JPH0342420B2 - - Google Patents
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- JPH0342420B2 JPH0342420B2 JP57205569A JP20556982A JPH0342420B2 JP H0342420 B2 JPH0342420 B2 JP H0342420B2 JP 57205569 A JP57205569 A JP 57205569A JP 20556982 A JP20556982 A JP 20556982A JP H0342420 B2 JPH0342420 B2 JP H0342420B2
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- JP
- Japan
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- sample
- graphite tube
- sample carrier
- recess
- hole
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/74—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited using flameless atomising, e.g. graphite furnaces
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、黒鉛管がその両端で接触片の間に支
持され、各接触片が測定光束通過のため黒鉛管の
縦孔と同心の孔を有し、この黒鉛管へ試料を導入
するため (a) 試料を試料キヤリヤへ供給し、 (b) 試料キヤリヤを黒鉛管外の第1位置へ移動
し、そこで試料を灰化のため加熱し、 (c) 試料キヤリヤを黒鉛管内の第2位置へ移動
し、そこで試料を原子化のため加熱する フレームレス原子吸光分光分析装置の黒鉛管へ
試料を導入する装置に関する。
持され、各接触片が測定光束通過のため黒鉛管の
縦孔と同心の孔を有し、この黒鉛管へ試料を導入
するため (a) 試料を試料キヤリヤへ供給し、 (b) 試料キヤリヤを黒鉛管外の第1位置へ移動
し、そこで試料を灰化のため加熱し、 (c) 試料キヤリヤを黒鉛管内の第2位置へ移動
し、そこで試料を原子化のため加熱する フレームレス原子吸光分光分析装置の黒鉛管へ
試料を導入する装置に関する。
黒鉛管原子化装置の場合、黒鉛管は2つの環状
接触片の間に支持される。通常冷却剤が貫流する
冷却室として形成される接触片を介して黒鉛管に
電流を通し、それによつて黒鉛管を高温に加熱す
ることができる。公知黒鉛管の場合、筒面に横方
向の試料導入孔が設けられ、この孔を介して多く
は液体の試料を黒鉛管へ導入することができる。
次に黒鉛管は導入試料を乾燥し、これを灰化し、
最後に試料の種々の成分が原子状態で存在する原
子雲が黒鉛管内に形成されるように、数段階に加
熱される。原子吸光分光分析装置の測定光束は環
状接触片の孔および黒鉛管の縦孔を縦方向に通過
する。この測定光束はたとえば中空陰極ランプに
より発生する被検元素の共鳴線のみを含む光線に
よつて形成される。それゆえ理想的には測定光束
は原子雲中の被検元素の原子のみによつて吸収さ
れ、測定光束の減衰は試料中の被検元素の量の尺
度である。
接触片の間に支持される。通常冷却剤が貫流する
冷却室として形成される接触片を介して黒鉛管に
電流を通し、それによつて黒鉛管を高温に加熱す
ることができる。公知黒鉛管の場合、筒面に横方
向の試料導入孔が設けられ、この孔を介して多く
は液体の試料を黒鉛管へ導入することができる。
次に黒鉛管は導入試料を乾燥し、これを灰化し、
最後に試料の種々の成分が原子状態で存在する原
子雲が黒鉛管内に形成されるように、数段階に加
熱される。原子吸光分光分析装置の測定光束は環
状接触片の孔および黒鉛管の縦孔を縦方向に通過
する。この測定光束はたとえば中空陰極ランプに
より発生する被検元素の共鳴線のみを含む光線に
よつて形成される。それゆえ理想的には測定光束
は原子雲中の被検元素の原子のみによつて吸収さ
れ、測定光束の減衰は試料中の被検元素の量の尺
度である。
通常試料は液体中に溶液として存在する。測定
の溶剤による影響を除去し、試料を測定のため迅
速に原子化するため、試料を測定前に低温で乾燥
し、その際溶剤は蒸発する。次に灰化が行われ、
試料は高温で熱分解する。その際試料の非揮発性
成分によつてカーボンブラツクが発生し、これが
測定光束の非特定吸収によつて測定を誤まらせ
る。これらの妨害成分は本来の測定前に黒鉛管を
連続的に流れる不活性ガス流により除去される。
不活性ガス流は空気侵入したがつて黒鉛管の燃焼
を防ぐ。
の溶剤による影響を除去し、試料を測定のため迅
速に原子化するため、試料を測定前に低温で乾燥
し、その際溶剤は蒸発する。次に灰化が行われ、
試料は高温で熱分解する。その際試料の非揮発性
成分によつてカーボンブラツクが発生し、これが
測定光束の非特定吸収によつて測定を誤まらせ
る。これらの妨害成分は本来の測定前に黒鉛管を
連続的に流れる不活性ガス流により除去される。
不活性ガス流は空気侵入したがつて黒鉛管の燃焼
を防ぐ。
この形式の公知黒鉛管の場合、試料は黒鉛管の
ぼほ中央の内壁の下部に集まるように黒鉛管に注
入される。黒鉛管の温度は乾燥、灰化および原子
化のため所定のプログラムによつて変化される。
ぼほ中央の内壁の下部に集まるように黒鉛管に注
入される。黒鉛管の温度は乾燥、灰化および原子
化のため所定のプログラムによつて変化される。
乾燥および灰化は直線管である黒鉛管内部の測
定光束光路内で行われる。それによつて測定光束
の当る検知器に信号が発生する。不活性ガス流に
よつて黒鉛管から完全に除去されずに残つた乾燥
および灰化過程の妨害成分は黒鉛管の内壁に凝縮
し、引続く測定を誤まらせることがある。
定光束光路内で行われる。それによつて測定光束
の当る検知器に信号が発生する。不活性ガス流に
よつて黒鉛管から完全に除去されずに残つた乾燥
および灰化過程の妨害成分は黒鉛管の内壁に凝縮
し、引続く測定を誤まらせることがある。
多くの場合試料中の被検元素が原子化する原子
化温度は元素が乾燥および灰化した試料中に存在
する化合物の形によつて異なる。灰化の後黒鉛管
を連続的に加熱すると、被検元素はまず1つの化
合物から原子化し、次にさらに高温で他の化合物
から原子化することが起りうる。それによつてそ
れぞれの信号が検知器に達するので、検知器信号
のピーク高さと被検元素の量の関係の一義性が損
われることになる。
化温度は元素が乾燥および灰化した試料中に存在
する化合物の形によつて異なる。灰化の後黒鉛管
を連続的に加熱すると、被検元素はまず1つの化
合物から原子化し、次にさらに高温で他の化合物
から原子化することが起りうる。それによつてそ
れぞれの信号が検知器に達するので、検知器信号
のピーク高さと被検元素の量の関係の一義性が損
われることになる。
この理由から試料溶液を滴の形でたとえばタン
グステン線コイルのような試料キヤリヤへ供給す
ることは公知である。試料溶液を有する試料キヤ
リヤは黒鉛管の横方向導入孔の前の位置へ送られ
る。不活性ガス流は黒鉛管を端部から通過し、導
入孔から出る。黒鉛管を加熱すると不活性ガス流
も高温で出る。試料はこの高温不活性ガス流によ
り乾燥される。蒸発する溶剤はまつたく黒鉛管へ
入らない(Analytical Chemistry51巻1979年、
2375〜2378ページ参照)。
グステン線コイルのような試料キヤリヤへ供給す
ることは公知である。試料溶液を有する試料キヤ
リヤは黒鉛管の横方向導入孔の前の位置へ送られ
る。不活性ガス流は黒鉛管を端部から通過し、導
入孔から出る。黒鉛管を加熱すると不活性ガス流
も高温で出る。試料はこの高温不活性ガス流によ
り乾燥される。蒸発する溶剤はまつたく黒鉛管へ
入らない(Analytical Chemistry51巻1979年、
2375〜2378ページ参照)。
試料キヤリヤをさらに黒鉛管へ接近させると、
試料キヤリヤの温度は黒鉛管からの熱伝達により
さらに上昇し、乾燥した試料も加熱され、熱分解
する。これも黒鉛管外で起る。次に黒鉛管を原子
化温度へ加熱する。この温度に達した後、試料キ
ヤリヤを迅速に黒鉛管へ導入する。
試料キヤリヤの温度は黒鉛管からの熱伝達により
さらに上昇し、乾燥した試料も加熱され、熱分解
する。これも黒鉛管外で起る。次に黒鉛管を原子
化温度へ加熱する。この温度に達した後、試料キ
ヤリヤを迅速に黒鉛管へ導入する。
このようにして乾燥および灰化過程から妨害成
分が黒鉛管内壁に凝縮することが防止される。乾
燥および分解した試料は試料キヤリヤの導入によ
つて一気に最高温度へ加熱され、被検元素の原子
はその化合物と無関係に同時に原子雲に入る。
分が黒鉛管内壁に凝縮することが防止される。乾
燥および分解した試料は試料キヤリヤの導入によ
つて一気に最高温度へ加熱され、被検元素の原子
はその化合物と無関係に同時に原子雲に入る。
西独公開特許公報第3008938号により黒鉛管を
有するフレームレス原子吸光分光分析装置が公知
であり、この管は試料導入のため横方向の導入孔
を備え、この管に導入孔を包囲する管状の横方向
突起が設けられる。液体試料溶液の滴はコイルの
形のキヤリヤへ供給される。キヤリヤは黒鉛管の
導入孔の前の位置へ送られ、黒鉛管が加熱される
と試料は流出する高温不活性ガス流により乾燥さ
れる。続いてキヤリヤは熱分解のため黒鉛管の横
方向管状突起へ導入され、黒鉛管は灰化温度に加
熱される。
有するフレームレス原子吸光分光分析装置が公知
であり、この管は試料導入のため横方向の導入孔
を備え、この管に導入孔を包囲する管状の横方向
突起が設けられる。液体試料溶液の滴はコイルの
形のキヤリヤへ供給される。キヤリヤは黒鉛管の
導入孔の前の位置へ送られ、黒鉛管が加熱される
と試料は流出する高温不活性ガス流により乾燥さ
れる。続いてキヤリヤは熱分解のため黒鉛管の横
方向管状突起へ導入され、黒鉛管は灰化温度に加
熱される。
西独公開特許公報第3009784号により黒鉛管内
へ導入するように設計された導電性材料の試料キ
ヤリヤを有する、フレームレス原子吸光分光分析
装置の黒鉛管へ試料を導入する装置が公知であ
り、この装置によれば試料キヤリヤは電気的接続
端子を備え、黒鉛管外で電流通過により制御下に
加熱することができ、試料の乾燥および熱分解は
黒鉛管外で試料キヤリヤを加熱して行われる。試
料キヤリヤは原子化のため黒鉛管の横方向の孔へ
送られる。
へ導入するように設計された導電性材料の試料キ
ヤリヤを有する、フレームレス原子吸光分光分析
装置の黒鉛管へ試料を導入する装置が公知であ
り、この装置によれば試料キヤリヤは電気的接続
端子を備え、黒鉛管外で電流通過により制御下に
加熱することができ、試料の乾燥および熱分解は
黒鉛管外で試料キヤリヤを加熱して行われる。試
料キヤリヤは原子化のため黒鉛管の横方向の孔へ
送られる。
西独公開特許公報第2710861号により液体試料
を試料キヤリヤへ供給し、乾燥し、熱分解のため
加熱し、次に試料キヤリヤを黒鉛管へ導入する、
フレームレス原子吸光分光分析装置の黒鉛管へ試
料を導入する装置が公知である。この公知装置は
導電材料からなる直線ワイヤの形の試料キヤリヤ
を有し、その上に互いに離れたコイル状部材が巻
かれる。このコイル状部材へ液体試料が供給され
る。試料キヤリヤは黒鉛管へ導入され、その際直
線ワイヤは1線上にある黒鉛管の横方向の孔を通
過し、すなわち黒鉛管を横断する。ワイヤは電気
的接続端子を備え、それによつて加熱可能であ
る。1組の平行脚が試料キヤリヤと接続され、こ
れを保持する。脚は黒鉛管の縦軸に対し直角方向
に動きうるキヤリジに固定される。この脚はキヤ
リジの運動方向と直角に黒鉛管の両側へ拡がり、
脚の間の黒鉛管を横方向に通過する直線ワイヤを
保持する。キヤリジの段階的進行によつてワイヤ
は黒鉛管を通して段階的に引かれる。このように
して供給試料を有する異なるコイル部材が逐次黒
鉛管へ入る。接続端子を介して直線ワイヤに通電
することにより液体試料は黒鉛管外ですでに乾燥
され、すなわち溶剤は蒸発し、灰化される。この
方法で多数の試料を逐次迅速に分析することがで
きる。
を試料キヤリヤへ供給し、乾燥し、熱分解のため
加熱し、次に試料キヤリヤを黒鉛管へ導入する、
フレームレス原子吸光分光分析装置の黒鉛管へ試
料を導入する装置が公知である。この公知装置は
導電材料からなる直線ワイヤの形の試料キヤリヤ
を有し、その上に互いに離れたコイル状部材が巻
かれる。このコイル状部材へ液体試料が供給され
る。試料キヤリヤは黒鉛管へ導入され、その際直
線ワイヤは1線上にある黒鉛管の横方向の孔を通
過し、すなわち黒鉛管を横断する。ワイヤは電気
的接続端子を備え、それによつて加熱可能であ
る。1組の平行脚が試料キヤリヤと接続され、こ
れを保持する。脚は黒鉛管の縦軸に対し直角方向
に動きうるキヤリジに固定される。この脚はキヤ
リジの運動方向と直角に黒鉛管の両側へ拡がり、
脚の間の黒鉛管を横方向に通過する直線ワイヤを
保持する。キヤリジの段階的進行によつてワイヤ
は黒鉛管を通して段階的に引かれる。このように
して供給試料を有する異なるコイル部材が逐次黒
鉛管へ入る。接続端子を介して直線ワイヤに通電
することにより液体試料は黒鉛管外ですでに乾燥
され、すなわち溶剤は蒸発し、灰化される。この
方法で多数の試料を逐次迅速に分析することがで
きる。
この公知装置は多数の試料の逐次的迅速分析に
適している。しかし種々の問題を伴う。
適している。しかし種々の問題を伴う。
黒鉛管原子化装置はワイヤが通過するため互い
に1線上にある2つの横方向の孔を備えなければ
ならない。
に1線上にある2つの横方向の孔を備えなければ
ならない。
黒鉛管の相対する側に2つの比較的大きい孔を
設けなければならない。それによつて黒鉛管内に
形成される原子雲の消滅が促進される。
設けなければならない。それによつて黒鉛管内に
形成される原子雲の消滅が促進される。
黒鉛管は一定回数の分析後交換される消耗要素
である。ワイヤは黒鉛管を通して導かれているの
で、黒鉛管の各交換ごとにワイヤを脚および電気
的接続部から切離し、古い黒鉛管を除去した後、
新たな黒鉛管に通さなければならない。これは複
雑で時間を要する過程であり、さらに装置が迅速
に摩耗する。
である。ワイヤは黒鉛管を通して導かれているの
で、黒鉛管の各交換ごとにワイヤを脚および電気
的接続部から切離し、古い黒鉛管を除去した後、
新たな黒鉛管に通さなければならない。これは複
雑で時間を要する過程であり、さらに装置が迅速
に摩耗する。
西独公開特許公報第2219190号により試料を導
電材料の小さいルツボへ導入するフレームレス原
子吸光分光分析装置の試料原子化装置が公知であ
る。このルツボは互いに近く離れて配置した2つ
の脚によつて支持される。ルツボは脚を介する通
電によつて原子化温度へ加熱される。ルツボは加
熱された管状トラツプによつて包囲される。常用
黒鉛管と異なりこのトラツプは試料の原子化によ
つて形成される原子雲を封鎖するだけの機能しか
有しない。トラツプの加熱は試料を原子化するた
めでなく、試料原子がトラツプに凝縮するのを防
ぐだけである。西独公開特許公報第2219190号に
は乾燥および灰化過程を実施するためトラツプに
よつて仕切られる空所からルツボを出すことも提
案されている。
電材料の小さいルツボへ導入するフレームレス原
子吸光分光分析装置の試料原子化装置が公知であ
る。このルツボは互いに近く離れて配置した2つ
の脚によつて支持される。ルツボは脚を介する通
電によつて原子化温度へ加熱される。ルツボは加
熱された管状トラツプによつて包囲される。常用
黒鉛管と異なりこのトラツプは試料の原子化によ
つて形成される原子雲を封鎖するだけの機能しか
有しない。トラツプの加熱は試料を原子化するた
めでなく、試料原子がトラツプに凝縮するのを防
ぐだけである。西独公開特許公報第2219190号に
は乾燥および灰化過程を実施するためトラツプに
よつて仕切られる空所からルツボを出すことも提
案されている。
これは常用黒鉛管によつて作業しないフレーム
レス原子吸光分光分析装置のための特殊な方法で
ある。この文献には試料の導入および要素相互の
運動をいかに構造的に実施するのかは記載されて
いない。
レス原子吸光分光分析装置のための特殊な方法で
ある。この文献には試料の導入および要素相互の
運動をいかに構造的に実施するのかは記載されて
いない。
前記装置は液体試料を黒鉛管へ導入するために
使用される。
使用される。
西独公開特許公報第2945646号により原子吸光
分光分析装置の黒鉛管原子化装置へ固体または半
固体試料を供給する方法が公知であり、この方法
によれば試料は器具により採取され、この器具の
横方向寸法は通常黒鉛管の筒面に設けられる供給
孔へこの器具を導入しうる大きさである。器具は
試料とともにこの供給孔を介して黒鉛管内へ導入
される。器具は1種のスプーンからなり、導入し
た固体試料を黒鉛管内へ明けるため180°にわたつ
て回転しうるように形成される。
分光分析装置の黒鉛管原子化装置へ固体または半
固体試料を供給する方法が公知であり、この方法
によれば試料は器具により採取され、この器具の
横方向寸法は通常黒鉛管の筒面に設けられる供給
孔へこの器具を導入しうる大きさである。器具は
試料とともにこの供給孔を介して黒鉛管内へ導入
される。器具は1種のスプーンからなり、導入し
た固体試料を黒鉛管内へ明けるため180°にわたつ
て回転しうるように形成される。
西独特許第2023336号明細書によりさらにハウ
ジング、接触片および黒鉛管を有する黒鉛管原子
化装置を黒鉛管に1端から接触片を介して近づき
うるように、測定光束に対して離れるように旋回
することが公知である。その際黒鉛管端面から固
体試料を黒鉛管へ適当な器具により導入すること
ができる。
ジング、接触片および黒鉛管を有する黒鉛管原子
化装置を黒鉛管に1端から接触片を介して近づき
うるように、測定光束に対して離れるように旋回
することが公知である。その際黒鉛管端面から固
体試料を黒鉛管へ適当な器具により導入すること
ができる。
本発明の目的は首記形式の装置を多量の試料お
よび固体または粉末試料も供給しうるように形成
することである。
よび固体または粉末試料も供給しうるように形成
することである。
この目的は本発明によりほぼ矩形の細長い平部
材から形成され、この平部材に1端で浅い凹所が
備えられ、この凹所は平部材上で横方向にずれ、
この平部材が凹所から遠い第1端部から部材のほ
ぼ全長に亙つて、凹所の横を通つて第2端部の少
し前まで拡がつている縦スロツトを有する、試料
を供給する板状またはルツボ状試料キヤリヤと、 黒鉛管の端面より前方の測定光束の光路外に配
置されている、試料の灰化を達成する黒鉛管外の
第1位置および測定光束より下で試料キヤリヤを
維持し、かつ、試料の原子化を行う黒鉛管内の第
2位置へ試料キヤリヤを移動する装置とを有する
ことにより達成される。
材から形成され、この平部材に1端で浅い凹所が
備えられ、この凹所は平部材上で横方向にずれ、
この平部材が凹所から遠い第1端部から部材のほ
ぼ全長に亙つて、凹所の横を通つて第2端部の少
し前まで拡がつている縦スロツトを有する、試料
を供給する板状またはルツボ状試料キヤリヤと、 黒鉛管の端面より前方の測定光束の光路外に配
置されている、試料の灰化を達成する黒鉛管外の
第1位置および測定光束より下で試料キヤリヤを
維持し、かつ、試料の原子化を行う黒鉛管内の第
2位置へ試料キヤリヤを移動する装置とを有する
ことにより達成される。
本発明の装置の有利な形成は特許請求の範囲第
2〜4項に記載される。
2〜4項に記載される。
装置の別の形成は特許請求の範囲第5項に記載
される。
される。
本発明によれば、試料は板状またはルツボ状試
料キヤリヤへ供給され、原子化のため軸方向に黒
鉛管内へその端面から導入される。それによつて
多量の試料および固体試料も導入することができ
る。試料の灰化はしかし黒鉛管外すなわち試料キ
ヤリヤの端面の前で行われるので、黒鉛管内での
試料灰化に伴う前記問題は発生しない。
料キヤリヤへ供給され、原子化のため軸方向に黒
鉛管内へその端面から導入される。それによつて
多量の試料および固体試料も導入することができ
る。試料の灰化はしかし黒鉛管外すなわち試料キ
ヤリヤの端面の前で行われるので、黒鉛管内での
試料灰化に伴う前記問題は発生しない。
公知方法および装置の場合、試料は横方向の供
給孔を通して導入され、とくに固体試料の場合試
料の寸法にしたがつて量が制限され、または試料
は黒鉛管へ端面からスプーン等で導入され、次に
そこで明けられるので、灰化も黒鉛管内で行われ
る。
給孔を通して導入され、とくに固体試料の場合試
料の寸法にしたがつて量が制限され、または試料
は黒鉛管へ端面からスプーン等で導入され、次に
そこで明けられるので、灰化も黒鉛管内で行われ
る。
次に本発明を図面により説明する。
第1図の実施例によれば黒鉛管10はその端部
で、冷却剤が貫流する冷却室12(第1図には1
つしか示されない。)の間に支持される。冷却室
は黒鉛管10の接触片として役立つ。冷却室12
はそれぞれ測定光束20の通過を可能にするた
め、黒鉛管10の縦孔16と同心の孔を備える。
ホルダ24および試料キヤリヤ26を有するキヤ
リジ22は1つの冷却室12の孔18内の測定光
束光路の下に配置され、孔18および黒鉛管10
の縦方向に可動に案内される。サーボモータは2
8で示される。試料キヤリヤ26を無接触加熱す
るため、この例では光源32およびレフレクタ3
4の形の加熱装置30も冷却室内に配置される。
供給窓36は冷却室12内の加熱装置30の範囲
に配置され、この供給窓を通して試料キヤリヤ2
6を装入し、試料の乾燥および分解の間蒸気を排
出することができる。
で、冷却剤が貫流する冷却室12(第1図には1
つしか示されない。)の間に支持される。冷却室
は黒鉛管10の接触片として役立つ。冷却室12
はそれぞれ測定光束20の通過を可能にするた
め、黒鉛管10の縦孔16と同心の孔を備える。
ホルダ24および試料キヤリヤ26を有するキヤ
リジ22は1つの冷却室12の孔18内の測定光
束光路の下に配置され、孔18および黒鉛管10
の縦方向に可動に案内される。サーボモータは2
8で示される。試料キヤリヤ26を無接触加熱す
るため、この例では光源32およびレフレクタ3
4の形の加熱装置30も冷却室内に配置される。
供給窓36は冷却室12内の加熱装置30の範囲
に配置され、この供給窓を通して試料キヤリヤ2
6を装入し、試料の乾燥および分解の間蒸気を排
出することができる。
ホルダ24および試料キヤリヤ26を有するキ
ヤリジ22はサーボモータ28により制御下に黒
鉛管10の端面の方向へ、さらに黒鉛管の孔内へ
進入しうるように配置される。キヤリジ22の第
1図に示す第1作業位置で試料キヤリヤ26はこ
れを無接触に加熱するように設計された加熱装置
30の範囲にある。第1図に破線で示す試料キヤ
リジ22の第2作業位置で試料キヤリヤ26を有
するホルダ24は黒鉛管10の内部へ拡がる。
ヤリジ22はサーボモータ28により制御下に黒
鉛管10の端面の方向へ、さらに黒鉛管の孔内へ
進入しうるように配置される。キヤリジ22の第
1図に示す第1作業位置で試料キヤリヤ26はこ
れを無接触に加熱するように設計された加熱装置
30の範囲にある。第1図に破線で示す試料キヤ
リジ22の第2作業位置で試料キヤリヤ26を有
するホルダ24は黒鉛管10の内部へ拡がる。
この配置により常用黒鉛管を使用しうる利点が
得られる。黒鉛管10を常用法により小さい導入
孔38を介して直接、または前記試料キヤリヤ2
6により選択的に負荷することができる。
得られる。黒鉛管10を常用法により小さい導入
孔38を介して直接、または前記試料キヤリヤ2
6により選択的に負荷することができる。
ホルダ24は高融点金属、黒鉛または無定形炭
素からなることができる。試料は試料キヤリヤ2
6へ配置される。試料キヤリヤは黒鉛管10の外
部から第1位置へ動かされ、試料はそこで加熱装
置30により灰化のため加熱される。続いて試料
キヤリヤは黒鉛管10の内部の第2位置へ動かさ
れる。試料はそこで原子化のためこの例では黒鉛
管10の加熱によつて加熱される。板状またはル
ツボ状試料キヤリヤは軸方向に黒鉛管10の端面
から測定光束より下の第2位置へ動かされる。
素からなることができる。試料は試料キヤリヤ2
6へ配置される。試料キヤリヤは黒鉛管10の外
部から第1位置へ動かされ、試料はそこで加熱装
置30により灰化のため加熱される。続いて試料
キヤリヤは黒鉛管10の内部の第2位置へ動かさ
れる。試料はそこで原子化のためこの例では黒鉛
管10の加熱によつて加熱される。板状またはル
ツボ状試料キヤリヤは軸方向に黒鉛管10の端面
から測定光束より下の第2位置へ動かされる。
試料は固体状態で試料キヤリヤへ供給すること
ができる。
ができる。
第1位置での試料の灰化は黒鉛管10から離れ
た加熱装置30によつて実施される。
た加熱装置30によつて実施される。
第2図に示すもう1つの実施例によれば黒鉛管
40は通常冷却室として設計される2つの接触片
42と44の間に挾まれる。接触片はそれぞれ黒
鉛管10の孔と同心の孔46および48を有し、
この孔はそれぞれ窓50および52によつて外側
が閉鎖される。この装置は試料を供給する試料キ
ヤリヤ54ならびに試料キヤリヤ54を黒鉛管4
0の外部の試料を灰化する第1位置および試料を
原子化する黒鉛管内部の第2位置へ動かす装置5
6を有する。試料キヤリヤ54は後述のように板
状またはルツボ形である。試料キヤリヤを移動す
る装置56は黒鉛管40の1端面すなわち右側端
面より前方の測定光束58の光路外に配置され
る。試料キヤリヤ54はこの端面から軸方向に黒
鉛管40内の測定光束58より下の第2位置へ動
くことができる。
40は通常冷却室として設計される2つの接触片
42と44の間に挾まれる。接触片はそれぞれ黒
鉛管10の孔と同心の孔46および48を有し、
この孔はそれぞれ窓50および52によつて外側
が閉鎖される。この装置は試料を供給する試料キ
ヤリヤ54ならびに試料キヤリヤ54を黒鉛管4
0の外部の試料を灰化する第1位置および試料を
原子化する黒鉛管内部の第2位置へ動かす装置5
6を有する。試料キヤリヤ54は後述のように板
状またはルツボ形である。試料キヤリヤを移動す
る装置56は黒鉛管40の1端面すなわち右側端
面より前方の測定光束58の光路外に配置され
る。試料キヤリヤ54はこの端面から軸方向に黒
鉛管40内の測定光束58より下の第2位置へ動
くことができる。
試料キヤリヤ移動装置56は黒鉛管40の縦方
向に直線的に案内されるキヤリジ60を備え、試
料キヤリヤ54はこのキヤリジの黒鉛管側に固定
され、黒鉛管の縦方向に拡がる。サーボモータ6
2はたとえばピニオンおよびラツクによつてキヤ
リジに結合され、このサーボモータにより試料キ
ヤリヤ54を有するキヤリジ60は制御下に黒鉛
管40の端面の方向へ進むことができる。キヤリ
ジ60は測定光束58のための孔を有する管の形
である。キヤリジ60は測定光束より下に軸方向
に突出するホルダ66を有し、試料キヤリヤはこ
のホルダに固定される。
向に直線的に案内されるキヤリジ60を備え、試
料キヤリヤ54はこのキヤリジの黒鉛管側に固定
され、黒鉛管の縦方向に拡がる。サーボモータ6
2はたとえばピニオンおよびラツクによつてキヤ
リジに結合され、このサーボモータにより試料キ
ヤリヤ54を有するキヤリジ60は制御下に黒鉛
管40の端面の方向へ進むことができる。キヤリ
ジ60は測定光束58のための孔を有する管の形
である。キヤリジ60は測定光束より下に軸方向
に突出するホルダ66を有し、試料キヤリヤはこ
のホルダに固定される。
冷却室44は黒鉛管側端部に試料導入のための
横方向供給窓68を有する。第2図の実施例では
キヤリジ60はサーボモータ62により試料供給
位置、後退位置、灰化位置、原子化位置へ動くこ
とができる。試料供給位置で試料キヤリヤ54は
供給窓の下に配置される。後退位置で試料キヤリ
ヤ54は供給窓68の黒鉛管40から遠い側に配
置される。灰化位置で試料キヤリヤは供給窓68
と黒鉛管40の端面の間に配置される。原子化位
置で試料キヤリヤ54は黒鉛管内にある。第2図
で試料供給位置は線72、後退位置は線74、灰
化位置は線76、原子化位置は線78によつて示
される。第2図では試料キヤリヤ54はその後退
位置に示される。
横方向供給窓68を有する。第2図の実施例では
キヤリジ60はサーボモータ62により試料供給
位置、後退位置、灰化位置、原子化位置へ動くこ
とができる。試料供給位置で試料キヤリヤ54は
供給窓の下に配置される。後退位置で試料キヤリ
ヤ54は供給窓68の黒鉛管40から遠い側に配
置される。灰化位置で試料キヤリヤは供給窓68
と黒鉛管40の端面の間に配置される。原子化位
置で試料キヤリヤ54は黒鉛管内にある。第2図
で試料供給位置は線72、後退位置は線74、灰
化位置は線76、原子化位置は線78によつて示
される。第2図では試料キヤリヤ54はその後退
位置に示される。
第2図実施例の場合、試料キヤリヤ54はまず
その試料供給位置72へもたらされる。試料が供
給窓68から供給される。次に試料キヤリヤ54
はその灰化位置76へ送られ、黒鉛管40が加熱
される。黒鉛管60を通つて加熱されながら流れ
る不活性ガスは試料および試料キヤリヤの上を流
れる。それによつて試料は熱分解する灰化温度ま
で加熱される。場合によりその際発生する煙は供
給窓68を介して不活性ガスによつて同伴され、
それゆえ黒鉛管40へ入ることはできない。同様
蒸発する溶剤はガス流によつて導出される。
その試料供給位置72へもたらされる。試料が供
給窓68から供給される。次に試料キヤリヤ54
はその灰化位置76へ送られ、黒鉛管40が加熱
される。黒鉛管60を通つて加熱されながら流れ
る不活性ガスは試料および試料キヤリヤの上を流
れる。それによつて試料は熱分解する灰化温度ま
で加熱される。場合によりその際発生する煙は供
給窓68を介して不活性ガスによつて同伴され、
それゆえ黒鉛管40へ入ることはできない。同様
蒸発する溶剤はガス流によつて導出される。
次に試料キヤリヤ54はその後退位置へ戻され
る。今や黒鉛管は原子化温度まで完全に加熱する
ことができる。この原子化温度に達したとき、試
料キヤリヤ54は急速に原子化位置78へ送られ
る。次に試料の急速加熱および原子化が行われ、
被検元素は種々の化合物の形でもほぼ同時に遊離
し、同時に測定ピークを形成する。
る。今や黒鉛管は原子化温度まで完全に加熱する
ことができる。この原子化温度に達したとき、試
料キヤリヤ54は急速に原子化位置78へ送られ
る。次に試料の急速加熱および原子化が行われ、
被検元素は種々の化合物の形でもほぼ同時に遊離
し、同時に測定ピークを形成する。
試料キヤリヤ54の有利な実施例が第4および
第5図に示される。試料キヤリヤ54はほぼ矩形
の細長い平部材80によつて形成される。部材8
0は第4および5図の左端に浅い凹所82を有す
る。部材80はその凹所82から縦方向に離れた
中央部に孔84を備える。孔84はホルダ66に
固定される部材80の右端への熱伝達を減少す
る。それによつて試料の灰化温度への加熱が容易
になる。
第5図に示される。試料キヤリヤ54はほぼ矩形
の細長い平部材80によつて形成される。部材8
0は第4および5図の左端に浅い凹所82を有す
る。部材80はその凹所82から縦方向に離れた
中央部に孔84を備える。孔84はホルダ66に
固定される部材80の右端への熱伝達を減少す
る。それによつて試料の灰化温度への加熱が容易
になる。
第4および5図による受動的に加熱される試料
キヤリヤ54の使用により、試料キヤリヤが容易
に支持され、簡単な形を有する利点が得られる。
比較的多量の試料を導入することもできる。
キヤリヤ54の使用により、試料キヤリヤが容易
に支持され、簡単な形を有する利点が得られる。
比較的多量の試料を導入することもできる。
灰化位置76における灰化過程の間試料を加熱
するための熱は黒鉛管40から試料および試料キ
ヤリヤ54へ伝達しなければならないので、比較
的長い分析時間が必要となる。原子化のためにも
原子化位置78で熱を黒鉛管40から試料へ伝達
しなければならない。加熱速度は可変でない。高
融点元素の場合それによつて問題が生ずる。
するための熱は黒鉛管40から試料および試料キ
ヤリヤ54へ伝達しなければならないので、比較
的長い分析時間が必要となる。原子化のためにも
原子化位置78で熱を黒鉛管40から試料へ伝達
しなければならない。加熱速度は可変でない。高
融点元素の場合それによつて問題が生ずる。
この理由から第3,6〜8図の実施例には電流
通過によつて加熱しうる能動的試料キヤリヤが示
される。
通過によつて加熱しうる能動的試料キヤリヤが示
される。
第3図の基本的構造は第2図と同じであり、相
当する要素は同じ番号で示される。
当する要素は同じ番号で示される。
第3図の実施例によればキヤリジ60はサーボ
モータ62によつて3つの位置のみ、すなわち試
料供給位置、後退位置および原子化位置へ移動可
能である。試料供給位置で試料キヤリヤ54Aは
同様供給窓68の下に配置される。後退位置で試
料キヤリヤ54Aは供給窓68の黒鉛管40から
遠い側に配置される。原子化位置で試料キヤリヤ
54Aは黒鉛管40内に拡がる。
モータ62によつて3つの位置のみ、すなわち試
料供給位置、後退位置および原子化位置へ移動可
能である。試料供給位置で試料キヤリヤ54Aは
同様供給窓68の下に配置される。後退位置で試
料キヤリヤ54Aは供給窓68の黒鉛管40から
遠い側に配置される。原子化位置で試料キヤリヤ
54Aは黒鉛管40内に拡がる。
試料キヤリヤ54Aは第6〜8図に詳細に示さ
れる。
れる。
試料キヤリヤ54Aも1端に浅い凹所88を有
するほぼ矩形の細長い平部材86によつて形成さ
れる。凹所88は部材86に横方向にずれて配置
される。部材86に形成された縦スロツト90は
凹所88から遠い第1端部92から部材86のほ
ぼ全長にわたつて、凹所88の横を通つて第2端
部94の少し前まで拡がる。この場合も部材86
は凹所88から縦方向に離れた中央部に孔96を
有する。スロツト90は第1端部からほぼ部材8
6の中心線100に沿つて拡がる第1直線部98
を有する。部材86の縦方向に配置された細長い
孔96は第1直線部98に合流する。もう1つの
直線部102は孔96から出て、中心線100に
対して横方向にずれ、中心線100に対し非対称
に配置された細長い凹所88の側縁104に沿つ
て拡がる。孔96は中心線100に対し対称的に
離れた2つの孔106および108を含み、この
孔は中心線100に対し片側(第6図の上)へず
れた太いスロツトの第3部分110によつて結合
され、このスロツト部分の1側縁112は2つの
孔106および108の断面に対し接線方向に拡
がる。スロツト90の第1部分98は孔108に
終る。スロツトの第2部分102は第6図で下側
へずれ、孔106の断面に対し接線方向に拡が
る。
するほぼ矩形の細長い平部材86によつて形成さ
れる。凹所88は部材86に横方向にずれて配置
される。部材86に形成された縦スロツト90は
凹所88から遠い第1端部92から部材86のほ
ぼ全長にわたつて、凹所88の横を通つて第2端
部94の少し前まで拡がる。この場合も部材86
は凹所88から縦方向に離れた中央部に孔96を
有する。スロツト90は第1端部からほぼ部材8
6の中心線100に沿つて拡がる第1直線部98
を有する。部材86の縦方向に配置された細長い
孔96は第1直線部98に合流する。もう1つの
直線部102は孔96から出て、中心線100に
対して横方向にずれ、中心線100に対し非対称
に配置された細長い凹所88の側縁104に沿つ
て拡がる。孔96は中心線100に対し対称的に
離れた2つの孔106および108を含み、この
孔は中心線100に対し片側(第6図の上)へず
れた太いスロツトの第3部分110によつて結合
され、このスロツト部分の1側縁112は2つの
孔106および108の断面に対し接線方向に拡
がる。スロツト90の第1部分98は孔108に
終る。スロツトの第2部分102は第6図で下側
へずれ、孔106の断面に対し接線方向に拡が
る。
したがつて試料キヤリヤはほぼU形である。脚
を介して電流が試料キヤリヤを通過し、その際試
料キヤリヤはとくに凹所88の範囲が強熱され
る。前記形状はジユール熱の局部的発生およびホ
ルダ66への熱伝達の点でとくに有利なことが明
らかになつた。
を介して電流が試料キヤリヤを通過し、その際試
料キヤリヤはとくに凹所88の範囲が強熱され
る。前記形状はジユール熱の局部的発生およびホ
ルダ66への熱伝達の点でとくに有利なことが明
らかになつた。
第3,6〜8図の実施例によれば試料キヤリヤ
54Aはまず供給窓68の下の試料供給位置72
へもたらされる。この位置で試料が試料キヤリヤ
54Aへ供給される。続いて試料キヤリヤ54A
は同じ位置で通電によつて加熱され、試料は乾燥
(所要に応じて)および灰化される。溶剤蒸気お
よびカーボンは供給窓68を介して不活性ガス流
70により導出される。試料キヤリヤ54Aと黒
鉛管40の距離は、乾燥および分解のため試料キ
ヤリヤを黒鉛管40によつて加熱する必要がない
ので、比較的大きく選択される。したがつて黒鉛
管は溶剤蒸気および煙の影響を少ししか受けな
い。
54Aはまず供給窓68の下の試料供給位置72
へもたらされる。この位置で試料が試料キヤリヤ
54Aへ供給される。続いて試料キヤリヤ54A
は同じ位置で通電によつて加熱され、試料は乾燥
(所要に応じて)および灰化される。溶剤蒸気お
よびカーボンは供給窓68を介して不活性ガス流
70により導出される。試料キヤリヤ54Aと黒
鉛管40の距離は、乾燥および分解のため試料キ
ヤリヤを黒鉛管40によつて加熱する必要がない
ので、比較的大きく選択される。したがつて黒鉛
管は溶剤蒸気および煙の影響を少ししか受けな
い。
続いて試料キヤリヤ54Aはキヤリジ60およ
びサーボモータ62によつて後退位置74へ戻さ
れる。この位置で試料キヤリヤ54Aは黒鉛管4
0を原子化温度へ加熱する間、間接的に不所望に
高い温度へ加熱されないように黒鉛管40から離
れている。したがつて被検試料成分は蒸発して不
活性ガス流70によつて先に導出されることがな
い。黒鉛管40が原子化温度へ加熱されると、試
料キヤリヤ54Aは原子化位置78へ進められ
る。試料キヤリヤ54Aはその直接加熱すなわち
通電によつて加熱することもできる。それによつ
て加熱速度を促進し、高融点元素の場合高感度を
得ることができる。
びサーボモータ62によつて後退位置74へ戻さ
れる。この位置で試料キヤリヤ54Aは黒鉛管4
0を原子化温度へ加熱する間、間接的に不所望に
高い温度へ加熱されないように黒鉛管40から離
れている。したがつて被検試料成分は蒸発して不
活性ガス流70によつて先に導出されることがな
い。黒鉛管40が原子化温度へ加熱されると、試
料キヤリヤ54Aは原子化位置78へ進められ
る。試料キヤリヤ54Aはその直接加熱すなわち
通電によつて加熱することもできる。それによつ
て加熱速度を促進し、高融点元素の場合高感度を
得ることができる。
前記装置によりさらに分析時間を短縮すること
ができる。加熱を最適分析条件に適合させること
ができる。
ができる。加熱を最適分析条件に適合させること
ができる。
しかしこの装置は2つの電力供給装置すなわち
試料キヤリヤ54Aおよび黒鉛管40のための装
置を備えて調節しなければならないので、加熱系
の装置費用および作業費用が高くなる。
試料キヤリヤ54Aおよび黒鉛管40のための装
置を備えて調節しなければならないので、加熱系
の装置費用および作業費用が高くなる。
第9および10図は第3図の装置とともに使用
することもできる試料キヤリヤ54Bのもう1つ
の実施例を示す。試料キヤリヤ54Bも1端に浅
い凹所116を備えるほぼ矩形の平部材114か
らなる。凹所116は部材114のほぼ全幅にわ
たつて拡がるので、比較的多量の試料を供給する
ことができる。この場合も部材114の凹所11
6から遠い第1端部120から縦に拡がるスロツ
ト118が部材114内に形成される。縦スロツ
ト118は端部120から部材114の中心線1
22に沿つて凹所116の直前まで拡がる。縦ス
ロツト118はそこで部材114のほぼ全幅にわ
たつて拡がる端部が閉じた横スロツト124に合
流する。
することもできる試料キヤリヤ54Bのもう1つ
の実施例を示す。試料キヤリヤ54Bも1端に浅
い凹所116を備えるほぼ矩形の平部材114か
らなる。凹所116は部材114のほぼ全幅にわ
たつて拡がるので、比較的多量の試料を供給する
ことができる。この場合も部材114の凹所11
6から遠い第1端部120から縦に拡がるスロツ
ト118が部材114内に形成される。縦スロツ
ト118は端部120から部材114の中心線1
22に沿つて凹所116の直前まで拡がる。縦ス
ロツト118はそこで部材114のほぼ全幅にわ
たつて拡がる端部が閉じた横スロツト124に合
流する。
試料キヤリヤ54Bによる作業は試料キヤリヤ
54Aによつて前述した作業と同じである。
54Aによつて前述した作業と同じである。
試料ホルダの材料としては無定形炭素が有利な
ことが明らかになつた(Analytica Chimica、
Acta 119(1980)1−24参照)。
ことが明らかになつた(Analytica Chimica、
Acta 119(1980)1−24参照)。
第1図は黒鉛管原子化装置および試料導入装置
の1実施例の斜視図、第2図は第2実施例の縦断
面図、第3図は第3実施例の縦断面図、第4図は
第2図装置に使用する試料キヤリヤの平面図、第
5図はその縦断面図、第6図は第3図装置に使用
する試料キヤリヤの平面図、第7図は第6図A−
B線断面図、第8図は第6図C−D線断面図、第
9図は試料キヤリヤのもう1つの実施例の平面
図、第10図はその縦断面図である。 10……黒鉛管、12……冷却室、18……
孔、20……測定光束、22……キヤリジ、24
……ホルダ、26……試料キヤリヤ、28……サ
ーボモータ、30……加熱装置、36……供給
窓。
の1実施例の斜視図、第2図は第2実施例の縦断
面図、第3図は第3実施例の縦断面図、第4図は
第2図装置に使用する試料キヤリヤの平面図、第
5図はその縦断面図、第6図は第3図装置に使用
する試料キヤリヤの平面図、第7図は第6図A−
B線断面図、第8図は第6図C−D線断面図、第
9図は試料キヤリヤのもう1つの実施例の平面
図、第10図はその縦断面図である。 10……黒鉛管、12……冷却室、18……
孔、20……測定光束、22……キヤリジ、24
……ホルダ、26……試料キヤリヤ、28……サ
ーボモータ、30……加熱装置、36……供給
窓。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 黒鉛管へ試料を導入する装置において、 ほぼ矩形の細長い平部材から形成され、この平
部材に1端で浅い凹所が備えられ、この凹所は平
部材上で横方向にずれ、この平部材が凹所から遠
い第1端部から部材のほぼ全長に亙つて、凹所の
横を通つて第2端部の少し前まで拡がつている縦
スロツトを有する、試料を供給する板状またはル
ツボ状試料キヤリヤと、 黒鉛管の端面より前方の測定光束の光路外に配
置されている、試料の灰化を達成する黒鉛管外の
第1位置および測定光束より下で試料キヤリヤを
維持し、かつ試料の原子化を行う黒鉛管内の第2
位置へ試料キヤリヤを移動する装置とを有するこ
とを特徴とする、黒鉛管へ試料を導入する装置。 2 部材が凹所から縦方向に離れた中央部に孔を
備えている、特許請求の範囲第1項記載の装置。 3 スロツトが第1端部92からほぼ部材86の
中心線に沿つて拡がる第1直線部98を有し、 細長い孔96が第1直線部98に合流し、 孔96から中心線に対し横方向にずれた第2直
線部102が発し、この直線部が中心線に対し非
対称に配置された浅い凹所88の側縁104に沿
つて拡がる特許請求の範囲第2項記載の装置。 4 孔96が中心線に対し対称の2つの離れた孔
106,108を有し、これらの孔106,10
8が中心線の片側へずれた、スロツトの拡大され
ている部分である第3部分110によつて互いに
結合され、このスロツトの第3部分110の1側
縁112が2つの孔106,108の断面に対し
接線方向に拡がり、スロツト90の第1部分98
が1つの孔108に終わり、 スロツト90の第2部分102が孔96から中
心線に対し横方向にずれ、他の孔106の断面に
対し接線方向に拡がる特許請求の範囲第3項記載
の装置。 5 黒鉛管へ試料を導入する装置において、 ほぼ矩形の細長い平部材から形成され、この平
部材に1端で浅い凹所が備えられ、この平部材が
その中心線に沿つて形成された縦スロツトを有
し、この縦スロツトが凹所から遠い端部から凹所
の少し前まで拡がり、かつ部材のほぼ全幅に亙つ
て拡がる端部が閉じた横スロツトと合流する、試
料を供給する板状またはルツボ状試料キヤリヤ
と、 黒鉛管の端面より前方の測定光束の光路外に配
置されている、試料の灰化を達成する黒鉛管外の
第1位置および測定光束より下で試料キヤリヤを
維持し、かつ試料の原子化を行う黒鉛管内の第2
位置へ試料キヤリヤを移動する装置とを有するこ
とを特徴とする、黒鉛管へ試料を導入する装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE31109879.7 | 1981-11-25 | ||
| EP81109879A EP0053349B1 (de) | 1980-11-27 | 1981-11-25 | Verfahren und Vorrichtung zum Einbringen einer Probe in ein Graphitrohr bei der flammenlosen Atomabsorptions-Spektroskopie |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58132647A JPS58132647A (ja) | 1983-08-08 |
| JPH0342420B2 true JPH0342420B2 (ja) | 1991-06-27 |
Family
ID=8188031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57205569A Granted JPS58132647A (ja) | 1981-11-25 | 1982-11-25 | 黒鉛管へ試料を導入する装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4548497A (ja) |
| JP (1) | JPS58132647A (ja) |
| AU (1) | AU564582B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2136144A (en) * | 1983-03-02 | 1984-09-12 | Philips Electronic Associated | Atomic spectroscopy |
| GB2160673A (en) * | 1984-06-20 | 1985-12-24 | Philips Electronic Associated | Electrothermal atomiser |
| GB2183032A (en) * | 1985-11-12 | 1987-05-28 | Philips Electronic Associated | Graphite probe and electrothermal atomiser including such a probe |
| DE3923983C2 (de) * | 1989-07-20 | 1999-02-25 | Hermann R Trabert | Vorrichtung zur Aufbereitung einer Probe für eine Vorrichtung zur Bestimmung von Elementen mittels Atomabsorptionsverfahren oder Röntgenfluoreszenzverfahren |
Family Cites Families (6)
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| DE3044627C2 (de) * | 1980-11-27 | 1984-06-07 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Vorrichtung zur Probeneingabe in ein Graphitrohr bei der flammenlosen Atomabsorptions-Spektroskopie |
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1982
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- 1982-11-25 JP JP57205569A patent/JPS58132647A/ja active Granted
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