JPH033309B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH033309B2 JPH033309B2 JP18239884A JP18239884A JPH033309B2 JP H033309 B2 JPH033309 B2 JP H033309B2 JP 18239884 A JP18239884 A JP 18239884A JP 18239884 A JP18239884 A JP 18239884A JP H033309 B2 JPH033309 B2 JP H033309B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic head
- vibration
- magnetic
- light
- interference fringes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B5/60—Fluid-dynamic spacing of heads from record-carriers
- G11B5/6005—Specially adapted for spacing from a rotating disc using a fluid cushion
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
Landscapes
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Supporting Of Heads In Record-Carrier Devices (AREA)
- Moving Of Heads (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
情報処理システムにおける外部記憶装置として
使用される磁気デイスク装置においては、高速回
転している磁気記録媒体に対して磁気ヘツドが１
〜0.2μｍ程度の極めて小さなギヤツプをおいて対
向した状態で、情報リード・ライトが行なわれ
る。ところが磁気デイスク装置は、磁気記録媒体
がモータによつて回転駆動され、かつ磁気ヘツド
を目的のトラツクにシークするために、磁気ヘツ
ドを移動させるアクチユエータ機構などが装備さ
れている。そのため磁気デイスク装置が振動し、
この振動と磁気ヘツドが共振すると、磁気ヘツド
が磁気記録媒体に接触して、ヘツドクラツシユを
招く恐れがある。そこで磁気ヘツドの振動特性を
測定し、磁気ヘツドの共振周波数などを検出し、
磁気デイスク装置の共振周波数からずらしたおく
ことが必要となる。本発明は、このような用途に
使用される磁気ヘツドの振動測定方法に関する。
使用される磁気デイスク装置においては、高速回
転している磁気記録媒体に対して磁気ヘツドが１
〜0.2μｍ程度の極めて小さなギヤツプをおいて対
向した状態で、情報リード・ライトが行なわれ
る。ところが磁気デイスク装置は、磁気記録媒体
がモータによつて回転駆動され、かつ磁気ヘツド
を目的のトラツクにシークするために、磁気ヘツ
ドを移動させるアクチユエータ機構などが装備さ
れている。そのため磁気デイスク装置が振動し、
この振動と磁気ヘツドが共振すると、磁気ヘツド
が磁気記録媒体に接触して、ヘツドクラツシユを
招く恐れがある。そこで磁気ヘツドの振動特性を
測定し、磁気ヘツドの共振周波数などを検出し、
磁気デイスク装置の共振周波数からずらしたおく
ことが必要となる。本発明は、このような用途に
使用される磁気ヘツドの振動測定方法に関する。
従来の磁気ヘツドの振動測定方法は、磁気記録
媒体に予め試験用の信号を記録しておき、浮上状
態の磁気ヘツドに振動を加えながら、該試験パタ
ーンを続取り、その時の出力の変動を電気的に処
理することで、振動特性を検出していた。
媒体に予め試験用の信号を記録しておき、浮上状
態の磁気ヘツドに振動を加えながら、該試験パタ
ーンを続取り、その時の出力の変動を電気的に処
理することで、振動特性を検出していた。
しかしながらこのような方法では、磁気記録媒
体に記録された試験パターンを続取り、その出力
特性で振動特性を検出するという間接的な方法な
ため、該差が介在する要素があり、正確な測定に
は適しない。最近のように、磁気ヘツドの浮上量
が微小になると、磁気ヘツドの振動特性の測定も
極めて高精度に行う必要があり、更に高精度の磁
気ヘツドの振動測定方法が要求されている。
体に記録された試験パターンを続取り、その出力
特性で振動特性を検出するという間接的な方法な
ため、該差が介在する要素があり、正確な測定に
は適しない。最近のように、磁気ヘツドの浮上量
が微小になると、磁気ヘツドの振動特性の測定も
極めて高精度に行う必要があり、更に高精度の磁
気ヘツドの振動測定方法が要求されている。
本発明の技術的課題は、従来の磁気ヘツドの振
動測定方法におけるこのような問題を解消し、正
確に磁気ヘツドの振動特性を測定できるようにす
ることにある。
動測定方法におけるこのような問題を解消し、正
確に磁気ヘツドの振動特性を測定できるようにす
ることにある。
この問題点は解決するために講じた本発明によ
る技術的手段は、測定光に対して透明なガラス円
板に被測定磁気ヘツドを対向させ、該ガラス円板
を磁気記録媒体と同様に高速回転させて被測定磁
気ヘツドを浮上させると共に、該磁気ヘツドを加
振装置で振動させ、浮上面に測定光を照射してそ
の反射光を、干渉縞の状態で光電変換器に入射さ
せて、電気的な信号に変換する方法を採つてい
る。
る技術的手段は、測定光に対して透明なガラス円
板に被測定磁気ヘツドを対向させ、該ガラス円板
を磁気記録媒体と同様に高速回転させて被測定磁
気ヘツドを浮上させると共に、該磁気ヘツドを加
振装置で振動させ、浮上面に測定光を照射してそ
の反射光を、干渉縞の状態で光電変換器に入射さ
せて、電気的な信号に変換する方法を採つてい
る。
この技術的手段によれば、磁気記録媒体と同様
に高速回転しているガラス円板に対し磁気ヘツド
を浮上させた状態で、浮上面に光を照射し、その
反射光を光電変換器を介して電気信号として検出
する方法を採つている。このとき磁気ヘツドの浮
上面における反射光は、浮上量に応じた干渉縞と
なるが、磁気ヘツドが振動しているため、干渉縞
も振動に同期して変動する。この干渉縞の変動
は、光電変換器は電気信号に変換され、振動状態
が電気的に検出される。
に高速回転しているガラス円板に対し磁気ヘツド
を浮上させた状態で、浮上面に光を照射し、その
反射光を光電変換器を介して電気信号として検出
する方法を採つている。このとき磁気ヘツドの浮
上面における反射光は、浮上量に応じた干渉縞と
なるが、磁気ヘツドが振動しているため、干渉縞
も振動に同期して変動する。この干渉縞の変動
は、光電変換器は電気信号に変換され、振動状態
が電気的に検出される。
次に本発明による磁気ヘツドの振動測定方法が
実際上どのように具体化されるかを実施例で説明
する。第１図は本発明による磁気ヘツドの振動測
定方法の実施例を示すブロツク図である。１は測
定光に対して透明なガラス円板であり、その下面
に被測定磁気ヘツド２が対向し、ガラス円板１の
回転による空気流で浮上している。磁気ヘツド２
はアーム３を介してアクチユエータ４に支持さ
れ、リニアモータ等の加振装置５に連結されてい
る。したがつて加振装置５によつてアクチユエー
タ４を矢印a1方向に駆動すると、磁気ヘツド２も
矢印a1方向に振動する。
実際上どのように具体化されるかを実施例で説明
する。第１図は本発明による磁気ヘツドの振動測
定方法の実施例を示すブロツク図である。１は測
定光に対して透明なガラス円板であり、その下面
に被測定磁気ヘツド２が対向し、ガラス円板１の
回転による空気流で浮上している。磁気ヘツド２
はアーム３を介してアクチユエータ４に支持さ
れ、リニアモータ等の加振装置５に連結されてい
る。したがつて加振装置５によつてアクチユエー
タ４を矢印a1方向に駆動すると、磁気ヘツド２も
矢印a1方向に振動する。
この磁気ヘツド２の浮上面に対し、ガラス円板
１の上から測定光６が照射され、ガラス円板１を
透過して磁気ヘツド２の浮上面で反射して、プリ
ズム７に入射する。そして該プリズム７を介し
て、光電変換器８に入射する。第２図イはこの状
態を示す側面図である。レンズ９を通過し、ガラ
ス円板１の上から磁気ヘツド２の浮上面１０に到
達した光は、一部はガラス円板１の下面で反射し
てプリズム７に入射し、他の一部は磁気ヘツド２
の浮上面１０で反射して、プリズム７に入射す
る。そしてこの２つの反射光が干渉し合い、第２
図ロのような、干渉縞が見られる、干渉縞は磁気
ヘツド２のガラス円板１に対する浮上量Ｇと測定
光６の周波数の関数として現れる。したがつて測
定光６の周波数と、干渉縞の次数によつて、浮上
量Ｇを検出できる。
１の上から測定光６が照射され、ガラス円板１を
透過して磁気ヘツド２の浮上面で反射して、プリ
ズム７に入射する。そして該プリズム７を介し
て、光電変換器８に入射する。第２図イはこの状
態を示す側面図である。レンズ９を通過し、ガラ
ス円板１の上から磁気ヘツド２の浮上面１０に到
達した光は、一部はガラス円板１の下面で反射し
てプリズム７に入射し、他の一部は磁気ヘツド２
の浮上面１０で反射して、プリズム７に入射す
る。そしてこの２つの反射光が干渉し合い、第２
図ロのような、干渉縞が見られる、干渉縞は磁気
ヘツド２のガラス円板１に対する浮上量Ｇと測定
光６の周波数の関数として現れる。したがつて測
定光６の周波数と、干渉縞の次数によつて、浮上
量Ｇを検出できる。
従来磁気ヘツドの浮上量試験を行うのに、この
ように反射光の干渉縞を利用し、磁気ヘツドの静
止状態の浮上量Ｇを検出ることが行なわれてい
る。本発明は、この干渉縞を利用するが、その際
前記のように加振装置５で磁気ヘツド２が振動す
る。本発明では、振動する際の光量の変化（干渉
縞の動き）を検出することで、振動特性を検出す
る。そのために、それぞれの干渉縞の境界、例え
ば干渉縞１３とその境界部１４に測定光のスポツ
ト6sを照射し、その反射光をプリズム７に入射さ
せる。このように、境界部に測定光を照射するた
め、磁気ヘツドの振動に伴つて、干渉縞も振動
し、加振装置による振動に同期して、光電変換器
８に入射する。
ように反射光の干渉縞を利用し、磁気ヘツドの静
止状態の浮上量Ｇを検出ることが行なわれてい
る。本発明は、この干渉縞を利用するが、その際
前記のように加振装置５で磁気ヘツド２が振動す
る。本発明では、振動する際の光量の変化（干渉
縞の動き）を検出することで、振動特性を検出す
る。そのために、それぞれの干渉縞の境界、例え
ば干渉縞１３とその境界部１４に測定光のスポツ
ト6sを照射し、その反射光をプリズム７に入射さ
せる。このように、境界部に測定光を照射するた
め、磁気ヘツドの振動に伴つて、干渉縞も振動
し、加振装置による振動に同期して、光電変換器
８に入射する。
このように振動に同期して変動する光量の変化
が、第１図の光電変換器８を通過することで、電
気信号に変換され、磁気ヘツドの浮上量の変化を
示す出力波形１５が得られる。この信号は、次の
入・出力比較器１６に入力し、入力信号１７と比
較される。すなわち入力信号１７は、加振装置５
による信号波形と同じであり、この入力信号１７
と光電変換器８の出力信号とを入・出力比較器１
６で比較し、差の信号をスペクトルアナライザー
１８などに出力する。すると磁気ヘツド２の加振
装置５以外の要因による振動のみが、スペクトル
アナライザー１８に入力することになる。そして
スペクトルアナライザー１８により、この振動周
波数が解析され、振幅と共に表される。
が、第１図の光電変換器８を通過することで、電
気信号に変換され、磁気ヘツドの浮上量の変化を
示す出力波形１５が得られる。この信号は、次の
入・出力比較器１６に入力し、入力信号１７と比
較される。すなわち入力信号１７は、加振装置５
による信号波形と同じであり、この入力信号１７
と光電変換器８の出力信号とを入・出力比較器１
６で比較し、差の信号をスペクトルアナライザー
１８などに出力する。すると磁気ヘツド２の加振
装置５以外の要因による振動のみが、スペクトル
アナライザー１８に入力することになる。そして
スペクトルアナライザー１８により、この振動周
波数が解析され、振幅と共に表される。
加振装置５以外の要因による振動が、寄生的な
微小振動であれば、第１図のような出力波形とな
る。ところが加振装置５による加振周波数を次第
に変化させていくと、ある共振周波数に達した際
に、第３図イに波形１９で示すように、振幅が極
めて大きくなる。このときの入力波形１７の周波
数が共振周波数となる。加振装置５による加振周
波数すなわち入力波数を更に変化させていくと、
第３図ロのように１次、２次…というように、出
力が特別に増大する個所が現れ、共振点であるこ
とが検出される。
微小振動であれば、第１図のような出力波形とな
る。ところが加振装置５による加振周波数を次第
に変化させていくと、ある共振周波数に達した際
に、第３図イに波形１９で示すように、振幅が極
めて大きくなる。このときの入力波形１７の周波
数が共振周波数となる。加振装置５による加振周
波数すなわち入力波数を更に変化させていくと、
第３図ロのように１次、２次…というように、出
力が特別に増大する個所が現れ、共振点であるこ
とが検出される。
このように磁気ヘツドの共振周波数を検出する
には、入力周波数を次第に変化させることのほか
に、磁気デイスク装置の共振周波数の個所のみで
磁気ヘツドの振動特性試験を行ない、磁気デイス
ク装置の共振周波数の個所で磁気ヘツドが共振を
起こさないことを確認することにより、該磁気ヘ
ツドが良品であると判定することもできる。また
予め設定したランダムの周波数について、測定す
ることもできる。
には、入力周波数を次第に変化させることのほか
に、磁気デイスク装置の共振周波数の個所のみで
磁気ヘツドの振動特性試験を行ない、磁気デイス
ク装置の共振周波数の個所で磁気ヘツドが共振を
起こさないことを確認することにより、該磁気ヘ
ツドが良品であると判定することもできる。また
予め設定したランダムの周波数について、測定す
ることもできる。
第１図は磁気ヘツド２をアーム３の長手方向に
加振する例であるが、加振装置２０によつて、ア
ーム３の矢印a2のように垂直方向に振動させるこ
ともできる。入力波形と出力波形を比較するの
に、入・出力比較器１６に代えて、所定の周波数
の信号のみを通過させるフイルターを使用するこ
ともできる。また磁気ヘツドの浮上量Ｇが大きい
場合は、可視光線でも測定できるが、浮上量Ｇが
0.2μｍ以下と微小になつてくると、紫外線などの
短波長の光が利用される。さらにガラス円板また
はガラス円板回転部に特殊な加工を施して、故意
にガラス円板を振動させたり、平面性を乱してそ
の条件下での磁気ヘツドの振動状態を観察するこ
とも可能である。
加振する例であるが、加振装置２０によつて、ア
ーム３の矢印a2のように垂直方向に振動させるこ
ともできる。入力波形と出力波形を比較するの
に、入・出力比較器１６に代えて、所定の周波数
の信号のみを通過させるフイルターを使用するこ
ともできる。また磁気ヘツドの浮上量Ｇが大きい
場合は、可視光線でも測定できるが、浮上量Ｇが
0.2μｍ以下と微小になつてくると、紫外線などの
短波長の光が利用される。さらにガラス円板また
はガラス円板回転部に特殊な加工を施して、故意
にガラス円板を振動させたり、平面性を乱してそ
の条件下での磁気ヘツドの振動状態を観察するこ
とも可能である。
以上のように本発明によれば、磁気ヘツドを浮
上させた状態で振動を与え、その時の磁気ヘツド
の浮上面における干渉縞の変動を検出し、電気信
号に変換して振動特性の試験が行なわれる。その
ため、従来の試験信号を磁気ヘツドで続取つて振
動特性を測定する場合のように間接的な試験と違
つて振動状態を直接的に検出でき、正確な測定が
可能となる。しかも簡単な装置で、簡単な手法に
よつて測定できる。さらに加振装置を駆動しない
状態で測定することにより、磁気ヘツドの浮上量
を測定することもでき、浮上量試験と連続して振
動特性の試験を行うことで、設備のコストダウン
が可能で、作業も簡便となる。
上させた状態で振動を与え、その時の磁気ヘツド
の浮上面における干渉縞の変動を検出し、電気信
号に変換して振動特性の試験が行なわれる。その
ため、従来の試験信号を磁気ヘツドで続取つて振
動特性を測定する場合のように間接的な試験と違
つて振動状態を直接的に検出でき、正確な測定が
可能となる。しかも簡単な装置で、簡単な手法に
よつて測定できる。さらに加振装置を駆動しない
状態で測定することにより、磁気ヘツドの浮上量
を測定することもでき、浮上量試験と連続して振
動特性の試験を行うことで、設備のコストダウン
が可能で、作業も簡便となる。
第１図は本発明による磁気ヘツドの振動測定方
法の実施例を示すブロツク図、第２図は測定状態
の側面図、第３図は出力波形を示す図である。 図において、１はガラス円板、２は磁気ヘツ
ド、５，２０は加振装置、６は測定光、６ｓはス
ポツト、８は光電変換器、１４は色の境界部、１
６は入・出力比較器、１７は入力波形、１５，１
９は出力波形、１８はスペクトルアナライザーを
それぞれ示す。
法の実施例を示すブロツク図、第２図は測定状態
の側面図、第３図は出力波形を示す図である。 図において、１はガラス円板、２は磁気ヘツ
ド、５，２０は加振装置、６は測定光、６ｓはス
ポツト、８は光電変換器、１４は色の境界部、１
６は入・出力比較器、１７は入力波形、１５，１
９は出力波形、１８はスペクトルアナライザーを
それぞれ示す。
Claims (1)
- １ 測定光に対して透明なガラス円板に被測定磁
気ヘツドを対向させ、該ガラス円板を磁気記録媒
体と同様に高速回転させて被測定磁気ヘツドを浮
上させると共に、該磁気ヘツドを加振装置で振動
させ、浮上面に測定光を照射してその反射光を、
干渉縞の状態で光電変換器に入射させて、電気的
な信号に変換することを特徴とする磁気ヘツドの
振動測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18239884A JPS6182380A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 磁気ヘツドの振動測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18239884A JPS6182380A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 磁気ヘツドの振動測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182380A JPS6182380A (ja) | 1986-04-25 |
| JPH033309B2 true JPH033309B2 (ja) | 1991-01-18 |
Family
ID=16117610
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18239884A Granted JPS6182380A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 磁気ヘツドの振動測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6182380A (ja) |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP18239884A patent/JPS6182380A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6182380A (ja) | 1986-04-25 |
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