JPH0342910A - Buffer circuit - Google Patents
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
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- H03K19/00346—Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents
- H03K19/00361—Modifications for eliminating interference or parasitic voltages or currents in field effect transistor circuits
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、バッファ回路に係り、特に低いレベルの信号
をより高いレベルの信号に変換するバッファ回路に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a buffer circuit, and particularly to a buffer circuit that converts a low level signal into a higher level signal.
[従来の技術]
現在の多くの半導体集積回路では、低いレベルの論理入
力信号をより高いレベルの論理出力信号に変える必要が
ある。例えば、論理“0“と論理“1mに対してOVと
3.Ovの間で変化するTTL入力信号をOvと5vと
の間で変化するより高いレベルのCMO8振幅に変換す
る必要がしばしばある。TTL回路をCMOS回路と一
緒に動作させるために、比較的低いTTL論理レベルを
CMOS回路が、高い信頼性で動作し得る高いレベルへ
変換するインターフェース、即ち、バッファ回路を2つ
の回路の間に備えなければならない。[Prior Art] Many current semiconductor integrated circuits require converting low level logic input signals into higher level logic output signals. For example, it is often necessary to convert a TTL input signal varying between OV and 3.Ov for logic "0" and logic "1m" to a higher level CMO8 amplitude varying between Ov and 5V. In order to operate TTL circuits together with CMOS circuits, an interface, or buffer circuit, is provided between the two circuits that converts relatively low TTL logic levels to higher levels at which the CMOS circuits can operate reliably. There must be.
比較的単純なTTL−CMOSバッファ回路は。A relatively simple TTL-CMOS buffer circuit.
TTLレベルの入力を受け、CMOSレベルの出力を出
すCMOSインバータである。このTTL−CMOSイ
ンバータはNMO3)ランジスタを含んでおり、このN
MOSトランジスタは、従来の典型的CMOSインバー
タにおけるように、1MO8)ランジスタの広範さの半
分に比べ約5倍広範である。それ故、5V供給されてい
るとすると、このCMOSインバータでは、典型的には
。This is a CMOS inverter that receives TTL level input and outputs CMOS level output. This TTL-CMOS inverter includes an NMO3) transistor;
The MOS transistors are about five times as wide as in a typical conventional CMOS inverter, compared to half the width of a 1MO8) transistor. Therefore, given a 5V supply, for this CMOS inverter typically.
その入力が1通常のCMOSインバータのスイッチング
点である約2.5vよりむしろ約1.5 Vになったと
き、その出力を5vのCMOSレンジ全体の間で切替え
る。このような動作を実行するもつと複雑なバッファ回
路も既に知られており1例えば、米国特許第3,755
.690号、及び、第4.048,518号に示されて
いる。It switches its output between the entire 5V CMOS range when its input is at about 1.5V, rather than about 2.5V, which is the switching point of a typical CMOS inverter. Very complex buffer circuits that perform such operations are also known, e.g., U.S. Pat. No. 3,755.
.. No. 690 and No. 4.048,518.
このインバータのスイッチング点が1.5vというのは
、TTL入力での動作に適している。なぜならば、TT
L規格では、 2.OV以上の電圧レベルを論理“1”
、0.8V以下の電圧レベルを論理“Oゝとみなすから
である。しかしながら、これらTTLにおける0、8v
と2.Ovの制限は、直流仕様のおけるものである。T
TLは1通常、単純なバッファのTTL入力信号レンジ
の中央(1,5V)にスイッチング点が位置するような
、0■と3vで変化する交流条件下で動作する。The switching point of this inverter of 1.5v is suitable for operation with TTL input. Because, T.T.
In the L standard, 2. Logic “1” for voltage level above OV
, 0.8V or less is considered to be a logic “O゜.However, 0.8V in these TTL
and 2. The limit on Ov is for DC specifications. T
TL1 typically operates under AC conditions varying between 0 and 3V, with the switching point located in the middle (1,5V) of the TTL input signal range of a simple buffer.
もし、前記バッファ回路が1.5 Vのスイッチング点
を有し、入力が通常Ovと3vの間で変化するならば、
前記バッファ回路はスイッチングポイントの両側に約1
.5 Vのノイズマージンを有しているといえる。即ち
、入力がOvになっているとき、正方向に向かう1.5
Vまでの瞬間的なノイズパルスは無視され得る。これ
により、このレベルのノイズパルスが入力に表われても
、バッファ回路の出力にエラーが生じることはない。同
様に。If the buffer circuit has a switching point of 1.5 V and the input normally varies between Ov and 3V,
The buffer circuit has approximately 1 on each side of the switching point.
.. It can be said that it has a noise margin of 5 V. That is, when the input is Ov, 1.5 in the positive direction
Momentary noise pulses up to V can be ignored. Thereby, even if a noise pulse of this level appears at the input, no error will occur at the output of the buffer circuit. Similarly.
入力が3vになっているとき、負方向に向かう1.5v
までのノイズパルスがこのバッファ回路において無視さ
れ得る。When the input is 3V, 1.5V goes in the negative direction
Noise pulses up to 100 kHz can be ignored in this buffer circuit.
〔発明が解決しようとする課8]
しかしながら、この従来のバッファ回路では絶対値が1
.5 V以上のパルスは無視され得ない。そして、この
レベルのノイズは、TTL入力レベルの一方又は双方の
応答として、誤まったCMOSレベルの出力を出す。[Issue 8 to be solved by the invention] However, in this conventional buffer circuit, the absolute value is 1.
.. Pulses above 5 V cannot be ignored. This level of noise then produces a false CMOS level output in response to one or both of the TTL input levels.
本発明の課題は、高いレベルのノイズを無視できる。高
いノイズマージンのTTL−CMOSバッファ回路を提
供することにある。The problem of the invention is that high levels of noise can be ignored. An object of the present invention is to provide a TTL-CMOS buffer circuit with a high noise margin.
[課題を解決するための手段]
本発明のバッファ回路は、Ovの入力に加わった約2,
4vの正方向に向かうノイズパルスを無視することがで
き、 a、OVの入力に加わった約0,8■の負方向に
向かうノイズパルスを無視することがことができる。本
発明のバッファ回路は、論理”O” ニ0.8 V、論
理“1”に2.OVのTTLi流仕様を満足するもので
ある。本発明のバッファ回路は、これら明らかに予盾す
る目的を、入力ノイズが、TTL直流仕様の入力電圧の
非常に長い継続時間に比し、典型的な瞬間パルス(数n
sから数Ions)であるという事実を利用することに
よって達成する。[Means for Solving the Problems] The buffer circuit of the present invention has a buffer circuit of about 2,
A positive-going noise pulse of 4V can be ignored, and a negative-going noise pulse of about 0.8■ applied to the input of a, OV can be ignored. The buffer circuit of the present invention has a logic "O" voltage of 0.8 V and a logic "1" voltage of 2.8 V. This satisfies the TTLi style specifications of OV. The buffer circuit of the present invention achieves these obvious objectives by reducing the input noise to a typical instantaneous pulse (several n
This is achieved by taking advantage of the fact that s to several Ions).
本発明のバッファ回路は、入力と出力の間に2つの独立
したバスを含む。第1のバスは、高速交流バスであり、
これは入力信号がOvから3vへ増加するとき、約2.
5vの高いスイッチング電圧で論理“0”状態と論理“
1”状態を切り換え。The buffer circuit of the present invention includes two independent buses between input and output. The first bus is a high-speed AC bus,
This is approximately 2.0V when the input signal increases from Ov to 3V.
Logic “0” state and logic “ with high switching voltage of 5V
1” Switch the state.
入力信号が3vからOvへ減少するとき、約1.1■の
低いスイッチング電圧で論理“1”状態と論理“0”状
態とを切り換える。第2のバスは第1のバスの動作を制
御する低速直流バスで、入力信号の増加、減少の双方で
約1.I Vの低いスイッチング電圧を有している。異
なる直流と交流のスイッチング電圧を与えることで、ま
た、交流パスにヒステリシス効果を作り出すことで1本
発明のTTL−CMOSバッファ回路は、従来のバッフ
ァ回路よりも、高周波のノイズスパイクをより高精度で
徐除去することができる。When the input signal decreases from 3V to Ov, a switching voltage as low as about 1.1 cm switches between a logic "1" state and a logic "0" state. The second bus is a low-speed DC bus that controls the operation of the first bus, and both increases and decreases the input signal by approximately 1. It has a low switching voltage of IV. By applying different DC and AC switching voltages and by creating a hysteresis effect in the AC path, the TTL-CMOS buffer circuit of the present invention can suppress high-frequency noise spikes with higher accuracy than conventional buffer circuits. Can be removed gradually.
[作用]
本発明のTTL−CMOSバッファ回路は、比較的高速
動作の第1のインバータパスと、第1のパスに接続され
、第1のインバータパスの動作を制御する比較的低速動
作の第2のインバータパスとを含み、接続時間の短い2
.4vまでの振幅の正又は負のノイズパスは出力レベル
に悪影響をおよぼさない。[Function] The TTL-CMOS buffer circuit of the present invention has a first inverter path that operates at a relatively high speed, and a second inverter path that operates at a relatively low speed and is connected to the first path and controls the operation of the first inverter path. 2 inverter paths with short connection time.
.. Positive or negative noise paths with amplitudes up to 4v do not adversely affect the output level.
[実施例]
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。[Example] Next, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図に示す実施例のように2本発明のTTL−CMO
Sバッファは、第1の高速(交流)パス10と、第2の
低速(直流)パス12とを含む。As shown in the embodiment shown in FIG.
The S-buffer includes a first high speed (AC) path 10 and a second low speed (DC) path 12.
パス10.及び12は入力TTLレベル信号V。Pass 10. and 12 is an input TTL level signal V.
を受ける入力端子14と、CMOSレベルの出力信号v
、、1が得られる出力端子16との間に接続されている
。an input terminal 14 that receives a CMOS level output signal v
.
第1のパス10は、供給電圧(ここでは+5V)と基準
電圧ライン(ここではグランド)との間に直列に接続さ
れたPMO8)ランジスタP3及びPlとNMO8)ラ
ンジスタN1とを含む入力インバータを有している。ト
ランジスタは、そのW/L比が大きければ大きいほど、
同じゲート電圧で大きなドレイン電流が流れる。これら
のMOSトランジスタの、それぞれに対して、更には、
第1図のバッファ回路に含まれる他の全てのMOSトラ
ンジスタに対して、好ましい幅と長さの比(W/L比)
が第1図にミクロン単位で付記されている。しかしなが
ら、これらの比は、単に代表的に与えられたもので、範
囲や効果の限定を意味するものでないと理解されるべき
である。例えば。The first path 10 has an input inverter comprising PMO8) transistors P3 and Pl and NMO8) transistor N1 connected in series between the supply voltage (here +5V) and the reference voltage line (here ground). are doing. The larger the W/L ratio of a transistor, the more
A large drain current flows with the same gate voltage. For each of these MOS transistors, furthermore,
Preferred width to length ratio (W/L ratio) for all other MOS transistors included in the buffer circuit of FIG.
is marked in microns in FIG. However, it should be understood that these ratios are merely representative and are not meant to limit the scope or effect. for example.
これらの比は、異なる電気的プロセスパラメータによっ
て変化するであろう。These ratios will vary with different electrical process parameters.
トランジスタNl、PI及びP3からなるインバータの
W/L比は、トランジスタP3のゲート電圧がOvのと
きvl、のスイッチング電圧が約2.5vとなるように
選択される。トランジスタP1とN1のゲートがvl、
入力端子14に接続され、インバータ端子18がこれら
双方のトランジスタP1とN1のドレインの共通接続点
に確立される。端子18は、+5v電圧源とグランドと
の間に接続されているトランジスタP2とN2のゲート
に接続されている。トランジスタP2とN2とは第2の
インバータ段を構成する。トランジスタP2とN2との
ドレインの共通接続点でのインバータ端子20は、出力
端子16に接続されている。The W/L ratio of the inverter consisting of transistors Nl, PI and P3 is selected such that when the gate voltage of transistor P3 is Ov, the switching voltage of vl is approximately 2.5V. The gates of transistors P1 and N1 are vl,
It is connected to the input terminal 14, and an inverter terminal 18 is established at the common connection point of the drains of both these transistors P1 and N1. Terminal 18 is connected to the gates of transistors P2 and N2, which are connected between a +5v voltage source and ground. Transistors P2 and N2 constitute a second inverter stage. The inverter terminal 20 at the common connection point of the drains of transistors P2 and N2 is connected to the output terminal 16.
低速直流パス12は、+5Vt[庄原とグランドとの間
に接続されたトランジスタP4とN3とから成る入力イ
ンバータを含む。Slow DC path 12 includes an input inverter consisting of transistors P4 and N3 connected between +5Vt and ground.
トランジスタN3.P4のW/L比はトランジスタPL
、NlのW/L比よりも小さく、スイッチング点、即ち
、N3.P4インバータが約1.LVのV、となるよう
に選択される。トランジスタP4とN3のゲートは、入
力端子14に接続され。Transistor N3. The W/L ratio of P4 is the transistor PL
, Nl is smaller than the W/L ratio of the switching point, i.e., N3. P4 inverter is approximately 1. V of LV. The gates of transistors P4 and N3 are connected to input terminal 14.
トランジスタP4とN3とのこれらのドレインの共通接
続点でインバータ端子22が形成される。An inverter terminal 22 is formed at the common connection point of the drains of transistors P4 and N3.
インバータ端子22は、+5v電圧とグランド間に接続
されているトランジスタP5及びN4のゲートに接続さ
れている。トランジスタN4とP5のドレインの共通接
続点のインバータ端子24は。Inverter terminal 22 is connected to the gates of transistors P5 and N4, which are connected between the +5v voltage and ground. The inverter terminal 24 is the common connection point of the drains of transistors N4 and P5.
トランジスタP3のゲートと、コンデンサC1の一端と
に接続され、また、コンデンサC1の他端は接地されて
いる。コンデンサC1は浮遊静電容量にトランジスタP
3をうかがう静電容量を加えたものを表わし、典型的に
は、 o、t ppオーダのものである。It is connected to the gate of the transistor P3 and one end of the capacitor C1, and the other end of the capacitor C1 is grounded. Capacitor C1 has floating capacitance and transistor P
3, typically on the order of o,tpp.
また、低速パス12は、+5v電圧源とグランド間に接
続されたトランジスタP6とN5から成る第2のインバ
ータを含む。トランジスタP6とN5のゲートは、出力
端子16に接続されている。Slow path 12 also includes a second inverter consisting of transistors P6 and N5 connected between the +5v voltage source and ground. The gates of transistors P6 and N5 are connected to output terminal 16.
トランジスタN5とP6のドレイン共通接続点であるイ
ンバータ端子26は、トランジスタP7のゲートに接続
されている。トランジスタP7のソ−スは+5V電圧源
に接続され、そのドレインは。An inverter terminal 26, which is a common drain connection point of transistors N5 and P6, is connected to the gate of transistor P7. The source of transistor P7 is connected to a +5V voltage source, and its drain is connected to a +5V voltage source.
トランジスタP3のゲート及びコンデンサC1に接続さ
れると共に、トランジスタP5とN4よりなるインバー
タ段の出力端子24に接続されている。It is connected to the gate of transistor P3 and capacitor C1, as well as to the output terminal 24 of an inverter stage consisting of transistors P5 and N4.
第1図のバッファ回路の動作を、第2図及び第3図に示
された高速バス10と低速バス12の直流、交流遷移曲
線を、更に参照して説明する。ここで4つの場合が考え
られる。The operation of the buffer circuit of FIG. 1 will be described with further reference to the DC and AC transition curves of the high speed bus 10 and low speed bus 12 shown in FIGS. 2 and 3. Here, four cases are possible.
1)V+−がOvから3vへ、モしてOvへ戻るパルス
信号である。1) V+- is a pulse signal from Ov to 3V and then back to Ov.
2)■、がOvから2.4vへ、モしてOvへ戻る正方
向に向かうノイズパルスである。2) ■ is a noise pulse going in the positive direction from Ov to 2.4V, then back to Ov.
3)■、が3.Ovから1.2 Vへ、 (−しテ3.
Ovへ戻る負方向へ向かうノイズパルスである。3)■, is 3. Ov to 1.2 V, (-shite3.
This is a negative going noise pulse returning to Ov.
4)voが0.8vと2.07間で切り換わる直流であ
る。4) vo is a direct current that switches between 0.8v and 2.07v.
1)の場合、V、、がOvから3.OVへ変ワルと。In case 1), V, , is from Ov to 3. A weird badass to the OV.
端子18と22はすぐにローレベルになる。なぜならば
、 a、OVの入力は1両インバータのスイッチング点
よりも高い電圧であり、この電圧はNl。Terminals 18 and 22 immediately go low. This is because the input of a, OV is at a voltage higher than the switching point of the single-car inverter, and this voltage is Nl.
PI、P3から成るインバータとN3とP4から成るイ
ンバータを切り換えるのに十分なほど高い。High enough to switch the inverter consisting of PI, P3 and the inverter consisting of N3 and P4.
端子18がローレベルになると端子20とv、、1はハ
イレベルになり、このことが、トランジスタP6.N5
からなるインバータを切り換え、端子26をローレベル
にする。端子22がローレベルになるとトランジスタN
4はオフになり、端子26がローレベルになると、トラ
ンジスタP7はオンになる。このようにトランジスタP
7がオンになったとき、端子24は直ちに+5vになり
。When terminal 18 goes low, terminals 20 and v,,1 go high, which causes transistors P6. N5
The terminal 26 is set to low level. When the terminal 22 becomes low level, the transistor N
4 is turned off, and when terminal 26 goes low, transistor P7 is turned on. In this way, transistor P
When 7 is turned on, terminal 24 immediately goes to +5V.
トランジスタP3がオフになる。■、がOvに戻ったと
き、トランジスタP4はオンになり、端子22はハイレ
ベルになる。しかし、このときトランジスタP3は、い
まだオフしており、端子18はトランジスタP1がオン
していてもローレベルのままである。端子24がハイレ
ベルになるとトランジスタN4はオンになり、端子24
はローレベルになる。なぜならば、トランジスタN4は
トランジスタP7のW/L比に比べ大きなW/L比を有
していることによって、そのときすでにオンしているト
ランジスタP7に打ち勝ってしまうからである。−旦、
端子24がローレベルになると。Transistor P3 is turned off. (2) When the voltage returns to Ov, the transistor P4 is turned on and the terminal 22 becomes high level. However, at this time, the transistor P3 is still off, and the terminal 18 remains at a low level even though the transistor P1 is on. When the terminal 24 becomes high level, the transistor N4 turns on and the terminal 24 becomes high level.
becomes low level. This is because transistor N4 has a larger W/L ratio than that of transistor P7, so it overcomes transistor P7, which is already on at that time. -dan,
When terminal 24 becomes low level.
トランジスタP3はオンになり、トランジスタP1はい
ぜんオンなので、端子18はハイレベルになる。端子1
8のレベルはトランジスタP2゜N2からなるインバー
タにおいて反転され。Transistor P3 is turned on, and since transistor P1 is always on, terminal 18 goes high. terminal 1
The level of 8 is inverted in an inverter consisting of transistor P2°N2.
■・。1をローレベルにし、端子26をハイレベルにし
、トランジスタP7をオフにする。■・. 1 is set to low level, terminal 26 is set to high level, and transistor P7 is turned off.
2)の場合ハ、 V + 、カOVから2.4Vl:
変化したとき、入力電圧は、端子18を直ちにローレベ
ルに切替えるほど高くない。しかし、トランジスタP4
.N3から成るインバータの端子22は直ちにローレベ
ルになる。なぜならば、そのスイッチング点が約1.I
Vにすぎないからである。端子22がローレベルにな
ると、トランジスタN4はオフになり、トランジスタP
5はオンになる。トランジスタP5は、オンしていたと
しても1弱い電流源となり、かつ、端子24を正にゆっ
くりチャージするように、比較的長くて狭く作られる。In the case of 2), 2.4Vl from V + and KaOV:
When changed, the input voltage is not high enough to immediately switch terminal 18 low. However, transistor P4
.. Terminal 22 of the inverter consisting of N3 immediately goes low. This is because the switching point is approximately 1. I
This is because it is just V. When terminal 22 goes low, transistor N4 turns off and transistor P
5 turns on. Transistor P5 is made relatively long and narrow so that it is a weak current source even when on, and charges terminal 24 positively and slowly.
もし、典型的ノイズパルスのように、Ovに戻る前に数
ナノ秒間、■、が2.4vであると、端子24は、トラ
ンジスタN4がオンすることによってグランドに戻され
る以前には、あまり正の方向に電位が上らない。もし、
端子18がローレベルにならなければ、そのときトラン
ジスタN2゜P2から成るインバータの出力でのV。、
はハイレベルにはならない。もし、v+fiがノイズパ
ルスの場合と異なり、長時間2.4vであったならば。If, like a typical noise pulse, is at 2.4V for a few nanoseconds before returning to Ov, terminal 24 will be less positive before being returned to ground by turning on transistor N4. The potential does not rise in the direction of . if,
If terminal 18 does not go low, then V at the output of the inverter consisting of transistor N2°P2. ,
is not at a high level. If v+fi was 2.4v for a long time, unlike the noise pulse case.
トランジスタP3のゲートはやがてオフとなり。The gate of transistor P3 eventually turns off.
2.4vの入力レベルはノード18をローレベルにし、
■、1をハイレベルにするに十分なものとなる。The 2.4v input level causes node 18 to go low;
■It is sufficient to make 1 a high level.
3)の場合、■、が3.Ovであるということは。In the case of 3), ■ is 3. Being Ov.
トランジスタP3のゲートが5.Ovであり、トランジ
スタP3はオフであることを意味する。もし。The gate of transistor P3 is 5. Ov, meaning that transistor P3 is off. if.
vII、が1.2 Vに低下したならば、トランジスタ
P1がオンになる。しかしトランジスタP3はオフで、
トランジスタP1に直列に接続されているので、端子1
8はハイレベルにならず、そしてV o ++ 1 は
ハイレベルのままである。もし+”1mが1.2 Vに
低下しただけであるならば、それは端子22をハイにす
るほど低くはない。それは端子24をローレベルにして
、トランジスタP3をオンにするために必要である。こ
のような負方向に向かうのパルスの場合は1入力パルス
が1.1 V以下にならなければ、I!続時間が長いノ
イズ信号でさえ、■、1をローレベルにはしない。Once vII, drops to 1.2 V, transistor P1 turns on. But transistor P3 is off,
Since it is connected in series with transistor P1, terminal 1
8 does not go high, and V o ++ 1 remains high. If +”1m only drops to 1.2 V, it is not low enough to make terminal 22 high. It is necessary to bring terminal 24 to a low level and turn on transistor P3. In the case of such a negative-going pulse, unless one input pulse becomes 1.1 V or less, even a noise signal with a long I! duration will not cause ■, 1 to go to a low level.
4)の直流電流の場合、トランジスタN3゜P4からな
るインバータが状態を制御する。■。In the case of direct current (4), an inverter consisting of transistors N3°P4 controls the state. ■.
が0.8vより小さいとき、端子22はハイレベル。When is less than 0.8v, terminal 22 is at high level.
端子24はローレベル、トランジスタP3はオン。Terminal 24 is at low level and transistor P3 is on.
トランジスタPiはオン、端子18はハイレベル。Transistor Pi is on and terminal 18 is at high level.
モしてVo、、はローレベルである。■、のレベルが2
.OVより大きいとき、トランジスタN1はオン、トラ
ンジスタP1は部分的にオン、端子22はローレベル、
(十分時間が経過した後)端子24はハイレベル、トラ
ンジスタP3はオフ、端子18はローレベル、そして端
子2oとV a m lはハイレベルである。However, Vo, , is at a low level. ■, level is 2
.. When greater than OV, transistor N1 is on, transistor P1 is partially on, terminal 22 is low level,
(After sufficient time has elapsed) terminal 24 is at a high level, transistor P3 is off, terminal 18 is at a low level, and terminals 2o and V a m l are at a high level.
本発明のバッファ回路はIVIII上のノイズの影響を
減少させるという効果のほかに、グランドノイズも抑圧
する。第1図に示すグランドへの戻りは、理想的なもの
となる。典型的には、インダクタンスによる高速動作の
チップは、グランドへの戻りはフィダーで、ちょうどO
vではない。例えば、第1図のバッファ回路における正
方向に向かうのグランドノイズパルスは、■1.に負方
向に向かうのノイズパルスと等価である。もしIVlm
が3、Ovの論理“1”状態であるならば、この回路は
、誤切替えするまでに1.8 Vの正方向に向かうのグ
ランドノイズに耐え得る。同様に、V、、がOVの論理
“0″状態であるならば、 2.4 Vまでの負方向に
向かうノイズパルスであれば、誤まった論理動作はしな
い。In addition to reducing the effect of noise on IVIII, the buffer circuit of the present invention also suppresses ground noise. The return to ground shown in FIG. 1 would be ideal. Typically, in inductance-based high-speed chips, the return to ground is a feeder, just at O
Not v. For example, the ground noise pulse in the positive direction in the buffer circuit of FIG. is equivalent to a noise pulse in the negative direction. If IVlm
If is a logic "1" state of 3, Ov, the circuit can withstand 1.8 V of positive going ground noise before switching incorrectly. Similarly, if V, , is in the logic "0" state of OV, a negative going noise pulse of up to 2.4 V will not result in an erroneous logic operation.
[発明の効果]
このように1本発明のTTL−CMO5人カバツカバッ
ファ4vまでのノイズ信号によって引き起こされる誤ま
った論理切替動作を効果的に妨げる。[Effects of the Invention] In this way, the TTL-CMO 5-person cover buffer of the present invention effectively prevents erroneous logic switching operations caused by noise signals up to 4V.
また1本発明の精神及び範囲を離れることなく。Also without departing from the spirit and scope of the invention.
二二で述べた実施例に変更がなされることを理解しなけ
ればならない。It should be understood that modifications may be made to the embodiments described in Section 22.
第1図は本発明の一実施例のTTL−CMOSバッファ
回路の回路図、第2図は本発明のバッファ回路の交流遷
移曲線、第3図は本発明のバッファ回路の直流遷移曲線
である。
10・・・第1のバス、12・・・第2のバス、14・
・・入力端子、16・・・出力端子、18,20,22
゜24.26・・・インバータ端子。
りC遍移曲線FIG. 1 is a circuit diagram of a TTL-CMOS buffer circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an AC transition curve of the buffer circuit of the present invention, and FIG. 3 is a DC transition curve of the buffer circuit of the present invention. 10...first bus, 12...second bus, 14.
...Input terminal, 16...Output terminal, 18, 20, 22
゜24.26...Inverter terminal. riC transition curve
Claims (1)
端子間に接続され、少なくとも1つのスイッチング素子
を有する第1の回路と;前記入力端子と出力端子間に接
続されると共に前記第1の回路に接続され、前記スイッ
チング素子の動作を効果的に制御する第2の回路と;を
有することを特徴とするバッファ回路。 2、前記スイッチング素子と前記第2の回路とに接続さ
れた充電手段を更に有し、前記第2の回路は、前記充電
手段に充電電流を与え、前記充電手段を高電圧又は低電
圧のどちらかの電圧へ充電する充電電流供給手段を含む
ことを特徴とする請求項1記載のバッファ回路。 3、前記第1の回路は、前記スイッチング素子を含み、
かつ、入力端が前記入力端子に接続された第1のインバ
ータと;該第1のインバータの出力端に入力端が接続さ
れ、出力端が前記出力端子に接続された第2のインバー
タと;を含むことを特徴とする請求項2記載のバッファ
回路。 4、前記第1のインバータは、互いの出力バスが直列に
接続され、各々のゲートが前記入力端子に接続された、
第1及び第2のトランジスタを含み、前記スイッチング
素子は、前記第1及び第2のトランジスタの出力回路と
電圧源との間に接続された出力回路を有することを特徴
とする請求項3記載のバッファ回路。 5、前記電流供給手段は、第1の低速度で前記電圧の一
方に前記充電手段を充電するとき有効となる第3のトラ
ンジスタと;より高速の第2の速度で第2の電圧に前記
充電手段を充電するとき有効となる第4のトランジスタ
と;を含むことを特徴とする請求項4記載のバッファ回
路。 6、前記第4のトランジスタが前記第3のトランジスタ
のW/L比よりも高いW/L比を有することを特徴とす
る請求項5記載のバッファ回路。 7、前記第3及び前記第4のトランジスタの出力回路は
、電圧源と基準電圧ラインとの間に接続され、前記出力
回路の接続点で出力点が構成され、前記出力点は前記充
電手段に接続されていることを特徴とする請求項6記載
のバッファ回路。 8、前記第2の回路が、前記入力端子に接続された第3
のインバータと;該第3のインバータの出力に接続され
、前記第3及び第4のトランジスタを含む第4のインバ
ータと;を含むことを特徴とする請求項7記載のバッフ
ァ回路。 9、前記第2の回路内に設けられ、入力端が前記出力端
子に接続された第5のインバータと;ゲートが前記第5
のインバータの出力に接続され、出力が前記充電手段と
前記第4のインバータの出力点とに接続された第5のト
ランジスタと;を更に含むことを特徴とする請求項8記
載のバッファ回路。 10、前記電流供給手段が、比較的低速の第1の速度で
第1の電圧に前記充電手段を充電するとき有効となる第
1のトランジスタと;より高速の第2の速度で第2の電
圧に前記充電手段を充電するとき有効となる第2のトラ
ンジスタと;を含むことを特徴とする請求項2記載のバ
ッファ回路。 11、前記第2のトランジスタが前記第1のトランジス
タよりも高いW/L比を有することを特徴とする請求項
10記載のバッファ回路。 12、前記第1及び前記第2のトランジスタの出力パス
が電圧源と基準電圧ラインとの間に直列に接続され、こ
れらの共通出力接続点が出力点を構成し、前記インバー
タの出力点が前記充電手段に接続されていることを特徴
とする請求項11記載のバッファ回路。 13、前記第1の回路は、入力が前記入力端子に接続さ
れ、前記スイッチング素子を含む第1のインバータを含
み、前記第2の回路は、前記スイッチング素子に接続さ
れ、該スイッチング素子の動作を制御するための制御手
段を含み、前記入力端子での継続時間の短いノイズに応
答する前記第1のインバータの動作を妨げるようにした
ことを特徴とする請求項1記載のバッファ回路。 14、前記制御手段が、前記スイッチング素子と前記第
2の回路との中間に接続された手段を含み、前記第2の
回路は、さらに、2つの電圧レベルの一方に前記制御手
段で制御電圧を確立するための電圧確立手段を含むこと
を特徴とする請求項13記載のバッファ回路。 15、前記制御手段は、充電手段を含み、前記電圧確立
手段は、前記充電手段に電流を供給し、第1の速い速度
で前記電圧レベルの一方のレベルに前記充電手段を充電
し、また、第2の遅い速度で第2の電圧レベルに前記充
電手段を充電する電流供給手段を含むことを特徴とする
請求項14記載のバッファ回路。 18、前記電流供給手段が、前記第1の速度で前記電圧
の前記一方の電圧に前記充電手段を充電するとき有効と
なる第1のトランジスタと、前記第2の速度で前記第2
の電圧に充電するとき有効となる第2のトランジスタと
を含むことを特徴とする請求項15記載のバッファ回路
。 17、前記第2のトランジスタが前記第1のトランジス
タよりも高いW/L比を有していることを特徴とする請
求項16記載のバッファ回路。 18、前記第1及び第2のトランジスタの出力パスが電
圧源と基準電圧ラインとの間に接続され、前記出力パス
の接続点でインバータの出力点が構成され、前記インバ
ータ出力点が前記充電手段に接続されていることを特徴
とする請求項17記載のバッファ回路。 19、前記第1のインバータは、互いの出力パスが直列
に接続され、各々のゲートが前記入力端子に接続された
第1及び第2のトランジスタを含み、前記スイッチング
素子は電圧源と前記第1及び前記第2のトランジスタの
出力パスとの間に接続された出力パスを有することを特
徴とする請求項14記載のバッファ回路。 20、前記第2の回路は入力が前記入力端子に接続され
た第3のインバータを含み、前記第1のインバータは第
1及び第2のトランジスタを含み、前記第3のインバー
タは第3及び第4のトランジスタを含み、前記第1及び
前記第2のトランジスタは前記第3及び前記第4のトラ
ンジスタよりも高いW/L比を有し、これにより前記第
1のインバータが前記第3のインバータよりも高いスイ
ッチング点を有することを特徴とする請求項3記載のバ
ッファ回路。 21、入力が前記第3のインバータの出力に接続され、
出力が前記スイッチング素子に接続された第4のインバ
ータを、更に、含むことを特徴とする請求項20記載の
バッファ回路。 22、入力が前記第2のインバータに接続された第5の
インバータと;出力パスが電圧源と前記第5のインバー
タの出力との間に接続され、制御ゲートが前記第5のイ
ンバータの出力に接続された第5のトランジスタと;を
更に含むことを特徴とする請求項21記載のバッファ回
路。 23、前記第1の回路は、入力が前記入力端子に接続さ
れ、かつ第1のスイッチング電圧を有する第1のインバ
ータを含み、前記第2の回路は、入力が前記入力端子に
接続され、かつ、前記第1のスイッチング電圧より低い
第2のスイッチング電圧を有する第2のインバータを含
むことを特徴とする請求項1記載のバッファ回路。 24、前記第1及び前記第2のインバータの各々は、対
のコンプレメンタリ型トランジスタを含み、前記第1の
インバータに含まれる前記トランジスタが前記第2のイ
ンバータに含まれる前記トランジスタよりも大きなW/
L比を有することを特徴とする請求項23記載のバッフ
ァ回路。 25、前記スイッチング素子が前記第1のインバータに
含まれていることを特徴とする請求項23記載のバッフ
ァ回路。 26、前記スイッチング素子及び前記第2の回路に接続
された充電手段を更に含み、前記第2の回路は、充電電
流を前記充電手段に供給し、ハイ又はローの電圧のどち
らか一方に前記充電手段を充電する電流供給手段を含む
ことを特徴とする請求項25記載のバッファ回路。 27、前記第1のインバータは、互いの出力パスが直列
に接続され、各々のゲートが前記入力端子に接続された
第1及び第2のトランジスタを含み、前記スイッチング
素子が、電圧源と前記第1及び前記第2のトランジスタ
の出力回路との間に接続された出力回路を有しているこ
とを特徴とする請求項25記載のバッファ回路。 28、前記電流供給手段が第1の低速度で前記電圧の一
方に前記充電手段を充電するとき有効となる第3のトラ
ンジスタと;より高速の第2の速度で第2の電圧に前記
充電手段を充電するとき有効となる第4のトランジスタ
と;を含むことを特徴とする請求項27のバッファ回路
。 29、前記第4のトランジスタが前記第3のトランジス
タよりも高いW/L比を有することを特徴とする請求項
28記載のバッファ回路。 30、前記第3及び前記第4のトランジスタの出力回路
が電圧源と基準電圧ラインとの間に接続され、前記出力
回路の接続点が出力点を構成し、前記出力点が前記充電
手段に接続されていることを特徴とする請求項29記載
のバッファ回路。 31、前記第2の回路は、前記入力端子に接続された第
3のインバータと;前記第3のインバータの出力に接続
され、前記第3及び前記第4のトランジスタを含んでい
る第4のインバータと;を含むことを特徴とする請求項
30記載のバッファ回路。 32、入力が出力端子に接続された第5のインバータを
前記第2の回路内に有し、ゲートが前記第5のインバー
タの出力に接続され、出力が前記充電手段と前記第5の
インバータの出力点とに接続された第5のトランジスタ
を、更に含むことを特徴とする請求項31記載のバッフ
ァ回路。[Claims] 1. An input terminal; an output terminal; a first circuit connected between the input terminal and the output terminal and having at least one switching element; connected between the input terminal and the output terminal; and a second circuit connected to the first circuit to effectively control the operation of the switching element. 2. Further comprising a charging means connected to the switching element and the second circuit, the second circuit applying a charging current to the charging means and controlling the charging means to either high voltage or low voltage. 2. The buffer circuit according to claim 1, further comprising charging current supply means for charging to said voltage. 3. The first circuit includes the switching element,
and a first inverter having an input end connected to the input terminal; and a second inverter having an input end connected to the output end of the first inverter and an output end connected to the output terminal; 3. The buffer circuit according to claim 2, further comprising a buffer circuit. 4. The output buses of the first inverters are connected in series, and each gate is connected to the input terminal.
4. The switching element includes first and second transistors, and the switching element has an output circuit connected between the output circuits of the first and second transistors and a voltage source. buffer circuit. 5. The current supply means includes a third transistor which is activated when charging the charging means to one of the voltages at a first low rate; 5. A buffer circuit according to claim 4, further comprising: a fourth transistor which is activated when charging the means. 6. The buffer circuit according to claim 5, wherein the fourth transistor has a W/L ratio higher than that of the third transistor. 7. The output circuits of the third and fourth transistors are connected between a voltage source and a reference voltage line, the connection point of the output circuits constitutes an output point, and the output point is connected to the charging means. 7. The buffer circuit according to claim 6, wherein the buffer circuit is connected to the buffer circuit. 8. The second circuit has a third circuit connected to the input terminal.
8. The buffer circuit according to claim 7, further comprising: an inverter; and a fourth inverter connected to the output of the third inverter and including the third and fourth transistors. 9. a fifth inverter provided in the second circuit and having an input terminal connected to the output terminal; a gate connected to the fifth inverter;
9. The buffer circuit according to claim 8, further comprising: a fifth transistor connected to the output of the fourth inverter, the output of which is connected to the charging means and the output point of the fourth inverter. 10. a first transistor that is activated when said current supply means charges said charging means to a first voltage at a relatively slow first rate; 3. The buffer circuit according to claim 2, further comprising: a second transistor that becomes effective when charging said charging means. 11. The buffer circuit according to claim 10, wherein the second transistor has a higher W/L ratio than the first transistor. 12. The output paths of the first and second transistors are connected in series between a voltage source and a reference voltage line, their common output connection point constitutes an output point, and the output point of the inverter is connected to the 12. The buffer circuit according to claim 11, wherein the buffer circuit is connected to charging means. 13. The first circuit includes a first inverter whose input is connected to the input terminal and includes the switching element, and the second circuit is connected to the switching element and controls the operation of the switching element. 2. The buffer circuit of claim 1, further comprising control means for controlling operation of said first inverter in response to short duration noise at said input terminal. 14. The control means includes means connected between the switching element and the second circuit, and the second circuit further causes the control means to apply a control voltage to one of two voltage levels. 14. The buffer circuit according to claim 13, further comprising voltage establishing means for establishing the voltage. 15. The control means includes charging means, and the voltage establishing means supplies current to the charging means to charge the charging means to one of the voltage levels at a first fast rate, and 15. A buffer circuit as claimed in claim 14, including current supply means for charging said charging means to a second voltage level at a second slow rate. 18. A first transistor which is activated when the current supply means charges the charging means to the one of the voltages at the first rate;
16. The buffer circuit according to claim 15, further comprising a second transistor that becomes effective when charging to a voltage of . 17. The buffer circuit according to claim 16, wherein the second transistor has a higher W/L ratio than the first transistor. 18. Output paths of the first and second transistors are connected between a voltage source and a reference voltage line, a connection point of the output paths constitutes an output point of an inverter, and the inverter output point is connected to the charging means. 18. The buffer circuit according to claim 17, wherein the buffer circuit is connected to. 19. The first inverter includes first and second transistors whose output paths are connected in series and whose respective gates are connected to the input terminal, and the switching element is connected to a voltage source and the first transistor. 15. The buffer circuit according to claim 14, further comprising an output path connected between the buffer circuit and the output path of the second transistor. 20, the second circuit includes a third inverter having an input connected to the input terminal, the first inverter includes first and second transistors, and the third inverter includes third and second transistors; 4 transistors, the first and second transistors having a higher W/L ratio than the third and fourth transistors, such that the first inverter has a higher W/L ratio than the third inverter. 4. The buffer circuit according to claim 3, wherein the buffer circuit also has a high switching point. 21, an input is connected to the output of the third inverter,
21. The buffer circuit according to claim 20, further comprising a fourth inverter having an output connected to the switching element. 22, a fifth inverter having an input connected to the second inverter; an output path being connected between a voltage source and an output of the fifth inverter; and a control gate connected to the output of the fifth inverter; 22. The buffer circuit of claim 21, further comprising: a fifth transistor connected to the buffer circuit. 23. The first circuit includes a first inverter having an input connected to the input terminal and having a first switching voltage; and the second circuit has an input connected to the input terminal and includes a first inverter having a first switching voltage. , a second inverter having a second switching voltage lower than the first switching voltage. 24, each of the first and second inverters includes a pair of complementary transistors, and the transistor included in the first inverter has a larger W/
24. The buffer circuit according to claim 23, having an L ratio. 25. The buffer circuit according to claim 23, wherein the switching element is included in the first inverter. 26. further comprising a charging means connected to the switching element and the second circuit, the second circuit supplying a charging current to the charging means and charging the charging to either a high or low voltage; 26. The buffer circuit according to claim 25, further comprising current supply means for charging the buffer circuit. 27. The first inverter includes first and second transistors whose output paths are connected in series and whose respective gates are connected to the input terminal, and wherein the switching element is connected to the voltage source and the first transistor. 26. The buffer circuit according to claim 25, further comprising an output circuit connected between the first transistor and the output circuit of the second transistor. 28. a third transistor operative when said current supply means charges said charging means to one of said voltages at a first slow rate; said charging means to a second voltage at a faster second rate; 28. The buffer circuit of claim 27, further comprising: a fourth transistor that becomes effective when charging the buffer circuit. 29. The buffer circuit of claim 28, wherein the fourth transistor has a higher W/L ratio than the third transistor. 30. Output circuits of the third and fourth transistors are connected between a voltage source and a reference voltage line, a connection point of the output circuit constitutes an output point, and the output point is connected to the charging means. 30. The buffer circuit according to claim 29, characterized in that: 31, the second circuit includes a third inverter connected to the input terminal; and a fourth inverter connected to the output of the third inverter and including the third and fourth transistors. 31. The buffer circuit according to claim 30, comprising: and; 32, a fifth inverter having an input connected to an output terminal in the second circuit, a gate connected to an output of the fifth inverter, and an output connected to the charging means and the fifth inverter; 32. The buffer circuit according to claim 31, further comprising a fifth transistor connected to the output point.
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Family Cites Families (7)
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| US4740717A (en) * | 1986-11-25 | 1988-04-26 | North American Philips Corporation, Signetics Division | Switching device with dynamic hysteresis |
| US4859873A (en) * | 1987-07-17 | 1989-08-22 | Western Digital Corporation | CMOS Schmitt trigger with independently biased high/low threshold circuits |
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