JPH02102483A - 自動校正形エリアモニタ - Google Patents
自動校正形エリアモニタInfo
- Publication number
- JPH02102483A JPH02102483A JP25569188A JP25569188A JPH02102483A JP H02102483 A JPH02102483 A JP H02102483A JP 25569188 A JP25569188 A JP 25569188A JP 25569188 A JP25569188 A JP 25569188A JP H02102483 A JPH02102483 A JP H02102483A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- calibration
- channel
- counter
- actual measurement
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は、原子力施設の建屋内における放射線量を監視
するエリアモニタに関する。
するエリアモニタに関する。
（従来の技術）
従来のエリアモニタを第４図に示す。図中、（１）は、
ＳＳＤ形検出器、（２）はパルス増幅器、（３）はマル
チプレクサ、（４）は実測定用カウンタ、（５）はモニ
タユニットである。
ＳＳＤ形検出器、（２）はパルス増幅器、（３）はマル
チプレクサ、（４）は実測定用カウンタ、（５）はモニ
タユニットである。
このエリアモニタにおいては、測定している放射線線量
率［ａ＋Ｒ／ｈ）とＳＳＯ形検出器（１）の計数率（ｃ
ｐｓ）の換算定数を設定し、ＳＳＤ形検出器（１）から
実測定用カウンタ（４）に入力されるパルスの数に比例
した線量率の表示に変換している。
率［ａ＋Ｒ／ｈ）とＳＳＯ形検出器（１）の計数率（ｃ
ｐｓ）の換算定数を設定し、ＳＳＤ形検出器（１）から
実測定用カウンタ（４）に入力されるパルスの数に比例
した線量率の表示に変換している。
従来、この換算定数の値を決定するためには、基準とな
る校正用線源を用いて放射線をＳＳＤ形検出器（１）に
照射し、その時の計数率を求めて算出していた。
る校正用線源を用いて放射線をＳＳＤ形検出器（１）に
照射し、その時の計数率を求めて算出していた。
（発明が解決しようとする課題）
上記のような換算定数決定方法の場合、 ＳＳＤ形検出
器（１）を校正室に持って行くか、あるいは校正用線源
を検出器の所まで運んで来る必要があり、校正作業が大
変であった。また、校正中はエリアモニタとしての機能
を喪失するという問題もあった。
器（１）を校正室に持って行くか、あるいは校正用線源
を検出器の所まで運んで来る必要があり、校正作業が大
変であった。また、校正中はエリアモニタとしての機能
を喪失するという問題もあった。
そこで本発明は、測定中にも検出器の校正可能で換算定
数が常に更新されることから、測定精度も向上する自動
校正形エリアモニタを実現することを課題とし１本発明
の目的もそこにある。
数が常に更新されることから、測定精度も向上する自動
校正形エリアモニタを実現することを課題とし１本発明
の目的もそこにある。
（課題を解決するための手段）
本発明の自動校正形エリアモニタは、検出部に発光素子
を内蔵したＳＳＯ形検出器を用い、また、この検出器か
らのパルス信号を計数するカウンタとして実測定用カウ
ンタと校正用カウンタを切換回路を介して設け、実測定
モードの処理周期中の空き時間を利用した校正モード時
に複数チャンネルの内から成るチャンネルを選択してそ
の検出器からのパルス信号を実測定用カウンタから切換
えて校正用カウンタへ入力させるようにするとともに同
時に当該検出器に内蔵されている発光素子へパルス状の
電流を送って発光素子を発光させる機能を備えた校正モ
ード実行回路を設け、さらに、チャンネル毎に測定用カ
ウンタの計数値および校正用カウンタの計数値を用いて
当該チャンネルの換算定数を求める校正処理を、全チャ
ンネルの測定を一巡する処理周期の都度、校正モード実
行回路から指定されたチャンネルに対して実行し、更新
された最新の各チャンネル毎の換算定数を用いて各チャ
ンネル毎に実測定カウンタの計数値を線量率に換算して
出力する演算回路を設けるように構成される。
を内蔵したＳＳＯ形検出器を用い、また、この検出器か
らのパルス信号を計数するカウンタとして実測定用カウ
ンタと校正用カウンタを切換回路を介して設け、実測定
モードの処理周期中の空き時間を利用した校正モード時
に複数チャンネルの内から成るチャンネルを選択してそ
の検出器からのパルス信号を実測定用カウンタから切換
えて校正用カウンタへ入力させるようにするとともに同
時に当該検出器に内蔵されている発光素子へパルス状の
電流を送って発光素子を発光させる機能を備えた校正モ
ード実行回路を設け、さらに、チャンネル毎に測定用カ
ウンタの計数値および校正用カウンタの計数値を用いて
当該チャンネルの換算定数を求める校正処理を、全チャ
ンネルの測定を一巡する処理周期の都度、校正モード実
行回路から指定されたチャンネルに対して実行し、更新
された最新の各チャンネル毎の換算定数を用いて各チャ
ンネル毎に実測定カウンタの計数値を線量率に換算して
出力する演算回路を設けるように構成される。
（作 用）
本発明の自動校正形エリアモニタにおいては。
実測定モード時には、一定の処理周期で各チャンネルか
ら順次得られたＳＳＤ形検出器からのパルス信号を実測
定用カウンタで計数し、演算回路でチャンネル毎に対応
する換算定数を用いて線量率に変換して順次表示する。
ら順次得られたＳＳＤ形検出器からのパルス信号を実測
定用カウンタで計数し、演算回路でチャンネル毎に対応
する換算定数を用いて線量率に変換して順次表示する。
各チャンネルを走査し終った処理周期の終末時点での校
正モード時には。
正モード時には。
校正モード実行回路からの指令で各チャンネルから成る
一つのチャンネルを選択し、このチャンネルの検出器の
出力を校正用カウンタに入力させるように切換えるとと
もに、同時に当該検出器に内蔵されている発光素子へ校
正モード実行回路から４パルス状の電流を送って発光素
子を一定の輝度で発光させる。ＳＳＤ形検出器のセンサ
ーはこの発光の光エネルギーに励起されてパルス信号を
発する。
一つのチャンネルを選択し、このチャンネルの検出器の
出力を校正用カウンタに入力させるように切換えるとと
もに、同時に当該検出器に内蔵されている発光素子へ校
正モード実行回路から４パルス状の電流を送って発光素
子を一定の輝度で発光させる。ＳＳＤ形検出器のセンサ
ーはこの発光の光エネルギーに励起されてパルス信号を
発する。
このパルス信号は校正用カウンタで計数され、計数値が
演算回路に入力される。演算回路では、記憶されている
当該チャンネルの先行した実測定モード時の計数値を呼
び出し、今回の校正用カウンタの計数値から前記の実測
定モード時の計数値を減算して発光素子の発光による計
数値を求める。
演算回路に入力される。演算回路では、記憶されている
当該チャンネルの先行した実測定モード時の計数値を呼
び出し、今回の校正用カウンタの計数値から前記の実測
定モード時の計数値を減算して発光素子の発光による計
数値を求める。
そして、この計数値の過去のデータを用いて移動平均を
求め、これに基いて換算定数を算出して換算定数を更新
する。そして、次回の実測定モード時には、この更新さ
れた換算定数を用いて計数値の線量率への換算を行なう
。
求め、これに基いて換算定数を算出して換算定数を更新
する。そして、次回の実測定モード時には、この更新さ
れた換算定数を用いて計数値の線量率への換算を行なう
。
（実施例）
以下１図面に示した実施例に基いて本発明の詳細な説明
する。
する。
第１図に本発明一実施例の自動校正形エリアモニタを示
す、第１図において、（１１）は発光素子（１２）を内
蔵したＳＳＤ形検出器で、１チヤンネルから３２チヤン
ネルまで設けられている。発光素子（１２）としては例
えばＬ Ｅ Ｄが使用される。（１３）はパルス増幅器
で、ＳＳＤ形検出器からのパルス信号を増幅する。 （
１４）はマルチプレクサで、各チャンネルのＳＳＤ形検
出器（１１）からのパルス増幅器（１３）を介したパル
ス信号を所定時間間隔で切換えて出力する。 （１６）
は実測定用カウンタ、（１７）は校正用カウンタで、切
換回路（１５）を介してマルチプレクサ（１４）の出力
端に接続され、前記ＳＳＤ形検出器（ｉｔ）からのパル
ス信号を計数する。 （１８）は校正モード実行回路で
、各チャンネルの実測定が終った処理周期の残り時間を
利用した校正モード時には、プログラムに基き複数チャ
ンネルから成るチャンネルをマルチプレクサ（１４）で
選択させ、そのＳＳＤ形検出器（１１）からのパルス信
号を実測定用カウンタ（１６）から切換えて校正用カウ
ンタ（１７）へ入力させるように切換回路（１５）へ指
令するとともに、同時に当該ＳＳＤ形検出器（１１）に
内蔵されている発光素子（１２）へのリードと接続する
ようにスイッチング回路（１９）を制御し当該発光素子
（１２）へパルス状の電流を送って発光させる機能を備
えている。そして、このパルス状の電流は、発光素子（
１２）の発光によりＳＳＤ形検出器（１１）から出力さ
れるパルス信号が校正用線源からの放射線を受けたとき
にＳＳＤ形検出器（１１）から出力されるパルス信号と
等価になるように予め検定を行なって所定値に設定され
ている。（２０）は演算回路で、チャンネル毎に測定用
カウンタ（１６）の計数値および校正用カウンタ（１７
）の計数値を用いて当該チャンネルの換算定数を求める
校正処理を、全チャンネルの測定を一巡する処理周期の
都度、校正モード実行回路（１８）から指定されたチャ
ンネルに対して実行し、更新された最新の各チャンネル
毎の換算定数を用いて各チャンネル毎に実測定用カウン
タ（１６）の計数値を線量率に換算して出力する。この
出力は、図示してない指示・記録計器に送られて指示・
記録される。
す、第１図において、（１１）は発光素子（１２）を内
蔵したＳＳＤ形検出器で、１チヤンネルから３２チヤン
ネルまで設けられている。発光素子（１２）としては例
えばＬ Ｅ Ｄが使用される。（１３）はパルス増幅器
で、ＳＳＤ形検出器からのパルス信号を増幅する。 （
１４）はマルチプレクサで、各チャンネルのＳＳＤ形検
出器（１１）からのパルス増幅器（１３）を介したパル
ス信号を所定時間間隔で切換えて出力する。 （１６）
は実測定用カウンタ、（１７）は校正用カウンタで、切
換回路（１５）を介してマルチプレクサ（１４）の出力
端に接続され、前記ＳＳＤ形検出器（ｉｔ）からのパル
ス信号を計数する。 （１８）は校正モード実行回路で
、各チャンネルの実測定が終った処理周期の残り時間を
利用した校正モード時には、プログラムに基き複数チャ
ンネルから成るチャンネルをマルチプレクサ（１４）で
選択させ、そのＳＳＤ形検出器（１１）からのパルス信
号を実測定用カウンタ（１６）から切換えて校正用カウ
ンタ（１７）へ入力させるように切換回路（１５）へ指
令するとともに、同時に当該ＳＳＤ形検出器（１１）に
内蔵されている発光素子（１２）へのリードと接続する
ようにスイッチング回路（１９）を制御し当該発光素子
（１２）へパルス状の電流を送って発光させる機能を備
えている。そして、このパルス状の電流は、発光素子（
１２）の発光によりＳＳＤ形検出器（１１）から出力さ
れるパルス信号が校正用線源からの放射線を受けたとき
にＳＳＤ形検出器（１１）から出力されるパルス信号と
等価になるように予め検定を行なって所定値に設定され
ている。（２０）は演算回路で、チャンネル毎に測定用
カウンタ（１６）の計数値および校正用カウンタ（１７
）の計数値を用いて当該チャンネルの換算定数を求める
校正処理を、全チャンネルの測定を一巡する処理周期の
都度、校正モード実行回路（１８）から指定されたチャ
ンネルに対して実行し、更新された最新の各チャンネル
毎の換算定数を用いて各チャンネル毎に実測定用カウン
タ（１６）の計数値を線量率に換算して出力する。この
出力は、図示してない指示・記録計器に送られて指示・
記録される。
上記のように構成された本発明一実施例の自動校正形エ
リアモニタの作用を以下に述べる。このエリアモニタは
、第２図に示すように、３００ｍ５ｅｃの処理周期で１
チヤンネルから３２チヤンネルまでの測定を行なってい
るが、実測定に費やしている時間は約２８０ｓｓｅｃで
あり、残りの２０ｍ５ｅｃは空き時間となっている。こ
の実施例のエリアモニタではこの空き時間を利用して校
正を行なう。
リアモニタの作用を以下に述べる。このエリアモニタは
、第２図に示すように、３００ｍ５ｅｃの処理周期で１
チヤンネルから３２チヤンネルまでの測定を行なってい
るが、実測定に費やしている時間は約２８０ｓｓｅｃで
あり、残りの２０ｍ５ｅｃは空き時間となっている。こ
の実施例のエリアモニタではこの空き時間を利用して校
正を行なう。
実測定モード時には、第３図に示すように、１チヤンネ
ルから３２チヤンネルまで順次測定する。
ルから３２チヤンネルまで順次測定する。
その間は、各チャンネルのＳＳＤ形検出器（１１）から
のパルス増幅器（１３）を介したパルス信号を順次マル
チプレクサ（１４）で１チヤンネルずつ実測定用カウン
タ（１６）に入力させ、実測定用カウンタ（１６）で計
数した計数値を演算回路（２０）でチャンネル毎に対応
する換算定数を用いて線量率に変換して出力し、チャン
ネル毎の線量率を順次表示および記録させる。
のパルス増幅器（１３）を介したパルス信号を順次マル
チプレクサ（１４）で１チヤンネルずつ実測定用カウン
タ（１６）に入力させ、実測定用カウンタ（１６）で計
数した計数値を演算回路（２０）でチャンネル毎に対応
する換算定数を用いて線量率に変換して出力し、チャン
ネル毎の線量率を順次表示および記録させる。
各チャンネルの実測定を終った都度、残りの２０ｖａｓ
ｅｃの間に、処理周期毎に一つのチャンネルを選択し、
１チヤンネルから順次校正を行なう、この校正モード時
には、校正モード実行回路（１８）からの指令によりマ
ルチプレクサ（１４）で選択して１チヤンネルのＳＳＤ
形検出器（１１）からのパルス信号を出力させ、切換回
路（１５）へも指令してマルチプレクサ（１４）の出力
を実測定用カウンタ（１６）から切換えて校正用カウン
タ（１７）へ接続させる。同時に、校正モード実行回路
（１８）はスイッチング回路（１９）を制御して１チヤ
ンネルのＳＳＤ形検出器（１１）の発光素子（１２）へ
のリードを校正モード実行回路（１８）へ接続させ、パ
ルス状の電流を発光素子（１２）へ送って発光素子（１
２）を一定の輝度で発光させる。これにより、１チヤン
ネルのＳＳＤ形検出器（１１）のセンサーは発光した光
電素子（１２）の光エネルギーに励起されてパルス信号
を発する。このパルス信号は校正用カウンタ（１７）で
計数され、計数値が演算回路（２０）に入力される。演
算回路（２０）では、記憶されている１チヤンネルの先
行した実測定モード時の計数値Ｃ１を呼び出し、今回の
校正用カウンタ（１７）の計数値に工からＣ１を減算し
て発光素子（１２）の発光による計数値ｎ １＝ （Ｋ
ニーＣ工）を求める。さらに、統計変動による測定誤差
を小さくするため、この計数値ｎ工の移動平均（１０デ
ータ）を計算し、それに基いて換算定数を求め、換算定
数を更新する。そして、次回の１チヤンネルの実測定モ
ード時には、この更新された換算定数を用いて計数値を
線量率へ変換して出力する。この１チヤンネルの線量率
は表示および記録される。
ｅｃの間に、処理周期毎に一つのチャンネルを選択し、
１チヤンネルから順次校正を行なう、この校正モード時
には、校正モード実行回路（１８）からの指令によりマ
ルチプレクサ（１４）で選択して１チヤンネルのＳＳＤ
形検出器（１１）からのパルス信号を出力させ、切換回
路（１５）へも指令してマルチプレクサ（１４）の出力
を実測定用カウンタ（１６）から切換えて校正用カウン
タ（１７）へ接続させる。同時に、校正モード実行回路
（１８）はスイッチング回路（１９）を制御して１チヤ
ンネルのＳＳＤ形検出器（１１）の発光素子（１２）へ
のリードを校正モード実行回路（１８）へ接続させ、パ
ルス状の電流を発光素子（１２）へ送って発光素子（１
２）を一定の輝度で発光させる。これにより、１チヤン
ネルのＳＳＤ形検出器（１１）のセンサーは発光した光
電素子（１２）の光エネルギーに励起されてパルス信号
を発する。このパルス信号は校正用カウンタ（１７）で
計数され、計数値が演算回路（２０）に入力される。演
算回路（２０）では、記憶されている１チヤンネルの先
行した実測定モード時の計数値Ｃ１を呼び出し、今回の
校正用カウンタ（１７）の計数値に工からＣ１を減算し
て発光素子（１２）の発光による計数値ｎ １＝ （Ｋ
ニーＣ工）を求める。さらに、統計変動による測定誤差
を小さくするため、この計数値ｎ工の移動平均（１０デ
ータ）を計算し、それに基いて換算定数を求め、換算定
数を更新する。そして、次回の１チヤンネルの実測定モ
ード時には、この更新された換算定数を用いて計数値を
線量率へ変換して出力する。この１チヤンネルの線量率
は表示および記録される。
以上で１回の処理周期が終り、第３図に示すように、次
の処理周期では２チヤンネルの校正１次の処理周期では
３チヤンネルの校正をそれぞれ行なうというように順次
処理を進め、３２チヤンネルの校正を終った時点で全チ
ャンネルの校正が一巡する。
の処理周期では２チヤンネルの校正１次の処理周期では
３チヤンネルの校正をそれぞれ行なうというように順次
処理を進め、３２チヤンネルの校正を終った時点で全チ
ャンネルの校正が一巡する。
この実施例においては、最初に１０データの移動平均を
算出するに要する時間は、１チャンネル当り３００ｍ５
ｅｃ Ｘ ＩＯ＝ ３ ｓｅｃとなり、３２チヤンネル
までの同様な校正を行なうためには、合計約１００ｓｅ
ｃ必要である。すなわち、１チヤンネルから３２チヤン
ネルまでの最初の校正に要する時間は、約１００ｓｅｃ
となる。
算出するに要する時間は、１チャンネル当り３００ｍ５
ｅｃ Ｘ ＩＯ＝ ３ ｓｅｃとなり、３２チヤンネル
までの同様な校正を行なうためには、合計約１００ｓｅ
ｃ必要である。すなわち、１チヤンネルから３２チヤン
ネルまでの最初の校正に要する時間は、約１００ｓｅｃ
となる。
しかし、その後繰り返して行なわれる校正の場合は、過
去の９デ一タ分は記憶されているので１チャンネル当り
３００ｍ５ｅｃで済むことから、１チヤンネルから３２
チヤンネルまでの校正が約１０ｓｅｃで完了する。
去の９デ一タ分は記憶されているので１チャンネル当り
３００ｍ５ｅｃで済むことから、１チヤンネルから３２
チヤンネルまでの校正が約１０ｓｅｃで完了する。
上述したように本実施例によれば、エリアモニタの検出
器のオンライン自動校正が可能となり、これにより、以
下の効果が得られる。
器のオンライン自動校正が可能となり、これにより、以
下の効果が得られる。
Ｃ８３ａ室中にも常時校正可能となり、換算定数が常に
更新されることから測定精度が向−ヒする。
更新されることから測定精度が向−ヒする。
（ｂ）校正のために検出器を校正室に持って行くかある
いは校正用線源を検出器の所まで運んで来る等の作業が
不要となり、作業量が低減される。
いは校正用線源を検出器の所まで運んで来る等の作業が
不要となり、作業量が低減される。
（ｃ）エリアモニタの測定を中断することなく校正が可
能となり、モニタリング機能喪失状態発生の不都合が解
消される。
能となり、モニタリング機能喪失状態発生の不都合が解
消される。
なお、上述した実施例では、チャンネル数が３２の場合
を例示したが、チャンネル数は特に限定されない。
を例示したが、チャンネル数は特に限定されない。
以上詳述したように本発明によれば、エリアモニタの検
出器のオンライン自動校正が可能となり。
出器のオンライン自動校正が可能となり。
これにより以下の効果が得られる。
（ａ） ’１１４定中にも常時校正可能となり、換算定
数が常に更新されることから８１１定精度が向上する９
（ｂ１校正のために検出器を校正室に持って行くかある
いは校正用線源を検出器の所まで運んで来る等の作業が
不要となり、作業量が低減される。
数が常に更新されることから８１１定精度が向上する９
（ｂ１校正のために検出器を校正室に持って行くかある
いは校正用線源を検出器の所まで運んで来る等の作業が
不要となり、作業量が低減される。
［ｃ］エリアモニタの測定を中断することなく校正が可
能となり、モニタリング機能喪失状態発生の不都合が解
消される。
能となり、モニタリング機能喪失状態発生の不都合が解
消される。
第１図は本発明一実施例の自動校正形エリアモニタの構
成を示すブロック図、第２図は第１図のエリアモニタの
処理周期の内訳を示す説明図、第３図は同じく測定およ
び校正処理のタイムチャート、第４図は従来のエリアモ
ニタの構成を示すブロック図である。 １１・・・ＳＳＯＳ横形器 １３・・・パルス増＠器 １５・・・切換回路 １７・・・校正用カウンタ １９・・・スイッチング回路 １２・・・発光素子 １４・・・マルチプレクサ １６・・・実測定用カウンタ １８・・・校正モード実行回路 ２０・・・演算回路 編 １ シ 巷二（２０ｍＳｅＣ） ましＬ 第 ２ 因 代理人 弁理士 大 胡 典 夫 第 ３ 図
成を示すブロック図、第２図は第１図のエリアモニタの
処理周期の内訳を示す説明図、第３図は同じく測定およ
び校正処理のタイムチャート、第４図は従来のエリアモ
ニタの構成を示すブロック図である。 １１・・・ＳＳＯＳ横形器 １３・・・パルス増＠器 １５・・・切換回路 １７・・・校正用カウンタ １９・・・スイッチング回路 １２・・・発光素子 １４・・・マルチプレクサ １６・・・実測定用カウンタ １８・・・校正モード実行回路 ２０・・・演算回路 編 １ シ 巷二（２０ｍＳｅＣ） ましＬ 第 ２ 因 代理人 弁理士 大 胡 典 夫 第 ３ 図
Claims (1)
- 発光素子を内蔵したＳＳＤ形検出器を複数チャンネル備
えた検出部と、これら各検出器毎に設けられたパルス増
幅器と、前記各ＳＳＤ形検出器からのパルス増幅器を介
したパルス信号を所定時間間隔で切換えて出力するマル
チプレクサと、このマルチプレクサの出力端に切換回路
を介して接続され前記ＳＳＤ形検出器からのパルス信号
を計数する実測定用カウンタおよび校正用カウンタと、
実測定モード時には前記マルチプレクサの出力端を実測
定用カウンタに接続するように切換回路を制御し且つ校
正モード時には前記切換回路を制御してマルチプレクサ
の出力端を前記校正用カウンタに接続させるとともにプ
ログラムに基きマルチプレクサに指令して或るチャンネ
ルを選択させ同時に選択されたチャンネルのＳＳＤ形検
出器に内蔵されている発光素子へのリードと接続するよ
うにスイッチング回路を制御し当該発光素子へパルス状
の電流を送ってこの発光素子を発光させる校正モード実
行回路と、チャンネル毎に前記実測定用カウンタの計数
値および校正用カウンタの計数値を用いて当該チャンネ
ルの換算定数を求める校正処理を全チャンネルの測定を
一巡する処理周期の都度前記校正モード実行回路から指
定されたチャンネルに対して実行し、更新された最新の
各チャンネル毎の換算定数を用いて各チャンネル毎に実
測定カウンタの計数値を線量率に換算して出力する演算
回路とを具備して成る自動校正形エリアモニタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25569188A JPH02102483A (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | 自動校正形エリアモニタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25569188A JPH02102483A (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | 自動校正形エリアモニタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02102483A true JPH02102483A (ja) | 1990-04-16 |
Family
ID=17282291
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25569188A Pending JPH02102483A (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | 自動校正形エリアモニタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02102483A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009028161A1 (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 放射線モニタ及びその動作確認方法 |
| JP2014202689A (ja) * | 2013-04-09 | 2014-10-27 | Ａｇｃテクノグラス株式会社 | 蛍光ガラス線量計測定装置、蛍光ガラス線量計測定装置の校正方法 |
| EP4421536A1 (en) * | 2023-02-21 | 2024-08-28 | Rigaku Corporation | Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector |
-
1988
- 1988-10-11 JP JP25569188A patent/JPH02102483A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009028161A1 (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 放射線モニタ及びその動作確認方法 |
| JP2009052926A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Toshiba Corp | 放射線モニタ及びその動作確認方法 |
| US8637827B2 (en) | 2007-08-24 | 2014-01-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation monitor and method for checking operation of the same |
| EP2180341A4 (en) * | 2007-08-24 | 2015-01-21 | Toshiba Kk | RADIATION MONITOR AND METHOD FOR CONFIRMING ITS OPERATION |
| JP2014202689A (ja) * | 2013-04-09 | 2014-10-27 | Ａｇｃテクノグラス株式会社 | 蛍光ガラス線量計測定装置、蛍光ガラス線量計測定装置の校正方法 |
| EP4421536A1 (en) * | 2023-02-21 | 2024-08-28 | Rigaku Corporation | Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7129476B2 (en) | Radiological imaging apparatus and timing correction method therefor | |
| CA1180810A (en) | X-ray system tester | |
| US20130327940A1 (en) | Radiation monitoring apparatus | |
| JPH02102483A (ja) | 自動校正形エリアモニタ | |
| US7132663B2 (en) | Methods and apparatus for real-time error correction | |
| JPH10197639A (ja) | 環境放射線モニタ | |
| US7362844B2 (en) | Tomography appliance, and method for a tomography appliance | |
| US4151412A (en) | Method and apparatus for automatic spectrum scanning in a proportional counter | |
| JPH04203995A (ja) | 検出素子の感度補正方法とｘ線検出装置 | |
| JPH06791Y2 (ja) | 中性子束測定装置 | |
| US4322617A (en) | Method and apparatus for calibrating a gamma counter | |
| JP2563314B2 (ja) | 放射線検出装置 | |
| JPH03199906A (ja) | 光学的位置検出装置 | |
| JP2662406B2 (ja) | 部分放電測定装置のデータ収集装置 | |
| JPH07306267A (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPH0618563A (ja) | 時間間隔−電圧変換器 | |
| JPH0553390B2 (ja) | ||
| JPH0429083A (ja) | 放射線検出器の感度校正装置 | |
| HU208749B (en) | Method and apparatus for developing "real-time" ideal counter | |
| JPH06249959A (ja) | 距離測定装置 | |
| JPH0619454B2 (ja) | 放射線測定装置 | |
| JPS62115388A (ja) | 測距型異常監視センサ | |
| JPS5876789A (ja) | シンチレ−シヨンカウンタ | |
| JPH04337490A (ja) | デジタル放射線モニタ | |
| JPH0980159A (ja) | 出力領域監視装置 |