JPH0342548A - ビトリナイト反射率自動測定装置 - Google Patents
ビトリナイト反射率自動測定装置Info
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- JPH0342548A JPH0342548A JP1177100A JP17710089A JPH0342548A JP H0342548 A JPH0342548 A JP H0342548A JP 1177100 A JP1177100 A JP 1177100A JP 17710089 A JP17710089 A JP 17710089A JP H0342548 A JPH0342548 A JP H0342548A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
- G01N2021/177—Detector of the video camera type
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ケロジェン試料ならびに石炭試料を対象と
してビトリナイト反射率を自動的に測定することにより
、石油・天然ガスの生成に関する堆積岩中の有機物熟成
度や石炭の品位などを決定するビトリナイト反射率自動
測定装置に関するものである。
してビトリナイト反射率を自動的に測定することにより
、石油・天然ガスの生成に関する堆積岩中の有機物熟成
度や石炭の品位などを決定するビトリナイト反射率自動
測定装置に関するものである。
（従来の技術）
従来、ケロジエン試料のビトリナイト反射率を測定する
場合は、第５図に示すように、前処理した測定対象試料
２を対物ステージｌに載置し、光源装置４を付属させた
落射プリズム装置５と受光部３７に接続された輝度計側
袋Ｗ３８と鏡筒６に接続された接眼レンズ３６とを備え
ている顕微鏡光度計装置により、前記測定対象試料を肉
眼で観察し、石炭岩石学的知見に基づく鑑定を行ってビ
トリナイトとその他様々なタイプの有機物が混合した状
態からビトリナイト粒子のみを選定し、ビトリナイト粒
子一個毎に輝度を測定して電気信号に変換し、さらにそ
の値をあらかじめ較正作業によって得られている検量線
式に代入して反射率に変換することにより行っていた。
場合は、第５図に示すように、前処理した測定対象試料
２を対物ステージｌに載置し、光源装置４を付属させた
落射プリズム装置５と受光部３７に接続された輝度計側
袋Ｗ３８と鏡筒６に接続された接眼レンズ３６とを備え
ている顕微鏡光度計装置により、前記測定対象試料を肉
眼で観察し、石炭岩石学的知見に基づく鑑定を行ってビ
トリナイトとその他様々なタイプの有機物が混合した状
態からビトリナイト粒子のみを選定し、ビトリナイト粒
子一個毎に輝度を測定して電気信号に変換し、さらにそ
の値をあらかじめ較正作業によって得られている検量線
式に代入して反射率に変換することにより行っていた。
また石炭試料用のビトリナイト反射率自動測定装置は市
販されているが、ケロジエン試料でも使用できるものは
無い。
販されているが、ケロジエン試料でも使用できるものは
無い。
前記従来の測定装置の場合は次の問題点がある。
（１） ビトリナイトの鑑定・判別を肉眼観察によっ
て行うので石炭組織や各種の化石などの専門的知識に通
じた人間でなければ測定はできない。
て行うので石炭組織や各種の化石などの専門的知識に通
じた人間でなければ測定はできない。
（２） 高倍率で試料上の広い範囲を観察しなければ
ならないことや、他の顕微鏡観察と比較して視野が非常
に暗いことから、測定作業には肉体的疲労が強く伴う。
ならないことや、他の顕微鏡観察と比較して視野が非常
に暗いことから、測定作業には肉体的疲労が強く伴う。
（３） 作業自体は単調なものなので、測定作業には
梢神的疲労が強く伴う。
梢神的疲労が強く伴う。
（４） 前記（２）および（３〉に関連して１日２〜
３試料の測定が限度である。
３試料の測定が限度である。
（５） 測定に適した粒子を判定するのに個人差の入
る余地があり、常に一定不偏の結果が得られるとは限ら
ない。
る余地があり、常に一定不偏の結果が得られるとは限ら
ない。
（６） 市販の自動測定装置は石炭試料専用であり、
試料の質が全く異なるケロジエン試料には使用できない
。
試料の質が全く異なるケロジエン試料には使用できない
。
この発明は、前述の問題を有利に解決し、ビトリナイト
反射率を容易にかつ正確にしかも自動的に測定できる装
置を提供することを目的とするものである。
反射率を容易にかつ正確にしかも自動的に測定できる装
置を提供することを目的とするものである。
前記目的を達成するために、この発明のビトリナイト反
射率自動測定装置においては、測定対象試料２を載置す
る対物ステージ１と対象試料の拡大像を得る対物レンズ
３と光源装置４を付属させた落射プリズム装置５と前記
測定対象試料２を撮影するテレビカメラ９とを備えてい
る画像入力部３１における前記テレビカメラ９が、Ａ／
Ｄコンバータ１０とこれに順次接続された画像メモリ１
１と画像演算プロセッサ１２とを備えている画像処理部
３２における前記Ａ／Ｄコンバータ１０に接続され、研
磨粒子像抽出プログラム２５と微細テクスチャ部分除去
プログラム２６と輝度計測プログラム２８とプログラム
実行順序制御プログラム２９と基本プログラム３０とが
記録済みでかつ測定結果記憶用の記憶領域を有する記憶
媒体２１が、制御用プロセッサ１６に接続された記憶媒
体入出力装置２２に接続されて、制御部３３が構成され
、その制御部３３における制御用プロセッサ１６が前記
画像処理部３２における画像演算プロセッサ１２に接続
されている。
射率自動測定装置においては、測定対象試料２を載置す
る対物ステージ１と対象試料の拡大像を得る対物レンズ
３と光源装置４を付属させた落射プリズム装置５と前記
測定対象試料２を撮影するテレビカメラ９とを備えてい
る画像入力部３１における前記テレビカメラ９が、Ａ／
Ｄコンバータ１０とこれに順次接続された画像メモリ１
１と画像演算プロセッサ１２とを備えている画像処理部
３２における前記Ａ／Ｄコンバータ１０に接続され、研
磨粒子像抽出プログラム２５と微細テクスチャ部分除去
プログラム２６と輝度計測プログラム２８とプログラム
実行順序制御プログラム２９と基本プログラム３０とが
記録済みでかつ測定結果記憶用の記憶領域を有する記憶
媒体２１が、制御用プロセッサ１６に接続された記憶媒
体入出力装置２２に接続されて、制御部３３が構成され
、その制御部３３における制御用プロセッサ１６が前記
画像処理部３２における画像演算プロセッサ１２に接続
されている。
次にこの発明を図示の例によって詳細に説明する。
第１図および第２図はこの発明の一実施例を示すもので
あって、測定対象試料２を載置する対物ステージｌと測
定対象試料２の拡大像を得る対物レンズ３ならびに光源
装置４と落射プリズム装置５と鏡筒６とカメラアタッチ
メント８とが支持柱７に固定され、鏡筒６の光路上に配
置された撮像管式テレビカメラ９はカメラアタッチメン
ト８に連結され、前記対物ステージ１と対物レンズ３と
光源装置４を付属させた落射プリズム装置５と鏡筒６の
光路上に配置されたテレビカメラ９とにより画像入力部
３１が構成されている。
あって、測定対象試料２を載置する対物ステージｌと測
定対象試料２の拡大像を得る対物レンズ３ならびに光源
装置４と落射プリズム装置５と鏡筒６とカメラアタッチ
メント８とが支持柱７に固定され、鏡筒６の光路上に配
置された撮像管式テレビカメラ９はカメラアタッチメン
ト８に連結され、前記対物ステージ１と対物レンズ３と
光源装置４を付属させた落射プリズム装置５と鏡筒６の
光路上に配置されたテレビカメラ９とにより画像入力部
３１が構成されている。
テレビカメラ９で得た画像をディジタル変換するＡ／Ｄ
コンバータ１０は画像演算プロセッサ１２に接続され、
この画像演算プロセッサ１２は画像メモリ１ ｌと相互
に画像情報を送受信できるように接続されていて、前記
Ａ／Ｄコンバータ１０から送信された画像情報は前記画
像メモリ１１に記憶しうるように構成されている。また
前記テレビカメラ９およびＡ／Ｄコンバータ１０により
ディジタル画像入力装置が構成されている。
コンバータ１０は画像演算プロセッサ１２に接続され、
この画像演算プロセッサ１２は画像メモリ１ ｌと相互
に画像情報を送受信できるように接続されていて、前記
Ａ／Ｄコンバータ１０から送信された画像情報は前記画
像メモリ１１に記憶しうるように構成されている。また
前記テレビカメラ９およびＡ／Ｄコンバータ１０により
ディジタル画像入力装置が構成されている。
前記画像演算プロセッサ１２にテレビインタフェース１
３を介してモニターテレビ１４が接続され、双方向通信
用インタフェースＢ１５は前記へ／Ｄコンバータ１０お
よび画像演算プロセッサ１２に接続されている。前記画
像演算プロセッサ１２、Ａ／Ｄコンバータ１０９画像メ
モリ１１゜テレビインタフェース１３．モニターテレビ
１４゜双方向通信用インタフェースＢ１５により画像処
理部３２が構成され、前記画像入力部３１におけるテレ
ビカメラ９の出力部は、画像処理部３２におけるＡ／Ｄ
コンバータ１０の入力部に接続されている。
３を介してモニターテレビ１４が接続され、双方向通信
用インタフェースＢ１５は前記へ／Ｄコンバータ１０お
よび画像演算プロセッサ１２に接続されている。前記画
像演算プロセッサ１２、Ａ／Ｄコンバータ１０９画像メ
モリ１１゜テレビインタフェース１３．モニターテレビ
１４゜双方向通信用インタフェースＢ１５により画像処
理部３２が構成され、前記画像入力部３１におけるテレ
ビカメラ９の出力部は、画像処理部３２におけるＡ／Ｄ
コンバータ１０の入力部に接続されている。
制御用プロセッサ１６に処理実行の指示を与えるマウス
装置１７およびデイスプレィ装置１８が接続されて制御
用コンピュータが構成され、その制御用コンピュータに
おける制御用プロセッサ１６は双方向通信用インタフェ
ースＡ１９および双方向通信用ケーブル２０を介して画
像処理部３２の双方向通信用インタフェースＢ１５に接
続され、前記画像演算プロセッサ１２の処理動作を、制
御用プロセッサ１６のプログラムにより制御することが
できる。さらに制御用プロセッサ１６にフロッピーディ
スク入出力装置からなる記憶媒体入出力装置２２が接続
され、この記１．１媒体入出力装置２２に、制御用プロ
グラムが記憶されたフロッピーディスクＡからなる記憶
媒体２１Ａと、測定結果記憶用のフロッピーディスクＢ
からなる記憶媒体２１Ｂとが挿入されるように構成され
、前記制御用プロセッサ１６と、これに接続されたマウ
ス装置１７．デイスプレィ装’；ｆｌ １ Ｂ 、双方
向通信用インタフェースＡ１９．記憶媒体入出力装置２
２と、その記憶媒体入出力装置２２に挿入される記憶媒
体２１Ａ、２１Ｂとにより制御部３３が構成されている
。
装置１７およびデイスプレィ装置１８が接続されて制御
用コンピュータが構成され、その制御用コンピュータに
おける制御用プロセッサ１６は双方向通信用インタフェ
ースＡ１９および双方向通信用ケーブル２０を介して画
像処理部３２の双方向通信用インタフェースＢ１５に接
続され、前記画像演算プロセッサ１２の処理動作を、制
御用プロセッサ１６のプログラムにより制御することが
できる。さらに制御用プロセッサ１６にフロッピーディ
スク入出力装置からなる記憶媒体入出力装置２２が接続
され、この記１．１媒体入出力装置２２に、制御用プロ
グラムが記憶されたフロッピーディスクＡからなる記憶
媒体２１Ａと、測定結果記憶用のフロッピーディスクＢ
からなる記憶媒体２１Ｂとが挿入されるように構成され
、前記制御用プロセッサ１６と、これに接続されたマウ
ス装置１７．デイスプレィ装’；ｆｌ １ Ｂ 、双方
向通信用インタフェースＡ１９．記憶媒体入出力装置２
２と、その記憶媒体入出力装置２２に挿入される記憶媒
体２１Ａ、２１Ｂとにより制御部３３が構成されている
。
また検量線自動作成プログラム２３２画像人カプログラ
ム２４．研磨粒子像抽出プログラム２５微細テクスチ中
部分除去プログラム２６１粒子形状整形プログラム２７
．輝度計測プログラム２８プログラム実行順序制御プロ
グラム２９および基本プログラム３０により前記制御用
プログラムが構成されている。
ム２４．研磨粒子像抽出プログラム２５微細テクスチ中
部分除去プログラム２６１粒子形状整形プログラム２７
．輝度計測プログラム２８プログラム実行順序制御プロ
グラム２９および基本プログラム３０により前記制御用
プログラムが構成されている。
前記検量線自動作成プログラム２３は、画像メモリｌｌ
上の輝度値をビトリナイト反射率に変換する検量線の自
動作成を制御し、勤記画住人カプログラム２４は、画像
の人力のためのＡ／Ｄコンバータ１０と画像メモリ１１
との連携動作を制御し、また前記研磨粒子像抽出プログ
ラム２５は、入力された画像中に含まれる背景および未
研磨粒子像を除去し、研磨面に現れた粒子の像のみを抽
出する処理を制御する。
上の輝度値をビトリナイト反射率に変換する検量線の自
動作成を制御し、勤記画住人カプログラム２４は、画像
の人力のためのＡ／Ｄコンバータ１０と画像メモリ１１
との連携動作を制御し、また前記研磨粒子像抽出プログ
ラム２５は、入力された画像中に含まれる背景および未
研磨粒子像を除去し、研磨面に現れた粒子の像のみを抽
出する処理を制御する。
前記微細テクスチャ部分除去プログラム２６は、研磨面
上の粒子の像のうち、石炭＆１ｍ学上ヒトリナイト以外
の範晴に含まれるところの微細なテクスチャを持つ部分
を除去し、ビトリナイト粒子の像のみを抽出する処理を
制御する。また前記粒子形状整形プログラム２７は、抽
出されたビトリナイト粒子の像を、測定が効率的に行え
るよう整形する処理を制御する。
上の粒子の像のうち、石炭＆１ｍ学上ヒトリナイト以外
の範晴に含まれるところの微細なテクスチャを持つ部分
を除去し、ビトリナイト粒子の像のみを抽出する処理を
制御する。また前記粒子形状整形プログラム２７は、抽
出されたビトリナイト粒子の像を、測定が効率的に行え
るよう整形する処理を制御する。
前記輝度計測プログラム２８は、抽出されたビトリナイ
ト粒子の輝度を粒子毎に計測し、その輝度を反射率に変
換して測定結果記憶用の記憶媒体２１Ｂに反射率データ
を記録する処理を制御する。
ト粒子の輝度を粒子毎に計測し、その輝度を反射率に変
換して測定結果記憶用の記憶媒体２１Ｂに反射率データ
を記録する処理を制御する。
またプログラム実行順序制御プログラム２９は、前記の
各制御プログラムの実行順序や、マウス装置１７から人
間が与える指令と各制御プログラムの相互関係を制御す
る。
各制御プログラムの実行順序や、マウス装置１７から人
間が与える指令と各制御プログラムの相互関係を制御す
る。
前記基本プログラム３０は、コンピュータ言語で記載さ
れた前記の各プログラムを制′４ｎ用プロセッサ１６が
理解し得る形に翻訳して制御用プロセッサ１６に伝達し
、かつ制御用プロセッサ１６に接続されている各種装置
と制御用プロセッサ１６との相互関係を制御し、さらに
前記基本プログラム３０は、各プログラムに含まれてい
る画像演算プロセッサ１２を制御するプログラム情報、
および画像演算プロセッサ１２からの処理結果情報を、
双方向通信用インタフェースＡ１９と双方向通信用ケー
ブル２０と双方向通信用インタフェースＢ１５とを介し
て制御用プロセッサ１６と画像演算プロセッサ１２との
間で相互に通信することを制御する。
れた前記の各プログラムを制′４ｎ用プロセッサ１６が
理解し得る形に翻訳して制御用プロセッサ１６に伝達し
、かつ制御用プロセッサ１６に接続されている各種装置
と制御用プロセッサ１６との相互関係を制御し、さらに
前記基本プログラム３０は、各プログラムに含まれてい
る画像演算プロセッサ１２を制御するプログラム情報、
および画像演算プロセッサ１２からの処理結果情報を、
双方向通信用インタフェースＡ１９と双方向通信用ケー
ブル２０と双方向通信用インタフェースＢ１５とを介し
て制御用プロセッサ１６と画像演算プロセッサ１２との
間で相互に通信することを制御する。
次に前記実施例のビトリナイト反射率自動測定装置の動
作について説明する。
作について説明する。
まず光源装置４．テレビカメラ９．Ａ／Ｄコンバーク１
０．画像メモリ１１１画像演算プロセッサ１２．テレビ
インタフェース１３．モニターテレビｚ、双方向通信用
インタフェースＢ１５゜制御用プロセッサ１６．マウス
装置１７．デイスプレィ装置１８．双方向通信用インタ
フェースＡ１９および記憶媒体入出力装置２２等の各装
置に電源を投入し、記憶媒体入出力装置２２を通して記
憶媒体２１Ａに記録されている基本プログラム３０とプ
ログラム実行順序制御プログラム２９とを起動し、かつ
前記各装置を適宜調整する。またマウス装置１７から制
御用プロセッサ１６に利用者が指示を与えるタイミング
は、プログラム実行順序制御プログラム２９の制御によ
りデイスプレィ装置Ｗ１８の画面に表示されるメツセー
ジを見て判断する。
０．画像メモリ１１１画像演算プロセッサ１２．テレビ
インタフェース１３．モニターテレビｚ、双方向通信用
インタフェースＢ１５゜制御用プロセッサ１６．マウス
装置１７．デイスプレィ装置１８．双方向通信用インタ
フェースＡ１９および記憶媒体入出力装置２２等の各装
置に電源を投入し、記憶媒体入出力装置２２を通して記
憶媒体２１Ａに記録されている基本プログラム３０とプ
ログラム実行順序制御プログラム２９とを起動し、かつ
前記各装置を適宜調整する。またマウス装置１７から制
御用プロセッサ１６に利用者が指示を与えるタイミング
は、プログラム実行順序制御プログラム２９の制御によ
りデイスプレィ装置Ｗ１８の画面に表示されるメツセー
ジを見て判断する。
次に市販の反射率測定用標準試料を対物ステージ１に載
置し、マウス装置１７から制御用プロセッサ１６に指示
を入力して検量線自動作成プログラム２３を起動する。
置し、マウス装置１７から制御用プロセッサ１６に指示
を入力して検量線自動作成プログラム２３を起動する。
このようにすると、自動的に画像人力プログラム２４が
一時的に呼び出されて画像′の人力動作に入るので、モ
ニターテレビ１４に映し出される標準試料の拡大像を見
ながら焦点を合わせ、かつマウス装置１７から指示を入
力して標準試料の画像を画像メモリ１１上に記憶させる
。次いで制御は検量線自動作成プログラム２３に戻り、
入力した標準試料の輝度データが検量線自動作成プログ
ラム２３中に蓄えられる。
一時的に呼び出されて画像′の人力動作に入るので、モ
ニターテレビ１４に映し出される標準試料の拡大像を見
ながら焦点を合わせ、かつマウス装置１７から指示を入
力して標準試料の画像を画像メモリ１１上に記憶させる
。次いで制御は検量線自動作成プログラム２３に戻り、
入力した標準試料の輝度データが検量線自動作成プログ
ラム２３中に蓄えられる。
３個以上の標準試料を同様に測定してマウス装置１７か
ら指示を与えると、画像上の輝度値を反射率に変換する
検量線式が自動的に計算され、引続き検量線式が測定結
果記憶用の記憶媒体２１Ｂに記憶され、検量線自動作成
プログラム２３の動作が終了する。次に前記反射率測定
用標準試料を対物ステージｌ上から取り除く。
ら指示を与えると、画像上の輝度値を反射率に変換する
検量線式が自動的に計算され、引続き検量線式が測定結
果記憶用の記憶媒体２１Ｂに記憶され、検量線自動作成
プログラム２３の動作が終了する。次に前記反射率測定
用標準試料を対物ステージｌ上から取り除く。
次に適当な方法で前処理した測定対象試料２を対物ステ
ージ１上に載置し、マウス装置１７から制御用プロセッ
サ１６に指示を入力してプログラム実行順序制御ｎプロ
グラム２９を起動する。プログラム実行順序制御ｎプロ
グラム２９の制御により測定結果記憶用の記憶媒体２１
Ｂに記憶されている検量線式が読み込まれ、引続き画像
人力プログラム２４が起動される。
ージ１上に載置し、マウス装置１７から制御用プロセッ
サ１６に指示を入力してプログラム実行順序制御ｎプロ
グラム２９を起動する。プログラム実行順序制御ｎプロ
グラム２９の制御により測定結果記憶用の記憶媒体２１
Ｂに記憶されている検量線式が読み込まれ、引続き画像
人力プログラム２４が起動される。
次にモニターテレビ１４に映し出される測定対象試料２
の拡大像を見ながら焦点を合わせ、マウス装置１７から
指示を人力して測定対象試料２の画像を画像メモリｌｌ
上に記憶させる。
の拡大像を見ながら焦点を合わせ、マウス装置１７から
指示を人力して測定対象試料２の画像を画像メモリｌｌ
上に記憶させる。
次にプログラム実行順序制御プログラム２９の自動制御
により引続き研磨粒子像抽出プログラム２５、微細テク
スチャ部分除去プログラム２６が実行され、画像メモリ
ｌｌ上の画像のうちビトリナイトに相当する部分のみが
自動的に抽出される。
により引続き研磨粒子像抽出プログラム２５、微細テク
スチャ部分除去プログラム２６が実行され、画像メモリ
ｌｌ上の画像のうちビトリナイトに相当する部分のみが
自動的に抽出される。
次いでプログラム実行順序制御プログラム２９の自動制
御により、引続き粒子形状整形プログラム２７が実行さ
れて、抽出したビトリナイト粒子像が整形され、効率的
な測定にあまり適当でない小面積粒子や粒子の外縁部の
像が取り除かれる。
御により、引続き粒子形状整形プログラム２７が実行さ
れて、抽出したビトリナイト粒子像が整形され、効率的
な測定にあまり適当でない小面積粒子や粒子の外縁部の
像が取り除かれる。
次にプログラム実行順序制御プログラム２９の自動制御
により、引続き輝度計測プログラム２８が実行され、画
像メモリｌｌ上の整形されたビトリナイト粒子像１個毎
に順次その輝度が自動計測され、計測された輝度値は既
に読み込まれている検量線式に代入されて反射率データ
に変換され、反射率データは測定結果記憶用の記憶媒体
２１Ｂに自動記録される。
により、引続き輝度計測プログラム２８が実行され、画
像メモリｌｌ上の整形されたビトリナイト粒子像１個毎
に順次その輝度が自動計測され、計測された輝度値は既
に読み込まれている検量線式に代入されて反射率データ
に変換され、反射率データは測定結果記憶用の記憶媒体
２１Ｂに自動記録される。
これで１画面分の処理が終了したので、対物ステージ１
を移動させて測定対象試料２の別の部分を対物レンズ３
の視野に入れ、マウス装置１７から制御用プロセッサ１
６に指示を人力して画像入力プログラム２４に制御を戻
す、以下測定対象試料２を対物ステージ１に設置したま
ま、同し順序で測定処理を適当回数繰り返す。
を移動させて測定対象試料２の別の部分を対物レンズ３
の視野に入れ、マウス装置１７から制御用プロセッサ１
６に指示を人力して画像入力プログラム２４に制御を戻
す、以下測定対象試料２を対物ステージ１に設置したま
ま、同し順序で測定処理を適当回数繰り返す。
プログラム実行順序制御プログラム２９には、１個の測
定対象試料につき必要なビトリナイト反射率データの個
数が記憶されており、ビトリナイト反射率データがその
個数に満ちるだけの処理が１個の測定対象試料について
繰り返された時、プログラム実行順序制御プログラム２
９の制御により、一連の処理の繰り返しが自動終了され
、１個の測定対象試料についてのビトリナイト反射率自
動測定動作が終了する。
定対象試料につき必要なビトリナイト反射率データの個
数が記憶されており、ビトリナイト反射率データがその
個数に満ちるだけの処理が１個の測定対象試料について
繰り返された時、プログラム実行順序制御プログラム２
９の制御により、一連の処理の繰り返しが自動終了され
、１個の測定対象試料についてのビトリナイト反射率自
動測定動作が終了する。
測定結果は測定結果配位用の記憶媒体２１Ｂに記憶され
ているので、この発明の装置に含まれている制御用コン
ピュータで他の文字列表示プログラムや文字編集プログ
ラムや表計算プログラムやグラフ作成プログラムなどに
読み込んで利用者の必要に応した形で使用することがで
きる。
ているので、この発明の装置に含まれている制御用コン
ピュータで他の文字列表示プログラムや文字編集プログ
ラムや表計算プログラムやグラフ作成プログラムなどに
読み込んで利用者の必要に応した形で使用することがで
きる。
この発明を実施する場合、第３図に示すように、対物ス
テージ１に対物ステージ制御ｎ装置３５を接続し、かつ
記憶媒体２１Ａに対物ステージ制御プログラム３４を加
え、測定対象試料２の１画面の測定処理終了後に、対物
ステージ１の移動を自動制御■にしてもよい。また、デ
イスプレィ装置１８を省略して、第４図に示す回路とし
、プログラム実行順序制御プログラム２９が制御するメ
ツセージの表示先をモニターテレビ１４に表示するよう
にしてもよい。
テージ１に対物ステージ制御ｎ装置３５を接続し、かつ
記憶媒体２１Ａに対物ステージ制御プログラム３４を加
え、測定対象試料２の１画面の測定処理終了後に、対物
ステージ１の移動を自動制御■にしてもよい。また、デ
イスプレィ装置１８を省略して、第４図に示す回路とし
、プログラム実行順序制御プログラム２９が制御するメ
ツセージの表示先をモニターテレビ１４に表示するよう
にしてもよい。
前記テレビカメラ９としては、ＣＣＤカメラを使用して
もよく、また前記記憶媒体２１Ａ。
もよく、また前記記憶媒体２１Ａ。
２１Ｂとしては、フロッピーディスクに代えて、固定デ
ィスクや光ディスク、磁気テープなどを使用してもよい
。さらに制御用プロセンサ１６に１旨示を入力するマウ
ス装置１７に代えて各種キーボードを使用してもよい。
ィスクや光ディスク、磁気テープなどを使用してもよい
。さらに制御用プロセンサ１６に１旨示を入力するマウ
ス装置１７に代えて各種キーボードを使用してもよい。
制御用コンピュータとしてはパーソナルコンピュータ、
ミニコンピユータ、メインフレー１４など各種のものが
使用できる。また第２図における双方向通信用インタフ
ェースＡ１９と双方向通信用ケーブル２０と双方向通信
用インタフェースＢ１５を省略し、大型のコンピュータ
を使用してそのプロセッサに制御用プロセッサ１６およ
び画像演算プロセッサＩ２の機能をもたせ、かつその記
憶領域に画像メモリ１１および記憶領域両方の機能をも
たせて画像処理部３２と制御部３３を１台のコンピュー
タに含ませるようにすることもできる。
ミニコンピユータ、メインフレー１４など各種のものが
使用できる。また第２図における双方向通信用インタフ
ェースＡ１９と双方向通信用ケーブル２０と双方向通信
用インタフェースＢ１５を省略し、大型のコンピュータ
を使用してそのプロセッサに制御用プロセッサ１６およ
び画像演算プロセッサＩ２の機能をもたせ、かつその記
憶領域に画像メモリ１１および記憶領域両方の機能をも
たせて画像処理部３２と制御部３３を１台のコンピュー
タに含ませるようにすることもできる。
この発明は前述のように構成されているので、以下に記
載するような効果を奏する。
載するような効果を奏する。
測定対象試料２中の粒子のどれがとトリナイトであるか
という判断を利用者が行う必要がなく、石炭組織や各種
の化石などの専門的知識に通じた人間でなくとも自動的
に測定を行うことができ、かつその判断基準を一定に保
つことができるので測定者による個人差を解消すること
ができ、また利用者が顕微鏡の視野を長時間見続けたり
煩雑な操作をする必要がないので、利用者の肉体的精神
的１１Ｂを軽減することができる。また単位時間あたり
の処理可能試料数が従来の測定法よりも増大し、かつ長
時間の連続使用でも利用者の負ｉｎが少ないので、測定
効率が向上する。さらに、ケロジェン試料でも石炭試料
でも同様にビトリナイト反射率を自動測定することがで
きる。
という判断を利用者が行う必要がなく、石炭組織や各種
の化石などの専門的知識に通じた人間でなくとも自動的
に測定を行うことができ、かつその判断基準を一定に保
つことができるので測定者による個人差を解消すること
ができ、また利用者が顕微鏡の視野を長時間見続けたり
煩雑な操作をする必要がないので、利用者の肉体的精神
的１１Ｂを軽減することができる。また単位時間あたり
の処理可能試料数が従来の測定法よりも増大し、かつ長
時間の連続使用でも利用者の負ｉｎが少ないので、測定
効率が向上する。さらに、ケロジェン試料でも石炭試料
でも同様にビトリナイト反射率を自動測定することがで
きる。
第１図および第２図はこの発明の一実施例を示すもので
あって、第１図はビトリナイト反射率自動測定装置の斜
視図、第２図はそのビトリナイト反射率自動測定装置に
おけるビトリナイト反射率自動測定回路図である。第３
図および第４図はこの発明において使用できるビトリナ
イト反射率自動測定回路図の他の例を示す図である。第
５図は従来のビトリナイト反射率測定用顕＠鏡光度計装
置を示す斜視図である。 図において、１は対物ステージ、２は測定対象試料、３
は対物レンズ、４は光源装置、５は落射プリズム装置、
６は鏡筒、７は支持柱、８はカメラアタッチメント、９
はテレビカメラ、１０はＡ／Ｄコンバータ、１１は画像
メモリ、１２は画像演算プロセッサ、１３はテレビイン
タフェース、１４はモニターテレビ、１５は双方向通信
用インタフェースＢ、１６は制御用プロセッサ、１７は
マウス装置、１８はデイスプレィ装置、１９は双方向通
信用インタフェースＡ、２ｏは双方向通信用ケーブル、
２１は記憶媒体、２２は記憶媒体入出力装置、２３は検
量線自動作成プログラム、２４は画像入力プログラム、
２５は研磨粒子像抽出プログラム、２６は微細テクスチ
ャ部分除去プログラム、２７は粒子形状整形プログラム
、２８は輝度計測プログラム、２９はプログラム実行順
序制御プログラム、３０は基本プログラム、３１は画像
入力部、３２は画像処理部、３３は制御部、３ ４は対物ステージ制御プログラム、 ５は対物 ステージ制御装置である。
あって、第１図はビトリナイト反射率自動測定装置の斜
視図、第２図はそのビトリナイト反射率自動測定装置に
おけるビトリナイト反射率自動測定回路図である。第３
図および第４図はこの発明において使用できるビトリナ
イト反射率自動測定回路図の他の例を示す図である。第
５図は従来のビトリナイト反射率測定用顕＠鏡光度計装
置を示す斜視図である。 図において、１は対物ステージ、２は測定対象試料、３
は対物レンズ、４は光源装置、５は落射プリズム装置、
６は鏡筒、７は支持柱、８はカメラアタッチメント、９
はテレビカメラ、１０はＡ／Ｄコンバータ、１１は画像
メモリ、１２は画像演算プロセッサ、１３はテレビイン
タフェース、１４はモニターテレビ、１５は双方向通信
用インタフェースＢ、１６は制御用プロセッサ、１７は
マウス装置、１８はデイスプレィ装置、１９は双方向通
信用インタフェースＡ、２ｏは双方向通信用ケーブル、
２１は記憶媒体、２２は記憶媒体入出力装置、２３は検
量線自動作成プログラム、２４は画像入力プログラム、
２５は研磨粒子像抽出プログラム、２６は微細テクスチ
ャ部分除去プログラム、２７は粒子形状整形プログラム
、２８は輝度計測プログラム、２９はプログラム実行順
序制御プログラム、３０は基本プログラム、３１は画像
入力部、３２は画像処理部、３３は制御部、３ ４は対物ステージ制御プログラム、 ５は対物 ステージ制御装置である。
Claims (1)
- 測定対象試料２を載置する対物ステージ１と対象試料の
拡大像を得る対物レンズ３と光源装置４を付属させた落
射プリズム装置５と前記測定対象試料２を撮影するテレ
ビカメラ９とを備えている画像入力部３１における前記
テレビカメラ９が、Ａ／Ｄコンバータ１０とこれに順次
接続された画像メモリ１１と画像演算プロセッサ１２と
を備えている画像処理部３２における前記Ａ／Ｄコンバ
ータ１０に接続され、研磨粒子像抽出プログラム２５と
微細テクスチャ部分除去プログラム２６と輝度計測プロ
グラム２８とプログラム実行順序制御プログラム２９と
基本プログラム３０とが記録済みでかつ測定結果記憶用
の記憶領域を有する記憶媒体２１が、制御用プロセッサ
１６に接続された記憶媒体入出力装置２２に接続されて
、制御部３３が構成され、その制御部３３における制御
用プロセッサ１６が前記画像処理部３２における画像演
算プロセッサ１２に接続されているビトリナイト反射率
自動測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1177100A JPH0342548A (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | ビトリナイト反射率自動測定装置 |
| FR9008683A FR2649794B1 (fr) | 1989-07-11 | 1990-07-09 | Appareillage pour la mesure automatique de la reflectance du vitrinite |
| US07/824,416 US5216624A (en) | 1989-07-11 | 1992-01-23 | Automated fossil-reflectance measurement apparatus and methods |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1177100A JPH0342548A (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | ビトリナイト反射率自動測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0342548A true JPH0342548A (ja) | 1991-02-22 |
Family
ID=16025144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1177100A Pending JPH0342548A (ja) | 1989-07-11 | 1989-07-11 | ビトリナイト反射率自動測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0342548A (ja) |
| FR (1) | FR2649794B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007132795A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology | ビトリニット反射率測定方法およびビトリニット反射率測定装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2713779B1 (fr) * | 1993-12-10 | 1996-03-08 | Lorraine Laminage | Procédé automatique d'analyse macérale et de détermination du pouvoir réflecteur de la vitrinite dans les charbons. |
| EP0819932A1 (en) * | 1996-07-16 | 1998-01-21 | Perkin-Elmer Limited | Microscope with ATR facility |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5822940A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-10 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 石炭組織分析法及び装置 |
| JPS5973754A (ja) * | 1982-10-20 | 1984-04-26 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 石炭組織の自動分析方法 |
| JPS59137846A (ja) * | 1983-01-27 | 1984-08-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 石炭組織の自動分析方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4030837A (en) * | 1975-09-29 | 1977-06-21 | Nippon Steel Corporation | Method and apparatus for automatically measuring distribution of reflectance of coals |
-
1989
- 1989-07-11 JP JP1177100A patent/JPH0342548A/ja active Pending
-
1990
- 1990-07-09 FR FR9008683A patent/FR2649794B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5822940A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-10 | Mitsubishi Chem Ind Ltd | 石炭組織分析法及び装置 |
| JPS5973754A (ja) * | 1982-10-20 | 1984-04-26 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 石炭組織の自動分析方法 |
| JPS59137846A (ja) * | 1983-01-27 | 1984-08-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 石炭組織の自動分析方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007132795A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Japan Agengy For Marine-Earth Science & Technology | ビトリニット反射率測定方法およびビトリニット反射率測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2649794A1 (fr) | 1991-01-18 |
| FR2649794B1 (fr) | 1994-10-28 |
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