JPH0333824B2 - - Google Patents
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- JPH0333824B2 JPH0333824B2 JP61287430A JP28743086A JPH0333824B2 JP H0333824 B2 JPH0333824 B2 JP H0333824B2 JP 61287430 A JP61287430 A JP 61287430A JP 28743086 A JP28743086 A JP 28743086A JP H0333824 B2 JPH0333824 B2 JP H0333824B2
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- JP
- Japan
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- signal
- group
- circuit
- light
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Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、織機における経糸群の異常検出装置
に関し、詳しくは、経糸切断等による経糸群のか
らみ等を検出し得るものである。
に関し、詳しくは、経糸切断等による経糸群のか
らみ等を検出し得るものである。
又、本発明によれば、不良開口と、経糸切断に
よるからみ開口との判別を正確に行なうことが可
能である。
よるからみ開口との判別を正確に行なうことが可
能である。
［従来の技術］
従来、織機の経糸群の経糸切断検出装置が提供
されている。かかる装置においては、経糸切断
を、例えば経糸一本毎にドロツパーピン（おも
り）を付けることにより検出し、あるいは、櫛等
を経糸中で回転させて切断糸を引き出すことによ
り検出する。又、光センサを用いて、垂れ下がり
の糸を検出するものや、経糸群の開口中に合わせ
てタイミングを取り、開口時においてのみ、糸の
切断の有無を検出するものも提供されている。
されている。かかる装置においては、経糸切断
を、例えば経糸一本毎にドロツパーピン（おも
り）を付けることにより検出し、あるいは、櫛等
を経糸中で回転させて切断糸を引き出すことによ
り検出する。又、光センサを用いて、垂れ下がり
の糸を検出するものや、経糸群の開口中に合わせ
てタイミングを取り、開口時においてのみ、糸の
切断の有無を検出するものも提供されている。
［発明が解決しようとする問題点］
しかし、上記従来の経糸群の異常検出装置を、
エアジエツトルーム、ウオータージヨツトルー
ム、レピアルーム等近来の高速、商品質化した織
機に用いると、検出部配置のために、織キズ等が
発生しやすく、又、不良開口と経糸切断によるか
らみ開口との判別が困難で、からみやすい糸では
特に検出ミスが生じていた。又、特にドロツパー
ピンを用いるものについては、一万本余りの糸に
一本毎にピンを差さなければならず、手間やコス
ト的にも不都合を生じていた。
エアジエツトルーム、ウオータージヨツトルー
ム、レピアルーム等近来の高速、商品質化した織
機に用いると、検出部配置のために、織キズ等が
発生しやすく、又、不良開口と経糸切断によるか
らみ開口との判別が困難で、からみやすい糸では
特に検出ミスが生じていた。又、特にドロツパー
ピンを用いるものについては、一万本余りの糸に
一本毎にピンを差さなければならず、手間やコス
ト的にも不都合を生じていた。
本発明は、上記事情に鑑みて案出されたもので
あり、上記織キズ等を発生させず、簡易かつ正確
に経糸切断等による経糸群のからみ等を検出しう
る装置を提供するものである。
あり、上記織キズ等を発生させず、簡易かつ正確
に経糸切断等による経糸群のからみ等を検出しう
る装置を提供するものである。
［問題点を解決するための技術的手段］
本発明にかかる経糸群の異常検出装置は、所定
周期で開閉する織機の経糸群により変調される通
過光を送受する発光素子及び光電変換素子と、 前記光電変換素子からの信号を処理して、前記
経糸群を通過する光量の変化より、該経糸群の異
常を検出する信号処理手段と、 を有する経糸群の異常検出装置であつて 前記信号処理手段は、前記光電変換された検出
信号を、所定のレベルを基準として２値化する２
値化手段を有するとともに、前記２値化信号のデ
ユーテイ比が正常開口時の基準デユーテイ比より
所定値以上異なる場合に経糸群の開口不良として
判別するものであることを特徴とする。
周期で開閉する織機の経糸群により変調される通
過光を送受する発光素子及び光電変換素子と、 前記光電変換素子からの信号を処理して、前記
経糸群を通過する光量の変化より、該経糸群の異
常を検出する信号処理手段と、 を有する経糸群の異常検出装置であつて 前記信号処理手段は、前記光電変換された検出
信号を、所定のレベルを基準として２値化する２
値化手段を有するとともに、前記２値化信号のデ
ユーテイ比が正常開口時の基準デユーテイ比より
所定値以上異なる場合に経糸群の開口不良として
判別するものであることを特徴とする。
以下、構成要件を説明する。
発光素子としては、発光ダイオード、レーザー
ダイオード等を用いることができ、外光等外乱の
影響を少なくするためには、所定周波数でパルス
発光させるとよい。光電変換素子としては、従来
と同様にフオトダイオード、フオトトランジス
タ、太陽電池、CdS等を用いることができる。信
号処理手段は、ハード回路で構成することもでき
るが、一部をマイクロコンピユータを用いてソフ
ト的に構成してもよい。
ダイオード等を用いることができ、外光等外乱の
影響を少なくするためには、所定周波数でパルス
発光させるとよい。光電変換素子としては、従来
と同様にフオトダイオード、フオトトランジス
タ、太陽電池、CdS等を用いることができる。信
号処理手段は、ハード回路で構成することもでき
るが、一部をマイクロコンピユータを用いてソフ
ト的に構成してもよい。
［実施例］
以下、図を参照しつつ、本発明の具体的な一実
施例例を説明する。
施例例を説明する。
第１図〜第３図は、経糸群の開口状態及び発光
素子と受光素子（光電変換素子）の配置を示す説
明図である。
素子と受光素子（光電変換素子）の配置を示す説
明図である。
第１図は、経糸群が正常開口した状態を示し、
経糸群を挟んだ全開時の開口の略中心で発光素子
５及び受光素子６が相対向するよう各々配設され
ている。第２図は、経糸群が不良開口した状態を
示し、経糸群のからみは、発生していない。尚、
かかる不良開口はジヤガード織りの際、一般に持
続的ではないものの、しばしば発生する。第３図
は経糸切断により経糸群のからみが発生した状態
を示し、異常の検出が必要とされる場合である。
尚、該からみは持続する。
経糸群を挟んだ全開時の開口の略中心で発光素子
５及び受光素子６が相対向するよう各々配設され
ている。第２図は、経糸群が不良開口した状態を
示し、経糸群のからみは、発生していない。尚、
かかる不良開口はジヤガード織りの際、一般に持
続的ではないものの、しばしば発生する。第３図
は経糸切断により経糸群のからみが発生した状態
を示し、異常の検出が必要とされる場合である。
尚、該からみは持続する。
第４図は、本実施例に係る経糸群のからみ異常
検出装置を示すブロツク図である。又、第５図
は、上記ブロツク図における信号（Ｓ１，Ｓ２，
Ｓ３）の波形変化を示す説明図であり、第６図
は、上記ブロツク図により示された本実施例装置
の回路構成図である。第４図図示のように本実施
例に係る経糸群のからみ検出装置は、定電圧電源
回路１と、発光素子をパルス発光させるための発
振回路３と、発光ダイオード及び光学レンズから
成る発光素子５と、フオトダイオード及び光学レ
ンズから成る受光素子６と、受光素子６から出力
される電圧信号のうち信号成分をとり出す、高域
フイルタ（ハイパスフイルタ）兼リミツタ回路８
及び増幅検波回路１０と、増幅検波回路１０から
の出力信号を振幅の略1/2に対応するレベルをし
きい値として、２値信号として出力する比較回路
１２と、比較回路１２の出力信号を処理すること
により経糸群のからみを検知して、警報器等への
制御出力として出力する制御出力回路１４と、該
出力回路１４の出力があつたことを表示する表示
回路１６と、を有する。
検出装置を示すブロツク図である。又、第５図
は、上記ブロツク図における信号（Ｓ１，Ｓ２，
Ｓ３）の波形変化を示す説明図であり、第６図
は、上記ブロツク図により示された本実施例装置
の回路構成図である。第４図図示のように本実施
例に係る経糸群のからみ検出装置は、定電圧電源
回路１と、発光素子をパルス発光させるための発
振回路３と、発光ダイオード及び光学レンズから
成る発光素子５と、フオトダイオード及び光学レ
ンズから成る受光素子６と、受光素子６から出力
される電圧信号のうち信号成分をとり出す、高域
フイルタ（ハイパスフイルタ）兼リミツタ回路８
及び増幅検波回路１０と、増幅検波回路１０から
の出力信号を振幅の略1/2に対応するレベルをし
きい値として、２値信号として出力する比較回路
１２と、比較回路１２の出力信号を処理すること
により経糸群のからみを検知して、警報器等への
制御出力として出力する制御出力回路１４と、該
出力回路１４の出力があつたことを表示する表示
回路１６と、を有する。
上記実施例装置において、定電圧回路１及び発
振回路３には公知の回路を用い、発振回路３の発
振周波数は、略10KHzである。又、発光素子及び
受光素子を構成する光学レンズは、両素子が送受
する光ビーム径を10〜25φとするためのものであ
る。
振回路３には公知の回路を用い、発振回路３の発
振周波数は、略10KHzである。又、発光素子及び
受光素子を構成する光学レンズは、両素子が送受
する光ビーム径を10〜25φとするためのものであ
る。
高域フイルタ兼リミツタ回路８及び検波回路１
０は受光素子の出力信号から直流及び低周波分を
カツトするとともに、外乱光等に起因するリツプ
ル及び電気ノイズ更にはキヤリヤ成分をカツトし
て信号成分を増幅する。本実施例では上記高域フ
イルタには公知のCR回路（ハイパスフイルタ）
を用い、又、リミツタ回路には逆並列ダイオード
からなる公知の回路を用いた。又増幅検波回路に
おいても公知のトランジスタ回路を用いた。
０は受光素子の出力信号から直流及び低周波分を
カツトするとともに、外乱光等に起因するリツプ
ル及び電気ノイズ更にはキヤリヤ成分をカツトし
て信号成分を増幅する。本実施例では上記高域フ
イルタには公知のCR回路（ハイパスフイルタ）
を用い、又、リミツタ回路には逆並列ダイオード
からなる公知の回路を用いた。又増幅検波回路に
おいても公知のトランジスタ回路を用いた。
尚、本実施例においては、上記増幅検波回路の
信号出力を発振回路３にフイードバツクして、発
光素子５の駆動電圧を調整し外光の強弱等の外乱
を低減している。
信号出力を発振回路３にフイードバツクして、発
光素子５の駆動電圧を調整し外光の強弱等の外乱
を低減している。
第５図に示すように受光素子６の出力信号Ｓ１
のマクロ的な波形は、正常時においては、経糸群
の開閉に対応した波形を示すが、経糸群のからみ
が発生すると、該カラミにより、発光器からの光
ビームが遮蔽された分、開口時の出力レベルが全
体的に低下する。
のマクロ的な波形は、正常時においては、経糸群
の開閉に対応した波形を示すが、経糸群のからみ
が発生すると、該カラミにより、発光器からの光
ビームが遮蔽された分、開口時の出力レベルが全
体的に低下する。
第５図に模式的に示す信号S2は、第６図にトラ
ンジスタ検波回路として図示する上記増幅検波回
路１０の出力信号の波形を示す。第５図S2に示す
ように増幅検波回路１０の出力波形は、リツプル
あるいはノイズ更にはキヤリヤ成分等がカツトさ
れているため、比較回路１２における２値信号化
が確実、かつ安定する。
ンジスタ検波回路として図示する上記増幅検波回
路１０の出力信号の波形を示す。第５図S2に示す
ように増幅検波回路１０の出力波形は、リツプル
あるいはノイズ更にはキヤリヤ成分等がカツトさ
れているため、比較回路１２における２値信号化
が確実、かつ安定する。
比較回路１２は上述のように増幅検波回路１０
の出力信号を所定の基準レベルで２値化するもの
であり、公知のコンパレータ（演算増幅器）を用
いたシユミツト回路により構成される。本実施例
においては、前記S2の振幅の1/2に対応するレベ
ルを基準レベルとして２値化し、第５図S3に示す
ような出力波形として出力する。尚、本実施例で
は該２値化された信号から、織機の運転の有無を
も検出する構成としている。
の出力信号を所定の基準レベルで２値化するもの
であり、公知のコンパレータ（演算増幅器）を用
いたシユミツト回路により構成される。本実施例
においては、前記S2の振幅の1/2に対応するレベ
ルを基準レベルとして２値化し、第５図S3に示す
ような出力波形として出力する。尚、本実施例で
は該２値化された信号から、織機の運転の有無を
も検出する構成としている。
制御出力回路１４は、上記コンパレータ等によ
り２値化された信号のくり返し周期（Ｔ）におけ
るハイレベル時間（パルス幅τ）とローレベル時
間（Ｔ−τ）との差の基準値（前記ハイレベル時
間とローレベル時間との差の基準値：第１基準
値）からのずれを積分する積分回路と、もつれ等
経糸群の異常がない場合の前記基準値の積分値に
対応する基準値（第２基準値）を設定する基準信
号部と、前記積分回路の出力値と基準信号部の第
２基準値とを比較し、比較の結果、積分回路の出
力値が基準信号部の第２基準値を越える場合に所
定の制御信号を出力する比較部とを有する。即
ち、第３図に示す経糸からみ時間は持続的であ
り、従つて光量の低下も持続的であるが、不良開
口は持続的でなく、光量の低下も瞬時的であるこ
とを考慮して、２値化された出力信号のくり返し
周期Ｔにおけるハイレベル時間（τ）とローレベ
ル時間（Ｔ−τ）の時間差の第１基準値からのず
れを積分した上で第２基準値と比較する構成とし
ている。これにより、不良開口時は異常として検
出されないが、からみ時は検出されることとる。
該出力回路１４は、オペアンプ、コンパレータ等
のアナログ演算素子あるいはデジタルコンピユー
タを用いて構成することができ、本実施例におい
ては第６図にも示すように、アナログ演算素子に
より前記経糸群のからみ時と不良開口時を判別し
うるよう時定数などを調整して構成している。
り２値化された信号のくり返し周期（Ｔ）におけ
るハイレベル時間（パルス幅τ）とローレベル時
間（Ｔ−τ）との差の基準値（前記ハイレベル時
間とローレベル時間との差の基準値：第１基準
値）からのずれを積分する積分回路と、もつれ等
経糸群の異常がない場合の前記基準値の積分値に
対応する基準値（第２基準値）を設定する基準信
号部と、前記積分回路の出力値と基準信号部の第
２基準値とを比較し、比較の結果、積分回路の出
力値が基準信号部の第２基準値を越える場合に所
定の制御信号を出力する比較部とを有する。即
ち、第３図に示す経糸からみ時間は持続的であ
り、従つて光量の低下も持続的であるが、不良開
口は持続的でなく、光量の低下も瞬時的であるこ
とを考慮して、２値化された出力信号のくり返し
周期Ｔにおけるハイレベル時間（τ）とローレベ
ル時間（Ｔ−τ）の時間差の第１基準値からのず
れを積分した上で第２基準値と比較する構成とし
ている。これにより、不良開口時は異常として検
出されないが、からみ時は検出されることとる。
該出力回路１４は、オペアンプ、コンパレータ等
のアナログ演算素子あるいはデジタルコンピユー
タを用いて構成することができ、本実施例におい
ては第６図にも示すように、アナログ演算素子に
より前記経糸群のからみ時と不良開口時を判別し
うるよう時定数などを調整して構成している。
又、表示回路６は、上記制御出力回路１４から
の制御信号に応じて、警告表示用のLED等を点
灯するものである。
の制御信号に応じて、警告表示用のLED等を点
灯するものである。
上記実施例装置においては、経糸群の開口状態
に対応する信号（Ｓ１）を信号処理して２値信号
化し、該信号の繰り返し周期Ｔにおける｛（Ｔ−
τ）−τ｝の第１基準値からのずれの積分値が第
２基準値をこえるか否かにより、正常状態、異常
状態を判別している。このため、従来困難であつ
た不良開口（正常状態）と経糸のからみ（異常状
態）を誤動作なく判別しうる。又、本実施例装置
は、回路構成及び取付設定及び調整が簡易であ
り、且つ織機の回転速度にも無関係である。又、
光電効果を利用しているため、織キズ等を発生さ
せることなくウオータールーム、エアルーム、レ
ピアルーム、スルーザールーム、シヤツトルルー
ム等あらゆる織機に設置できる。
に対応する信号（Ｓ１）を信号処理して２値信号
化し、該信号の繰り返し周期Ｔにおける｛（Ｔ−
τ）−τ｝の第１基準値からのずれの積分値が第
２基準値をこえるか否かにより、正常状態、異常
状態を判別している。このため、従来困難であつ
た不良開口（正常状態）と経糸のからみ（異常状
態）を誤動作なく判別しうる。又、本実施例装置
は、回路構成及び取付設定及び調整が簡易であ
り、且つ織機の回転速度にも無関係である。又、
光電効果を利用しているため、織キズ等を発生さ
せることなくウオータールーム、エアルーム、レ
ピアルーム、スルーザールーム、シヤツトルルー
ム等あらゆる織機に設置できる。
尚、実験及び実装テストによれば、ジヤカード
織りで80rpm以下の回転ルームでもエアジエツト
ルームのように700rpm以上の回転の織機でも、
又、受光素子、発光素子に水滴が飛来するウオー
タージエツトルームでも、さらに、５デニールと
いう極細糸や２〜3φの毛布のような太糸の糸使
いでも、確実に糸切断が検出できた。又、静電
気、電気スパイクノイズ、雰囲気温度変化、塵
埃、風綿水滴等にも影響されず、経糸群の異常を
検出し得た。
織りで80rpm以下の回転ルームでもエアジエツト
ルームのように700rpm以上の回転の織機でも、
又、受光素子、発光素子に水滴が飛来するウオー
タージエツトルームでも、さらに、５デニールと
いう極細糸や２〜3φの毛布のような太糸の糸使
いでも、確実に糸切断が検出できた。又、静電
気、電気スパイクノイズ、雰囲気温度変化、塵
埃、風綿水滴等にも影響されず、経糸群の異常を
検出し得た。
（他の実施例への言及）
上記実施例において、制御出力回路１４はハー
ド回路により構成したが、デジタルコンピユータ
を用いて公知のソフト回路により構成してもよ
い。例えば２値化された信号S3の繰り返し周期
（Ｔ）の時間、即ち、パルスの立ち上りから、次
のパルスの立ち上りまでにおける時間をクロツク
パルスn1の数をカウントする事により計測し、同
様に該周期内のパルスの立ち上りから立ち下がり
まで（パルス幅τ）のクロツクの数n2をカウント
し、n2／n1を求めてデユーテイ比を算出し、該算出 値が所定時間内に所定回数基準値以下のとき、異
常信号を出力してもよい。又、上記（n1−n2）の
差の加算値が所定時間内に所定値以上になつたと
き異常信号を出力することもできる。
ド回路により構成したが、デジタルコンピユータ
を用いて公知のソフト回路により構成してもよ
い。例えば２値化された信号S3の繰り返し周期
（Ｔ）の時間、即ち、パルスの立ち上りから、次
のパルスの立ち上りまでにおける時間をクロツク
パルスn1の数をカウントする事により計測し、同
様に該周期内のパルスの立ち上りから立ち下がり
まで（パルス幅τ）のクロツクの数n2をカウント
し、n2／n1を求めてデユーテイ比を算出し、該算出 値が所定時間内に所定回数基準値以下のとき、異
常信号を出力してもよい。又、上記（n1−n2）の
差の加算値が所定時間内に所定値以上になつたと
き異常信号を出力することもできる。
なお、上記説明において、パルス周期は織機の
回転数に規定されてほぼ一定であるので、上記デ
ユーテイ比＝（パルス幅／パルス周期）は実質的
にパルス幅と同義である。更に、パルス周期＝
（バルス周期−パルス幅）とパルス幅とは波形を
逆転すれば逆になるので、パルス幅の変化から通
過光量の変化を求めることはパルス間隔の変化か
らそれを求めることと同義である。
回転数に規定されてほぼ一定であるので、上記デ
ユーテイ比＝（パルス幅／パルス周期）は実質的
にパルス幅と同義である。更に、パルス周期＝
（バルス周期−パルス幅）とパルス幅とは波形を
逆転すれば逆になるので、パルス幅の変化から通
過光量の変化を求めることはパルス間隔の変化か
らそれを求めることと同義である。
［発明の効果］
以上、述べたように本発明によれば、近時の高
速、高精度の織機において、又、あらゆる織物に
ついても、織キズ等を発生させることなく、簡易
かつ正確に経糸切断等による経糸群のからみ等
の、経糸群の異常を検出することができる。
速、高精度の織機において、又、あらゆる織物に
ついても、織キズ等を発生させることなく、簡易
かつ正確に経糸切断等による経糸群のからみ等
の、経糸群の異常を検出することができる。
第１図〜第３図は、経糸群の開口状態及び発光
素子と受光素子の配置を示す説明図であり、第１
図は、経糸群が正常開口した状態を示し、第２図
は経糸群が不良開口した状態を示し、第３図は、
経糸群のからみが発生した状態を示す。第４図
は、本実施例の経糸群のからみ検出装置のブロツ
ク図である。第５図は、信号Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の
波形変化を示す説明図である。第６図は本実施例
装置の回路構成図である。
素子と受光素子の配置を示す説明図であり、第１
図は、経糸群が正常開口した状態を示し、第２図
は経糸群が不良開口した状態を示し、第３図は、
経糸群のからみが発生した状態を示す。第４図
は、本実施例の経糸群のからみ検出装置のブロツ
ク図である。第５図は、信号Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３の
波形変化を示す説明図である。第６図は本実施例
装置の回路構成図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 所定周期で開閉する織機の経糸群により変調
される通過光を送受する発光素子及び光電変換素
子と、 前記光電変換素子からの信号を処理して、前記
経糸群を通過する光量の変化により、該経糸群の
異状を検知する信号処理手段と、 を有する経糸群の異常検出装置であつて、 前記信号処理手段は、 前記光電変換された検出信号を所定のレベルを
基準として２値化する２値化手段を有するととも
に、前記２値化信号のデユーデイ比が正常開口時
の基準デユーテイ比より所定値以上異なる場合に
経糸群の開口不良として判別するものであること
を特徴とする経糸群の異常検出装置。 ２ 前記特許請求の範囲第１項において、 前記信号処理手段は、前記デユーテイ比の基準
デユーテイ比からのずれを積分し、積分値が所定
値を超えた場合に異状を検知する異常検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28743086A JPS63145452A (ja) | 1986-12-02 | 1986-12-02 | 経糸群の異常検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28743086A JPS63145452A (ja) | 1986-12-02 | 1986-12-02 | 経糸群の異常検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63145452A JPS63145452A (ja) | 1988-06-17 |
| JPH0333824B2 true JPH0333824B2 (ja) | 1991-05-20 |
Family
ID=17717219
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28743086A Granted JPS63145452A (ja) | 1986-12-02 | 1986-12-02 | 経糸群の異常検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63145452A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5738705A (en) * | 1980-07-10 | 1982-03-03 | Yashima Chem Ind Co Ltd | Herbicide for rice paddy |
-
1986
- 1986-12-02 JP JP28743086A patent/JPS63145452A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63145452A (ja) | 1988-06-17 |
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