JPH0333019Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0333019Y2 JPH0333019Y2 JP2609282U JP2609282U JPH0333019Y2 JP H0333019 Y2 JPH0333019 Y2 JP H0333019Y2 JP 2609282 U JP2609282 U JP 2609282U JP 2609282 U JP2609282 U JP 2609282U JP H0333019 Y2 JPH0333019 Y2 JP H0333019Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- connector
- contact resistance
- measured
- scanners
- terminals
- Prior art date
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- Expired
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、プリント板用のコネクタの接触抵抗
を測定する接触抵抗測定装置の改良に関するもの
である。
を測定する接触抵抗測定装置の改良に関するもの
である。
従来、コネクタの接触抵抗を測定するために
は、コネクタに任意のプリント板を挿入するとと
もに、この時のプリント板側の接点パターンとコ
ネクタ側の端子との間の抵抗を各端子毎に測定
し、各端子の接触抵抗としていた。しかしなが
ら、このような測定方法においては、定電流源や
電圧計などの抵抗測定回路の配線における接触抵
抗の影響をなくすために、これらの配線は全てハ
ンダ付けにより行なわなければならず、1つ1つ
測定点を移動させてコネクタの全端子について測
定を行なうには非常に多くの工数を必要とした。
は、コネクタに任意のプリント板を挿入するとと
もに、この時のプリント板側の接点パターンとコ
ネクタ側の端子との間の抵抗を各端子毎に測定
し、各端子の接触抵抗としていた。しかしなが
ら、このような測定方法においては、定電流源や
電圧計などの抵抗測定回路の配線における接触抵
抗の影響をなくすために、これらの配線は全てハ
ンダ付けにより行なわなければならず、1つ1つ
測定点を移動させてコネクタの全端子について測
定を行なうには非常に多くの工数を必要とした。
本考案は、上記のような従来装置の欠点をなく
し、ハンダ付けにより1つ1つ測定点を移動させ
る必要がなく、全端子の接触抵抗を効率良く測定
することのできるコネクタの接触抵抗測定装置を
簡単な構成により実現することを目的としたもの
である。
し、ハンダ付けにより1つ1つ測定点を移動させ
る必要がなく、全端子の接触抵抗を効率良く測定
することのできるコネクタの接触抵抗測定装置を
簡単な構成により実現することを目的としたもの
である。
本考案のコネクタの接触抵抗測定装置は、全て
の接点パターンが短絡されたプリント板を被測定
コネクタに挿入し、コネクタの全ての端子間で測
定した測定データを演算処理することにより各端
子における接触抵抗を知ることができるように構
成するとともに、測定する端子の選択を2つのス
キヤナを用いて自動的に行ない、接触抵抗の測定
をコネクタの端子側から効率良く行なうようにし
たものである。
の接点パターンが短絡されたプリント板を被測定
コネクタに挿入し、コネクタの全ての端子間で測
定した測定データを演算処理することにより各端
子における接触抵抗を知ることができるように構
成するとともに、測定する端子の選択を2つのス
キヤナを用いて自動的に行ない、接触抵抗の測定
をコネクタの端子側から効率良く行なうようにし
たものである。
以下、図面を用いて本考案のコネクタの接触抵
抗測定装置を説明する。
抗測定装置を説明する。
第1図は本考案のコネクタの接触抵抗測定装置
に使用されるプリント板の一実施例を示す構成図
である。図において、PBはプリント板、t1〜toは
全て短絡された接点パターンである。CNは被測
定コネクタ、T1〜Toはその端子である。図のよ
うなプリント板PBをコネクタCNい挿入した場
合、各端子T1〜Toにおける接触抵抗は次のよう
にして求めることができる。いま、各端子T1〜
Toにおける接触抵抗をそれぞれr1〜roとすると、
電圧降下法で測定した端子T1,T2間の電圧降下
V12は次式のように表わされる。
に使用されるプリント板の一実施例を示す構成図
である。図において、PBはプリント板、t1〜toは
全て短絡された接点パターンである。CNは被測
定コネクタ、T1〜Toはその端子である。図のよ
うなプリント板PBをコネクタCNい挿入した場
合、各端子T1〜Toにおける接触抵抗は次のよう
にして求めることができる。いま、各端子T1〜
Toにおける接触抵抗をそれぞれr1〜roとすると、
電圧降下法で測定した端子T1,T2間の電圧降下
V12は次式のように表わされる。
V12=(r1+r2)I1 (1)
また、同様にして、端子T2,T3間、端子T3,T1
間では、 V23=(r2+r3)I2 (2) V31=(r3+r1)I3 (3) となる。ここで、電流I1〜I3を一定電流とすれ
ば、(1)式〜(3)式の連立方程式により、接触抵抗r1
〜r3の値を求めることができる。
間では、 V23=(r2+r3)I2 (2) V31=(r3+r1)I3 (3) となる。ここで、電流I1〜I3を一定電流とすれ
ば、(1)式〜(3)式の連立方程式により、接触抵抗r1
〜r3の値を求めることができる。
このようにして接触抵抗r1〜r3の値が求められ
れば、以下、既知の抵抗を含む端子間、例えば端
子T1,To間で測定を行なうことにより、簡単に
接触抵抗の値を求めることができる。
れば、以下、既知の抵抗を含む端子間、例えば端
子T1,To間で測定を行なうことにより、簡単に
接触抵抗の値を求めることができる。
第2図は従来のコネクタの接触抵抗測定装置の
一実施例を示す構成図である。図において、プリ
ント板PBおよび被測定コネクタCNは等価回路で
示す。r1〜roはコネクタCNにおける端子T1〜To
の接触抵抗である。また、SC1,SC2はスキヤナ、
CCは定電流源、VMは高入力インピーダンスを
有する電圧計、CONはスキヤナSC1,SC2におけ
る接点の選択動作を制御する制御回路、CMPは
スキヤナSC1,SC2の選択状態に応じて電圧計
VMより得られる出力Voを演算処理してコネク
タCNにおける接触抵抗r1〜roの値を算出するデ
ータ処理回路である。定電流源CCおよび電圧計
VMのリード線はそれぞれスキヤナSC1,SC2を
介してコネクタCNの端子T1〜Toに接続されてお
り、電圧計VMの出力Voはデータ処理回路CMP
に印加されている。制御回路CONはスキヤナ
SC1,SC2にどの接点を選択接続すべきかの指令
を与えるとともに、スキヤナSC1,SC2がどの接
点を選択しているのかの情報をデータ処理回路
CMPに伝達する。
一実施例を示す構成図である。図において、プリ
ント板PBおよび被測定コネクタCNは等価回路で
示す。r1〜roはコネクタCNにおける端子T1〜To
の接触抵抗である。また、SC1,SC2はスキヤナ、
CCは定電流源、VMは高入力インピーダンスを
有する電圧計、CONはスキヤナSC1,SC2におけ
る接点の選択動作を制御する制御回路、CMPは
スキヤナSC1,SC2の選択状態に応じて電圧計
VMより得られる出力Voを演算処理してコネク
タCNにおける接触抵抗r1〜roの値を算出するデ
ータ処理回路である。定電流源CCおよび電圧計
VMのリード線はそれぞれスキヤナSC1,SC2を
介してコネクタCNの端子T1〜Toに接続されてお
り、電圧計VMの出力Voはデータ処理回路CMP
に印加されている。制御回路CONはスキヤナ
SC1,SC2にどの接点を選択接続すべきかの指令
を与えるとともに、スキヤナSC1,SC2がどの接
点を選択しているのかの情報をデータ処理回路
CMPに伝達する。
上記のように構成された本考案のコネクタの接
触抵抗測定装置において、例えば、スキヤナSC1
がコネクタCNの端子T1を選択し、スキヤナSC2
が端子T2を選択したとすると、電圧計VMの出
力Voは次式のように接触抵抗r1,r2に関するもの
となる。
触抵抗測定装置において、例えば、スキヤナSC1
がコネクタCNの端子T1を選択し、スキヤナSC2
が端子T2を選択したとすると、電圧計VMの出
力Voは次式のように接触抵抗r1,r2に関するもの
となる。
Vo=(r1+r2)Io (4)
したがつて、スキヤナSC1,SC2の選択状態を
制御して、任意の端子間の電圧降下を測定するこ
とにより、前記第1図にもとづいて説明したよう
に、各接触抵抗r1〜roの値を求めることができ
る。なお、スキヤナSC1,SC2は同時に同じ端子
T1〜Toを選択することはない。また、スキヤナ
SC1,SC2における接点抵抗は電圧計VMの入力
インピーダンスが高いために、問題とはならな
い。
制御して、任意の端子間の電圧降下を測定するこ
とにより、前記第1図にもとづいて説明したよう
に、各接触抵抗r1〜roの値を求めることができ
る。なお、スキヤナSC1,SC2は同時に同じ端子
T1〜Toを選択することはない。また、スキヤナ
SC1,SC2における接点抵抗は電圧計VMの入力
インピーダンスが高いために、問題とはならな
い。
このように、コネクタCNにおける端子T1〜To
の選択をスキヤナSC1,SC2を使用して行なうよ
うにすると、スキヤナSC1,SC2とコネクタCNの
端子T1〜Toとの間を全て最初から接続しておく
ことができ、測定中に配線を付け換える必要がな
くなるので、測定を効率良く行なうことができ
る。
の選択をスキヤナSC1,SC2を使用して行なうよ
うにすると、スキヤナSC1,SC2とコネクタCNの
端子T1〜Toとの間を全て最初から接続しておく
ことができ、測定中に配線を付け換える必要がな
くなるので、測定を効率良く行なうことができ
る。
以上説明したように本考案のコネクタの接触抵
抗測定装置では、全ての接点パターンが短絡され
たプリント板を使用して、接触抵抗の測定をコネ
クタの端子側で行なえるように構成するととも
に、測定する端子の選択をスキヤナを使用して行
なうようにしているので、コネクタの端子に対す
る配線を全て事前に済ませておくことができ、ハ
ンダ付けにより1つ1つ測定点を移動させる必要
がなく、全端子の接触抵抗を効率良く測定するこ
とのできるコネクタの接触抵抗測定装置を簡単な
構成により実現することができる。
抗測定装置では、全ての接点パターンが短絡され
たプリント板を使用して、接触抵抗の測定をコネ
クタの端子側で行なえるように構成するととも
に、測定する端子の選択をスキヤナを使用して行
なうようにしているので、コネクタの端子に対す
る配線を全て事前に済ませておくことができ、ハ
ンダ付けにより1つ1つ測定点を移動させる必要
がなく、全端子の接触抵抗を効率良く測定するこ
とのできるコネクタの接触抵抗測定装置を簡単な
構成により実現することができる。
第1図および第2図は本考案のコネクタの接触
抵抗測定装置の一実施例を示す構成図である。 PB……プリント板、CN……被測定コネクタ、
r1〜ro……接触抵抗、SC1,SC2……スキヤナ、
CC……定電流源、VM……電圧計、CON……制
御回路、CMP……データ処理回路。
抵抗測定装置の一実施例を示す構成図である。 PB……プリント板、CN……被測定コネクタ、
r1〜ro……接触抵抗、SC1,SC2……スキヤナ、
CC……定電流源、VM……電圧計、CON……制
御回路、CMP……データ処理回路。
Claims (1)
- 被測定コネクタに挿入されるとともに全ての接
点パターンが短絡されたプリント板と、定電流源
と、高入力インピーダンスを有する電圧計と、前
記定電流源と前記電圧計の一端および他端をそれ
ぞれ前記被測定コネクタの任意の端子に接続する
第1および第2のスキヤナと、前記第1および第
2のスキヤナの選択動作を制御する制御回路と、
前記第1および第2のスキヤナの選択状態に応じ
て得られる電圧計出力を演算処理して前記被測定
コネクタの各端子における接触抵抗の値を算出す
るデータ処理回路とを具備してなるコネクタの接
触抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2609282U JPS58129159U (ja) | 1982-02-25 | 1982-02-25 | コネクタの接触抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2609282U JPS58129159U (ja) | 1982-02-25 | 1982-02-25 | コネクタの接触抵抗測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58129159U JPS58129159U (ja) | 1983-09-01 |
| JPH0333019Y2 true JPH0333019Y2 (ja) | 1991-07-12 |
Family
ID=30038045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2609282U Granted JPS58129159U (ja) | 1982-02-25 | 1982-02-25 | コネクタの接触抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58129159U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6262008B2 (ja) * | 2014-02-14 | 2018-01-17 | 株式会社富士通テレコムネットワークス福島 | 接触抵抗測定システム |
-
1982
- 1982-02-25 JP JP2609282U patent/JPS58129159U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58129159U (ja) | 1983-09-01 |
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