JPH0337044A - Ｍｒｉシーケンス設計支援方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気共鳴現象を利用した磁気共鳴イメージン
グ装置に係り、特に撮影手順（シーケンス）開発に関す
る。

〔従来の技術〕

ＭＲＩ装置は１診断目的によってシーケンス（撮影手順
）が異なり、実際に撮影を行うためには、そのシーケン
スに対応したシーケンス制御プログラムが必要である。

従来、新たなシーケンスを用いて撮影を行う場合、その
シーケンスに対応したシーケンス制御プログラムを作成
するか、あるいは汎Ｊ＋Ｊ的に作成しているシーケンス
制御プログラムのパラメータを変えることにより対応し
、撮影を行っていた。

又、ニス・エム・アール・エム　ア　フレキシブル　エ
ヌ・エム・アール　パルス　シーケンスエディタ（１９
８６）第５３０項（ＳＭＨＭ　ＡＦＬＥＸＩＢＬＥ　Ｐ
ＵＬＳＥ　５ＥＱＬＩＥＮＣＥ　Ｉ−：ＤＩＴＯＲ（１
９８６）　ｐ５３０）において、スクリーンエディタ上
でスプレッドシートを用いて、表形式でシーケンスデー
タを入力し、そのデータからシーケンス制御プログラム
を自動生成する方式が提案されている。

〔発明が解決しようとするＩＩｌ！Ｍ）（１）新たに考
案したシーケンスで実際に信号計測を行うためには、そ
れに対応したシーケンス制御プログラムが必要である。

しかしこのプログラムは専用のマクロ命令で記述しなけ
ればならないため誰でもが容易に開発できない。また汎
用的なシーケンス制御プログラムのパラメータを変更す
ることにより対応する場合、対応できる範囲には限界が
あり１．もしパラメータを蛮えることにより対応できた
としても、そのパラメータ数は多大な量であり、正確な
入力を行うために大変な作業量を要していた。

（２）シーケンスを構成するデータは多大なため、数値
データから設計状態を把握することは困難であり、例え
スプレッドシートを用いても同様である。

（３）撮影条件（例えば、分解能、視野、スライス厚、
スライス角度等）を変更する場合、一部のパルスデータ
を変更するだけでよいにもかかわらず、新たにＭＲＩシ
ーケンスの設計を行っている。

〔課題をＨ決するための手段〕

（１）課題（１）　（２）の解決手段 シーケンスは一般に、高周波磁場（ＲＦ）、互いに垂直
な３方向の傾斜磁場（Ｇｘ　＝　Ｇｙ　−ＧＺ）をいつ
、どのような強度で印加するのか。

又それによって現われる信号をどのようなタイミングで
計測（Ａ／Ｄ）するのかによって表される。そこで本発
明では、それらのシーケンスデータをグラフィック画面
上で対話的に入力し、その入力データをリアルタイムに
グラフィック表示することにより、視覚的にシーケンス
設計を行い、設計終了後、シーケンス制御プログラム又
は既存のシーケンス制御プログラムに対するパラメータ
を自動生成する。

（２）課題（３）の解決手段 シーケンス制御プログラムを自動生成する際に撮影条件
を調整することで、自動的にシーケンス調整を行ない、
その後にシーケンス制御プログラム、又は既存のシーケ
ンス制御プログラムに対するパラメータを自動生成する
。

〔作用〕

（１）グラフィック画面を用いて対話的な入力を行ない
、そのデータからプログラムを自動生成することで１Ｍ
ＲＩ制御命令や既存のシーケンス制御プログラムに関し
て知識がない人、言いかえればプログラマ−を介さなく
ても、任意のシーケンスによる撮影が行なえる。

（２）グラフィック画面を用いて対話的な入力を行なう
ことで、設計状態を視覚的に把楓できる。

（３）シーケンス制御プログラムを生成する際に撮影条
件を入力することで、同一シーケンスにおいて、撮影条
件を変えたシーケンス制御プログラム又はシーケンス制
御プログラムのパラメータを生成することができる。

〔実施例〕

以下１本発明を適用して開発したＭＲＩシーケンス設計
支援システムについて説明する。

本システムはシーケンスを４Ｎ層に分けて設計し、その
後にシーケンス制御プログラム、又は既存のシ］本タン
ス御プログラムに対するパラメータを生成する。

図１は各階層における設計内容とそのファイル構成をあ
られしている１便宜上、１０１を機能設計、１０２を撮
影シーケンス設計、１０３を装置特性設計、１０４をパ
ルスシーケンス設計と定義する。

ここでまず、各設計階層の概要と特徴を説明する。

機能設計では、装置特性と撮影シーケンスの組合せ設計
を行なう、この階層では撮影シーケンスが複数設定でき
るので、同一被検体に対し、異なった撮影シーケンスに
よる連続撮影が行える。

装置特性設計では、静磁場強度やパルスの立上り特性等
、装置に依存するデータを設定する０機能設計において
、この装置特性ファイルを変更することで、他の装置に
対し、同一のパルスシーケンスが適用できる。

撮影シーケンス設計では、パルスシーケンスの組合せ、
マルチスライス、位相エンコード繰返し回数及び変化順
序、積算回数、ｒｒＪＪ期用トリガ、繰返し時間（ＴＲ
）等の設計を行なう、ここではパルスシーケンスを複数
設定できるので、例えば位相不感パルスシーケンスと位
相感パルスシーケンスを組合せたサブトラクション血管
撮影法等の組合せ設計が容易に行なえる。

パルスシーケンス設計では、２方向の高周波磁場照射系
と３方向の傾斜磁場照射系の印加タイミングや印加強度
の設定、及び信号計測のタイミングやサンプリング間隔
等の設計を行う。

第２図は、本発明の適応対象となるＭＲＩ装置の一実施
例におけるブロック図である。図において２０１は均一
な静磁場を発生させる静磁場発生系、２０２は高周波磁
場を発生させる高周波磁場発生系、２０３は磁場の強さ
をＸ＋　ｙ＋Ｚ方向に、それぞれ独立に線形に変化させ
ることが可能な傾斜磁場発生系、２０４は被検体から発
生する電磁波を受信し、検波した後Ａ／Ｄ会換する信号
計８１！Ｉ系、２０５は画像再構成を行なう処理装置、
２０６は再生結果を表示するＣＲＴ、２０７は上記構成
において、各系の制御を行なうシーケンス制御部で、そ
の内には、２０８のシーケンス制御プログラムを格納す
るメモリ、２０９のシーケンス制御プログラムのパラメ
ータを格納するメモリ、２１０の計測信号を格納するメ
モリを有している。２１１はＭＲＩシーケンス設計支援
システムを用いて、グラフィック画面上でシーケンスを
設計し、シーケンス制御プログラム又はパラメータを自
動生成する装置である。

以下、ＭＲＩシーケンス設計支援システムを（１）シー
ケンス設計 （２）設計情報からのシーケンス制御プログラム又はパ
ラメータの自動生成 の２項目に分けて説明する。

（１）シーケンスの設計について （１，１）マウスとコマンド マンマシン性を向上させるため、入力装置としてマウス
を用いたが、そのマウスの操作方法を第３図を用いて説
明する。

３０１はグラフィック画面上に表示されている全氏（事
象が選択できる。３０２はコマンド選択及び選択した事
象がコマンドでない場合。

画面左上のコマンドを選択したことを意味する。

よって画面左上のコマンドを作業状態に対応させて表示
することにより、マウスをいちいち動かさなくても、ボ
タン２を押すことで任意の動作が選択できる０例えば入
力状態を３０３とし終了状態を３０４とすると、３０５
の開始コマンドと３０６の終了コマンドを入れ替えて表
示することによりマウスのボタン２の持つ意味が異なり
、マウスをいちいち動かさなくても、ボタン２を押すこ
とで任意の動作が選択できる。

（１，２）シーケンス設計 図１において、シーケンス設計の概要を説明したが、以
下詳細にそれの説明を行なう、設計順序とは逆になるが
、設計概念をより判り易くするため、■パルスシーケン
ス設計、■搬影シーケンス設計、■装置特性設計、■機
能設計の順で設計方法の説明を行なう。

■パルスシーケンス設計 パルスシーケンス設計蕎第４．５，６，７゜８．９．１
０図を用いて説明する。

まず第４図において、パルスシーケンス設計におけるグ
ラフィック画面を説明する。

４０１は高周波磁場設定コマンド、４０２は傾斜磁場設
定コマンド、４０３は位相エンコード設定コマンド、４
０４は信号計測設定コマンド、４０５はシーケンス制御
プログラムのパラメータを＊ａすることにより、指定時
間以降に設定されている全てのパルスの印加タイミング
を変更できるデイレイコマンド、４０６は指定時間以降
に設定されている全てのパルスの印加タイミングをグラ
フィック画面上で一括移動する一括移動コマント、４０
７は全ての設定情報をクリアする初期化コマンド、４０
８は設定された全ての情報が表示されるように時間軸目
盛を変更するスケール変換コマンド、４０９はグラフィ
ック画面を時間軸方向に移動させるスクロールコマンド
、４１０から４１５は照射系単位の処理（例え４％Ｉｔ
系間の照射系単位のデータ入れ替えや照射系単位のデー
タ削除）を行なうことを宣言する照射系単位処理コマン
ド、４１６は設計中のパルスシーケンスデータをファイ
ル格納するデータ出力コマンド、４１７は既存データで
参照したいものがある場合、そのフ・アイルを取り込む
ファイル参照コマンド、４１８は設計終了コマンドであ
る。

高周波磁場を設定する場合、第４図の４０１の高周波磁
場設定コマンドをマウスで選択すると５１０の目面に移
る。５１２か６５１７は５１９が示す高周波磁場の中心
時間を移動させる印加タイミング設定コマンドで、５１
９を任意の設定場所に移動させて５１１の確定コマンド
をマウスで選択する。設定を中止する場合は５１８の取
消コマンドを選択する。

確定コマンドを選択すると５２０の一面に移る。５２１
は波形形状ファイル名、５２２は印加時間、５２３はス
ライス相対位置、５２４は積算インバートの有無、５２
５はプロジェクションインバートの有無、５２６はフリ
ツプ角度で、それぞれの情報を入力または選択する。５
２７の設定終了コマンドを選択すると５３０の画面に移
り、５３１の様に情報をグラフィック表示する。設定し
た５３１の高周波磁場に対して処理を行ないたい場合は
、マウスで５３１を選択すると画面上部にそのパルスに
対して行なえる処理コマンドが表示されるので、目的の
コマンドを選択し処理を行なう（例えば、削除、複写、
移動、変更等）。

傾斜磁場を設定する場合、第４図の４０２の傾斜磁場設
定コマンドをマウスで選択する。

次に高周波磁場の印加中心時間の設定と異なり、適当な
！Ｇ準暗時間高周波磁場と同様な操作で決定する。そう
すると第６図に示す画面に移る。６０１は設定した基準
時間より前に印加する時間、６０２は基準時間より後に
印加する時間、６０３は振幅、６０４は印加形状、６０
５は線形勾配磁場以外を印加する場合の波形形状データ
ファイル名（６０５は６０４が任意の場合のみ表示され
る）で、それぞれの情報を入力または選択する。以下高
周波磁場と同様である。

位相エンコードを設定する場合−１第４図の４０３の位
相エンコード設定コマンドをマウスで選択する。以下傾
斜磁場と同様の操作で設定する。第７図に位相エンコー
ドの入力画面を示す。７０１はＪＡ準待時間り前に印加
する時ｒｌＪＪ、、０２は基準時間より後に印加する時
間、、０３は振幅、、０４は撮影シーケンスで設定する
位相エンコードの繰返し実行順序、、０５は磁場のオフ
セットである。

信号計測を設定する場合、第４図の４０４の信号計測設
定コマンドをマウスで選択する。

以下高周波磁場の設定と同様な操作で設定する。第８図
に信号計測入力画面を示す。８０１はサンプリング点数
、８０２はサンプリング間隔、８０３は計測信号の有効
ビット数を調節するシフト値である。

以上のような要領でパルスシーケンス設計を行なう。

第９図にパルスシーケンス設計画面の一例を示す、９０
１は、図４の４０５のデイレイ設定コマンドを選択して
設定したものである。

９０１により、９０２，９０３，９０４゜９０５は、９
０１に設定された遅延時間だけ実行開始時間が遅れる。

９０６は９０４の情報を表示したものである。９０７は
９０３の情報を表示したもので、現在９０３をマウスで
選択している状態で、９０４は直前まで処理対象だった
パルスである。

第１０図に第４図の４０６の一括移動コマントと４０８
のスケール変換コマンドを適用した例を示す、１０１で
は、３　ｍ５ｅｃを基準にそれ以降に設定されている全
パルスに対し１００ｍ５ｅｃ後方への一括移動の設定を
行なった。１００２はそれを実行した画面である。

１００３は１時間軸を全体が表示されるスケール変換を
行なった画面である。

■撮影シーケンス設計 撮影シーケンス設計を第１１．１２．．１３゜１４図を
用いて説明する。

まず第１１図において、撮影シーケンス設計におけるグ
ラフィック画面を説明する。

１１０１はパルスシーケンスを指定し、そのマルチスラ
イス情報を設定するパルスシーケンス設定コマンド、１
１０２は位相エンコード回数及びその変化順序を設定す
る位相エンコード設定コマンド、１１０３は積算回数を
設定する積算設定コマンド、１１０４は同期用トリガを
設定する同期トリガ設定コマンド、１１０５は繰返し時
間を設定するＴＲ設定コマンド、１１０６から１１０９
は位相エンコードと積算の繰返し実行順序をあられす繰
返し優先順位コマンドである。

パルスシーケンスを設定する場合、１１０１のパルスシ
ーケンス設定コマンドをマウスで選択し１２１０の画面
に移行する。１２１１はパルスシーケンス名、１２１２
はスライス情報でｍｕｌｔｉが選択されると１２１３か
ら１２１７ルチスライス数、１２１４はスライス開始位
置、１２１５はスライス間隔、１２１６は繰返し時間、
１２１７は撮影順序で、それぞれの情報を入力または選
択する。１２１８の設定終了コマンドを選択すると１２
２０の画面に移り、１２２１の様に情報をグラフィック
表示する。設定した情報に対する処理は、パルスシーケ
ンスと同様に操作する。

積算を設定する画面を第１３図に示す。

１３０１に積算回数を指定する。

位相エンコードを設定する画面を第１４１１！！１に示
す、１４０１は位相エンコード回数、１４０２から１４
０６はその変化順序で。

１４０２の値＝−（位相エンコード回数７２）１４０３
の値＝−（位相エンコード回数／２）＋１１４０２の値
＝　（位相エンコード回数／２）１４０３の値＝　（位
相エンコード回数７２）−１を設定しており、矢印が変
化方向を示している６例えば１４０２を選択すると１位
相エンコードは−１２８から＋１２７に変化する。

１４０２から１４０５までにない変化順序で変化させる
場合は、１４０６を選択し１４０７にその変化順序デー
タが格納されているファイルを指定する。

以上のような要領で撮影シーケンス設計を行なう。

第１５−に撮影シーケンス設計画面の一例を示す、１５
０１と１５０２の２つのパルスシーケンスを設定してい
る。１５０３と１５０４は積算と位相エンコードの設定
を示しており。

積算が位相エンフードより先に実行することを示す、ま
たその回数は１５０５，１５０６゜１５０７．１５０８
が示している通り、積算が２回で、位相エンコードが２
５６回である。

１５０９から２つめのパルスシーケンスには同期用トリ
ガが設定されており、設定時間（２５０ｍ５ｅｃ）以降
に外部割込みが発生した時点で動作する。１５１０から
その繰返し時間（１°Ｒ）が５００■ｓａｃであること
がわかる。

■装置特性設計 次に装置特性設計における例を第１６図を用いて説明す
る０図に示す通り各傾斜磁場の最大値、立上り時間、立
ち下がり時間、高周波磁場の最大フリップ角度、中心周
波数等を入力する。入力が終了すれば１６０１の設定終
了コマンドを選択する。

■機能設計 機能設計における例を第１７ｗＵを用いて説明する。１
７０１は装置特性ファイル名。

１７０２から１７０９は撮影シーケンス名、１７１０か
ら１７１７は前の撮影シーケンスが終了してからの実行
開始待ち時間を設定する。設定が終了すると１７１８の
入力終了コマンドを選択する。

（１，３）シーケンスエラーチエツク 本システムでは各種エラーチエツクを行っている。以下
に一実施例を記述する。

■　各設計階層において、指定した下位ファイルが存在
するかどうかチエツクする。

■　マルチスライス設定時に、パルスーケンス設計にお
いて、高周波磁場にスライス選択磁場がかかつているか
チエツクする。

■　位相エンコードにおいては、パルスシーケンス設計
と撮影シーケンス設計において矛盾はないかチエツクす
る。

■　パルスシーケンス設計において、パルス設定許容数
をオーバーしていないかチエツクする。

以上でシーケンス設計に関する説明を終え。

次にシーケンス制御プログラム及びパラメータ生成につ
いて説明する。

（２）シーケンス制御プログラム、又は既存のシーケン
ス制御プログラムのパラメータの自動生成について （２，１）自動生成 以下プログラム及びパラメータの自動生成について説明
するが、パラメータのみ生成する場合はプログラムを生
成しないだけであって、アルゴリズムは同じである（パ
ラメータの内容は異なる）。

図１８において、シーケンス制御プログラム開発効率の
フローを示す、１８０１では、シーケンス制御プログラ
ムを生成するシーケンスを選択し、データを読み込む、
１８０２では、１８０１で読み込んだデータから現状の
撮影条件（分解能、スラスト厚、スライスアングル等）
をグラフィック画面に表示する。１８０３は表示された
撮影条件を変更する場合そのデータを入力する。１８０
４は撮影条件に変更があれば、入力データから傾斜磁場
の強度や印加時間の調整や高周波磁場の印加時間や形状
をｇＩＩｌ察する。

１８０５ではシーケンス制御プログラムのパラメータ７
を生成する。１８０６はシーケンス制御プログラムを生
成する。

（２，２）パラメータ 第１９図において工８０５で生成したシーケンス制御プ
ログラムのパラメータ構造の一実施例を示す、１９０１
は高周波磁場の印加開始時間、終了時間、振幅、印加波
形形状格納アドレス、波形点数、照射インタバル、イン
バート情報、シンセサイザ周波数等のパラメータを印加
開始時間で昇降順にソートしたものである。

１９０２．１９０３，１９０４，１９０５゜１９０６も
同様に、印加開始時間で昇降順にソートシたパラメータ
テーブルである。４＠斜磁場のパラメータには、印加開
始時間、終了時間。

照射ゲイン、オフセット、位相エンコード情報等がある
。Ａ／Ｄのパラメータには、印加開始時間、終了時間、
サンプリング点数、サンプリング時間間隔、インバータ
情報、シンセサイザ周波数等がある。１９０６のＤＥＬ
ＡＹパラメータには、開始時刻と遅延時間がある。　１
９０７はその他の積算回数１位相エンコード回数、マル
チスライス情報、装置特性等のパラメータである。

（２，３）シーケンス制御プログラム 第２０図において１８０６で生成したシーケンス制御プ
ログラムの一実施例におけるフローを示す、２００１は
シーケンサのアクティブ状態設定や、プログラム変数の
ゼロクリア等の各初期化を行なう、２００２では、印加
ａ場方向別に時系列なテーブルデータを時系列的にソー
トし、総合的な印加磁場テーブルデータを生成する。２
００３は３次元情報を得るための位相エンコードループ
、２００４は２次元情報を得るための位相エンコードル
ープ、２００５は積算ループである。２００６は２００
２によって生成されたテーブルデータから印加情報を取
り込む、２００７は、取り込んだ印加情報から各種処理
を行うルーチンで１例えば高周波磁場印加開始情報を取
り込むと、ＲＦパラメータテーブルに設定されている波
形、振幅、照射間隔。

インバート情報により印加を行う、２００８はプログラ
ム実行中に入力されたパラメータをリアルタイムに反映
させるモードかどうかのチエツクを行い、反映させるモ
ードであれば２００２の処理を行う。

〔発明の効果〕

１、グラフィック画面を用いて対話的な入力を行ない、
そのデータからプログラムを自動生成することで、ＭＲ
Ｉ制御命令や既存のシーケンス制御プログラムに関して
知識がない人、言いがえればプログラマ−を介さなくて
も、任意の撮影手順による撮影が容易に行なえる。

２、シーケンス設計において、視覚的に入力データの確
認が行えることや、矛）ｔＪが生じたときにエラーメツ
セージを出力することにより、設計誤りを防止できる。

３、プログラムまたはパラメータを自動生成することに
より１人間による作業よりも、ソフトウェアの信頼性が
向上する。

４、プログラムまたはパラメータを自動生成することに
より、プログラム開発効率が向上する。

５、生成するプログラムは、撮影直前に印カＵ磁揚方向
別テーブルを統合的な時系列テーブルに並び変えて各ｆ
ＩＪｌｌｌを行うので、実機上でシーケンスの調整が容
易に行える。

【図面の簡単な説明】

第１図はシーケンス設計ｌ［！！ｉ＠ｉを用いたファイ
ル構成図、第２図はＭＲＩシステムのブロック図。 第３図はシーケンス設計画面における入出力コマンド表
示法、第４図はパルスシーケンス設計初期ｗｉ画、第５
図は高周波磁場設定手順のフローチャート、第６図は傾
斜磁場設定時の情報入力画面。 第７図は位相エンコード設定時の情報入力画面、第８図
は信号計測設定時の情報入力画面、第９図はパルスシー
ケンス設計例、第１０図は一括移動コマントとスケース
変換コマンド適用例、第１１図は撮影シーケンス設計初
期画面、第１２図（Ａ）はパルスシーケンス設定時の情
報入力画面、第Ｉ２図（Ｂ）はパルスシーケンス情報表
示例、第１３図は積算情報入力画面、第１４図は位相エ
ンコード変化情報入力画面、第１５図は撮影シーケンス
設計例、第１６図は装置特性設計画面、第１７図は機能
設計画面、第１８図はシーケンス制御プログラム自動生
成プログラムのフローチャート、第１９図は自動生成す
るシーケンス制御プログラムのパラメータ構造図、第２
０図は自動生成するシーケンス制御プログラムのフロー
チャートである。 第 口 （Ｆ３） 第 １θ 図 拓 １３ 日 第 ２θ 口

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、静磁場発生の手段と、傾斜磁場発生の手段と、高周
   波磁場発生の手段と、被検体からの信号を検出する手段
   を有する磁気共鳴イメージング装置において、各種入力
   装置とのグラフィックディスプレイ装置を用いて、撮影
   手順に関するシーケンスデータをグラフィック画面上で
   対話的に入力することによりシーケンスを設計し、その
   設計情報からシーケンス制御プログラムを自動生成する
   ことを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ２、静磁場発生の手段と、傾斜磁場発生の手段と、高周
   波磁場発生の手段と、被検体からの信号を検出する手段
   を有する磁気共鳴イメージング装置において、各種入力
   装置とグラフィックディスプレイ装置を用いて、シーケ
   ンスデータをグラフィック画面上で対話的に入力するこ
   とによりシーケンスを設計し、任意の手法により作成済
   のＭＲＩシーケンス制御プログラムのパラメータをその
   設計情報から自動生成することを特徴とするＭＲＩシー
   ケンス設計支援方法。 ３、第１項又は第２項において、入力装置から入力され
   たデータをリアルタイムにグラフィック表示することを
   特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ４、第３項において、グラフィック表示したデータは、
   入力装置で選択することにより各種処理が行えることを
   特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ５、第１項又は第２項において、シーケンスを複数の階
   層に分けて設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス
   設計支援方法。 ６、第５項において、どの設計階層からでもシーケンス
   の設計が行えることを特徴とするＭＲＩシーケンス設計
   支援方法。 ７、第１項又は第２項において、設計したシーケンスを
   ファイルに格納することを特徴とするＭＲＩシーケンス
   設計支援方法。 ８、第５項と第７項を合わせて、各階層ごとにファイル
   格納することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方
   法。 ９、第８項において、１つ下の階層のファイルを任意に
   組合せてシーケンスの設計をすることを特徴とするＭＲ
   Ｉシーケンス設計支援方法。 １０、第５項において、装置に依存するデータを１つの
   階層とすることを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援
   方法。 １１、第５項において、各階層ごとにコメント記入でき
   る機能を有することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計
   支援法。 １２、第５項において、各階層における設計に矛盾が生
   じたとき、エラーメッセージを表示することを特徴とす
   るＭＲＩシーケンス設計支援方法。 １３、第５項において、設計階層間で矛盾が生じたとき
   にエラーメッセージを表示することを特徴とするＭＲＩ
   シーケンス設計支援方法。 １４、第１項又は第２項において、位相エンコード数（
   変化回数）を設計することを特徴とするＭＲＩシーケン
   ス設計支援方法。 １５、第１項又は第２項において、位相エンコードの変
   化順序を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設
   計支援方法。 １６、第１項又は第２項において、積算回数を設計する
   ことを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 １７、第１項又は第２項において、位相エンコードと積
   算の繰返し実行順序を設計することを特徴とするＭＲＩ
   シーケンス設計支援方法。 １８、第１項又は第２項において、マルチスライス数を
   設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方
   法。 １９、第１項又は第２項において、マルチスライス時の
   スライス位置間隔を設計することを特徴とするＭＲＩシ
   ーケンス設計支援方法。 ２０、第１項又は第２項において、マルチスライス時の
   撮影繰返し時間を設計することを特徴とするＭＲＩシー
   ケンス設計支援方法。 ２１、第１項又は第２項において、外部トリガ設定時間
   を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援
   方法。 ２２、第１項又は第２項において、高周波磁場の印加波
   形を任意の形状で設計することを特徴とするＭＲＩシー
   ケンス設計支援方法。 ２３、第１項又は第２項において、高周波磁場の印加タ
   イミングを設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス
   設計支援方法。 ２４、第１項又は第２項において、高周波磁場を印加し
   ている時間を設計することを特徴とするＭＲＩシーケン
   ス設計支援方法。 ２５、第１項又は第２項において、高周波磁場の印加強
   度を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支
   援方法。 ２６、第１項又は第２項において、高周波磁場のインバ
   ートのタイミングを設計することを特徴とするＭＲＩシ
   ーケンス設計支援方法。 ２７、第１項又は第２項において、高周波磁場の搬送周
   波数を決定する中心からのスライス選択相対位置を設計
   することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ２８、第１項又は第２項において、傾斜磁場を任意の波
   形形状で設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設
   計支援方法。 ２９、第１項又は第２項において、傾斜磁場の印加タイ
   ミングを設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設
   計支援方法。 ３０、第１項又は第２項において、傾斜磁場を印加して
   いる時間を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス
   設計支援方法。 ３１、第１項又は第２項において、信号計測のサンプリ
   ング点数を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス
   設計支援方法。 ３２、第１項又は第２項において、信号計測のサンプリ
   ング間隔を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス
   設計支援方法。 ３３、第１項又は第２項において、信号計測のタイミン
   グを設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支
   援方法。 ３４、第１項又は第２項において、撮影繰返し時間（Ｔ
   Ｒ）を設計することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計
   支援方法。 ３５、第１項又は第２項において、直交した２軸の高周
   波磁場照射系、直行した３軸の傾斜磁場照射系、信号計
   測系の軸を設けることを特徴とするＭＲＩシーケンス設
   計支援方法。 ３６、第３５項において、直交した２軸の高周波磁場照
   射系及び直行した３軸の傾斜磁場照射系を照射系単位で
   データの入れ換えができる機能を有することを特徴とす
   るＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ３７、第１項又は第２項において、グラフィック画面に
   時間軸を設けることを特徴とするＭＲＩシーケンス設計
   支援方法。 ３８、第３７項において、グラフィック画面を時間軸方
   向にスクロールできる機能を有することを特徴とするＭ
   ＲＩシーケンス設計支援方法。 ３９、第３７項において、時間軸の目盛を任意に設定で
   きる機能を有することを特徴とするＭＲＩシーケンス設
   計支援方法。 ４０、第３９項において、指定範囲が画面上に表示でき
   るように時間軸目盛を自動設定できる機能を有すること
   を特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ４１、第３７項において、指定時間を基準に、それ以降
   に設定されているパルスの一括移動が行える機能を有す
   ることを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ４２、第４１項において、移動できる範囲の時間を表示
   し、その範囲以外の値が入力されるとエラーメッセージ
   を表示することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援
   方法。 ４３、第１項又は第２項において、グラフィック画面上
   にコマンドを表示することを特徴とするＭＲＩシーケン
   ス設計支援方法。 ４４、第４項と第４３項を合わせたＭＲＩシーケンス設
   計支援方法において、入力装置によつて選択された処理
   対象に対応したコマンドを表示することを特徴とするＭ
   ＲＩシーケンス設計支援方法。 ４５、第４４項において、１つ前に実行したコマンドに
   よつてコマンドの表示位置が異なることを特徴とするＭ
   ＲＩシーケンス設計支援方法。 ４６、第４項において、入力装置で選択した処理対象が
   シーケンスデータの場合、その数値データを画面上に表
   示することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法
   。 ４７、第４項において、入力装置で選択され、複数個前
   まで処理対象となつていたシーケンスデータの数値デー
   タをグラフィック画面上に表示することを特徴とするＭ
   ＲＩシーケンス設計支援方法。 ４８、第１項において、シーケンス制御プログラムはパ
   ラメータを参照する構造とし、プログラム自動生成の際
   にそのパラメータも自動生成することを特徴とするＭＲ
   Ｉシーケンス設計支援方法。 ４９、第４８項において、自動生成するパラメータの内
   、印加磁場に関するデータは照射系単位にテーブル化し
   、この照射系単位のテーブルデータから、総合的な印加
   磁場テーブルデータを自動生成する機能を有するシーケ
   ンス制御プログラムを自動生成することを特徴とするＭ
   ＲＩシーケンス設計支援方法。 ５０、第４８項において、シーケンス制御プログラムは
   、パラメータにより照射方向を変更できることを特徴と
   するＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ５１、第４８項において、パラメータにより任意に指定
   された時間を基準に、それ以降に設定されているパルス
   の印加タイミングを一括遅延できる機能を有するシーケ
   ンス制御プログラムを自動生成することを特徴とするＭ
   ＲＩシーケンス設計支援方法。 ５２、第４８項において、シーケンス制御プログラムの
   実行中に入力されたパラメータをリアルタイムに反映す
   る機能を有するシーケンス制御プログラムを自動生成す
   ることを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ５３、第１項又は第２項において、高周波磁場、あるい
   は傾斜磁場が線形勾配でない場合、入力データの内の印
   加時間と照射波形点数から、照射時のクロックレートを
   自動計算することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支
   援方法。 ５４、第１項又は第２項において、入力データの内の位
   相エンコードの変化順序から計測信号を格納するアドレ
   スを自動計算することを特徴とするＭＲＩシーケンス設
   計支援方法。 ５５、第１項又は第２項において、入力データの内の信
   号計測サンプリング間隔からフィルタ周波数を自動計算
   することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ５６、第１項又は第２項において、入力データとして撮
   影条件を入力することによりシーケンスを自動設計する
   ことを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。 ５７、第５６項において、撮影条件としてスライス厚、
   スライス選択傾斜磁場強度、高周波磁場印加時間の内、
   ２つのデータを与えることにより残り１つのデータを自
   動計算することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援
   方法。 ５８、第５６項において、撮影条件として分解能、信号
   読みだし傾斜磁場強度、信号計測サンプリング間隔の内
   、２つのデータを与えることにより残り１つのデータを
   自動計算することを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支
   援方法。 ５９、第５６項において、撮影条件としてスライス選択
   傾斜磁場強度とスライス角度の内、どちらか一方を与え
   ることにより他方を自動計算することを特徴とするＭＲ
   Ｉシーケンス設計支援方法 ６０、第１項又は第２項において、、少なくとも３項か
   ら５９項のＭＲＩシーケンス設計支援方法を２つ以上含
   むことを特徴とするＭＲＩシーケンス設計支援方法。