JPH0346806B2 - - Google Patents

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JPH0346806B2
JPH0346806B2 JP16985184A JP16985184A JPH0346806B2 JP H0346806 B2 JPH0346806 B2 JP H0346806B2 JP 16985184 A JP16985184 A JP 16985184A JP 16985184 A JP16985184 A JP 16985184A JP H0346806 B2 JPH0346806 B2 JP H0346806B2
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JP
Japan
Prior art keywords
optical waveguide
electrode
electric field
waveguide body
substrate
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP16985184A
Other languages
English (en)
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JPS6147928A (ja
Inventor
Akira Miura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
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Publication of JPS6147928A publication Critical patent/JPS6147928A/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光電圧センサに関するものであり、
詳しくは、光導波路体を通過する光を測定電界で
強度変調するように構成された光電圧センサにお
ける測定電界を印加するための電極の改良に関す
るものである。
〔従来の技術〕
ニオブ酸リチウム(LiNbO3)のような電気光
学材料よりなる基板にチタン(Ti)などの金属
不純物を熱拡散することにより基板よりも屈折率
の高い光導波路体が形成され、電気光学効果の効
率の極めて高い光導波路体が得られる。このよう
な光導波路に電界を加えると、光導波路を通過す
る光は電気光学効果により強度変調される。
このような光導波路体の一種に、第3図に示す
ような分岐干渉形光導波路体がある。
第3図において、10は基板、20は光導波
路、30は電極、40は信号源である。
基板10は電気光学効果を有するニオブ酸リチ
ウム(LiNbO3)のような電気光学材料で構成さ
れたものであり、X、Z軸が水平面となりY軸が
垂直面となるようにカツトされている。光導波路
20は基板10にチタン(Ti)のような金属不
純物を熱拡散することにより線状に形成され基板
10よりも高い屈折率を有するものであり、Y字
形の分岐部21、互いに平行な位相推移部22及
びY字形の結合部23が連続的に一体化されてい
る。電極30は光導波路20を通過する光を強度
変調するために光導波路20に電界を印加するも
のであり、位相推移部22を挟むようにして第1
の電極31及び第2の電極32が基板10上に設
けられている。これら電極は、例えば金とクロム
を所定のパターンに積層することにより形成され
ている。信号源40は電界を供給するものであ
り、第1の電極31と第2の電極32との間に接
続されている。なお、光導波路20のY字形の分
岐部21の端部にはレーザダイオードなどの光源
からの光を伝送するための光フアイバーが接続さ
れ、Y字形の結合部23の端部には強度変調され
た光をフオトトランジスタなどの受光素子に伝送
するための光フアイバーが接続されるが図示しな
い。
このような構成において、光導波路20のY字
形の分岐部21の端に光源からの光が加えらる
と、光は分岐部21で2分割されて位相推移部2
2に伝送される。位相推移部22では2分割され
た光の間に電極30を介して加えられる信号源4
0の出力の大きさに応じた位相差が与えられる。
そして、位相差を有するこれら光は結合部23で
再び結合される。これにより、結合部23の端部
から強度変調された光が送出されることになる。
ここで、位相推移部22にλ/4の位相差を与え
て強度変調された光を受光素子に加えることによ
り電極30を介して加えられる信号源40の出力
の大きさに応じた電気信号を得ることができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、従来のこのような装置における光導
波路20および電極30に着目すると、第4図の
拡大断面図に示すように、光導波路20は基板1
0の表面近傍に披着されて電極30は基板10の
表面に披着されていることから、光導波路体20
を通過する光を強度変調するように作用する測定
電界の効率が低くなつて電圧測定感度が低くなる
という欠点がある。
本発明は、このような従来の欠点を解決したも
のであり、その目的は、光導波路体を用いた光電
圧センサにおいて、光導波路体を通過する光を強
度変調するように作用する測定電界の効率を高め
て電圧測定感度を高くすることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
このような目的を達成する本発明は、電気光学
材料よりなる基板に光導波路体とこの光導波路体
に測定電界を印加する電極が形成され、前記光導
波路体を通過する光を測定電界で強度変調するよ
うに構成された光電圧センサにおいて、前記電極
として、金とクロムが所定のパターンに積層形成
された後酸素雰囲気下で熱処理されたものを用い
ることを特徴とする。
〔実施例〕
以下、図面を用いて詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例の要部を示す拡大断
面図であり、第4図と同等部分には同一符号を付
けている。第1図において、50は電極反応層で
あり、公知の技術により基板10の表面上に金と
クロムとを所定のパターンで積層して電極30を
形成した後所定の熱処理を施すことにより基板1
0の表面近傍に形成されるものである。なお、熱
処理にあたつては、酸素雰囲気において400〜420
℃で約1時間加熱を行うようにする。
このように構成することにより、電極反応層5
0は電極30の一部として機能することになり、
等価的に第2図に示すようなリブ形あるいはリツ
ジ形の光導波路体の電極構造になる。実験によれ
ば、従来の電極構造ではX軸方向の半波長電圧は
28〜34VでZ軸方向の半波長電圧は6〜8Vであ
つたものが、本発明の電極構造ではX軸方向の半
波長電圧は24〜28VでZ軸方向の半波長電圧は3
〜4Vとなり、顕著な改善効果が認められた。ま
た、熱処理による電極反応層50の形成の有無
は、熱処理前後における電極30パターンのエツ
チング除去後の基板10の結晶表面比較により明
らかに識別できた。
なお、基板としては、タンタル酸リチウム
(LiTaO0)で構成されたものを用いてもよい。
〔発明の効果〕
これらから明らかなように、本発明によれば、
光導波路体を用いた光電圧センサにおいて、光導
波路体を通過する光を強度変調するように作用す
る測定電界の効率を高めて電圧測定感度を高くす
ることができ、特性の優れた光電圧センサが実現
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部を示す拡大断
面図、第2図はリブ形あるいはリツジ形の光導波
路体の電極構造説明図、第3図は光電圧センサの
一例を示す構成説明図、第4図は従来の光電圧セ
ンサの要部を示す拡大断面図である。 10……基板、20……光導波路、30……電
極、40……信号源、50……電極反応層。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 電気光学材料よりなる基板に光導波路体とこ
    の光導波路体に測定電界を印加する電極が形成さ
    れ、前記光導波路体を通過する光を測定電界で強
    度変調するように構成された光電圧センサにおい
    て、前記電極として、金とクロムが所定のパター
    ンに積層形成された後酸素雰囲気下で熱処理され
    たものを用いることを特徴とする光電圧センサ。
JP16985184A 1984-08-14 1984-08-14 光電圧センサ Granted JPS6147928A (ja)

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JP16985184A JPS6147928A (ja) 1984-08-14 1984-08-14 光電圧センサ

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JP16985184A JPS6147928A (ja) 1984-08-14 1984-08-14 光電圧センサ

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JPS6147928A JPS6147928A (ja) 1986-03-08
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JPH04507299A (ja) * 1989-02-01 1992-12-17 ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ リーランド スタンフォード ジュニア ユニバーシティ 非線形光発振器と半導体の強誘電分極領域の制御方法

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JPS6147928A (ja) 1986-03-08

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