JPH0344524A - Ｃｒｔ用光測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ＣＲＴ管面上の発光色、輝度を測定する光測
定装置に関する。

〔従来の技術〕

ＣＲＴの光測定装置はＣＲＴの発光色や輝度を正確に測
定するためにＣＲＴの垂直同期信号に台わせて発光螢光
体の光を受光するようになされている。従来、テレビジ
ョン用のＣＲＴでは垂直同期信号が５０Ｈｚ又は６０ロ
２に固定されているので、光電変換素子による受光信号
を二重積分してＡＤ変換するときの積分時間が１００ｍ
５ｅｃに固定されているＣＲＴの光測定装置が知られて
いる。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところで、上記従来の光測定装置では積分時間が長いの
で、正確にＣＲＴの光測定が行える利点はあるが、高速
に測定及び処理が行えない欠点がある。また、グラフィ
ックデイスプレィとして使用されるＣＲＴでは垂直同期
信号が４０日２〜８０Ｈ２の範囲で種々のものがあるた
め、従来のように積分時間を固定した光測定装置ではＣ
ＲＴの種類によっては正確に測定できないことがある。

本発明は上記課題に鑑みてされたものであり、ＣＲＴ管
面上の発光色、輝度を高速、かつ精度よく測定すること
のできるＣＲＴの光測定装置を提供することを目的とす
る。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解決するために、本発明は、光電変換手段に
よりＣＲＴ管面の発光量を測定するＣＲＴの光測定装置
において、上記ＣＲＴの同期信号を取り込む入力手段と
、取り込まれた同期信号のインターバル時間を計測する
計測手段と、上記光電変換手段の出力信号を上記インタ
ーバル時間だけ積分してＡＤ変換する手段とを備えたも
のである。また、上記ＣＲＴ用光測定装置において、Ａ
Ｄ変換手段は予め設定された時間だけ積分してＡＤ変換
するようになされているとともに、上記予め設定された
時間による積分動作と前記インターバル時間による積分
動作とが切換え可能な切換手段とを備えたものである。

また、光電変換手段によりＣＲＴ管面の発光量を測定す
るＣＲＴ用光測定装置において、上記ＣＲＴの同期周波
数を入力する入力手段と、入力された上記同期周波数の
インターバル時間信号を生成する生成手段と、上記光電
変換手段の出力信号を上記インターバル時間だけ積分し
てＡＤ変換する手段とを尚えたものである。

また、上記ＣＲＴの光測定装置においてＡＤ変換値のオ
フセット量を考慮し、より測定ｙｉ度を向上させるもの
として、上記光電変換手段に入力光がない状態での前記
ＡＤ変換手段の作動が指示可能な指示手段と、該指示信
号を受けて光電変換手段の出力信号を予め設定された第
２の時間だ各す積分するとともにＡＤ変換し、該ＡＤ変
換値と上記第２の時間とから積分時間の単位時間当たり
のＡＤ変換値を算出する第１の演算手段と、ＣＲＴの発
光量を測定したＡＤ変換値から該ＡＤ変換時の積分時間
に上記第１の演算手段結果値を乗算したＡＤ変換値を減
算する第２の演算手段とを備えたものである。また、上
記光電変換手段に入力光がない状態でのＡＤ変換手段の
作動が指示可能な指示手段と、該指示信号を受けて前記
光電変換手段の出力信号を予め設定された第２の時間だ
（す積分してＡＤ変換したＡＤ変換値と上記指示信号を
受けて前記光電変換手段の出力信号を上記第２の時間の
ｎ倍の時間だけ積分してＡＤ変換したＡＤ変換値とを記
憶する手段と、上記各ＡＤ変換値から積分時間の単位時
間当たりのＡＤ変換値と積分時間に関係しないＡＤ変換
値とを算出する第１の演算手段と、ＣＲＴの発光量を測
定したＡＤ変換値から該ＡＤ変換時の積分時間に上記積
分時間の単位時間当たりのＡＤ変換値を乗算したＡＤ変
換値と上記積分時間に関係しないＡＤ変換値とを減算す
る第２の演算手段とを備えたものである。

更に、比較的残光時間の短いＣＲＴの光測定を好適に行
うものとして、光電変換手段によりＣＲＴ管面の発光量
を測定するＣＲＴ用光測定装置において、ＣＲＴ管面上
の螢光体の発光を検出する検出手段と、該検出手段出力
から上記螢光体の発光周期を算出する手段と、該発光周
期よりも短い所定の積分時間を設定する時間設定手段と
、上記積分時間内で上記光電変換手段の受光すべき螢光
体が発光すべく積分開始信号を発生する第１の信号発生
手段と、上記積分時間内では上記光電変換手段の受光す
べき螢光体が非発光となるべく積分開始信号を発生する
第２の信号発生手段と、上記第１、第２の信号発生手段
出力を受けて上記光電変換手段の出力信号を上記設定さ
れた時間だけ積分してＡＤ変換するＡＤ変換手段と、上
記第１の信号発生手段出力に基づいて得られたＡＤ変換
値から上記第２の信号出力手段出力に基づいて得られた
ＡＤ変換値を減算する演算手段とを備えたものである。

〔作用〕

上記のように構成したＣＲＴの光測定装置によれば、測
定用ＣＲＴの同期信号を入力端子より入力し、該同期信
号のインターバル時間（周期）を実測する。そして、光
電変換手段の出力信号を該実測時間だけ積分してＡＤ変
換値が測定される。

また、光測定装置の内部に予め定められた時間を有し、
該固定時間と上記実測時間とを切換えて積分動作をさせ
ることのできるＣＲＴの光測定装置では、例えば５０Ｈ
ｚ又は６０Ｈ２の標準的な周波数に対応した一定時間が
記憶されており、測定用ＣＲＴの同期信号が標準的な周
波数の場合は内部の時間を選択することにより光電変換
手段の出力信号を上記一定時間だけ積分してＡＤ変換値
が検出される。また、測定用ＣＲＴの同期信号の周波数
をキーボード等の外部入力手段により入力するＣＲＴの
光測定装置では、入力された同期周波数の周期を演算し
、その時間だけ光電変換手段の出力信号を積分してＡＤ
変換値が算出される。

また、測定系のオフセット量を考慮し、より測定精度を
向上させるよう、に構成したＣＲＴの光測定装置では、
光電変換手段に入力光がない状態で光電変換手段の出力
信号のＡＤ変換動作を指示すると、予め定められた時間
だけ光電変換手段の出力信号を積分してＡＤ変換が行わ
れると共に該ＡＤ変換値と上記積分時間とから単位積分
時間当たりのＡＤ変換値が算出される。そして、測定用
ＣＲＴの発光を受光した光電変換手段の出力信号を同期
信号の周期に対応する時間だけ積分して得られたＡＤ変
換値から該積分時間に上記単位積分時間当たりのＡＤ変
換値を乗算して得られるＡＤ変換値（オフセット値）を
減算して実際の発光量に対するＡＤ変換値が算出される
。また、他のＣＲＴの光測定ｖ４置では、光電変換手段
に入力光がない状態で充電変換手段の出力信号のＡＤ変
換を指示すると、光電変換手段に入力光がない状態にお
ける光電変換手段の出力信号を予め定められた時間だけ
積分した第１のＡＤ変換値と上記積分時間を０倍した時
間だけ積分した第２のＡＤ変換値が測定され、該第１、
第２のＡＤ変換値から単位積分時間当たりのＡＤ変換値
と積分時間に関係しないＡＤ変換値とが算出される。そ
して、測定用ＣＲＴの発光を受光した光電変換手段の出
力信号を同期信号の周期に対応する時間だけ積分して得
られたＡＤ変換値から該積分時間に上記単位積分時間当
たりのＡＤ変換値を乗算して得られるＡＤ変換値と上記
積分時間に関係しないＡＤ変換値とを減算して実際の発
光量に対するＡＤ変換値が算出される。

また、比較的残光時間の短いＣＲＴの光測定を好適に行
う光測定装置では、充電変換手段とは別に設けられたＣ
ＲＴの発光検出手段により測定用ＣＲＴの発光周期が計
測され、光電変換手段の出力信号を積分する時間として
該発光周期より短い一定の時間が設定される。そして、
上記光電変換手段の受光すべき螢光体が上記設定された
積分時間内で発光するような積分開始信号と上記光電変
換手段の受光すべき螢光体が上記積分時間内では発光し
ないような積分開始信号が出力され、それぞれの積分開
始信号を受けて上記光電変換手段の出力信号を上記一定
時間だけ積分して螢光体発光時のＡＤ変換値と螢光体非
発光時のＡＤ変換値とが測定される。そして、上記螢光
体発光時のＡＤ変換値から上記螢光体非発光時のＡＤ変
換値を減算して実際の発光量に対するＡＤ変換値が算出
される。

（実施例） 第１図は本発明に係る光測定装置を用いた、ＣＲＴ管面
上の発光色と輝度を測定する測定システムの構成図であ
る。同図において、１は本発明に係る光測定装置である
。２は被測定用ＣＲＴであり、３は１ｃＲＴ２に測定用
画像信号を供給する信号発生器である。上記信号発生器
の画像信号はラインＱ１及びラインＱ２により上記ＣＲ
Ｔ２に供給され、ライン（２からは上記画像信号の垂直
同期信号が供給される。ＤはＣＲＴ２の管面上の光を受
光し、該受光信号を電気信号に変換する光電変換素子で
ある。光電変換素子りの前面には拡散板１３とフィルタ
ー１４とが配設されている。

拡散板１３はＣＲＴ２の測定範囲の光が上記光電変換素
子りに一様に照射されるように光を拡散し、フィルター
１４は光学部材により構成され、上記光電変換素子りの
前面に配設することにより該光゛電変換素子りの感度を
測定に必要な感度に調整する。４は上記光電変換素子り
の出力レベルを後段のＡＤ変換回路５の入力レベルにマ
ツチングさせるためのインピーダンス変換器である。Ａ
Ｄ変換器５は周知の二重積分回路であり、後述するカウ
ンタ９からラインＱ９により入力される制御信号により
積分時間が制御され、制御部６からラインａ　ｔＯによ
り入力される制御信号により放電タイミングが制御され
る。上記ＡＤ変換器によりデジタル変換された測光デー
タはラインＮｔ２により制御部６に入力される。なお、
図において、ラインＱ２及びその他の信号ラインに付さ
れた「／」の表示は信号ラインが複数の信号ラインであ
ることを示している。Ｔ１は上記信号発生器３からの垂
直同期信号を光測定装置１に入力するための入力端子で
ある。７は上記入力端子Ｔ１から入力される上記垂直同
期信号の信号レベルを光測定装置１で処理可能なレベル
に変換する電圧変換器である。

該電圧変換器７によりレベル変換された垂直同期信号は
ラインＱ４により制御部６とカウンタ８とに入力される
。カウンタ８は上記垂直同期信号のインターバル時間（
パルス周期）をパルス信号発生器１０からライン（１３
により入力される基準パルスをカウントすることにより
計測する。すなわち、制御部６からラインリ６にまりカ
ウンタイネーブル信号が入力されると、その後に入力さ
れる最初の垂直同期パルスから基準パルスのカウントを
開始して次の同期パルスが入力されると、カウントを終
了することによりパルス周期を計測する。

その後、カウンタ８はライン（５によりカウント結果を
制御部６に出力する。カウンタ９は上記ＡＤ変換回路５
の積分時間をカウントするプリセット可能なカウンタで
ある。カウンタ９には１１８部６からラインＲ８により
カウントすべきデータが入力されるとともにライン（７
からＡＤ変換開始信号が入力される。ＡＤ変換開始信号
が入力されると、カウンタ９からライン（９により上記
ＡＤ変換回路５及び制御部６に二拒積分タイプのＡＤ変
換用積分信号が出力される。同時にカウンタ９はライン
ａｔ１により入力される上記基準パルスに従って上記設
定されたカウント値がＯになるまでカウントダウンする
。カウント値がＯになると、カウンタ９から上記ＡＤ変
換回路５及びｗ制御部６に積分停止のＡＤ変換用積分信
号が出力され、制御部６は該信号を受けてライン＋２１
０により上記ＡＤ変換回路５に放電指令信号を出力する
。制御部６はＡＤ変換回路５からライン２１２により入
力されるＡＤ変換終了を受けてＡＤ変換された測光デー
タを受は取り、該測光データを用いて所定の演算を行い
、その演算結果をラインＩ２博により表示ドライバー１
１に出力する。表示ドライバー１１は上記演算結果を表
示部１２に表示できるフォーマットに変換してラインＩ
２１７により表示部１２に出力し、上記演算結果を表示
部１２に表示させる。

スイッチＳＷＩは測定モードを変更するためのスイッチ
である。すなわち、測定用ＣＲＴ２の垂直同期信号に応
じて上記ＡＤ変換回路５の積分時間を変更し、測定条件
を好適に制御するための測定モード切換スイッチである
。本実施例では、測定用ＣＲＴ２の垂直同期信号が５０
目Ｚ又は６０Ｈｚの場合とこれ以外の周波数のときに外
部から同期信号を入力して測定条件を適合させる３種類
の測定モードを備えている。測定モードは制御部６内の
レジスタＲ１（不図示）の内容を変更することにより切
換えられ、上記測定モードの内容に対する該レジスタＲ
１の内容は第１表のようになっている。また、制御部６
から出力され、カウンタ９に設定される積分時間は上記
レジスタＲ１の内容に対して第２表のようになっている
。なお、第２表において、ｍは整数、ｔＡはカウンタ８
によりカウントされる垂直周期信号のパルス周期に対応
する時間である。

第１表 ６０Ｈｚ　　（ＮＴＳＣ＞ ５０目Ｚ　（ＰＡＬ） レジスタＲ１内容　　　　積分ｌＩ間（秒〉１　　　　
　１／６０又はｍ／６０ ２　　　　　１１５０又はｍ１５０ スイツチＳＷＩは常開スイッチであって、ライン（１４
とアース間に設けられている。上記ラインＱ１４は抵抗
「１を介して電源ＶＤに接続され、制御部６には通常、
ハイレベルの測定モード切換信号が入力されている。上
記スイッチＳＷＩを開成しく以下開成状態をオン状態と
する）、測定モード切換信号をローレベルにすることに
より上記レジスタ内容が変更される。制御部６は第２表
に示すレジスタＲ１の内容に対応した積分時間をカウン
タ９に設定すると共に表示ドライバー１１に上記レジス
タＲ１の内容を出力し、表示部１２に該レジスタＲ１の
内容に対応する測定モードが表示される。

スイッチＳＷ２はラインＱ５とアース間に設けられたゼ
ロ校正用の常開スイッチである。上記ラインｎ１５は抵
抗ｒ２を介して電ｒＡｖＤに接続され、制御部６には通
常、ハイレベルのゼロ校正用信号が入力されている。上
記スイッチＳＷ２を閉或しく以下閉成状態をオン状態と
する〉、ゼロ校正用信号をローレベルにすると、制御部
６に予めプログラムされているゼロ校正プログラムが実
行され、後述するＡＤ変換回路５により発生する測定系
のオフセット鎧が測定される。

第２図は表示部１２の表示例を示した図である。

表示１２ａは測定された輝度値であり、表示１２ｂは設
定された測定モードである。測定モードは「１」、「２
」又は「４」のレジスタＲ１の内容に応じてそれぞれｒ
ＮＴｓｃＪ、ｒＰＡＬＪ又はｒＥＸＴＪが表示される。

次に、第３図のフローチャートを用いて光測定装置１の
動作について説明する。

まず、測定が開始されると、初期設定を行う（＃５）。

すなわち、制御部６内のレジスタＲ１に１を設定し、レ
ジスタＲ２に格納されているフラグＦＬＭをＯに設定し
、各出力端子を初期状態に設定する。また、測定に際し
てゼロ校正を行うためにゼロ校正測定の指示表示を上記
表示部１２に行う。上記フラグＦＬＹは測定モードがｒ
ＥＸＴ」モードにおいて、垂直同明信号のパルス周期が
実測されたかどうかを判定するフラグである。

フラグＦＬＹが１にセットされていれば、実測されてい
ることを示し、Ｏにリセットされていれば、実測されて
いないことを示す。ゼロ校正測定は光電変換素子りを無
人射光状態にして測定を行い、単位積分時間当たりのＡ
Ｄ変換係数Ｋを導出するもので、上記スイッチＳＷ２が
オン状態になるとゼロ校正測定が開始される。初期設定
が終了すると、スイッチＳＷ２がオン状態になるまで待
機しく＃１０）、オン状態になると、上述したゼロ校正
測定を行う。すなわち、カウンタ９に予め定められたカ
ウント値Ａ１を設定した後（＄１５）、後述する「測定
・ＡＤ変換」サブルーチンを実行して無人射光状態下で
の光電変換素子りによる受光信号のＡＤ変換を上記カウ
ント値Ａ１に対応する積分時間だけ行い（＃２０）　、
ＡＤ変換が終了すると、ＡＤ変換値Ｚ１をレジスタＭ１
に格納する（＃２５＞。また、続いて上記カウント値Ａ
１のｎ倍（ｎ＞１　）のカウント値Ａ２をカウンタ９に
設定しく＃３０）、上記と同様のＡＤ変換を上記カウン
ト値Ａ２に対応する積分時間だけ行い（＃３５）、ＡＤ
変換が終了すると、そのＡＤ変換値Ｚ２をレジスタＭ２
に格納する（＃４０）。

続いて、上記２種類のＡＤ変換値Ｚ１．Ｚｌを用いて無
人射光状態における測定系の単位積分時間当たりのＡＤ
変換係数にと測定系のバイアス成分Ｚｏを次式より演算
しく＃４５）、それぞれレジスタＭｘとレジスタＭｏと
に格納する。

Ｚ３−　（Ｚｌ　−Ｚｔ　）／　（ｎ−１）　　”−■
Ｋ　　＝Ｚ３／Ａ１　　　　　　　　　　・・・■Ｚｏ
　＝Ｚ１−Ｚ３　　　　　　　　　　・・・■二重積分
タイプのＡＤ変換回路では通常、ＡＤ変換値は積分時間
に比例するが、ＡＤ変換回路５の構成によりＡＤ変換値
にバイアス成分が含まれることがある。第４図は無人射
光状態下での光電変換素子りによる受光信号のＡＤ変換
値と積分時間との関係を示す図である。同図において、
積分時間はカウンタ値Ａに比例するので、横軸の積分時
間はカウンタ値Ａで表示している。ＡＤ変換値ｚ１及び
Ｚｌはそれぞれ積分時間Ａ１と積分時間Ａ２に対応する
ＡＤ変換値であり、ＡＤ変換値Ｚｏは積分時間に関係し
ないバイアス成分である。

同図において、関数ＦをＺ−に−Ａ＋Ｚｏとおくと、比
例係数には、 Ｋ−（Ｚｌ　−１１）／　（Ａ２−ＡＩ　）　・・・■
となる。また、積分時間Ａ２をｎ−Ａ１とすると、■式
は、 Ｋ＝　　（Ｚｌ　　−１１）／　（ｎ　−１＞　　・Ａ
＋　　−＠となる。■式テ、Ｚ３−　（Ｚｌ　−１１）
／　（ｎ−１〉とおくと、Ｋ−２３／Ａ１となり、上記
０式及び■式が導出される。また、上記Ｚ３と■式から
関数Ｆは、 Ｚ−に−Ａ＋Ｚｏ　　　　　　・・・■−Ｚ３　・Ａ／
Ａ１＋Ｚｏ　　＋＋■ となるから、上記■式に（Ａ＋　、Ｚｌ）の値を代入す
ると、Ｚｌ−２３＋Ｚｏとなり、この式より上記■式が
導出される。

第３図に戻り、続いて、スイッチＳＷ２がオン状態かど
うか判別しく＃５０）　、オン状態であれば、＃１５に
戻る。スイッチＳＷ２がオフ状態であれば、スイッチＳ
Ｗ１がオン状態かどうか判別しく＃５５）、オン状態で
あれば、レジスタＲ１の内容を２倍にする（＃６５）。

続いて、該レジスタＲ１の内容が「８」になっているか
どうか判定し、「８」になっていれば、レジスタＲ１の
内容を「１」に設定する（＃７０）。上述したようにレ
ジスタＲ１には測定モードの内容が格納され、３種類の
各測定モードに対するレジスタＲ１の内容は第１表に示
したようにｒＮＴｓｃＪ→ｒＰＡＬ」→ｒＥＸＴＪの順
に「１」→「２」→「４」と２倍ずつ増加させている。

従って、上記＃６０〜＃７ｏのフローはスイッチＳＷ１
がオンされる毎に測定モードをｒＮＴｓｃＪ→ｒＰＡＬ
Ｊ→ｒＥＸＴＪの順にサイクリックに変更させるもので
ある。

スイッチＳＷ１がオフ状態か、あるいはスイッチＳＷ１
により測定モードの変更を終了すると、続いて＃７５〜
＃８５で設定された測定モードに対応する積分時間ＡＭ
をカウンタ９に設定する。

すなわち、レジスタＲ１の内容を判別しく＃７５゜＃８
５〉、「１」であれば（＃７５でＹＥＳ）、測定モード
がｒＮｓＴｃＪモードであるからカウンタ９にｍ／　（
６０Ｘｔｏ　）の値を設定する（＃８０）。ここにｔｏ
はパルス発生器１０から出力される基準パルスの１周期
の時間である。カウンタ８は該基準パルス数をカウント
して積分時間Ａ　Ｍ　”＝　ｍ　／　６０秒を計測する
。ｍは予め定められた整数であり、ＡＤ変換回路５でｍ
／６０秒間の積分を行うことにより垂直同期信号のｍ周
期分をＡＤ変換することになる。従って、ｍ−１のとき
、最も早い速度で測定を行うことができることになる。

レジスタＲ１の内容が「２」であれば（＃８５でＹＥＳ
）　、測定モードがｒＰＡＬＪモードであるからカウン
タ９にｍ／　（５，ＯＸ　ｔｏ　）の値を設定する（＃
９０）。また、レジスタＲ１の内容が「４」であれば（
＃８５でＮＯ〉、測定モードがｒＥＸＴＪモードである
からフラグＦＬＭの状態を判別しく＃９５）、フラグＦ
ＬＭがＯにリセットされていれば、制御部６からカウン
タ８にカウンタイネーブル信号を出力しく＃１００）、
カウンタ８による垂直同期信号のインターバル時間ｔＭ
（パルス周期〉の計測が完了するまで、待機する（＃１
０５）、Ｔなワチ、ｒＥＸＴＪ　モ＝ドでは、垂直同期
信号のインターバル時間が標準値ではないため積分時間
ＡＭを実測するものである。

カウンタ８は上記カウンタイネーブル信号によりカウン
タ値をリセットした後、入力端子Ｔ１から入力される垂
直同期信号の最初のパルスによりパルス発生器１０から
入力される基準パルスのカウントを開始し、上記最初の
垂直同期信号の次のパルスによりカウントを停止して垂
直同期信号のインターバル時間ｔＭを計測する。なお、
上記待機時間は測定対象となる垂直同期信号の内の最長
のインターバル時間に設定されており、種々の垂直同期
信号を有する測定用ＣＲＴのいずれに対しても上記待機
中に垂直同期信号のインターバル時間ｔＭの計測が完了
するようになっている。続いて、カウンタ８のカウント
作業が正常に行われたかどうか判定しく＃１１０）、異
常の場合は、表示部１２にエラー表示を行い（＃１１５
）、ステップ＃５０に戻って再度測定を行う。例えば入
力端子Ｔ１に垂直同期信号が入力されていない場合には
測定エラーとなる。カウンタ８のカウント作業が正常に
行われれば、フラグＦＬＭを１にセットし、カウンタ９
に上記計測した垂直同期信号のインターバル時間ｔＭの
ｍ倍の時間ｍ−ｔＭを設定する（＃１２５）。

続いて、ＡＤ変換回路５で上記カウンタ９に設定された
積分時間ＡＭだけ受光信号を積分してＡＤ変換を行い、
そのＡＤ変換値ＺｙｔをレジスタＭＭに格納する（＃１
３０．＃１３５）。続いて上記ＡＤ変換値ＺＭからＡＤ
変換回路５のバイアス成分ｚ５を減算し、積分時間に対
する実際の発光量に対するＡＤ変換値ＺＴを算出する（
＃１４０）、、。

第５図はＣＲＴ２の測定時におけるＡＤ変換値と積分時
間との関係を示す図である。同図において、関数Ｆ′は
ＣＲＴ２の発光時における積分時間Ａに対するＡＤ変換
値Ｚの関数であり、関数Ｆは第４図に示した無人射光状
態における積分時間Ａに対するＡＤ変換ｉｚの関数であ
る。第５図から分かるように実際の発光量に対するＡＤ
変換値ＺＴはＡＤ変換ＭＩ　Ｚ　Ｍから暗状態における
積分時間ＡＭに対するＡＤ変換値Ｚ５を減じたものであ
る。ＡＤ変換値Ｚ５は■式よりＺｓ−に−ＡＭ＋Ｚｏで
あるから、ＡＤ変換値ＺＴは、 ＺＴ−ＺＭ−Ｚｓ ＝　Ｚ　Ｍ　−Ｋ−Ａ　Ｍ　−Ｚ　ｏ　　　・＝■とな
る。■式において、Ｋ及びＺｏはステップ＃４５で既に
算出され、それぞれレジスタＭｘとＭｏに格納されてい
るので、該データを用いて■式からＡＤ変換１ｍ　Ｚ　
Ｔが算出される。

第３図に戻り、ＡＤ変換値ＺＴを算出した後、該ＡＤ変
換値ＺＴを用いてＣＲＴ２の輝度、色等の演算を行い、
その演算結果を表示部１２に表示してステップ＃５０に
戻る（＃１４５．＃１５０）。上記演算は本発明に関係
しないので、詳細説明は省略する。

ところで、ＡＤ変換回路５の構成又は調整により無人射
光状態におけるＡＤ変換値２にバイアス成分Ｚｏが含ま
れないようにできる場合は、第４図において、関数Ｆの
比例係数Ｋを算出するだけでよいから積分時間Ａに対す
るＡＤ変換値の測定は１回で済み、ゼロ校正をより迅速
に行うことができる。従って、この場合は、上記第３図
の７０ｑジ 一チャートおけるステップ＃３０〜＃４５は第６図に示
すステップに置き換えられ、ステップ＃１４０は第７図
に示すステップに置き換えることができる。すなわち、
２回目の積分時間Ａ２に対するＡＤ変換１１Ｚ２の測定
が省略され、比例係数には積分時間Ａ１に対するＡＤ変
換値ｚ１からに−Ｚ＋　／Ａｔより算出される。また、
ＡＤ変換値Ｚ５　はＺｓ　−に−ＡＭとなるからＡＤ変
１１１１ＺＴは、 ＺＴ＝ＺＭ−２５ −ＺＭ−Ｋ　−ＡＭ −Ｚｙｔ　−２１・Ａ　Ｍ　／　Ａ　＋　　・・・■よ
り算出される。

次に、第８図を用いて「測定・ＡＤ変換」サブルーチン
について説明する。

まず、制御部６からラインＱＢによりカウンタ８にカウ
ンタイネーブル信号を出力しく＃２００＞、入力端子Ｔ
１から入力される垂直同期信号のインターバル時間（パ
ルス周期〉を計測する。続いて、レジスタＲ１の内容か
ら測定モードを判別しく＃２００）、レジスタＲ１の内
容が「４」、すなわち、測定モードがｒＥＸＴＪモード
であれば、垂直同期信号が入力されるまで待機しく＃２
１０）、入力されると、そのインターバル時間を計測す
る。

続いて、制御部６からライン（７によりカウンタ９にＡ
Ｄ変換開始信号を出力する（＃２１５＞。

カウンタ９は該ＡＤ変換開始信号を受けてライン９によ
りＡＤ変換回路５に二重積分タイプのＡＤ変換用積分信
号を出力すると共にカウンタ９に設定されたカウント値
をパルス発生器１０からの基準パルスに従いカウントダ
ウンする。そして、カウンタ９はカウント値が０となっ
たとき、上記積分信号を停止する。続いて、制御部６は
この積分信号の停止状態を検出することによりラインＱ
１０により上記ＡＤ変換回路５に放電信号を出力する（
＃２２０．＃２２５）。ＡＤ変換回路５ではこの放電信
号を受けて、定電流放電が行われる。続いて、ＡＤ変換
回路５からＡＤ変換終了信号が入力されたかどうか判定
しく＃２３０＞、入力されると、ＡＤ変換が終了したと
してメインルーチンにリターンする。ＡＤ変換が終了し
た時、ＡＤ変換回路５内にはＡＤ変換値が保存される。

なお、上記ＡＤ変換終了の検出は、上記放電信号が入力
されてからＡＤ変換されるデータに対応した時間経過後
に信号レベルが反転するような信号をＡＤ変換回路５か
ら制御部６に出力させ、制御部６内に設けたプログラム
カウンタ等のカウンタを用いて上記信号の反転時間を計
測するようにして行ってもよい。

次に、第９図を用いて第２実施例を説明する。

第２実施例は、上記第１実施例において人力悩子Ｔ１か
ら垂直同期信号を入力するのに代えてキーブロックによ
り垂直同期信号に対応するデータを入力するものである
。同図において、第１図と同一部材には同一の符号を付
している。３１は垂直同期信号をキーブロックより入力
するように構成した光測定装置である。１５はテンキー
、入力開始用キー及び入力終了用キー等で構成され、信
号発生器２の垂直同期信号に対応した周波数データ又は
垂直同期信号のインターバル時間に対応した時間データ
を入力するキーブロックである。１６は該キーブロック
から入力されるデータを記憶するレジスタである。レジ
スタ１６ではうインＱｊＢによりキーブロック１５に出
力するストローブ信号とライ刀１によりキーブロック１
５がら入力されるリターン信号とによりキーブロック１
５で操作されたキーを識別し、設定されたデータを記憶
する。上記キーブロック１５から入力されたデータはラ
イン（５によりｉｌＪ　ｔｉＤ部６に入力され、更に該
制御部６からラインＱ２０により表示ドライバー１７に
出力され、表示部１８に表示される。

第２実施例における測定動作は、垂直動作信号がキー人
力されることを除いて第１実施例の測定動作と基本的に
変わるところがないので、第３図及び第８図で示した第
１実施例のフローチャートのステップ＃２００　（カウ
ンタイネーブル信号を受けて垂直同期信号のインターバ
ル時間の計測を始する〉を除けば、該フローチャートを
第２実施例に使用することができる。

次に、第１０図を用いて第３実施例を説明する。

第３実施例は、ＣＲＴ２の垂直同期信号を入力する代わ
りに該ＣＲＴ２の管面上の一部の光を検知することによ
り垂直同期信号と同等の信号を得るようにしたものであ
る。螢光体には残光時間が数ｍ５ｅｃから数十ｍ５ｅｃ
の長残光タイプと１００μｓｅｃ程度の短残光タイプの
２種類があるが、本実施例は短残光タイプのＣＲＴに有
効な実施例である。同図において、同一部材には同一の
符号を付している。、３２は本実施例に係る光測定装置
である。ＤＴは光電変換素子りの上方に配設され、上記
光電変換素子りが受光すべきＣＲＴ２の管面上の螢光体
繊体の螢光体の光を受光する光電変換素子である。２０
は該光電変換素子ＤＴの出力レベルを後段の回路の入力
レベルにマツチングさせるためのインピーダンス変換回
路である。上記光電変換素子ＤＴでは螢光体の発光周期
を検出するので、ＣＲＴ２の垂直同期信号に対応した信
号がインピータンス変換回路２０からラインＱ　２２に
よリカウンタ８及び制御部６に入力される。カウンタ８
は上記発光周期信号のインターバル時間をパルス信号発
生器１０からの基準パルスをカウントすることにより計
測し、その計測が終了する度に内蔵するラッチ回路（不
図示）に計測データを設定する。すなわち、上記光電変
換素子ＤＴにより検出されたＣＲＴ２の管面上の螢光体
の発光周期のデータがカウンタ８のラッチ回路に設定さ
れる。

２１は上記ラッチ回路に設定されたデータを受は取り、
該データを１／Ｎ　（Ｎ＞２）に割算する割算部である
。割算部２１で分割されたデータはライン（５によりＩ
ＩＪ御部６に入力され、該データは後述するゼロ校正及
び実際の測定の際に制御部６からカウンタ９に設定され
る。

次に、第１１図を用いて第３実施例の動作について説明
する。

まず、初期設定した後、割算部２１で発光周期を１／Ｎ
にしたデータＴＮを取り込み、制御部６内のレジスタＲ
３に記憶すると共にカウンタ９に該データを設定する（
＃２５０．＃２５５．＃２６０）。続いて、光電変換素
子ＤＴによりＣＲＴ２の管面上の螢光体の発光が検出さ
れるまで待機しく＃２６５）、検出されると同時に（そ
の発光タイミングで）「測定・ＡＤ変換」サブルーチン
を実行してＡＤ変換１ｉＩＺ　Ｍを算出し、該ＡＤ変換
値をレジスタＭＭに格納する（＃２７０．＃２７５〉。

続いて、カウンタ９に再度、レジスタＲ３のデータＴＮ
を設定した後（＃２８０）、光電変換素子ＤＴによりＣ
ＲＴ２の管面上の螢光体の発光が検出されるまで待機し
く＃２８５＞、検出されると、上記データＴＮに対応す
る時間と同じ時間だけ待機した後（＃２９０＞、ｒ測定
・ＡＤ変換」サブルーチンを実行してＡＤ変換値Ｚ１を
締出し、該ＡＤ変換値ｚ１をレジスタＭ１に格納する（
＃２９５．＃３００）。続いて、上記ＡＤ変換ＩＩＩ　
Ｚ　ＭからＡＤ変換値Ｚ１を引いて実際の発光によるＡ
Ｄ変換値ＺＴを算出し、その値をレジスタＭに格納する
（＃３０５）。続いて、上記ＡＤ変換値ＺＴを用いてＲ
Ｔ２の８度及び色等の演陣を行い、その演算結果を表示
部１２に表示してステップ＃２５５に戻る（＃３１０．
＃３１５）。

上述したように光電変換素子ＤＴは光電変換素子りより
上方に配設されているので、光電変換素子りが受光ずべ
き螢光体を・０、光電変１’！Ａ　Ｘ″’Ｆ　Ｄ　Ｔが
受光すべぎ螢光体をＢｔ−εするど、螢光体ｎは螢光体
ＢＴが発光する１周期の中（〜螢光体８・、・が発光し
た後、比較的直ぐに１回だけ発光４′ゐ１、従って、最
初の測定では上記光電変換素子ＤＴが螢光体８１・の発
光を検出４るた同詩にｉ’−＝りＴ　ｒＪに対応する時
間（発光周期の１７２以下の時＠）だ１プ穂分すること
により螢光体（３の発光を受光するここになる。次に、
２回目の測定Ｃは、」二記光電変娩素子ＤＴが螢光体Ｂ
Ｔの発光を検１１１シてから上記デ・−タＴＮに対応４
゛る時間）ごＩ３持開リーるこににより螢光体８の発光
周期の内、螢光体１３が発光していない状態を受光する
ここになる。ｔなわち、２四目の測定゛ぐは無人射光状
態の測定イ２」テ３、ニー・。

になり、このたきのＡＯ変換埴からＩ−述しＩＣ洲定系
のオフ１ごット・像を算用しでいる。

なお、発光検出用光電変換素子［）・此・の配置に’ｍ
　Ｊ、る螢光体８Ｔε螢光体１３εの相対的な発光タイ
気ングによっては、積分時間を発光周期より知い時間に
し、＠積分時間内Ｃ′螢光体ｒ３が発光するよ）な積開
始信（１と該積分ＩＥｊ間内で燈）１．１休１３が発光
１３２ないような積分子ｆａｌｆｉ信月どをそれぞれ譚
出し、これ１）積分開始信ｑ（基′ブい１−螢光体１−
ウの発光時と非発光詩の測定をそれぞれ行うよ５１．：
Ｌ）Ｔもよい。

Ｃ発明の効果〕 以上説明したよ：５に、本発朗によれば、測定用０ＲＴ
を駆ａづる同期信ｐ、　ｋ：合わせてＣＲＴ管面士の光
測定を行うようＬ：　ｔ、ｙ　ＩＸ：ので、測定精度が
向Ｊすると共に可能なかき゛り測定時間合短く、するこ
Ｊ゛かで岩、高速測定を酊能に〕ｊ−る。また、無人射
光状態でのｍｌＦ系のオノセット舖を実測づ−るように
１ノだので、測定時間り二対応１．た１フ１２゛ｙト層
を算出するこたにより同期信号の周期が変化した場合に
も常（正確なＣＲｉの発光満４・・測定することが′Ｃ
δる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係・るＷ、測Ａ−：装謬を用いたＣＲ
Ｊ”の光測定システムの構成図、第２図は表示部の表示
例を示す図、第３図は本発明］、−係る光測定装置の動
作を示すフＬ】−ヂト〜・ｈ、第４図及び第５図は積分
時間εＡＤ変換変換量係を示′１図、箒Ω闇及び第７図
はバイアス成分のないＡＤ変換回路を用いた場合のＡＤ
変換値演棉スデツブを示′１図、第８図は「測定・ＡＤ
変換１ザプル〜・−ヂーンのフ］コーヂャー１−１第９
図は第２実施例の光測定装置を用いたＣＲＴの光測定シ
ステムの構成部、第１０図は第３実施例の光測定装置を
用いたＣＲ１の光測定システムの構成図、第″１１図は
第３実施例の光測定装置の動作を示すフｒ］−ヂャー・
トである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光電変換手段によりＣＲＴ管面の発光量を測定する
   ＣＲＴの光測定装置において、上記ＣＲＴの同期信号を
   取り込む入力手段と、取り込まれた同期信号のインター
   バル時間を計測する計測手段と、上記光電変換手段の出
   力信号を上記インターバル時間だけ積分してＡＤ変換す
   る手段とを備えたことを特徴とするＣＲＴ用光測定装置
   。 ２、請求項１記載のＣＲＴ用光測定装置において、ＡＤ
   変換手段は予め設定された時間だけ積分してＡＤ変換す
   るようになされているとともに、上記予め設定された時
   間による積分動作と前記インターバル時間による積分動
   作とが切換え可能な切換手段とを備えたことを特徴とす
   るＣＲＴ用光測定装置。 ３、光電変換手段によりＣＲＴ管面の発光量を測定する
   ＣＲＴ用光測定装置において、上記ＣＲＴの同期周波数
   を入力する入力手段と、入力された上記同期周波数のイ
   ンターバル時間信号を生成する生成手段と、上記光電変
   換手段の出力信号を上記インターバル時間だけ積分して
   ＡＤ変換する手段とを備えたことを特徴とするＣＲＴ用
   光測定装置。 ４、請求項１乃至３のいずれかに記載のＣＲＴ用光測定
   装置において、上記光電変換手段に入力光がない状態で
   の前記ＡＤ変換手段の作動が指示可能な指示手段と、該
   指示信号を受けて光電変換手段の出力信号を予め設定さ
   れた第２の時間だけ積分するとともにＡＤ変換し、該Ａ
   Ｄ変換値と上記第２の時間とから積分時間の単位時間当
   たりのＡＤ変換値を算出する第１の演算手段と、ＣＲＴ
   の発光量を測定したＡＤ変換値から該ＡＤ変換時の積分
   時間に上記第１の演算手段結果値を乗算したＡＤ変換値
   を減算する第２の演算手段とを備えたことを特徴とする
   ＣＲＴ用光測定装置。 ５、請求項１乃至３のいずれかに記載のＣＲＴ用光測定
   装置において、上記光電変換手段に入力光がない状態で
   のＡＤ変換手段の作動が指示可能な指示手段と、該指示
   信号を受けて前記光電変換手段の出力信号を予め設定さ
   れた第２の時間だけ積分してＡＤ変換したＡＤ変換値と
   上記指示信号を受けて前記光電変換手段の出力信号を上
   記第２の時間のｎ倍の時間だけ積分してＡＤ変換したＡ
   Ｄ変換値とを記憶する手段と、上記各ＡＤ変換値から積
   分時間の単位時間当たりのＡＤ変換値と積分時間に関係
   しないＡＤ変換値とを算出する第１の演算手段と、ＣＲ
   Ｔの発光量を測定したＡＤ変換値から該ＡＤ変換時の積
   分時間に上記積分時間の単位時間当たりのＡＤ変換値を
   乗算したＡＤ変換値と上記積分時間に関係しないＡＤ変
   換値とを減算する第２の演算手段とを備えたことを特徴
   とするＣＲＴ用光測定装置。 ６、光電変換手段によりＣＲＴ管面の発光量を測定する
   ＣＲＴ用光測定装置において、ＣＲＴ管面上の螢光体の
   発光を検出する検出手段と、該検出手段出力から上記螢
   光体の発光周期を算出する手段と、該発光周期よりも短
   い所定の積分時間を設定する時間設定手段と、上記積分
   時間内で上記光電変換手段の受光すべき螢光体が発光す
   べく積分開始信号を発生する第１の信号発生手段と、上
   記積分時間内では上記光電変換手段の受光すべき螢光体
   が非発光となるべく積分開始信号を発生する第２の信号
   発生手段と、上記第１、第２の信号発生手段出力を受け
   て上記光電変換手段の出力信号を上記設定された時間だ
   け積分してＡＤ変換するＡＤ変換手段と、上記第１の信
   号発生手段出力に基づいて得られたＡＤ変換値から上記
   第２の信号出力手段出力に基づいて得られたＡＤ変換値
   を減算する演算手段とを備えたことを特徴とするＣＲＴ
   用光測定装置。