JPH0345765A - たて編機の糸切れ検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、たて編機の糸切れ検出装置に関する。

［従来の技術］ 従来、トリコット編機、ラッシェル編機、メラニーズ編
Ｒなどのたて編機における糸切れを検出するために、糸
切れ検出装置が使用されている。

この糸切れ検出装置は、第１２図に示すたてＩＣＩＮの
４タイプのおざ？’、−￥　２０１〜２０４の上方に光
ビームＬｂ１〜Ｌｂ４が設定されて光を送受する４対の
送光装置及び受光装置（図示せず）と、光ビームＬｂ１
〜Ｌｂ４を横断するように各経糸群１０１〜１０４の配
列方向と直角方向への空気流を噴出する送気装置３００
と、受光装置の受光量が所定値以上減少したことを検出
して糸切れを検出する糸切れ検出手段（図示せず）とを
備えている。

更に詳細に説明すると、各経糸群１０１〜１０４は各あ
ざ詳２０１〜２０４によりガイドされてたて編機の編針
４００に供給されており、光ビームＬｂ１〜Ｌｂ４は各
経糸ｕ１０１〜１０４の近傍において各経糸群１０１〜
１０４の配列方向と平行に伸びている。そして、−本の
経糸が切れると、切れた経糸の末端部が送気装置３００
の空気流にまり付勢されて光ビームＬｂ１〜Ｌｂ４のい
ずれかを横断し、この横断による光量の減少により糸切
れ検出手段は糸切れを検出する。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上記したたてＳＵＮの糸切れ検出装置で
は、糸切れを検出できない場合があり、糸切れを検出で
きない場合にはたて編機の編成がそのまま進行して多大
な不良品とそれに伴う出費か生じた。

この原因としては、次のような理由が考えられる。

第１の理由は、切れた経糸は一度しか光ビームＬｂ１〜
Ｌｂ４を横断しないので、検出ミスが発生しやすいこと
である。

第２の理由は、経糸太さが細くなるに従い、切れた経糸
が光ビームＬｂ１〜Ｌｂ４を横断する時の光量変化が減
少することである。

第３の理由は、糸切れの情況によっては切れた経糸の端
部が光ビームＬｂ１〜Ｌｂ３を横断しない場合があるこ
とである。実例では、切れた経糸が隣接する正常な経糸
に絡らんで編針に引込まれる場合があり、この場合には
、空気流は切れた経糸を光ビームＬｂ１〜Ｌｂ４と直角
方向に付勢し得す、切れた経糸による光軸横断は生じな
い。

本発明は、上記問題に鑑みなされたものであり、高精度
の糸切れ検出が可能なたて編機の糸切れ検出装置を提供
することを解決すべき課題としている。

［課題を解決するための手段］ 本発明のたて編機の糸切れ検出装置は、たて編機の各経
糸の配列方向に沿って光軸が設定されて光を送受する送
光装置及び受光装置と、前記受光装置の光量変化により
前記経糸の糸切れを検出する糸切れ検出手段とを備える
たて編機の糸切れ検出装置において、前配送光装置及び
受光装置の前記光軸は、各経糸をそれぞれガイドする各
おさと該各おさの下方に配設され前記各経糸を編成する
編針との間の編成領域に、設定されていることを特徴と
している。

編成領域は、たて編機のおぎとあざの下方に配設された
編針との間に位置決めされ、かつ、経糸、おざ及び各編
針の各配列方向と平行に伸びる空間を意味する。この編
成領域は、経糸がおき及び編針により編成される空間で
ある。

送光装置は、発光ダイオード、レーザーダイオード等か
らなる発光素子をもつことができ、発光素子は連続作動
でもよく、所定の周波数で変調されてもよい。受光装置
は、フォトダイオード、フォトトランジスタ等からなる
光電変換素子をもつことができる。

好ましい実施例において、送光装置は所定のキャリヤ周
波数でパルス変調若しくは正弦波変調されたキャリア光
を出力することができる。このようにすると、キャリア
光は経糸の周期運動によりＡＭ変調されるので、検出手
段はキャリア周波数を同調周波数として受光装置の出力
信号を同調増幅し、その後、検波して、経糸の周期運動
に関する信号を高ＳＮ比で検出することができる。ただ
し、キャリア光のキャリア周波数は経糸の周期運動に対
応する電気信号（以下経糸信号という）の基本周波数に
比較して充分高く設定される必要がある。

糸切れ検出手段は、編成領域における経糸の周間運動バ
タンの変化を抽出する波形変化検出手段と、上記周期運
動パタンの変化の程度により糸切れを判別する判別手段
とを具備することが好ましい。

糸切れ検出手段は、経糸の周期運動パタンにより変調さ
れた変調信号と、標準の周期運動パタンにより変調され
た標準の変調信号とを比較して、その波形の相違の程度
により、糸切れを判断することができる。−例において
、上記波形変化検出手段は上記変調信号を所定のしきい
値電圧により二値化してパルス信号に変換することがで
きる。

このようにすれば、経糸の周期運動パタンの変化による
上記変調信号の波形変化をパルス信号のデユーティ比変
化に変換することができ、簡単かつ高精度の検出が可能
となる。

上記判別手段は上記パルス信号のデユーティ比と、たて
編機が正常運転している場合における上記パルス信号の
標準のデユーティ比とを比較し、両者の差が所定値以上
の場合に糸切れと判別することができる。

たて編機の種類によって、上記変調信号の波形は種々異
なる。簡単な例では、上記パルス信号の各パルスは正常
時に同一のデユーティ比をもつ。

しかし、一般には、経糸の周期運動パタンか複雑である
ために、上記パルス信号のデユーティ比はＮ（Ｎは２以
上の整数）パルス毎に繰返される所定の変化パタンをも
つ。−例において、このデユーティ比の周期的な変化パ
タンを予め記憶しておいて、計測したデユーティ比の実
際の周期的な変化パタンと比較して、その差が大きい場
合に糸切れを判別することができる。

［作用コ 本発明のたて編機の糸切れ検出装置では、送光装置及び
受光装置の光軸は、たて編機のおさとおさの下方に配設
された編針との間の空間を意味する編成領域に設定され
ており、そして、経糸配列方向と平行に伸びている。

糸切れが生じていない正常編成時には、経糸はおき及び
編針により駆動されて、編成領域において所定の運動軌
跡で運動する。この運動軌跡は一定周期（編成サイクル
周間という）で繰返されるので、経糸は光軸を通る送光
装置の光を編成サイクル周期で変調し、変調された光を
受光する受光装置は編成サイクル周期で繰返し変調され
た所定波形の変調信号を出力する。そして、糸切れ検出
装置は、変調信号の波形変化が小さいことを検知して「
糸切れなし」と判定する。

糸切れが発生し、かつ、切れた経糸が隣接する経糸に絡
まない場合には、本来は切れた経糸と編成される筈の経
糸が未編成のままとなり、その影響によって残りの経糸
の運動軌跡は正常時のものに比べて変化する。また、糸
切れが発生し、かつ、切れた経糸が隣接する経糸に絡む
場合にも、本来は切れた経糸と編成される筈の経糸が未
編成のままとなり、かつ、切れた経糸が絡むので、各経
糸の運動軌跡は正常時のものに比べて変化する。このよ
うな経糸の異常な運動軌跡によって受光装置は異常な波
形の変調信号を出力し、糸切れ検出手段は入力される変
調信号の波形異常から「糸切れ」を検出する。

［実施例］ （実施例１） 本発明のたて編機の糸切れ検出装置の一実施例を第１図
の回路図に示す。

このたて編機の糸切れ検出装置は、たて編機の一種を構
成するジャカードラッセル機（図示せず）に設けられて
光を送受する送光装置１及び受光装＠２と、受光装置２
の出力信号から経糸の周期運動パタンの変化を抽出する
波形変化検出手段３と、抽出された周期運動パタンの変
化により糸切れを判別する判別手段５と、糸切れの有無
を表示するインジケータ６とからなる。なお、波形変化
検出手段３と判別手段５は、本発明でいう糸切れ検出手
段を構成している。

送光装置１及び受光装置２は、上記ジャカードラッセル
機の経糸配列方向の両端に対面して配設されている。送
光装置］及び受光装置２の光ビームＬは、第２図に示す
ように、上記ジャカードラッセル機のおさ群７とおぎ群
７の下方に配設された編針８との間の空間を意味する編
成領域９に設定されている。送光装置］は、レーザダイ
オード（図示せず）と、光を１０〜２０φのビームに絞
るレンズ系とをもつ。受光装置２は、ホトトランジスタ
（図示せず）と、光をホトトランジスタに集束するレン
ズ系をもつ。送光装置１及び受光装置２の他の詳細につ
いては良く知られているので、説明を省略する。

波形変化検出手段３は、同調増幅回路３ａ、帯域フィル
タ３ｂ、リミッタ３Ｃ１検波器３ｄ、低域フィルタ３ｅ
、二値化回路３ｆで構成されている。二値化回路３ｆは
低域フィルタ３１とレベルシフタ３２とコンパレータ３
３とで構成されている。

判別手段５は、マイコンで構成されており、送光装置１
及びインジケータ６を駆動する。

インジケータ６はブザー及び赤色ランプで構成されてい
る。

以下、このたて編機の糸切れ検出装置の動作を第１図〜
第３図で説明する。

判別手段５は、送光装置１を制御して数１０に口Ｚの周
波数でパルス発光させる。送光装置］から発射された光
ビームしは第２図に示すように、おざ７と編針８との間
の編成空間９を、経糸配列方向に伸びている。おざ７に
よりカイトされた経糸１０はこの編成空間９において、
編針８により編成される。このジャカードラッセル機を
含む各種たて編機における編成動作は良く知られている
ので、その詳細説明は省略する。ただ、編針８の編成動
作によって編成空間９の経糸１０は所定の編成サイクル
周期で同一の運動軌跡を繰返す。経糸１０のこの運動軌
跡により編成空間９を貫通する光ビームしは上記編成サ
イクル周期を単位周期として変調される。変調された光
ビームしは受光装置２で光電変換され、受光装置２は変
調信号Ｓｎを同調増幅回路３ａに送る。“同調増幅回路
３ａは数１０ｋＨ２の同調周波数で変調信＠ｓｎを同調
増幅し、更に、約１０ｋＨｚ±１に日２の通過帯域をも
つ帯域フィルタ３ｂが同調増幅された変調信号Ｓｎから
不要な周波数成分を除去する。通過帯域をもつ帯域フィ
ルタ３ｂで抽出された変調信号Ｓｎの必要帯域成分は、
リミッタ３Ｃでその大きざを一定範囲内にされる。すな
わち、変調信号Ｓｎの必要帯域成分にはリップル取分や
ノイズ成分などが重畳されているので、過大なハイレベ
ル電圧値及び過少なローレベル電圧値はリミッタ３Ｃで
カットされる。リミッタ３Ｃは例えば信号線と接地線と
の間に接続された逆並列ダイオードで構成されている。

リミッタ３Ｃで重畳ノイズが除去された必要帯域成分は
検波回路３ｄで検波され、低域フィルタ３ｅで無用な高
域成分及びキャリア成分がカットされて、その有効低域
成分だけが変調信号Ｓｍとして抽出される。なおこの実
施例では、低域フィルタ３ｅの遮断周波数はＩＫ口Ｚ程
度に設定されている。

次に、変調信号Ｓｍは２値化手段３ｆに入力される。ま
ず、数十口２程度の通過帯域をもつ低域フィルタ３１が
、変調信号ｓｍから疑似直流成分（正確には、例えば数
十口２以下の非常な低域成分）を抽出する。この疑似直
流成分は糸質や編布幅の変更により不可避的に生じる極
低周波成分を含んでいる。なお、低域フィルタ３１の遮
断周波数を商用周波数以上とすれば照明器具のフリッカ
成分をコンパレータ３３で除去できるので有利である。

低域フィルタ３１から出力された疑似直流成分はレベル
シフタ３２により所定量だけレベルシフトされてしぎい
値電圧ｙｔｈに変換される。

レベルシフタ３２としては定電圧ダイオードやショット
キダイオードを用いた周知の回路構成か採用できる。な
お、ここでは、しぎい値電圧ｙｔｈがほぼ変調信＠Ｓｎ
の中間（直となるように、回路定数が設定されている。

、コンパレータ３３は、レベルシフタ３２から出力され
るしきい値電圧Ｖｔｈと変調信号Ｓｍとを比較して変調
信＠Ｓｍを２値化してパルス信号Ｓｐを生成する。パル
ス信号ＳＦ）は判別手段５に入力され、判別手段５はパ
ルス信号のデユーティ比の変化の程度により糸切れを判
別してインジケータ６を駆動制御する。

第１図の回路の各部電圧波形を第３図に示す。

なお、この実施例では、１編成サイクル因明Ｔｙにおい
て、変調信号Ｓｎは１個のピークだけを有している。

マイコンで構成された判別手段５の動作を第４図のフロ
ーチャートで説明する。

まず、５２００で初期設定し、フラグＦ、カウント変数
Ｎ、ＭをクリアしてＯとする。

次に、パルス信＠Ｓｐの立上がりエツジＥＬＪ（第２図
参照〉が入力されたかどうかを調べる（Ｓ２０２）。Ｅ
ｕが入力されなければそのまま待機し、Ｅｕが入力され
ればフラグＦか１かどうかを調べる（Ｓ２０４）。なお
、フラグＦは、パルス信号Ｓｐのデユーティ比が異常な
場合に立つフラグである。フラグＦが立っていればカウ
ント変数ＮをＮ＋１として８２０８に進み、フラグＦが
立っていなければ直接に３２０８に進む。なお、カウン
ト変数Ｎは、デユーティ比の異常を検出した後の入力パ
ルス総数をカウントするものである。

５２０８では、パルス信号Ｓｐのデユーティ比τを検出
する。デユーティ比τを計算するには、直前に入力され
たパルス信号Ｓｐのパルス幅Ａとパルス周期日（＝１編
成サイクル周明Ｔｙ）とを求め、次にデユーティ比τ＝
Ａ／Ｂを求めればよい。実際には、判別手段５に内蔵さ
れたタイマにより互いに隣接する立ち上がりエツジＥｕ
−Ｅｕ間の時間をカウントしてパルス周期Ｂ（第３図参
照〉を求め、次に、立ち上がりエツジＥｕとそれに続く
立ち下がりエツジＥｄとの間の時間をカウントしてパル
ス幅へ（第３図参照）を求め、デユーティ比τ＝Ａ／Ｂ
を計算する。なお、ルーチンがスタートして最初の１サ
イクルでは直前に入力されたパルスはないので、デユー
ティ比τはＯとなるがこれは後の処理で除外する。

次に、算出したデユーティ比τと、予めメモリされてい
る標準のデユーティ比τＯとの差の絶対値を求め、この
絶対値が所定値以上であるかどうかを調べる（Ｓ２１０
）。そして、この絶対値が所定値より小さければデユー
ティ比τは正常であるとして５２０２にリターンし、こ
の絶対値が所定値以上であればフラグＦを１とし、カウ
ント変数Ｍ＠Ｍ＋１として８２１６に進む。なおＭは５
２１０で判別したデユーティ比τの異常が発生した回数
を示す。

８２１６では、Ｎが６Ｊ′１．上かどうかを調べ、Ｎが
５以下であれば５２０２にリターンし、Ｎが６に達１′
ればＭが３以上かどうかを調べる（Ｓ２１８）。５２１
６及び５２１８により、デユーティ比τの異常が３２１
０で検出された以後に入力される６パルスの内、３パル
ス以上が異常なデユーティ比をもつかどうかが調べられ
る。なお、上記６パルスの内、１〜２パルスのデユーテ
ィ比の異常は、偶発的なエラーとしてこの実施例では無
視する。

５２１８にてＭが２Ｊ、４下であれば、Ｆ、Ｍ、Ｎを○
にクリアして５２０２にリターンし、Ｍが３以上であれ
ばインジケータ６を駆動して、作業者に糸切れを警告す
る。

以上説明したこの実施例は、以下の特長を有している。

（ａ）変調信＠Ｓｍから抽出された疑似直流成分に基づ
いてしきい値レベルｖｔｈを変化させているので、コン
パレータ３３は、経糸の変更、編布幅の変更、たて編機
の機種変更などにもかかわらず、判別精度が劣化するの
を防止し、Ｓ調整でも常に確実に経糸群の糸切れを検出
することができる。

（ｂ）デユーティ比の異常により糸切れを検出している
ので、検査精度が高くかつ回路構成が簡単である。

（Ｃ）デユーティ比の異常を検出した後に入力される６
パルス中、３パルス以上のデユーティ比が異常である場
合に、糸切れと判別しているので、突発的なデユーティ
比異常を除外することかでき、誤作動が少ない。

（実施例２） 本発明のたて編機の糸切れ検出装置他の実施例を第５図
に示す。

この経糸群の開口不良検出装置は、送光装置１と、受光
装置２と、受光装＠２から出力された変調信号Ｓｎの低
域成分を抽出する低域フィルタ３ｄと、抽出された低域
成分をＡ／Ｄ変換して変調信号Ｓｎ−を出力するＡ／Ｄ
コンバータ４と、変調信号３ｎ”を演紳して糸切れを判
別する判別手段（マイコン）５と、判別手段５により駆
動１ｔｉｌＪ御されるインジケータ６とからなり、実施
例１の回路構成を更にマイコン化したものである。

判別手段５の動作を第６図のフローチャートで説明する
。ただし、受光装置２は第３図の変調信号Ｓｎを出力す
るものとする。

まず、初期設定しく８１００）　、変調信号３ｎ′を読
込む（Ｓ１０２）。その後、周期的に割込みルーチン５
２００を実行し、変調信号３ｎ−を定期的に読込む。

次に、変調信＠Ｓｎ−がしきい値Ｔｈより大きいかどう
か（すなわち、パルスの立上がりエツジＥｕが入力され
たかどうかをを調べ（Ｓ１０４）、Ｓｎ−＞Ｔｈである
場合には、パルスが入力されたとして５１０６に進んで
マイコン内蔵のカウンタＡ、Ｂをスタートさせる（Ｓ１
０６）。しきい値Ｔｈは平均値Ｍ十しベルシフト値ΔＸ
であり、平均値Ｍは現時点から１秒前での期間に入力さ
れた変調信号３ｎ−の平均値（実施例１でいう疑似直流
成分〉である。ただし、運転初期にはその前の運転停止
直前の平均ｉｆｉＭｘを記憶しておいて平均値Ｍとして
使用する。更に、停電その他の理由により平均値Ｍｘが
所定範囲外の数値となる場合には、予め設定した所定の
平均値ＭＣを平均値Ｍとして用いる。

また、レベルシフト値ΔＸは予めマイコン８に記憶され
た所定値であり、カウンタＢはパルス周期Ｂ（第３図参
照）を計測するカウンタであり、カウンタＡはパルス幅
Ａ（第３図参照〉を口側するカウンタである。

次に、変調信号Ｓｎ−がしぎい値Ｔｈ以下かどうかくす
なわち、パルスの立下かりエツジＥｄが入力されたかど
うかをを調べ（Ｓ１０８）、以下であれば、カウンタＡ
のカウント（直を記憶した（焚、カウンタＡをクリアす
る（Ｓ１１０）。

次に、変調信号ＳＮ−が再びしきい値Ｔｈより大きいか
どうかを調べ（Ｓ１１２）、大きければ、再びパルスの
立上がりエツジＥｕが入力されたものとして、カウンタ
Ｂのカウント値を記憶した後、カウンタＢをクリアする
（Ｓ１１４）。

次に、デユーティ比τを計算する（Ｓ１１６）。

当然デユーティ比ＣはカウンタＡの記憶（直をカウンタ
Ｂの記憶値で割ったものである。

次に、予め判別手段５に記憶されている標準デユーティ
比τＯと計算したデユーティ比τとの差の絶対値が所定
値Ｒ以上かどうかを調べ（Ｓ１１８〉、以上であればデ
ユーティ比τは異常であるとして　糸切れ゛とみなして
インジケータ６を駆動する（３１２６＞。また、デユー
ティ比τが所定値Ｒより小ざければ゛糸切れなし　とし
て、新たな平均値Ｍを算出しくＳｌ　２０）　、新たな
しきい値Ｈｈ＝平均値Ｍ十レベルシフト値ΔＸを算出し
く５１２２）、更に発光装＠１に発光出力制御信号を出
力する。なお、この発光出力制御信号は、１時間の間に
入力された変調信号Ｓｎ′を平均してその逆数を求めた
ものであり、発光装置１はこの逆数に比例して発光する
。ただし、たて編機の運転を開始して最初の１時間は、
直前の運転期間の最後の１時間に求められた上記逆数に
比例して発光装置１は発光するものとし、更に、上記逆
数が所定範囲を逸脱する場合には予め設定した値が発光
出力制御信号Ｓ「として発光装置１に出力される。

その後、３１０６にリターンして再びルーチンを実行す
る。

このようにすれば、回路をほとんどマイコンで構成する
ことができる他、発光装置の発光出力を長時間の平均受
光量の逆数に比例させているので、変調信号Ｓｎ′の平
均値を常に一定に保持することかできる。

（実施例３） 本発明のたて８機の糸切れ検出装置の更に他の実施例を
説明する。

このたて編機の糸切れ検出装置は第１図に示す第１実施
例のたて編機の糸切れ検出装置と同一の回路構成をもも
、ただ、判別手段（マイコン）５の処理ルーチンだけが
異なっている。

この実施例のたて編機の糸切れ検出装置では、編針８及
びおざ７により受光ビーム「の光は変調されて、第８図
に示すように１編成サイクル中に３個のピークＰ１、Ｐ
２、Ｐ３をもっている。例えば、トリコット機などでは
、編針、あざ、シンカ、プレクサなどが複雑な運動軌跡
をもち、光ビームＬの位置設定次第では、経糸群の他に
編針、あざ、シンカ、プレクサなどで光ビームＬが遮断
される場合があり、その場合には光ビームＬは例えば第
８図に示すような複雑な波形に変調される。

マイコンで構成された判別手段５の動作を第４図のフロ
ーチャートで説明する。

まず、３３００で初期設定し内蔵のカウンタＣ１、Ｃ２
やカウント変数Ｎ、ＭをクリアしてＯとする。

次に、パルス信号Ｓｐの立上がりエツジＥｕが入力され
たかどうかを調べる（Ｓ３０２＞。立上がりエツジＥｕ
が入力されなければそのまま待機し、Ｅｕが入力されれ
ば、カウンタＣ１、Ｃ２をスタートして（Ｓ３０４）、
パルス信号Ｓｐの立下がりエツジＥｄが入力されたかど
うかを調べる（Ｓ３０６）。なお、カウンタＣ１は、パ
ルス信号Ｓｐのパルス幅Ｔａ、Ｔｃ、Ｔｅをカウントす
るカウンタであり、立上がりエツジＥｕから立下がりエ
ツジＥｄまでの間隔を計測する。また、カウンタＣ２は
、パルス信号Ｓｐのパルス同門Ｔｂ、Ｔｄ、Ｔｆをカウ
ントするカウンタであり、立上がりエツジＥｄから次の
立上がりエツジＥＩＪまでの間隔を計測する。

５３０６で立下がりエツジＥｄが入力されなければ立下
がりエツジＥｄが入力されるまで待機し、立下がりエツ
ジＥｄが入力されれば、カウンタＣ１を止めてそのカウ
ント値（パルス幅）を記憶し、そして、カウンタＣ１を
Ｏにリセットする。

次に、パルス信号Ｓｐの立上がりエツジＥｕが再び入力
されたかどうかを調べる（Ｓ３１０）。

立上がりエツジＥｕが入力されなければそのまま待機し
、パルス信号Ｓｐが入力されれば、カウンタＣ２をを止
めてそのカウント値（パルス周ｌ１ｌｌ）を記憶し、そ
して、カウンタＣ２をＯにリセットする（Ｓ３１２）。

次に、５３１４でカウント変数ＮをＮ＋１として８３１
６に進み、カウント変数Ｎが３になったかどうかを調べ
、Ｎが３でなければ５３０２にリタ一ンし、Ｎが３にな
ればＮをＯにクリアして（Ｓ３１８）、デユーティ比τ
１、τ２、τ３を計算する（３２０）。

なおここで、カウント変数Ｎは、入力されたパルス数か
３になったかどうかを調べるものである。

すなわち、この実施例では、第８図に示すように、１編
成サイクル明間Ｔｘに３つのパルスＰａ、Ｐｂ、ｐｃが
生成される。Ｎが３になったということは、３つのパル
スＰａ、Ｐｂ、Ｐｃが順次入力されて１編成サイクル期
間Ｔｘ＝パルス周期Ｂが終了したことを意味している。

当然、Ｎが３になった時点において、マイコン内蔵のレ
ジスタには、各パルスＰａ、Ｐｂ５ＰＣのパルス幅１’
−ａ、Ｈｂ、Ｔｃ及びパルス間隔Ｔｂ、Ｔｄ、Ｔｆが記
憶されている。なお、τ１＝Ｔａ／Ｔｂ、ｚ：２＝Ｔｃ
／Ｔｄ、τ３−Ｔｅ／Ｔｆである。

次に、予めメモリされているパルスｐａの標準のデユー
ティ比τ１ｎをデユーティ比τ１と比較し、予めメモリ
されているパルスｐｂの標ｉ（のデユーティ比τ２ｎを
デユーティ比τ２と比較し、予めメモリされているパル
スＰＣの標準のデユティ比τ３ｎをデユーティ比τ３と
比較する（Ｓ３２２）、なお、これらの比較は具体的に
は、各デユーティ比の差（τ１ｎ−τ１）、（τ２ｎτ
２）、（τ３ｎ−τ３）の差の絶対値か所定値より大き
いかどうかを調べることで実行される。

もし各デユーティ比τ１、τ２、τ３の一つでも正常な
デユーティ比τ１ｎ、τ２ｎ、τ３ｎから上記所定値以
上離れている場合には、デユーティ比の異常として５３
２４に進／νでカウント変数ＭをＮ＋１として（Ｓ３２
４）、３３２６に進む。

なお、Ｍはデユーティ比の異常が発生した回数を示す。

デユーティ比τ１、τ２、τ３の全てが標準のデユーテ
ィ比τ１ｎ、τ２ｎ、τ３ｎから上記所定値以上離れて
いない場合には、デユーティ比は正常として５３０２に
リターンする。

８３２６では、マイコン内蔵のタイマーが動作中かどう
かを調べる。なお、このタイマーは、５３２２でデユー
ティ比異常が検出された後の８３３０で作動するタイマ
ーであって、デユーティ比異常が検出された以後、一定
のデユーティ比異常検査期間をセットするものである。

この実施例では、このタイマーは３Ｔｘ　（＝３Ｂ＞に
設定されている。

５３２６でタイマーが動作中であれば５３０２にリター
ンし、タイマーが動作中でなければくすなわちタイマー
が米作動か終了の場合には）、Ｍが２以上かどうかを調
べる（３３２８）。カウント変１ａＭが２以上というこ
とは、デユーティ比異常が生じてからの連続する３編成
サイクル期間（３Ｔｘ＞中の２編成サイクル明間におい
て、デユーティ比異常が検出されたことになり、この場
合にはインジケータ６を駆動して作業者に警告して（３
３３２）ルーチンを終了する。一方、Ｍが１以下であれ
ば゛糸切れなし　として、上記したタイマーをスタート
してＭをＯにクリアして５３Ｏ２にリターンする。

上記説明した第３実施例によれば、たとえ変調信号Ｓｎ
が１編成サイクル中に複数のピーク（例えば、第８図の
Ｐｌ、Ｐ２、Ｐａ）をもら、それに応じて、パルス信号
Ｓｐが１編成サイクル中に各々デユーティ比の異なる複
数のパルス（例えば、第８図のＰａ、Ｐｂ、ＰＣ）を含
んでいたとしても、正常に糸切れを検出することができ
る。

また、仁の実施例では、デユーティ比の異常が検出され
た以後の連続する３編成サイクル明間中に２回以上のデ
ユーティ比異常が検出された場合にだけインジケータ６
を駆動するので、偶発的なトラブルでインジケータ６を
誤作動させることが少ない。

なお、第３図に示すＳｌはリミッタ３Ｃの下側リミット
レベル、Ｓ２はリミッタ３Ｃの上側リミットレベルを示
す。同様に、第８図に示すＳ３はリミッタ３Ｃの下側リ
ミットレベル、Ｓ４はリミッタ３Ｃの上側リミットレベ
ルを示す。

第３図に示すＳｌはリミッタ３Ｃの下側リミットレベル
、Ｓ２はリミッタ３Ｃの上側リミットレベルをボす。

また、上記各実施例ではデユーティ比の異常により糸切
れを検出しているが、回路処理の複雑化をａ慢すれば、
予め記憶された１編成サイクルの標準波形と、１編成サ
イクルの変調信号Ｓ　ｎの実際波形との相関の程度によ
り糸切れを検出することもできる。

他のたて編機における光ビームＬの位置を第９図、第１
０図、第１１図に示す。

［発明の効果］ 上記説明したように、本発明のたて編機の糸切れ検出装
置は、各おさと各編針との間の編成領域における光量変
化パタンの異常を識別して糸切れを検出しているので、
確実に糸切れを検出することができ、工業上多大な利益
がある。

すなわら、本発明では、切れた経糸断片による異常な光
変調波形や、切れた経糸が隣接する正常経糸に絡んで生
じる異常な光変調波形を検出しており、切れた一本の経
糸の有無を検出していないので、たとえ経糸太さが細か
ったり、切れた経糸が他の経糸にからんだりあざから離
脱したりしても、高精度に糸切れを検出することができ
る。

更に、本発明では、送光装置及び受光装置は１セツトあ
ればよく、保守及び設置における負担が少なく、故障率
も低い。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例を示すブロック図、第２図
は光ビームＬの位置を示す模式図、第３図は各部の信号
波形図、第４図は判別手段５の動作を示すフローチャー
ト、第５図は本発明の第２実施例を示すブロック図、第
６図は第２実施例のフローチャート、第７図は本発明の
第２実施例を示すブロック図、第８図は第７図のカクブ
の信号波形図、第９図、第１０図、第１１図は他のたて
編機における光ビームＬの位置を示す模式図である。 第１２図は従来の糸切れ検出装置の光ビームＬの位置を
示す模式図である。 １・・・送光装置 ２・・・受光装置 ３・・・波形変化検出手段（糸切れ検出手段）５・・・
判別手段（糸切れ検出手段） ６・・・インジケータ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）たて編機の各経糸の配列方向に沿つて光軸が設定
   されて光を送受する送光装置及び受光装置と、前記受光
   装置の光量変化により前記経糸の糸切れを検出する糸切
   れ検出手段とを備えるたて編機の糸切れ検出装置におい
   て、 前記送光装置及び受光装置の前記光軸は、各経糸をそれ
   ぞれガイドする各おさと該各おさの下方に配設され前記
   各経糸を編成する編針との間の編成領域に、設定されて
   いることを特徴とするたて編機の糸切れ検出装置。
2. （２）前記糸切れ検出手段は、前記編成領域において繰
   返される前記経糸の周期運動パタンの変化を抽出する波
   形変化検出手段と、前記周期運動パタンの変化の程度に
   より糸切れを判別する判別手段とを具備する特許請求の
   範囲第１項記載のたて編機の糸切れ検出装置。
3. （３）前記波形変化検出手段は、前記受光装置から出力
   される変調信号を二値化回路を備え、前記判別手段は、
   該二値化回路のデューティ比の異常変動により糸切れを
   検出するものである特許請求の範囲第２項記載のたて編
   機の糸切れ装置。
4. （４）前記二値化回路は、前記変調信号の疑似直流成分
   に基づいて形成されるしきい値によつて、前記変調信号
   を二値化するものである。
5. （５）前記二値化回路は、一編成サイクル期間に互いに
   異なるデューティ比をもつ一連のパルスを出力し、前記
   判別手段は、前記各パルスをそれぞれ異なる標準デュー
   ティ比と個別に比較して、デューティ比の異常変動を判
   別するものである特許請求の範囲第３項記載のたて編機
   の糸切れ検出装置。