JPH0335775B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0335775B2
JPH0335775B2 JP12434282A JP12434282A JPH0335775B2 JP H0335775 B2 JPH0335775 B2 JP H0335775B2 JP 12434282 A JP12434282 A JP 12434282A JP 12434282 A JP12434282 A JP 12434282A JP H0335775 B2 JPH0335775 B2 JP H0335775B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
deflection
cathode
electrodes
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP12434282A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5916255A (ja
Inventor
Akihira Fujinami
Tomoaki Sakai
Mamoru Kondo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP57124342A priority Critical patent/JPS5916255A/ja
Publication of JPS5916255A publication Critical patent/JPS5916255A/ja
Publication of JPH0335775B2 publication Critical patent/JPH0335775B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/06Electron sources; Electron guns
    • H01J37/073Electron guns using field emission, photo emission, or secondary emission electron sources

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は2次元マトリクス状に多数配置された
電子源をそれぞれ独立に作動させることのできる
電子銃に関するもので、例えば電子ビーム描画装
置として使用することができる。
2次元状に多数配置されたフイールドエミツシ
ヨン形電子銃は文献「Physical properties of
thin−film emission cathodes with
molybdenum cones;C.A.Spindt et al.、J.
Appl.Phys.、Vol 47 No.12、P5248、1976」に詳
細に報告されている。ここで述べられている電子
銃の斜視図を第1図に、その一つの電子源の断面
図を第2図に示す。第1図及び第2図において、
11は陽極電極となる金属薄板、21は絶縁膜、
31は陰極電極、41は導電性基板、50は電源
である。陰極電極31はほぼ同じ針状に作られて
導電性基板41上に、図示例では計4個の電極が
2行、2列のマトリクス状に、配置される。陽極
電極となる金属薄板11には、陰極電極31の配
置位置に対応する位置にそれぞれ貫通孔があけら
れており、同じ導電性基板41上に絶縁膜21を
隔てて配置される。陽極の薄板にあけられた貫通
孔の直径は1.5μm、その薄板厚さは0.4μm、絶縁
膜21の厚さは1.5μmである。陰極電極31と電
気的に導通している導電性基板41と、陽極電極
としての金属薄板11との間に50〜100ボルトの
電圧を印加することにより、各陰極電極31から
電子を放射させる。
しかし、上記構成では、各電子源を独立に作動
させることはできず、任意の形状の電子ビーム像
を得る使用目的には採用できない。
本発明の目的は、2次元マトリクス状に多数配
置された電子源のうちの任意の電子源からの電子
ビームを外部に取り出しその他の電子源からの電
子ビームは途中でさえぎることにより任意の形状
を持つ電子ビーム像を得ることのできる電子銃を
提供するにある。
本発明の特徴は、上記目的を達成するために、
放出される電子ビームの進行方向を各電子ビーム
ごとに偏らせる偏向電極と、これらの偏向電極へ
の供給電圧をオンあるいはオフ(接地側にオン)
に切替えることで各電子ビームごとにその進行方
向を偏向させたり偏向させなかつたりする切替え
スイツチ群とを設け、導電性基板上の陰極電極の
配置位置に対応する位置に貫通孔があけられた第
2の金属薄板を前記偏向電極の外方に電気的に配
置する構成を採用することにより、偏向されなか
つた電子ビームだけを外部に放出させるようにし
たことにある。
以下、図面により本発明を説明する。
第3図は本発明の一実施例を示す斜視図、第4
図は第3図の4個の電子源のうちの2個について
その断面と各部品相互位値関係を示す断面図であ
る。図面において、31,32,33,…はほぼ
同じ針状に作られた陰極電極で、実施例では2×
2のマトリクス状に導電性基板41上に配置され
る。11は陽極電極となる金属薄板で、導電性基
板41上の陰極電極31,32…の配置位置に対
応する位置に貫通孔があけてあり、絶縁膜21に
よつて導電性基板41とは電気的に絶縁されて配
置される。61,62,…,65,…は放出され
る電子ビームの進行方向を偏らせるための偏向電
極で、各電子ビームごとに2つの対向する偏向電
極が設けられる。23はこれらの偏向電極を支え
る支えである。図示例では、61と62は陰極電
極31からの電子ビームに対する偏向電極、63
と64は陰極電極32からの電子ビームに対する
偏向電極である。50は陰極−陽極間に電圧を印
加するための電源、51,52は偏向電極に電圧
を印加するための電源、53〜56は偏向用電源
51,52と各偏向電極61〜64とを結ぶ接続
線の途中に配置されて偏向電極61〜64への供
給電圧を電源側に切替えたり接地側に切替えたり
する切替えスイツチ群である。71は偏向された
電子ビームは遮断し、偏向されなかつた電子ビー
ムだけを外部に放出させるために設けられる第2
の金属薄板で、支持台80によつて偏向電極61
〜64のさらに外方に配置され、そしてその薄板
面には、前記した陽極電極を形成する第1の金属
薄板11と同じように、導電性基板41上の陰極
電極31,32,…の配置位置に対応する位置ご
とに貫通孔があけてある。
このような構成とした実施例電子銃を動作させ
るには、電源及び切替えスイツチ群を除いた電子
銃本体部分を10-9〜10-10Torr程度の高真空中に
おき、導電性基板41と、陽極電極を形成する第
1の金属薄板11との間に50〜100Vの電圧を印
加する。これにより陰極電極31,32,…の先
端部から電子が放出され、第1の金属薄板11に
あけられた貫通孔及び第2の金属薄板71にあけ
られた貫通孔を通して電子銃の外部に電子ビーム
が流れる。第4図において両方の陰極電極31,
32からの電子ビームを外部に放出させるには、
切替えスイツチ群53〜56を全て接地側(図示
では左右の接点のうちの左側)に切替え、全ての
偏向電極61〜64を接地する。即ち、偏向電極
61〜64を、陽極電極を形成する第1の金属薄
板11と同じ接地電位とする。また、両方の陰極
電極31,32からの電子ビームを第2の金属薄
板71で遮断して外部に放出させないようにする
には、4個の切替えスイツチ群53〜56を全て
図示の右側の接点に接続するように切替え、偏向
電極61,63に−Vdボルト、偏向電極62,
64に+Vdボルトの電圧を印加する。さらに、
陰極電極31からの電子ビームは外部に放出させ
陰極電極32からの電子ビームは途中で遮断させ
るには、切替えスイツチ53,54は左側接点に
接続して偏向電極61,62を接地電位とし、切
替えスイツチ55,56は右側接点に接続して偏
向電極63,64間に偏向用電源51,52から
の電圧を印加すればよい。
第5図は本発明の他の実施例を示す断面図で、
第4図実施例との相異点は、偏向電極61〜64
を絶縁膜22を介して、陽極電極を形成する第1
の金属薄板11上に配置した点と、第2の金属薄
板71を支持膜72で支持しこの支持膜72を支
持基板73によつて支持台80に支持させている
点とであり、その他の構成及び動作は第4図実施
例と同じである。
次に偏向電極61〜64に印加する電圧につい
て考える。陽極電極を形成する第1の金属薄板1
1に印加する電圧、即ち加速電圧をVa、偏向電
極に印加する電圧をVd、偏向電極間隔をd、偏
向電極長をl、偏向電極上端面から第2の金属薄
板71の下端面までの距離をLとすると、第2の
金属薄板71の下端面における電子ビームの偏向
量Xは X={(Vd/d)/Va}・(l/2)・(l/2+L) となる。Va=100ボルト、l=3μm、d=3μm、
L=1000μmとし、X=100μmとするとVdは20ボ
ルトとなる。このように、各寸法、電圧について
は製造方法等も考慮に入れて、任意に選択して決
めることができる。
次に、第2の金属薄板71にあける貫通孔につ
いて考える。この貫通孔は針状の陰極電極31,
32,…と同じピツチであることが必要であり、
しかも偏向電極61〜64の上端面から1mm程度
の距離をおくことも必要である。従つて、第5図
に示すように、X線マスクの場合のようにシリコ
ン等の支持基板73上に、針状電極の配置位置に
対応した位置に貫通孔があけられた支持膜72を
張り、この支持膜72の面に、同様に貫通孔のあ
いた金属薄板71を張る構成とする。金属薄板7
1は接地電位としても、また任意の電圧を印加し
てもよい。なお、金属薄板71が強度的に十分で
あれば支持膜72を設けないで第4図実施例の構
成とすることができる。
なお、本発明の電子銃を電子ビーム露光装置等
に適用する場合には、この電子銃の後段において
任意の加速電圧で電子ビームを加速することも可
能である。
以上説明したように、本発明によれば、陽極電
極の外方に偏向電極と、電子ビームを遮断したり
通過させたりする金属薄板とを設け、偏向電極に
印加する電圧を制御することによつて、多数の電
子源から放出されている電子ビームを選択的に外
部に取出すことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の2次元配置をもつフイールトエ
ミツシヨン形電子銃の斜視図、第2図はその一部
の断面図、第3図は本発明の一実施例の斜視図、
第4図はその一部の断面図、第5図は本発明の他
の実施例を示す断面図である。 符号の説明、11……陽極電極を形成する金属
薄板、21,22……絶縁膜、23……偏向電極
の支え、31〜34……陰極電極、41……導電
性基板、50,51,52……電源、53〜56
……切替えスイツチ群、61〜65……偏向電
極、71……第2の金属薄板、72……支持膜、
73……支持基板、80……支持台。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 導電性基板上にほぼ同じ針状に作られた多数
    の陰極電極を配置しこれらの陰極電極の配置位置
    に対応する位置に貫通孔があけられた金属薄板を
    陽極電極として前記導電性基板に対して電気的に
    絶縁して配置し陰極、陽極間に電圧を印加して電
    子ビームを各貫通孔を介して外部に放出させる電
    子銃において、放出される電子ビームの進行方向
    を各電子ビームごとに偏らせる偏向電極と、これ
    らの偏向電極への供給電圧を切替えることで各電
    子ビームごとにその進行方向を偏向させたり直進
    のままとしたりする切替えスイツチ群とを設け、
    前記導電性基板上の陰極電極の配置位置に対応す
    る位置に貫通孔があけられた第2の金属薄板を前
    記偏向電極の外方に電気的に絶縁して配置するこ
    とにより、偏向されなかつた電子ビームだけを外
    部に放出させることを特徴とする電子銃。
JP57124342A 1982-07-19 1982-07-19 電子銃 Granted JPS5916255A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57124342A JPS5916255A (ja) 1982-07-19 1982-07-19 電子銃

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57124342A JPS5916255A (ja) 1982-07-19 1982-07-19 電子銃

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5916255A JPS5916255A (ja) 1984-01-27
JPH0335775B2 true JPH0335775B2 (ja) 1991-05-29

Family

ID=14882979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57124342A Granted JPS5916255A (ja) 1982-07-19 1982-07-19 電子銃

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5916255A (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2616918B2 (ja) * 1987-03-26 1997-06-04 キヤノン株式会社 表示装置
JP2654013B2 (ja) * 1987-05-06 1997-09-17 キヤノン株式会社 電子放出素子およびその製造方法
JP2645708B2 (ja) * 1987-08-26 1997-08-25 キヤノン株式会社 電子放出素子
JP2627622B2 (ja) * 1987-08-26 1997-07-09 キヤノン株式会社 電子放出素子
JPH01311929A (ja) * 1988-06-11 1989-12-15 Nitto Denko Corp 車体外装材の固定部材
DE3887891T2 (de) * 1988-11-01 1994-08-11 Ibm Niederspannungsquelle für schmale Elektronen-/Ionenstrahlenbündel.
DE69223088T2 (de) * 1991-06-10 1998-03-05 Fujitsu Ltd Apparat zur Musterüberprüfung und Elektronenstrahlgerät
US5384463A (en) * 1991-06-10 1995-01-24 Fujisu Limited Pattern inspection apparatus and electron beam apparatus
US5557105A (en) * 1991-06-10 1996-09-17 Fujitsu Limited Pattern inspection apparatus and electron beam apparatus
US5533903A (en) * 1994-06-06 1996-07-09 Kennedy; Stephen E. Method and system for music training
WO2005074001A2 (fr) * 2003-12-30 2005-08-11 Commissariat A L'energie Atomique Dispositif d'emission electronique multifaisceaux hybride a divergence controlee
EP1760762B1 (en) * 2005-09-06 2012-02-01 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Device and method for selecting an emission area of an emission pattern

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5916255A (ja) 1984-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100312694B1 (ko) 카본 나노튜브 필름을 전자 방출원으로 사용하는 전계 방출 표시 장치
US5157309A (en) Cold-cathode field emission device employing a current source means
US6617798B2 (en) Flat panel display device having planar field emission source
JP3171121B2 (ja) 電界放出型表示装置
JPH0335775B2 (ja)
US20100019166A1 (en) Method for Controlling Electron Beam in Multi-Microcolumn and Multi-Microcolumn Using The Same
GB2374979A (en) A field ionisation source
US7696680B2 (en) Field emission device for high resolution display
US20050116600A1 (en) Field emission display having grid plate with multi-layered structure
KR20020038696A (ko) 컴팩트한 전계 방출 전자총 및 집속 렌즈
EP0434054B1 (en) Planar display apparatus
KR100926748B1 (ko) 멀티 에스에프이디
US7112920B2 (en) Field emission source with plural emitters in an opening
JPH0349135A (ja) 平板型表示装置
KR100658738B1 (ko) 면전자원을 구비한 대면적 평판 디스플레이 장치 및 이장치의 구동 방법
KR100237273B1 (ko) 전계 방사형 냉음극
JP2697538B2 (ja) 冷陰極
JP3913282B2 (ja) 平行化抽出グリッド導体
JP3601275B2 (ja) 電界電子放出素子
JPH02126356U (ja)
KR100703257B1 (ko) 디스플레이 장치
JPH03149736A (ja) 画像形成装置
JP2992902B2 (ja) 電子線発生装置
JP3777735B2 (ja) 電界放射冷陰極
US20060163994A1 (en) Vacuum display device with increased resolution