength so that the ion peak of a specific mass is located at the detector slit position, introduce a standard sample of known mass into the mass spectrometer while changing the magnetic field strength, and then Fix the magnetic field strength at the detected location (Maslock)
do. At this time, if the magnetic field strength is controlled digitally, the magnetic field strength changes stepwise, so it is rare for the center of the ion peak to coincide with the center of the detector slit. There is a shift in the magnetic field strength equivalent to one bit, and the ion peak of the standard sample also shifts from its correct position. If there is such a shift with respect to the ion peak of the standard sample, the peak position of the fragment ion of the sample to be analyzed will also be shifted, causing an error in the measurement of ion intensity.
本発明は磁場強度をデイジタル制御する場合に
上述したマスロツクにおいて生ずる磁場設定のず
れを補正する装置を提供しようとするものであ
る。以下実施例によつて本発明を説明する。 The present invention seeks to provide a device for correcting deviations in the magnetic field settings that occur in the above-mentioned mass lock when the magnetic field strength is digitally controlled. The present invention will be explained below with reference to Examples.
図は本発明の一実施例を示す。1はガスクロマ
トグラフ、2はガスクロマトグラフと質量分析計
とを接続するためのインターフエイスで具体的に
はガスクロマトブラフの流出ガスからキヤリヤガ
スを除去して試料成分を濃縮するための分子セパ
レータ等である。3は質量分析計のイオン源で試
料イオン化室とイオン加速電極等より成つてい
る。4は質量分析用磁場を発生するマグネツト、
5はイオン検出器である。6はマグネツト4の励
磁電流供給電源で、コントローラ7によつて出力
電流が制御される。8は制御用コンピユータで、
同コンピユータから磁場制御信号が出され、D/
A変換器D/A2でアナログ信号に変換されてコ
ントローラ7に入力され、マグネツト4によつて
形成される磁場強度がコンピユータ8によつて指
示された値に制御される。9は磁場検出用センサ
でマグネツト4によつて形成される磁場強度い応
じた信号が出力され、この信号は増幅器A1を経
てA/D変換器A/D1でデイジタル化されコン
ピユータ8に入力される。コンピユータ8はこの
デイジタル信号を2乗して質量数の信号に変換す
る。センサ9の出力を質量数に応じた信号に変換
するための2乗手段は増幅器A1からコンピユー
タ8まで間に介在させてもよい。何れの方式によ
る場合でもセンサ9の出力から換算された質量数
が表示装置10に表示される。11はラツチ回路
でコンピユータ8からラツチ信号が出されたとき
のA/D1の出力を読み込みホールドする。 The figure shows an embodiment of the invention. 1 is a gas chromatograph, and 2 is an interface for connecting the gas chromatograph and a mass spectrometer, specifically a molecular separator for removing carrier gas from the gas flowing out of the gas chromatograph and concentrating sample components. . 3 is the ion source of the mass spectrometer, which consists of a sample ionization chamber, an ion accelerating electrode, etc. 4 is a magnet that generates a magnetic field for mass spectrometry;
5 is an ion detector. Reference numeral 6 denotes an excitation current supply power source for the magnet 4, and the output current is controlled by a controller 7. 8 is a control computer;
A magnetic field control signal is output from the same computer, and the D/
The signal is converted into an analog signal by the A converter D/A2 and inputted to the controller 7, and the magnetic field strength formed by the magnet 4 is controlled to a value specified by the computer 8. Reference numeral 9 denotes a magnetic field detection sensor which outputs a signal corresponding to the strength of the magnetic field formed by the magnet 4. This signal passes through an amplifier A1, is digitized by an A/D converter A/D1, and is input to a computer 8. . The computer 8 squares this digital signal and converts it into a mass number signal. A squaring means for converting the output of the sensor 9 into a signal corresponding to the mass number may be interposed between the amplifier A1 and the computer 8. Regardless of which method is used, the mass number converted from the output of the sensor 9 is displayed on the display device 10. A latch circuit 11 reads and holds the output of the A/D 1 when a latch signal is issued from the computer 8.
以下マスロツクの動作説明と併せて第1図の回
路構成を説明する。装置をスタートさせるとコン
ピユータ8から基準イオン加速電圧信号が出力さ
れ、D/A変換器D/A3を経てイオン加速高圧
電源制御回路12に送られ、同回路はコンピユー
タ8からのこの指示によつてイオン加速高圧電源
13を制御しイオン源3に基準イオン加速電圧を
印加させる。コンピユータ8に標準試料の質量を
指示すると、コンピユータ8はそれに応じた磁場
制御信号をD/A2に出力しマグネツト4により
この磁場制御信号によつて指示された強度の磁場
が形成される。コンピユータ8から出力される磁
場制御信号によつて設定される磁場強度は第2図
に示すような段階的な飛びとびの値であり、標準
試料の質量Moに相当する磁場Boに最も近い磁場
強度B′になる。プログラムの作り方によつて常
にB′<Bo或いはB′>Boとなるようにすること
も、もつと進んだ形でBoが上下2つの磁場強度
の何れに近いかを判定して近い方の磁場強度に設
定されるようにすることもできる。次にイオン源
3に標準試料を導入する。標準試料のイオンがイ
オン検出器5で検出され、その検出出力は増幅器
14、A/D変換器15を経て表示器16により
表示されると共にコンピユータ8に入力される。
マグネツト4の磁場を検出するセンサ9の出力は
増幅器A1を経て誤差増幅器Cに入力され、Cの
出力がA/D1、ラツチ回路11、D/A変換器
D/Aoを介してCに負帰還されている。従つて
ラツチ回路11にラツチ信号が印加される以前に
おいては誤差増幅器Cは単なるバツフア増幅器と
して機能しており、A/D1の出力はマグネツト
4の磁場強度をデイジタルデータに変換したもの
である。そこでマニユアルコントローラ17を操
作して±の適当な電圧を加算器Ad1に入力する
とマグネツト4の磁場強度が連続的に変化しイオ
ン検出強度が変るから、イオン検出強度が最大に
なるようにマニユアルコントローラ17を調整す
る。このときのマグネツト4の磁場強度が標準試
料の質量に対応するものであるから、こゝでラツ
チ回路11にラツチ信号を送り、そのときの磁場
強度のデータをホールドさせる。次にスイツチS
1を接点b側に切換えると、マグネツト4、セン
サ9、誤差増幅器C、バツフア18、スイツチS
1、コントローラ7、電源6、マグネツト4のフ
イードバツク回路により磁場強度はラツチ回路1
1にホールドされた値に保持されることになり、
マスロツクの動作が完了する。 The circuit configuration shown in FIG. 1 will be explained below along with an explanation of the operation of the mass lock. When the apparatus is started, a reference ion accelerating voltage signal is output from the computer 8 and sent to the ion accelerating high voltage power supply control circuit 12 via the D/A converter D/A3. The ion accelerating high voltage power supply 13 is controlled to apply a reference ion accelerating voltage to the ion source 3. When the mass of the standard sample is instructed to the computer 8, the computer 8 outputs a corresponding magnetic field control signal to the D/A 2, and the magnet 4 forms a magnetic field of the intensity specified by the magnetic field control signal. The magnetic field strength set by the magnetic field control signal output from the computer 8 is a stepwise jump value as shown in Figure 2, and the magnetic field strength is closest to the magnetic field Bo corresponding to the mass Mo of the standard sample. Becomes B′. Depending on how you write the program, you can always set B′<Bo or B′>Bo, or in a more advanced form, determine which of the two magnetic field strengths Bo is closer to, and select the magnetic field that is closer to it. It can also be set to high intensity. Next, a standard sample is introduced into the ion source 3. Ions of the standard sample are detected by the ion detector 5, and the detection output is displayed on the display 16 via the amplifier 14 and the A/D converter 15, and is also input to the computer 8.
The output of the sensor 9 that detects the magnetic field of the magnet 4 is input to the error amplifier C via the amplifier A1, and the output of C is negatively fed back to C via the A/D1, latch circuit 11, and D/A converter D/Ao. has been done. Therefore, before the latch signal is applied to the latch circuit 11, the error amplifier C functions simply as a buffer amplifier, and the output of the A/D 1 is the magnetic field strength of the magnet 4 converted into digital data. Therefore, when the manual controller 17 is operated to input an appropriate voltage of ± to the adder Ad1, the magnetic field strength of the magnet 4 changes continuously and the ion detection strength changes. Adjust. Since the magnetic field strength of the magnet 4 at this time corresponds to the mass of the standard sample, a latch signal is sent to the latch circuit 11 to hold the data of the magnetic field strength at that time. Next, switch S
When switch 1 is switched to contact b side, magnet 4, sensor 9, error amplifier C, buffer 18, switch S
1. The magnetic field strength is controlled by the latch circuit 1 due to the feedback circuit of the controller 7, power supply 6, and magnet 4.
It will be held at the value held at 1,
Maslock operation is completed.
上の説明は標準試料のイオンの検出信号が最大
になるように手動調整する構成であるが、スイツ
チS2を接点b側に切換え、コンピユータ8が第
2図のBoとB′との差に相当する磁場制御信号量
を演算し、このデータをD/A変換器D/A1を
通して加算器Ad1に送るようにしてもよい。 In the above explanation, the configuration is manually adjusted so that the detection signal of the ions of the standard sample is maximized, but switch S2 is switched to contact b side, and computer 8 is adjusted to correspond to the difference between Bo and B' in Fig. 2. The magnetic field control signal amount may be calculated and this data may be sent to the adder Ad1 through the D/A converter D/A1.
本発明によれば、磁場強度がコンピユータ制御
で段階的に設定される場合において、基準質量に
対応する磁場強度が段階的に設定される磁場強度
の中間にあつても、所定の磁場強度が精度よく設
定できるので、マスフラグメントグラフイの分析
精度が向上する。 According to the present invention, when the magnetic field strength is set stepwise by computer control, even if the magnetic field strength corresponding to the reference mass is in the middle of the stepwise set magnetic field strengths, the predetermined magnetic field strength can be set accurately. Since it can be easily configured, the analysis accuracy of mass fragment graphing is improved.
第1図は本発明の一実施例装置のブロツク図、
第2図はコンピユータにより設定される磁場強度
のグラフである。
FIG. 1 is a block diagram of an apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a graph of the magnetic field strength set by the computer.
Claims (1)
に、所定の質量に相当する磁場強度との差を検出
し、上記段階的に磁場強度を設定する磁場制御値
信号に上記差に相当する補正制御値信号を加えた
信号によつて磁場設定を行うことを特徴とする質
量分析計における磁場設定装置。1. Set the magnetic field strength for mass spectrometry in stages, detect the difference from the magnetic field strength corresponding to a predetermined mass, and apply correction control corresponding to the difference to the magnetic field control value signal that sets the magnetic field strength in stages. A magnetic field setting device for a mass spectrometer, characterized in that the magnetic field is set by a signal including a value signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211164A JPS5999349A (en) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | Magnetic field setting apparatus for mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211164A JPS5999349A (en) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | Magnetic field setting apparatus for mass spectrometer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5999349A JPS5999349A (en) | 1984-06-08 |
| JPH0332745B2 true JPH0332745B2 (en) | 1991-05-14 |
Family
ID=16601456
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57211164A Granted JPS5999349A (en) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | Magnetic field setting apparatus for mass spectrometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5999349A (en) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5914861B2 (en) * | 1979-12-20 | 1984-04-06 | 日本電子株式会社 | mass spectrometer |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP57211164A patent/JPS5999349A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5999349A (en) | 1984-06-08 |
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