JPH034457U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は試料観察時の試料ホールダの向きと試
料搭載の状態断面図、第２図は第１図を輪切りし
た断面図、第３図は第１図を１８０°回転して、
試料搭載時の状態図を示す。 １…ホールダ軸、２…観察窓、２ａ…観察窓、
３溝、４…試料受、５…連結軸、６…押しばね、
７，７′…押しねじ、８…試料、９…Ｖ字形溝、
１０…止めねじ、１１…切欠穴、１２…板ばね。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料ホールダ先端部に試料搭載機構を有し
   た電子顕微鏡用サイドエントリー試料ステージの
   バルク試料ホールダにおいて、ホールダ軸側面か
   ら水平方向に、少なくともホールダ軸中心より深
   い溝を施し、該溝に出し入れする試料受を設けた
   ことを特徴とする電子顕微鏡用バルク試料ホール
   ダ。 (2) 請求の範囲第１項において、前記溝内に試
   料受を、連結軸で支持して回転出し入れすること
   を特徴とする電子顕微鏡用バルク試料ホールダ。 (3) 請求の範囲第１項において、前記試料受は
   、試料観察窓を設けて、ホールダ軸にある試料観
   察窓と向き合つて密接し、該密接面の反対面はホ
   ールダ軸中心と同等位置に構成し、さらに該試料
   受の少なくとも一方には側壁を設けたことを特徴
   とする電子顕微鏡用バルク試料ホールダ。 (4) 請求の範囲第２項において、前記試料受は
   、連結軸支持側と反対の端面に凹みを設け、また
   、ホールダ軸は押しばねを溝内に突き出して、該
   凹みと組み合わせたことを特徴とする電子顕微鏡
   用バルク試料ホールダ。 (5) 請求の範囲第１項または第３項において、
   ホールダ軸下面（試料観察窓と反対側）から該溝
   に突き抜けた押しねじを設けたことを特徴とする
   電子顕微鏡用バルク試料ホールダ。