JPH0333665A - プリント配線板の導体欠陥検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、プリント配線板の導体欠陥の検査用装置に
関するものである。

〔従来の技術〕

第４図に、従来のプリント配線板の導通試験装置の一例
の構成概念図を示す。図において、１は検査対象のプリ
ント配線板、２　（２−１，２−２２−３）は、プリン
トに線板１卜に設けられた各導体であり、３　（３−１
，３−２，３−３゜３−４；３−５．３−６）は、これ
ら各導体２の始点と終点とを形成するランドを有するそ
れぞれのスルーホールである。また、４　（４−１，４
２，４−３）は、それぞれ各スルーホール３に接触して
いる各プローブで、他端はすべてコネクタ５に結線され
ている。６は、試験に用いる電流を流すための電源を示
し、７は、導通経路の直流抵抗を測定するための抵抗計
、矢印８は、導体の始点または終点より各プローブ４を
介して結線されたコネクタ部５に順番に導通を確認して
いくためのプローブ（図示状態は４−１）を示す。この
図は、この種の導通試験機の基本概念を示すもので、実
際の装置は、コネクタ５とプローブ８の部分は、現在Ｉ
Ｃ，リレー等に置換えられた走査方式に構成されている
。

被検査対象であるプリント配線板１における検査すべき
各導体２の始点及び終点の各スルーホール３に接触した
各検査プローブ４は、コネクタ５を通して検品装置内部
の電源６及びＮｕ抗二１７をイ１する回路を形成する。

第４図において、プローブ４−１と４−２及びコネクタ
５の上から２＃ｎと番下の両端子を通して回路が形成さ
れている状態例を示している。

この時、被検査導体中に断線がある場合には導通がなく
なり、抵抗計７で測定される抵抗は無限大となり、導体
中に断線か生していることが判る。また、断線に至って
いなくても導体の一部か非常に細くなっているような状
態であれば、導体の抵抗値に変化が見られ、導体中に欠
陥が存在していることが判別できる。また、検査プロー
ブ４かコネクタ５の上から３番目の端子に移った場合、
プリント配線板１上のパターンは接続されておらず、測
定される抵抗値は無限大となる。このプローブ４の切換
えは、実際の装置では、既述のようにリレーまたはＩＣ
πφで行うことにより高速化が図られ、現在では、数十
個の測定導体の切換え抵抗測定を瞬時に行うことができ
るよう構成されている。

これらの測定された導体の接続性は、他の同種の被測定
基板あるいは設計データ等と比較されて、導体の欠陥の
有無を判定していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、従来例のプリント配線板の導体欠陥の検
査装置は、以」二のように構成されていたため、例えば
、スルーホール３−１と３−２との間に示す導体２−１
の入り部９、もしくは、スルーホール３−３と３−４と
の間にイＹ　ＩＥする導体２−２の抵抗変化か非常に小
さい欠け（細り）部１０などは見逃されてしまう。また
、１１に示す導体２−３のスルーホール３−６に近くの
断線は、プローブ４−２と４−３との間て断線と判断さ
れるのみて正確な位置を特定することかできない。さら
にまた、プローブ４−１の位置が導体の始点または終点
でないことから、検査プローブの接触が行われない場合
は断線箇所はより一層特定しにくくなる。その上、多層
プリント配線板において、内層パターンに欠陥が牛じた
場合等は、断線等欠陥位置の特定は極めて困難であった
。

この発明は、上記のような従来の検査装置における問題
点を解消するためになされたもので、導体−Ｌの欠陥の
有無を判定し得るとともに、欠陥の位置を特定すること
ができるプリント配線板の導体欠陥検査装置の提供を目
的としている。

〔課題を解決するための手段〕

このため、この発明に係るプリント配線板の導体欠陥検
査装置においては、被検査対象である導体の導通をチエ
ツクするとともに、その導体の始点より、ある特定の周
波数パルスを送り込み、導体終点より反射してくるパル
スを観測、測定するよう構成することにより、前記目的
を達成しようとするものである。

〔作用〕

以りのような構成のこの発明に係るプリント配線板の導
体欠陥検査装置は、被検査導体の始点より送り込まれた
特定パルスが導体の終点より反射してくるパルスを測定
する時間領域反射（ＴＤＲ）技法を用いることにより、
反射パルスを測定することによって、導体欠陥位置の始
点からの距離を特定することができ、かつ欠陥の種類を
も推察することも可能となる。

（実施例） 以下に、この発明を実施例に基づいて説明する。第１図
に、この発明に係る導体欠陥検査装置の一実施例の構成
概念図を示し、前記従来例第４図におけると同一（相当
）構成要素ば同一符号で表わし、重複説明は省略する。

第１図において、１２は、被検査導体２−３の始点に接
続されたプローブ４−２に接続したサンプラ、１３はパ
ルス発生器、１４は、被検査導体を通ってきたパルス波
形を観測、測定するためのオシロスコープを示している
。このオシロスコープ１４によって被検査導体の終点あ
るいは断線等の欠陥箇所１１からの反射パルスを測定す
る。

つぎに、この測定方法について説明する。

第１図において、前記従来の導体欠陥装置第４図におけ
ると同様に、導体２−３の始！コ、（に接触したプロー
ブ４−２へ接続ケーブルを通して、例えばＩＭＩ＋２ま
たはそれ以上の高周波パルスをパルス発生器１３よりサ
ンプラ１２を経由して被検査導体へ送り込む。送り込ま
れたパルスは、導体２３中を通って導体の欠陥箇所１１
に達し、ここて反射を生ずる。この反射パルスは再び導
体線路を通り、サンプラ１２によってオシロスコープ１
４へ、例えば第２ＩシＩ（ａ）、（ｂ）に−例を示す時
間対電圧波形が表示される。この場合、本来ならば、終
点であるスルーホール３−６までパルスは達するため、
（ａ）図のような波形を示さなければならないか、途中
に欠陥が存在すると、その手前て反射が生ずるため、オ
シロスコープ１４上で観測される波形は、例えば（ｂ）
に示すような特定の波形を示すことになる。導体内を伝
播するパルス速度は一定であるから、この反射パルスの
時間的遅れを測定することによって欠陥箇所１１の始点
３−５からの距離を特定することができる。

また、この反射波形の変化は、９で示す導体の太りまた
は１０で示す導体の細り等でも観察できるため、従来の
導通検査では特定できなかった導体欠陥を発見してその
位置を特定することができる。

第２図（ｂ）は、観測される波形と導体の欠陥の種類と
の関係を丞ず一例図であり、１５は、例えば９に示すよ
うな導体太り部の反射波形、Ｔは同部からの反射時間、
１６は、例えば１ｏで示すような導体太は部の反射波形
、Ｔ２は同部からの反射時間、またＴ３は、１１で示し
たような導体断線部からの反射時間を示している。

（他の実施例） なお、上記実施例においては、導体始点より送ったパル
スの反射パルスより導体の欠陥位置を判定する事例を示
したが、同じ装置を用いて、応答パルスの電圧比を測定
することにより、導体のもつ特性インピーダンスを測定
することにより判定することができる。

第３図は、前記ＴＤＲ法を用いての導体の特性インピー
ダンスの測定方法概念を示す波形図で、導体の特性イン
ピーダンス２゜は次式により表わされる。

Ｅ・＋Ｅ”ｘｚ Ｚ・”Ｅ、−Ｅ２ ここに、２はプローブ４からコネクタ５部分までの測定
器側の導“通線路、の特性インピーダンスを示しており
、あらかじめ測定しておくものとする。

（発明の効果） 以」二説明したように、この発明によれば、プリント配
線板の被検査導体に対してパルスを送り込み、反射パル
スを測定するよう、前記ＴＤＲ法を用いた測定部を並設
するよう構成したため、被検査導体の欠陥位置を特定す
ることができ、かつ、欠陥の形状種類をも推察できるよ
うになった。

【図面の簡単な説明】 第１図は、この発明の一実施例による導体欠陥検査装置
の構成概念図、第２図は、同実施例装置で観測されるパ
ルス波形の語例、第３図は、導体の特性インピーダンス
測定方法の説明波形図、第４図は、従来の導体欠陥検査
装置の一例の概略図である。 １・・・・・・プリント配線板 ２・・・・・・被検査導体 ４・・・・・・検査プローブ １２・・・・・・サンプラ １３・・・・・・パルス発生器 １４・・・・・・オシロスコープ なお、各図中、同一符号は同 要素を示す。 または相当構成

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. プリント配線板の被検査導体にパルスを送出するための
   パルス発生手段と、該導体終点よりの反射パルス波形を
   観測、測定するための測定手段とを備えたことを特徴と
   するプリント配線板の導体欠陥検査装置。