JPH0338549B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0338549B2 JPH0338549B2 JP989682A JP989682A JPH0338549B2 JP H0338549 B2 JPH0338549 B2 JP H0338549B2 JP 989682 A JP989682 A JP 989682A JP 989682 A JP989682 A JP 989682A JP H0338549 B2 JPH0338549 B2 JP H0338549B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- parts
- contacts
- component
- cpu
- lines
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 31
- 238000013102 re-test Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、部品を移動する複数のラインにテ
スタからの信号を伝えるコンタクトをそれぞれ設
け、各コンタクトを開閉して部品に試験信号を送
る部品試験装置についてのものである。
スタからの信号を伝えるコンタクトをそれぞれ設
け、各コンタクトを開閉して部品に試験信号を送
る部品試験装置についてのものである。
［従来の技術］
次に、従来技術による部品試験装置の構成を第
１図により説明する。第１図の１はテスタ、２Ａ
と２Ｂはコンタクト、３Ａ〜３Ｄは例えばICな
どの部品、４Ａと４Ｂは部品３Ａ〜３Ｄの移動用
ラインである。部品３Ａ，３Ｂと部品３Ｃ，３Ｄ
はそれぞれ並列に移動させられる。
１図により説明する。第１図の１はテスタ、２Ａ
と２Ｂはコンタクト、３Ａ〜３Ｄは例えばICな
どの部品、４Ａと４Ｂは部品３Ａ〜３Ｄの移動用
ラインである。部品３Ａ，３Ｂと部品３Ｃ，３Ｄ
はそれぞれ並列に移動させられる。
コンタクト２Ａ，２Ｂにはテスタ１から試験信
号が加えられる。第１図ではコンタクト２Ａ，２
Ｂを閉じて部品３Ａ，３Ｂを試験中であり、部品
３Ｃ，３Ｄを待機させている。
号が加えられる。第１図ではコンタクト２Ａ，２
Ｂを閉じて部品３Ａ，３Ｂを試験中であり、部品
３Ｃ，３Ｄを待機させている。
部品３Ａ，３Ｂの試験が終わると、コンタクト
２Ａ，２Ｂを開いて部品３Ａ，３Ｂを自由にし、
ライン４Ａ，４Ｂで部品３Ａ，３Ｂを次工程に移
動させる。そして、次の部品３Ｃ，３Ｄをコンタ
クト２Ａ，２Ｂの位置まで移動させ、コンタクト
２Ａ，２Ｂを閉じる。
２Ａ，２Ｂを開いて部品３Ａ，３Ｂを自由にし、
ライン４Ａ，４Ｂで部品３Ａ，３Ｂを次工程に移
動させる。そして、次の部品３Ｃ，３Ｄをコンタ
クト２Ａ，２Ｂの位置まで移動させ、コンタクト
２Ａ，２Ｂを閉じる。
第１図には２つのライン４Ａ，４Ｂの例を示し
ているが、必要によりライン数を増やしてもよ
い。
ているが、必要によりライン数を増やしてもよ
い。
第１図の従来装置で多数の部品を試験する場
合、ライン４Ａ，４Ｂによる部品３Ａ〜３Ｄの移
動と、コンタクト２Ａ，２Ｂの開閉と、テスタ１
の信号のオンオフをシーケンシヤルに制御する。
合、ライン４Ａ，４Ｂによる部品３Ａ〜３Ｄの移
動と、コンタクト２Ａ，２Ｂの開閉と、テスタ１
の信号のオンオフをシーケンシヤルに制御する。
第１図のCPU５はこれらを制御するためのも
のであり、第１図の従来装置をCPU５で制御す
る場合のフローチヤートを第２図により説明す
る。
のであり、第１図の従来装置をCPU５で制御す
る場合のフローチヤートを第２図により説明す
る。
ステツプ１１では、部品３Ａ，３Ｂがライン４
Ａ，４Ｂでコンタクト２Ａ，２Ｂの位置にくる
と、コンタクト２Ａ，２Ｂを閉じるようにCPU
５から指令が出る。ステツプ１２では、CPU５
からテスタ１へ試験開始信号を送り、テスタ１か
らの試験信号がコンタクト２Ａ，２Ｂから部品３
Ａ，３Ｂに加えられる。
Ａ，４Ｂでコンタクト２Ａ，２Ｂの位置にくる
と、コンタクト２Ａ，２Ｂを閉じるようにCPU
５から指令が出る。ステツプ１２では、CPU５
からテスタ１へ試験開始信号を送り、テスタ１か
らの試験信号がコンタクト２Ａ，２Ｂから部品３
Ａ，３Ｂに加えられる。
ステツプ１３では、テスタ１からの試験信号に
より試験が進み、テスタ１から試験完了信号が出
たかどうかをCPU５で確認する。ステツプ１４
では、テスタ１から試験完了信号が出ると、コン
タクト２Ａ，２Ｂが開くようにCPU５から指令
が出る。
より試験が進み、テスタ１から試験完了信号が出
たかどうかをCPU５で確認する。ステツプ１４
では、テスタ１から試験完了信号が出ると、コン
タクト２Ａ，２Ｂが開くようにCPU５から指令
が出る。
ステツプ１５では、ステツプ１１〜１４による
部品３Ａ，３Ｂの試験結果について、例えばコン
タクト２Ａ，２Ｂの接触不良でデータがとれなか
つたなど、不完全なところがないかどうかをチエ
ツクし、再試験をするかどうかを判断する。
部品３Ａ，３Ｂの試験結果について、例えばコン
タクト２Ａ，２Ｂの接触不良でデータがとれなか
つたなど、不完全なところがないかどうかをチエ
ツクし、再試験をするかどうかを判断する。
ステツプ１６では、再試験の必要があれば再び
ステツプ１１〜１４を繰り返し、２度目の試験が
終了したかどうかをCPU５で確認する。
ステツプ１１〜１４を繰り返し、２度目の試験が
終了したかどうかをCPU５で確認する。
ステツプ１７では、ステツプ１１〜１６が終る
と、部品３Ａ，３Ｂを次工程へ送り出し、部品３
Ｃ，３Ｄをコンタクト２Ａ，２Ｂの位置へ移動す
るようにCPU５からライン４Ａ，４Ｂに指令が
出る。
と、部品３Ａ，３Ｂを次工程へ送り出し、部品３
Ｃ，３Ｄをコンタクト２Ａ，２Ｂの位置へ移動す
るようにCPU５からライン４Ａ，４Ｂに指令が
出る。
部品３Ｃ，３Ｄがコンタクト２Ａ，２Ｂの位置
にくると、ステツプ１１〜１６により部品３Ｃ，
３Ｄを試験し、以下、同じ手順を繰り返しながら
部品３の試験を続ける。
にくると、ステツプ１１〜１６により部品３Ｃ，
３Ｄを試験し、以下、同じ手順を繰り返しながら
部品３の試験を続ける。
［発明が解決しようとする課題］
ステツプ１５で、例えば部品３Ａは再試験が不
要だが、部品３Ｂは再試験が必要な場合、第１図
ではライン４Ａ，４Ｂを並列運転しているので、
再試験が不要な部品３Ａについてもステツプ１１
〜１６を繰り返す。このため、多数の部品３を試
験するには、時間がかかる。
要だが、部品３Ｂは再試験が必要な場合、第１図
ではライン４Ａ，４Ｂを並列運転しているので、
再試験が不要な部品３Ａについてもステツプ１１
〜１６を繰り返す。このため、多数の部品３を試
験するには、時間がかかる。
この発明は、CPU５が部品３Ａ，３Ｂに対す
る再試験のチエツクと、ライン４Ａ，４Ｂによる
部品３Ａ，３Ｂの移動を部品別に制御することに
より、部品３Ａ〜３Ｄに対する試験の稼働率をあ
げることを目的とする。
る再試験のチエツクと、ライン４Ａ，４Ｂによる
部品３Ａ，３Ｂの移動を部品別に制御することに
より、部品３Ａ〜３Ｄに対する試験の稼働率をあ
げることを目的とする。
［課題を解決するための手段］
この目的を達成するため、この発明では、部品
の移動用に並列に設置される複数のラインと、前
記ラインに設けられ、前記部品に対し開閉される
複数のコンタクトと、前記コンタクトに試験信号
を送るテスタと、前記テスタ・前記コンタクトお
よび前記ラインを制御するCPUとで構成される
部品試験装置であつて、前記CPUは前記部品に
対する再試験のチエツクと、そのチエツク結果に
基づく前記ラインによる前記部品の移動とを前記
部品別に制御する機能をもつ。
の移動用に並列に設置される複数のラインと、前
記ラインに設けられ、前記部品に対し開閉される
複数のコンタクトと、前記コンタクトに試験信号
を送るテスタと、前記テスタ・前記コンタクトお
よび前記ラインを制御するCPUとで構成される
部品試験装置であつて、前記CPUは前記部品に
対する再試験のチエツクと、そのチエツク結果に
基づく前記ラインによる前記部品の移動とを前記
部品別に制御する機能をもつ。
［実施例］
次に、この発明による実施例のフローチヤート
を第３図により説明する。第３図のステツプ２１
〜２４は第２図のステツプ１１〜１４とそれぞれ
同じものである。
を第３図により説明する。第３図のステツプ２１
〜２４は第２図のステツプ１１〜１４とそれぞれ
同じものである。
ステツプ２５では、部品３Ａの試験結果につい
てチエツクし、再試験をするかどうかを判断す
る。ステツプ２５は第２図のステツプ１５に似て
いるが、ステツプ２５では部分３Ａについて判断
するところが相違する。
てチエツクし、再試験をするかどうかを判断す
る。ステツプ２５は第２図のステツプ１５に似て
いるが、ステツプ２５では部分３Ａについて判断
するところが相違する。
ステツプ２６では、部品３Ａについて再試験が
終了したかどうかをCPU５で確認する。
終了したかどうかをCPU５で確認する。
ステツプ２７では、ステツプ２５で再試験の必
要がない場合、またはステツプ２６で再試験が終
了したことを確認した場合は部品３Ａを次工程へ
送り出し、次の部分３Ｃをコンタクト２Ａの位置
へ移動させる指令がCPU５から出る。
要がない場合、またはステツプ２６で再試験が終
了したことを確認した場合は部品３Ａを次工程へ
送り出し、次の部分３Ｃをコンタクト２Ａの位置
へ移動させる指令がCPU５から出る。
次のステツプ２８〜３０では、部品３Ｂについ
てステツプ２５〜２７と同じような手順を繰り返
す。すなわち、第３図では部品３Ａ，３Ｂの試験
が終了すると、まず部品３Ａについて、次に部品
３Ｂについてそれぞれ再試験が必要かどうかを確
認する。再試験の必要があるときはステツプ３０
からステツプ２１に戻る。このとき、どちらか片
方だけ再試験の必要があるときは、再試験の必要
がある部品３Ａまたは３Ｂだけを残し、次の部品
３Ｃまたは３Ｄをコンタクト２Ａ，２Ｂの位置へ
移動する。
てステツプ２５〜２７と同じような手順を繰り返
す。すなわち、第３図では部品３Ａ，３Ｂの試験
が終了すると、まず部品３Ａについて、次に部品
３Ｂについてそれぞれ再試験が必要かどうかを確
認する。再試験の必要があるときはステツプ３０
からステツプ２１に戻る。このとき、どちらか片
方だけ再試験の必要があるときは、再試験の必要
がある部品３Ａまたは３Ｂだけを残し、次の部品
３Ｃまたは３Ｄをコンタクト２Ａ，２Ｂの位置へ
移動する。
次に、第３図のタイムチヤートを第４図により
説明する。第４図のT1はステツプ２２に対応し、
部品３Ａ，３Ｂの試験を開始する。T2はステツ
プ２３，２４に対応し、コンタクト２Ａ，２Ｂを
開く。T3はステツプ２５に対応し、部品３Ａは
再試験の必要がないとする。T4はステツプ２８
に対応し、部品３Ｂは再試験の必要があるとす
る。T5はステツプ２７に対応し、部品３Ａを次
工程へ送り出し、次の部品３Ｃをコンタクト２Ａ
の位置に移動させる。このとき、部品３Ｂは再試
験のため、コンタクト２Ｂの位置に残る。T6は
次の試験開始であり、部品３Ｂ，３Ｃがテストを
受ける。
説明する。第４図のT1はステツプ２２に対応し、
部品３Ａ，３Ｂの試験を開始する。T2はステツ
プ２３，２４に対応し、コンタクト２Ａ，２Ｂを
開く。T3はステツプ２５に対応し、部品３Ａは
再試験の必要がないとする。T4はステツプ２８
に対応し、部品３Ｂは再試験の必要があるとす
る。T5はステツプ２７に対応し、部品３Ａを次
工程へ送り出し、次の部品３Ｃをコンタクト２Ａ
の位置に移動させる。このとき、部品３Ｂは再試
験のため、コンタクト２Ｂの位置に残る。T6は
次の試験開始であり、部品３Ｂ，３Ｃがテストを
受ける。
すなわち、ステツプ２５とステツプ２８で部品
３Ａ，３Ｂを部品別にチエツクし、再試験が不要
なものは隣の部品の試験結果に関係なく次工程へ
送り出され、再試験が必要な部品はそのままの位
置に残される。
３Ａ，３Ｂを部品別にチエツクし、再試験が不要
なものは隣の部品の試験結果に関係なく次工程へ
送り出され、再試験が必要な部品はそのままの位
置に残される。
次のステツプでは再試験の必要なものがあると
きは再試験のために残された部品と、新たに送り
込まれた部品を試験する。
きは再試験のために残された部品と、新たに送り
込まれた部品を試験する。
［発明の効果］
この発明によれば、CPU５が部品３Ａ，３Ｂ
に対する再試験のチエツクと、ライン４Ａ，４Ｂ
による部品３Ａ，３Ｂの移動を部品別に制御する
ので、部品３Ａ〜３Ｄに対する試験の稼働率をあ
げることができる。
に対する再試験のチエツクと、ライン４Ａ，４Ｂ
による部品３Ａ，３Ｂの移動を部品別に制御する
ので、部品３Ａ〜３Ｄに対する試験の稼働率をあ
げることができる。
第１図は従来技術による部品試験装置の構成
図、第２図は第１図のフローチヤート、第３図は
この発明による実施例のフローチヤート、第４図
は第３図のタイムチヤートである。 １……テスタ、２Ａ，２Ｂ……コンタクト、３
Ａ〜３Ｄ……部品、４Ａ，４Ｂ……ライン、５…
…CPU。
図、第２図は第１図のフローチヤート、第３図は
この発明による実施例のフローチヤート、第４図
は第３図のタイムチヤートである。 １……テスタ、２Ａ，２Ｂ……コンタクト、３
Ａ〜３Ｄ……部品、４Ａ，４Ｂ……ライン、５…
…CPU。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 部品の移動用に並列に設置される複数のライ
ンと、前記ラインに設けられ、前記部品に対し開
閉される複数のコンタクトと、前記コンタクトに
試験信号を送るテスタと、前記テスタ・前記コン
タクトおよび前記ラインを制御するCPUとで構
成される部品試験装置であつて、 前記CPUは前記部品に対する再試験のチエツ
クと、そのチエツク結果に基づく前記ラインによ
る前記部品の移動とを前記部品別に制御する機能
をもつことを特徴とする部品試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP989682A JPS58127178A (ja) | 1982-01-25 | 1982-01-25 | 部品試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP989682A JPS58127178A (ja) | 1982-01-25 | 1982-01-25 | 部品試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58127178A JPS58127178A (ja) | 1983-07-28 |
| JPH0338549B2 true JPH0338549B2 (ja) | 1991-06-11 |
Family
ID=11732881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP989682A Granted JPS58127178A (ja) | 1982-01-25 | 1982-01-25 | 部品試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58127178A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6122267A (ja) * | 1984-06-29 | 1986-01-30 | Fujitsu Ltd | 試験用治具の取付構造及びそれによる試験方法 |
-
1982
- 1982-01-25 JP JP989682A patent/JPS58127178A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58127178A (ja) | 1983-07-28 |
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