JPH0343696B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、エラー補正コードの形式で記憶され
た情報を有する、光学的に読出し可能な高記録密
度のデイスク状情報担体の製造時の製造エラーを
検出する装置に関する。

従来技術 この形式の情報担体の製造時には常に抜き取り
検査方式による品質検査が必要であり、それによ
つて情報再生時に要求される再生品質が十分に満
たされているかどうかがチエツクされる。大きさ
が1μmの情報トラツクでは一般的に、非常に高度
な技術水準でも、ほこりと使用された合成樹脂の
光学的不均一性とに起因する所謂「ドロツプアウ
ト」の形での障害は避けられない。このような理
由から、デイジタル信号記録の場合、光学読取り
可能な音響デイスク（コンパクトデイスクという
名称で市販されている）に対してエラー訂正符号
が用いられる。この符号を用いて、情報再生時に
受信側で読出された符号のエラーを監視し且つ検
出されたエラーを必要に応じて訂正することがで
きる。

発明が解決しようとする問題点 このような再生側のエラー補正装置の性能はも
ちろん十分ではないので、ここでも欠陥の大きさ
がエラー補正装置の処理能力を越える場合、再生
時に望ましくないノイズが生ずることがある。

本発明の課題は、技術的に比較的僅かなコスト
で申し分なく製造欠陥を全般的に検出し且つ評価
することのできる装置を提供することにある。

問題点を解決するための手段 この課題は冒頭に述べた形式の製造エラーを検
出するにおいて、次のような構成を設けることに
より解決される。即ち、記憶されたデータを読み
出す再生機器と、インターフエースとエラー評価
ユニツトと、複数個の限界値チエツクモジユール
と、エラー記録装置と、さらに読出し装置とが設
けられており、この場合、前記再生機器はエラー
信号出力端子を備えたエラー補正ユニツトを有し
ており、該エラー補正ユニツトはエラーを識別し
て前記エラー信号出力端子にエラーを表わす信号
を供給し、前記インターフエースは、前記エラー
出力端子と接続された入力端子とインターフエー
ス出力端子とを有し、さらに前記エラー評価ユニ
ツトは前記インターフエース出力端子と接続され
た入力端子を有しており、前記エラー評価ユニツ
トは、該エラー評価ユニツトの入力端子と接続さ
れた複数個のエラーチヤネルを有しており、各エ
ラーチヤネルは、周期的な第１サイクル中に個々
のエラー情報を検出する複数個の検出手段を有し
ており、該検出手段は、周期的な第２サイクルの
ためにエラー情報の最大値を受信しかつ記憶する
最大値メモリを有し、この場合第２サイクルの周
期は、第１サイクルの周期の倍数であり、さらに
前記複数個の限界値チエツクモジユールは、個々
の情報が個々の閾値を越えているかを検出する目
的で、最大値メモリに接続されており、さらに前
記読出し装置は、前記限界値チエツクモジユール
と前記エラー記録装置との間に接続されており、
周期的な第３サイクル中に前記限界値チエツクモ
ジユールの出力を前記エラー記録装置へ転送し、
この場合、第３サイクルの周期は第２サイクルの
周期と同じであるように構成したことにより解決
される。

実施例 第１図は本発明によるインターフエースを備え
た再生機器のブロツク回路図であり、再生機器
PRは市販のフイリツプス社のCD100タイプのプ
レーヤに相当する。再生機器は光学読取り装置
OLを有し、この装置OLはレーザ光線LSを用い
てデイジタルオーデイオデイスクの情報トラツク
を走査し、走査結果を光電変換器において高周波
信号に変換する。この高周波信号は一方では高周
波プリアンプHF−PAに供給され、他方では光
学的トラツキング装置（追従制御装置）ONに、
光線の焦点調節と半径方向位置制御とのために供
給される。高周波プリアンプHF−PAには復調
器DEMODが後置接続されており、この復調器
DEMODは入力側では周波数を制御可能な発振器
VCOと共働し、出力側ではドロツプアウト復調
器DO−DEとエラーコード復調器EFM−DEとサ
ブコードプロセツサSPと共働する。

コード復調器EFM−DEの出力側は補間回路
IPOと接続され、補間回路はメモリＭおよびエラ
ー補正ユニツトECと共働する。補間回路におい
てエラーを補正された高周波信号は次に出力回路
ASに供給され、そこでデイジタル信号が先ずア
ナログレベルに逆変換され、次に音声増幅器にて
増幅される。エアー評価ユニツトFAEを再生機
器PRに接続するインターフエースIUは入力側が
マルチチヤネル駆動段BU１から成り、マルチチ
ヤネル駆動段の入力側はエラー補正ユニツトEC
の出力側Ｃ１Ｆ１，Ｃ１Ｆ２，Ｃ２Ｆ１，Ｃ２Ｆ
２，RFCLに接続されている。もう１つのマルチ
チヤネル駆動段BUOの入力側は、半径方向エラ
ー信号および焦点エラー信号用の光学トラツキン
グ装置ONの出力側と、高周波プリアンプHF−
PAの出力側と、時間データおよびオーダ番号デ
ータ用のサブコードプロセツサSPの出力側とに
接続されている。マルチチヤネル駆動段BUOの
出力側のうち、Radは半径方向エラー信号用、
Focは焦点エラー信号、HFは高周波プリアンプ
の高周波出力信号用、Ztは時間信号用、BNはサ
ブコードプロセツサSPのオーダ番号出力側用で
ある。

エラー補正ユニツトECの出力側Ｃ１Ｆ１およ
びＣ１Ｆ２は、所謂第１の補正段階において生じ
たエラー、即ち順次に発生した、ただし最高３つ
までのエラーを指示する。エラー補正ユニツト
ECの出力側Ｃ２Ｆ１，Ｃ２Ｆ２は、所謂第２の
補正段階に所属するエラー、即ち個々のエラーが
３つより多く直接順次に連続しているようなエラ
ーを指示する。出力側RFCLは、インターフエー
スの制御のためにも必要な処理クロツク信号を送
出する。

インターフエースIUに示すように、エラー補
正ユニツトECの出力側Ｃ１Ｆ１，Ｃ１Ｆ２，Ｃ
２Ｆ１，Ｃ２Ｆ２，RFCLから送出される信号は
マルチチヤネル駆動段BU１の出力側でバツフア
メモリLTに供給される。出力端子RFCLの処理
クロツク信号はその際遅延素子τを介してバツフ
アメモリLTに加えられる。バツフアメモリLTの
入力端子Ｃ１Ｆ１，Ｃ１Ｆ２に対応する出力側の
信号はデコーダDE−2/4に供給され、このデコー
ダは２つの入力側に供給された信号を４つの出力
信号に変換する。同様にしてバツフアメモリLT
の入力端子Ｃ２Ｆ１およびＣ２Ｆ２に対応する２
つの出力側も第２のデコーダDE−2/4を介して４
つの出力端子に転送される。両デコーダの全出力
端子がマルチチヤネル駆動段BU２を介して、エ
ラーチヤネル端子Rad，Foc，HFならびに特殊
チヤネル端子Zt，Bnの他に、エラーチヤネル端
子Ｅ０１，Ｅ１１，Ｅ２１，Ｅ３１，Ｅ０２，Ｅ
１２，Ｅ２２，Ｅ３２を形成している。さらに端
子RFCLの処理クロツクがマルチチヤネル駆動段
BU１を介して、そこから直ちに両デコーダDE
−2/4に制御のために供給される。デコーダDE−
２／４として例えばテキサス・インストリユメント
社の74139タイプの素子を使用し、またバツフア
メモリLTとして同社の7495タイプの素子、マル
チチヤネル駆動段BU２として同社の74244タイ
プの素子を使用することができる。

第２図のブロツク回路図は、最高４つの同時に
動作している再生機器用の本来のエラー評価装置
を示す。インターフエースIU１を備えた第１の
再生機器に対応するエラー評価ユニツトFAE１
が詳細に示されており、同時にインターフエース
IU１の出力側に、エラー評価ユニツトFAE１に
とつて重要な出力端子が示されている。別の３つ
の再生機器用のインターフエースIU２，IU３，
IU４とこれらに後続のエラー評価ユニツトFAE
２，FAE３，FAE４は第２図には単にブロツク
で示されている。エラー評価ユニツトFAE１，
FAE２，FAE３，FAE４の出力側は読出し装置
AEを介してこれらすべてに共通のエラー情報レ
ジスタDALOに接続される。さらにエラー評価
ユニツトとモニター装置とには共通に１つの制御
卓KPTが対応して設けられており、この制御卓
KPTは誤り評価ユニツトおよび読出し装置用の
時間・制御クロツク信号を発生する。

第２図のインターフエースIU１に示されるよ
うに、エラー評価ユニツトFAE１は端子Ｅ１１，
Ｅ２１，Ｅ３１，Ｅ２２，Ｅ３２，Rad，Foc，
HF，Zt，BNに現われる信号を評価する。端子
Ｅ１１の信号は第１図の第１のデコータDE−2/4
がデータブロツク中に１つのエラー符号を検出し
たことを意味する。２つの誤つた符号をデコーダ
DE−2/4が検出すると端子Ｅ２１に信号が現わ
れ、２つより多くのエラー符号のときは端子Ｅ３
１に信号が現われる。第１図の端子Ｃ２Ｆ１，Ｃ
２Ｆ２にバツフアメモリLTを介して対応接続さ
れた第２のデコータDE−2/4がデータブロツク中
の第２の補正段階における１つのエラー符号を検
出すると、端子Ｅ２２に信号が現われる。端子Ｅ
３２に現われる信号は、データブロツク中に第２
の補正段階におけるエラー符号が２より多くあつ
たことを意味する。

インターフエースの各出力端子には所属のエラ
ー評価ユニツトにおいて１つのエラーチヤネルを
割当てることができる。第２図の実施例では、端
子Ｅ１１，Ｅ２１，Ｅ３１がORゲートOG１を
介して第１のエラーチヤネルＫ１にまとめられて
いる。エラーチヤネルＫ１は、出力側に復号器を
備えたカウンタＺ／Ｄと最大値メモリMMと限界
値検査回路GU¨１との縦続接続回路から成る。こ
の場合カウンタはエラー事象を計数し、クロツク
信号１ｓでもつて秒ごとに初期状態にリセツトさ
れる。復号化された計数結果は最大値メモリMM
に供給される。最大値メモリは24秒間に亘つて最
大値のみ保持し、24秒後にクロツク信号２４ｓで
もつて情報を有しない初期状態にリセツトされ
る。最大値メモリMMに記憶された最大値は限界
値検出回路GU¨１において、最大値が所定の閾値
を上回つているかどうか検査され、上回つている
場合、出力側に指示される。復号器が後置接続さ
れたカウンタＺ／Ｄと最大値メモリ11とは第２図
においてエラー検出回路ZDMにまとめられてい
る。インターフエースIU１の端子Ｅ２２はエラ
ー評価・ユニツトFAE１の第２のエラーチヤネ
ルＫ２用に用いられる。チヤネルＫ２は限界値検
査回路GU¨２の後置接続されたエラー検出回路
ZDMから成る。同様のことがインターフエース
IU１の端子Ｅ３２にも当てはまる。この場合の
エラーチヤネルＫ３では、限界値検査回路はGU¨
３で示されている。

半径方向エラー信号を送出するインターフエー
スIU１の端子Radは信号の種々の評価のために
２つのチヤネルＫ４およびＫ５に分割される。エ
ラーチヤネルＫ４ではアナログエラー信号が、通
過帯域が経験的に500Hzから200Hzに決められた
帯域フイルタBP４に供給される。さらに帯域フ
イルタBP４は吸収回路の形で帯域遮断フイルタ
を含んでおり吸収回路の形の共振周波数は650Hz
であり、半径方向エラー信号に重畳された掃引周
波数（wobbelfrequenz）の抑圧に用いられる。
帯域フイルタBP４の出力信号は次に実効値形成
器RMS／DCに供給され、実効値形成器の出力側
は最大値メモリMM４１に接続されている。この
最大値メモリMM４１は、チヤネルＫ１〜Ｋ３の
エラー検出回路ZDMの、復号器の後置接続され
たカウンタＺ／Ｄに相応し、秒ごとにクロツク信
号１ｓにより情報を記憶していない初期状態にリ
セツトされ、この時間間隔中に検出された最大値
をその都度最大値メモリMM４２に転送する。最
大値メモリMM４２はエラー検出回路ZDMの最
大値メモリMMに相応する。

他方エラーチヤネルＫ５は入力側に限界値検査
回路GU¨５１を有する。後に詳細に説明するよう
に、限界値検査回路GU¨５１は半径方向エラー信
号の振幅に依存して計数パルスを送出し、このパ
ルスが後続のエラー検出回路ZDMにおいて検出
され、次に限界値検査回路GU¨５において既述の
方法で評価される。アナログ信号である焦点信号
用のエラーチヤネルＫ６は、エラーチヤネルＫ５
におけるアナログ半径方向エラー信号同様にエラ
ーを検出する。エラーチヤネルＫ６の入力側の限
界値検査回路はここではGU¨６１で示され、エラ
ーチヤネルＫ６の出力側の限界値検査回路はGU¨
６で示されている。

エラー評価ユニツトFAE１の高周波信号用の
エラーチヤネルＫ７は入力側に振幅検出器AD７
を有する。振幅検出器AD７には限界値検査回路
GU¨７とエラー検出回路ZDMと限界値検査回路
GU¨７とが順次直列に接続されている。エラーチ
ヤネルＫ７は振幅検出器AD７を除けば事実上エ
ラーチヤネルＫ５およびＫ６と同じ構造を有す
る。さらにエラー評価ユニツトFAE１は他のエ
ラー評価ユニツトFAE２，FAE３，FAE４と同
様に、そのユニツトに対応する再生機器の番号の
ための番号メモリＮ−ASを有する。この番号は
一旦マニユアルに番号メモリに記憶され、読出し
装置が番号メモリを読出すと出力側から取出され
る。

インターフエースIU１の端子Ztは演奏時間変
換器Ｓ−Ztの形で特殊チヤネルを形成しており、
演奏時間変換器はこの端子Ztを介して時間データ
ZDが供給されると同時に、制御卓KPTから発生
した制御クロツク信号Ｔ１およびＴ２により制御
される。

さらにエラー評価ユニツトFAE１は特殊チヤ
ネルとしてオーダ番号変換器BNUを有し、オー
ダ番号変換器の入力側にはインターフエースIU
１の端子BNを介してデータＤが供給される。さ
らにオーダ番号変換器はクロツク信号Tsおよび
TLにより制御される。クロツク信号Tsおよび
TLはやはり制御卓KPTから送出される。

さらに図示のように、エラーチヤネルＫ１，Ｋ
２，Ｋ３，Ｋ４の出力側は４つの入力端子を有す
るORゲートOGの入力側と接続されており、OR
ゲートOGの出力側は、特殊チヤネルも含むすべ
てのエラー検出チヤネルの出力側および再生機器
の番号メモリと同様に、読出し装置AEの切換ス
イツチの接点（ORゲートの出力側の場合第１の
接点）と接続されている。同様にモニタ装置は他
の３つのエラー評価ユニツトFAE２，FAE３，
FAE４に対して相応の切換スイツチＵ２，Ｕ３，
Ｕ４を備えている。これら４つの切換スイツチＵ
１，Ｕ２，Ｕ３，Ｕ４の切換接点は、これら４つ
の切換スイツチ全体に対する切換スイツチＵ０の
接点に接続されており、切換スイツチＵ０の切換
接点はエラー情報レジスタDALOに接続されて
いる。切換スイツチＵ１，Ｕ２，Ｕ３，Ｕ４は、
この実施例では６秒より短かく且つクロツクTA
により制御される掃引切換において、順次エラー
チヤネルＫ１，Ｋ２，…Ｋ７のORゲートOGの
出力側と、再生機器Ｎ−AS用の番号メモリと、
両特殊チヤネルの出力側とから情報を読出し且つ
この情報をエラー情報ブロツクの形でエラー情報
レジスタDALOに送出する。切換スイツチＵ０
は６秒ごとにクロツク信号６ｓにより歩進切換さ
れるので、24秒内に４つのエラー評価ユニツト
FAE１，FAE２，FAE３，FAE４が１回読出さ
れる。

動作をフレキシブルにするために、制御卓
KPTは４つの制御信号出力側，，，を
４つのエラー評価ユニツト用に有しており、これ
ら出力側を介してエラー評価ユニツトを選択的に
遮断することができる。エラー評価ユニツト
FAE１のブロツク回路図に示されるように、エ
ラー検出チヤネルＫ１〜Ｋ７の遮断はエラー検出
回路ZDMの最大値メモリMMの遮断ないし最大
値メモリMM４２の遮断により行なわれる。所属
の切換スイツチＵ１〜Ｕ４の切換接点が最初に接
続されるORゲートOGの出力端子によつて、エ
ラー情報レジスタDALOが、ORゲートOGの出
力側に限界値の超過が指示されたとき、つまりは
レジスタに記憶すべきエラーが指示されたときの
み作動するようにすることができる。これは、第
４図を用いて後に詳細に説明するように、限界値
検査回路の出力側には限界値検査回路にて定めら
れた閾値を上回る値が指示されるのみならず、そ
の他のすべての最大値メモリの出力側に生ずる値
も付加的に表わされうるので有意義である。

第３図は、デイジタル−アナログ変換器Ｄ／Ａ
が後置接続されたカウンタＺと最大値メモリMM
とから成るエラー検出回路ZDMの構造を示す。
この場合カウンタＺには遅延素子τを介してクロ
ツク信号１ｓがリセツト入力側reに供給される。
さらにクロツク信号１ｓはスイツチsoの作動接点
を、この作動接点を介してカウンタ出力側が後続
のデイジタル−アナログ変換器Ｄ／Ａに接続され
るように制御する。カウンタＺは入力側に供給さ
れるエラーをその都度１秒間加算し、計数結果を
スイツチsoを介してデイジタル−アナログ変換器
Ｄ／Ａに加え、引続いて初期状態にリセツトされ
る。

最大値メモリMMは、サンプルアンドホールド
回路Ｓ＆Ｈが後置接続されたピーク検出器PDか
ら成る。クロツク信号２４ｓは遅延素子τを介し
てピーク検出器PDのリセツト入力側reに供給さ
れる。同時にクロツク信号２４ｓはサンプルアン
ドホールド回路Ｓ＆Ｈの転送クロツクでもある。
ピーク検出器PDは本質的に１つの充電コンデン
サを有し、このコンデンサは24秒内でこの期間に
生じたデイジタル−アナログ変換器Ｄ／Ａの最高
出力値まで充電される。この値が24秒の周期の終
りにサンプルアンドホールド回路Ｓ＆Ｈにより受
け取られ、その直後にピーク検出器PD中の充電
コンデンサが放電される。サンプルアンドホール
ド回路Ｓ＆Ｈは遮断線spを介して第２図の制御卓
と接続されており、遮断線を介して制御卓によつ
て選択的にアースされ、つまりは遮断される。

エラーチヤネルＫ１〜Ｋ７の各出力側を形成す
る限界値検査回路は、第４図に示すように、実質
的に閾値回路SWSから成り、この閾値回路の閾
値は調節可能であり、入力信号が閾値を上回る
と、図示されていない跳躍段を介して出力側に電
位ステツプ変化が現われる。同時に閾値回路
SWSの入力側はその閾値回路の出力側と接続さ
れており、これにより入力側の信号をその値が閾
値回路SWSの閾値を上回らない場合でもレジス
タに記憶できるようになつている。

第５図はエラーチヤネル５および６の入力側に
設けられる限界値検査回路GU¨５１，GU¨６１の
実施例を示す。これら限界値検査回路は、第４図
との関連で既に説明した閾値回路SWSから成り、
ただしこの回路SWSに、この回路の出力信号に
より制御される発振器Ｏが後置接続されている。
これにより、監視すべき信号が１秒周期内で閾値
回路SWSの閾値を上回つていた時間の長さを、
該当のエラーチヤネルにおいてこの限界値検査回
路に後置接続されているエラー検出回路の入力側
のカウンタＺに伝えることができる。

エラーチヤネルＫ７の入力側の限界値検査回路
GU¨７１に対する第５図に相応する回路を第６図
に示す。限界値検査回路GU¨７１は限界値検査回
路GU¨５１，GU¨６１と単に次の点で異なる、即
ち回路GU¨７１では閾値回路SWS′が入力側のア
ナログエラー信号が所定の閾値を下回つたときに
応動する。

第７図は演奏時間変換器Ｓ−ZTの実施例を示
す。演奏時間変換器はクロツク信号Ｔ１によりシ
フトされるシフトレジスタSRを有し、シフトレ
ジスタ入力側には時間データが供給される。シフ
トレジスタSRが一杯になると、直列−並列変換
の形でシフトレジスタ出力が、クロツクＴ２によ
り制御される転送スイツチsU¨を介して指示装置
AZならびに演奏時間変換器出力側に送出される。
この場合変換器出力側は16本の線路がまとめられ
た線路束から成る。指示装置AZもやはりクロツ
ク信号Ｔ２により制御される。

第８図はオーダ番号変換器BNUの実施例を示
し、このオーダ番号変換器はメモリMAを含んで
いる。データＤがこのメモリに７本の線路から成
る線路束を介して供給される。さらにメモリMA
は、書込みクロツクTsと消去クロツクTLと制御
信号stとにより制御され、制御信号はこのとき４
本の線路を介して制御される。ここでも同様に、
制御されるメモリMAを介して直列−並列変換が
行なわれ、直列−並列変換を経てから一方では指
示装置AZが作動され、他方では32本の線路から
成る線路束を介して変換器BNUの出力側から第
２図のモニタ装置にオーダ番号情報が並列式に供
給される。

エラー評価ユニツトFAE１，FAE２，FAE
３，FAE４の、モニタ装置AEとエラー情報レジ
スタDALOとの共働動作を第９図および第１０
図に波形図を用いて説明する。

第９図において秒単位で時間ｔに亘つてＵ１で
示されている線図は、エラーチヤネル出力ならび
に再生機器用番号メモリの出力ならびに特殊チヤ
ネルの出力の歩進的呼出しを表わす。この場合縦
軸には０から10までの切換ステツプssが示されて
いる。４、５秒後に切換スイツチＵ１はすべての
切換接点に亘つて歩進切換され、それから24秒後
に制御クロツクTAを介して次の歩進切換動作を
開始させられるまで初期の休止位置に保持され
る。この２度目の歩進切換動作も線図Ｕ１におい
て24秒から28.5秒までの間に示されている。それ
らの切換動作の間、詳しくは６秒から10.5秒まで
の間は切換スイツチＵ２が歩進切換動作を行い、
切換スイツチＵ３は12秒の時点で動作を開始し、
切換スイツチＵ４は18秒の時点で動作を開始す
る。

切換スイツチＵ０は線図Ｕ０に示すように、６
秒ごとに４つの切換位置１〜４のうちの１つから
次の切換位置へと切換わり、24秒後には新たな歩
進切換を開始する。線図Ｕ０′には秒単位で時間
ｔに亘つて電圧ｕが示されており、この場合、切
換スイツチＵ１の１回目の０秒から４、５秒まで
の歩進切換動作の際には閾値電圧uoを上回るエ
ラー信号値が生じないものと仮定されている。こ
の場合第９図の切換スイツチＵ１が切換ステツプ
０のとき、ORゲートOGが応動していないので、
電圧は全く生じない。切換スイツチＵ１の切換位
置１〜７においては、階段状特性を呈する比較的
僅かな電圧が生ずる。切換段階８〜１０において
は、各々多数の切換接点が同時に検出され、２進
符号が生ずる。エラー情報レジスタDALOは０
秒から６秒までの時間間隔は作動されない。なぜ
ならORゲートOGの出力電圧が零であるからで
ある。次の24秒から28.5までの期間における歩進
切換の際には１つのエラーチヤネルがレジスタに
記憶すべき１つのエラーを指示するものと仮定す
る。これは先ず次のようにして指示される、即
ち、今度は切換スイツチＵ１の切換位置０におい
て電圧が生じ、この電圧がエラー情報レジスタを
作動する。この作動は、エラーチヤネルＫ３のエ
ラー信号電圧が閾値電圧uoを上回つていること
に基づいている。ここで注意すべきことは、閾値
電圧uoがわかりやすくするためすべての限界値
検査回路GU¨１〜GU¨７に対して等しいと仮定し
てある。もちろん実際には限界値検査回路の閾値
は、個々のエラー検出チヤネルに生ずるエラー信
号にとつて必要な評価に応じて互いに異なる値に
選定することができる。

第９図の一番下の線図は、エラー情報レジスタ
の作動を説明しており、DALOで示されている。
縦軸のＡは「オフ」を意味し、Ｅは「オン」を意
味する。切換スイツチＵ１の１回目の０秒から６
秒までの期間における切換の際は、レジスタに記
憶すべき誤りが無いのでエラー情報レジスタは非
作動状態にある。他方次の24秒から30秒までの期
間における切換スイツチＵ１の切換の際はエラー
情報レジスタが作動される。

第１０図は第２図の誤り検出チヤネルＫ１に関
する別の時間線図を示し、各々、復号器の後置接
続されたカウンタＺ／Ｄの出力側ｘと、最大値メ
モリMMの出力側ｙと、限界値検査回路GU¨１の
出力側ｚにおける電圧ｕの、秒単位で時間ｔに亘
る経過を表わしている。相応に波形図はＸ，Ｙ，
Ｚで示されている。出力側ｘには計数結果がアナ
ログ形でクロツク信号１ｓに基づいて１秒ごとに
現われるので、出力端子ｘには波形図Ｘに示され
るような階段状電圧波形が得られる。この電圧は
28秒と29秒の時点と42秒と43秒の時間領域で閾値
電圧uoを上回つている。最大値メモリMMの出
力側ｙからもその後やはり階段状の波形が得られ
るが、最大値メモリの特性により単に上昇する傾
向のみ有しており、24秒の周期の終りに値零にリ
セツトされる。

第１０図のＺには、基本的な電圧経過（これは
第１０図のＹに示されているものと同じである）
も示されている。なぜなら第４図に示すように、
端子ｙは端子ｚに直接的に接続されているからで
ある。本来の限界値検査回路GU¨１の出力側は先
ず電圧状態「Ｌ」にあり、その際の電圧は事実上
値零である。時点２８で初めて端子ｙの電圧が閾
値電圧uoを上回り、その結果限界値検査回路GU¨
１の出力側で電位のステツプ変化が生じ、出力側
の電圧状態が「Ｈ」になる。この状態「Ｈ」は、
この場合端子ｙに生じる最大電圧値よりも著しく
高い電圧値を有する。このようにしてエラー情報
レジスタDALOが限界値検査回路の応動を明確
に検出することができる。

発明の効果 本発明は次のような認識から出発している、即
ち再生側に設けられたエラー補正装置のエラー指
示ないしエラー信号用出力側を製造欠陥の検出お
よび評価に極めて有利に利用できることがわかつ
た。検査すべきデイスクをエラー表示信号も含め
て再生するのに測定装置を大幅に改造する必要が
なくなり、直接市販の再生機器を用いることがで
きる。このために単に再生機器ごとに１つのイン
ターフエースが必要なだけであり、このインター
フエースを介して再生機器に本来のエラー評価ユ
ニツトを接続することができる。

複数のこのようなインターフエースを介してエ
ラー評価ユニツトが設けられた再生機器を、読出
し装置を介して１つの共通のエラー情報レジスタ
と共働するようにすると特に有利である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるインターフエースとエ
ラー評価ユニツトとを備えて成る市販のコンパク
トデイスク用再生機器のブロツク回路図、第２図
は１つの共通のレジスタ装置に対応して設けた、
４つの再生機器用の４つのエラー評価ユニツトの
ブロツク回路図、第３図〜第８図は各々第２図の
ブロツク回路図の個々の回路素子の詳細なブロツ
ク回路図であり、第３図はサンプルアンドホール
ド回路、第４図、第５図、第６図は閾値回路、第
７図は演奏時間変換器、第８図はオーダ番号変換
器、第９図および第１０図は第２図の回路装置の
動作説明に供する波形図である。 PR…再生機器、Ｃ１Ｆ１，Ｃ１Ｆ２，Ｃ２Ｆ
１，Ｃ２Ｆ２…エラー指示ないしエラー信号出力
側、IU…インターフエース、Ｋ１〜Ｋ７…エラ
ーチヤネル、MM，MM４２…最大値メモリ、
GU¨１〜GU¨７…限界値検査回路、AE…読出し装
置、DALO…エラー情報レジスタ、FAE…エラ
ー評価ユニツト、SP…サブコードプロセツサ、
KPT…制御卓。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ エラー補正コードの形式で記憶された情報を
   有する、光学的に読出し可能な高記録密度のデイ
   スク状情報担体の製造時の製造エラーを検出する
   装置において、 記憶されたデータを読み出す再生機器と、イン
   ターフエースと、エラー評価ユニツトと、複数個
   の限界値チエツクモジユールと、エラー記録装置
   と、さらに読出し装置とが設けられており この場合、前記再生機器はエラー信号出力端子
   を備えたエラー補正ユニツトを有しており、該エ
   ラー補正ユニツトはエラーを識別して前記エラー
   信号出力端子にエラーを表わす信号を供給し、 前記インターフエースは、前記エラー出力端子
   と接続された入力端子とインターフエース出力端
   子とを有し、 さらに前記エラー評価ユニツトは、前記インタ
   ーフエース出力端子と接続された入力端子と、該
   エラー評価ユニツトの入力端子と接続された複数
   個のエラーチヤネルとを有しており、各エラーチ
   ヤネルは、周期的な第１サイクル中に個々のエラ
   ー情報を検出する複数個の検出手段を有してお
   り、該検出手段は、周期的な第２サイクルのため
   にエラー情報の最大値を受信しかつ記憶する最大
   値メモリを有し、この場合第２サイクルの周期
   は、第１サイクルの周期の倍数であり、 さらに前記複数個の限界値チエツクモジユール
   は、個々の情報が個々の閾値を越えているかを検
   出する目的で、最大値メモリに接続されており、 さらに前記読出し装置は、前記限界値チエツク
   モジユールと前記エラー記録装置との間に接続さ
   れており、周期的な第３サイクル中に前記限界値
   チエツクモジユールの出力を前記エラー記録装置
   へ転送し、この場合、第３サイクルの周期は第２
   サイクルの周期と同じであるようにしたことを特
   徴とする、 光学読み取り可能な高記録密度のデイスク状情
   報担体の製造時の製造エラーを検出する装置。 ２ 複数個の前記の再生機器と、 複数個の前記のインターフエースと、 各々が個々のインターフエースを介して個々の
   再生機器と接続されている複数個の前記のエラー
   評価ユニツトと、 それぞれ前記エラー記録装置を共有して分配す
   る目的で複数個の前記エラー評価ユニツトと接続
   されている読出し装置とが設けられており、この
   場合前記読出し装置は、前記第３のサイクル中に
   前記エラー評価ユニツトから読出しを行い、前記
   第３サイクル中に読出し結果を個々のエラー評価
   ユニツトに適合するエラーチヤネル情報ブロツク
   の形式で前記エラー記録装置へ送出するようにし
   た、特許請求の範囲第１項記載の装置。 ３ 前記再生機器は、半径方向信号およびフオー
   カス信号を送出する光学的トラツキング装置を有
   しており、前記エラー評価ユニツトは半径方向エ
   ラーチヤネルおよびフオーカスエラーチヤネルを
   有しており、この場合前記光学的トラツキング装
   置は、前記インターフエースを介して前記半径方
   向エラーチヤネルおよびフオーカスエラーチヤネ
   ルと接続されている、特許請求の範囲第１項記載
   の装置。 ４ 前記エラー評価ユニツトは、さらに高周波エ
   ラーチヤネルを有しており、さらに前記再生機器
   は情報担体から読み出された情報のための高周波
   信号路を有しており、該高周波信号路は前記イン
   ターフエースを介して前記高周波エラーチヤネル
   と接続されている、特許請求の範囲第１項記載の
   装置。 ５ 前記エラー評価ユニツトは、演奏時間チヤネ
   ルとオーダ番号チヤネルとを有しており、さらに
   前記再生機器は時間情報とオーダ情報とを形成す
   るサブコードプロセツサを有しており、さらに前
   記インターフエースは前記サブコードプロセツサ
   を前記エラー評価ユニツトの前記演奏時間チヤネ
   ルおよびオーダ番号チヤネルと接続し、前記演奏
   時間チヤネルからの時間情報および前記オーダ番
   号チヤネルからのオーダ情報は前記読出し装置に
   より読出されて、それらの情報は、前記読出し装
   置によるエラーチヤネル情報の前記エラー記録装
   置への出力を制御するために用いられるようにし
   た、特許請求の範囲第１項記載の装置。 ６ 前記エラー評価ユニツトは、エラー評価ユニ
   ツトに割り当てられた再生機器のナンバーを記憶
   するためのナンバーメモリを有しており、前記ナ
   ンバーメモリは前記読出し装置に接続されかつ読
   出されるようにした、特許請求の範囲第１項記載
   の装置。 ７ 前記エラーチヤネルに接続されかつ該エラー
   チヤネルを選択的に阻止する制御卓が設けられて
   おり、該制御卓は、前記エラー評価ユニツトおよ
   び前記読出し装置のための共通のクロツクパルス
   供給装置を有する、特許請求の範囲第１項記載の
   装置。 ８ 前記エラー評価ユニツトは、複数個の同様の
   前記エラーチヤネルの出力を結合する目的で、複
   数個の前記限界値チエツクモジユールと接続され
   たORゲートを有しており、さらに前記読出し装
   置は、前記ORゲートに接続された第１の読出し
   位置を有しており、エラー信号が前記ORゲート
   の出力側に存在すると示された場合に、読出しサ
   イクルの間だけ前記エラー記録装置を作動させる
   ようにした、特許請求の範囲第１項記載の装置。 ９ 前記インターフエース出力側の１つに半径方
   向エラー信号を供給するための手段が設けられて
   おり、さらに前記エラー評価ユニツトは前記半径
   方向エラー信号を受信するために接続されてお
   り、かつ前記読出し装置により読み出される種々
   異なる個々の情報を送出する１対のチヤネルを有
   している、特許請求の範囲第１項記載の装置。