JPH0348512Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0348512Y2 JPH0348512Y2 JP1985018003U JP1800385U JPH0348512Y2 JP H0348512 Y2 JPH0348512 Y2 JP H0348512Y2 JP 1985018003 U JP1985018003 U JP 1985018003U JP 1800385 U JP1800385 U JP 1800385U JP H0348512 Y2 JPH0348512 Y2 JP H0348512Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- tested
- photoelectric converter
- measured value
- refractive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(考案の技術分野)
本考案は、自動的に被検レンズの屈折特性を測
定する装置に関するものである。
定する装置に関するものである。
(考案の背景)
光学レンズには、入射光の波長によつて屈折率
が異なる分散と呼ばれる特性がある。更に光学レ
ンズには色々な分散を持つたものがあり、これら
の屈折特性の測定値を比較するには、ある一定の
波長での屈折特性について論じなければならな
い。
が異なる分散と呼ばれる特性がある。更に光学レ
ンズには色々な分散を持つたものがあり、これら
の屈折特性の測定値を比較するには、ある一定の
波長での屈折特性について論じなければならな
い。
ここで、被検レンズを眼鏡レンズに限れば、従
来のマニユアル・レンズメータの光源の波長(緑
色)での屈折特性を測定するようにすれば、合理
的である。しかし、例えば特開昭59−27237号公
報に開示されているように、屈折特性を自動的に
測定する装置では、緑色の波長あたりで充分な感
度を有する適当な受光素子や緑色の光を発する適
当な測定光源がないこと等の理由から、比較的長
波長の測定光源を用いている。従つて被検レンズ
の分散によつて、測定値に数%程度の誤差を生じ
ていた。
来のマニユアル・レンズメータの光源の波長(緑
色)での屈折特性を測定するようにすれば、合理
的である。しかし、例えば特開昭59−27237号公
報に開示されているように、屈折特性を自動的に
測定する装置では、緑色の波長あたりで充分な感
度を有する適当な受光素子や緑色の光を発する適
当な測定光源がないこと等の理由から、比較的長
波長の測定光源を用いている。従つて被検レンズ
の分散によつて、測定値に数%程度の誤差を生じ
ていた。
(考案の目的)
本考案はこれらの欠点を解決し、測定値から被
検レンズの分散による影響を取り除くことを目的
とする。
検レンズの分散による影響を取り除くことを目的
とする。
(考案の概要)
本考案は、入力手段から被検レンズのアツベ数
等分散情報を入力し、その値によつて測定値を補
正することを技術的要点としている。
等分散情報を入力し、その値によつて測定値を補
正することを技術的要点としている。
(実施例)
第1図は本考案の一実施例のブロツク図であつ
て、周知の屈折特性測定装置1から得られる被検
レンズの屈折特性の情報と、分散情報入力装置2
から得られる被検レンズのアツベ数の情報は、
/0インターフエース3、CPU4を通つてメモ
リ5に取り込まれる。CPU4はメモリ5から得ら
れるアツベ数の情報によつて屈折特性の情報を補
正し、表示器6に表示せしめる。
て、周知の屈折特性測定装置1から得られる被検
レンズの屈折特性の情報と、分散情報入力装置2
から得られる被検レンズのアツベ数の情報は、
/0インターフエース3、CPU4を通つてメモ
リ5に取り込まれる。CPU4はメモリ5から得ら
れるアツベ数の情報によつて屈折特性の情報を補
正し、表示器6に表示せしめる。
薄レンズの場合、レンズの表面と裏面の曲率半
径をr1,r2、任意の測定波長ωでの屈折力をψ〓、
測定波長ωでの屈折率をn〓とすれば、 ψ〓=(n〓−1)(1/r1−1/r2) …(1) なる関係が成立する(但し、薄レンズであるから
厚さはほぼ零とする)。
径をr1,r2、任意の測定波長ωでの屈折力をψ〓、
測定波長ωでの屈折率をn〓とすれば、 ψ〓=(n〓−1)(1/r1−1/r2) …(1) なる関係が成立する(但し、薄レンズであるから
厚さはほぼ零とする)。
式(1)はd線での屈折力をψdとすれば、
ψ〓=n〓−1/nd−1ψd
ψd/(1+nd−n〓/nd−1 …(2)
と変形できる。
一方、被検レンズとして眼鏡レンズを用いた場
合を考えると、部分分散比PD(≡nd−n〓/nF−nC、但
し、 nFはF線での屈折率、nCはC線での屈折率)とア
ツベ数νdとの間にほぼ比例関係の成立している硝
子が主なので、a,bを定数として PD=aνd+b と書ける。従つて、 nd−n〓/nF−nC=aνd+b よつて、 nd−n〓=(aνd+b)(nF−nC) …(3) となる。
合を考えると、部分分散比PD(≡nd−n〓/nF−nC、但
し、 nFはF線での屈折率、nCはC線での屈折率)とア
ツベ数νdとの間にほぼ比例関係の成立している硝
子が主なので、a,bを定数として PD=aνd+b と書ける。従つて、 nd−n〓/nF−nC=aνd+b よつて、 nd−n〓=(aνd+b)(nF−nC) …(3) となる。
ここで、式(1)に式(3)を代入し、かつ分散νdが
νd=(nd−1)/(nF−nC)
であることを考慮すると、
ψd=(1+a+b/νd)ψ〓 …式(4)
となる。
そして、測定波長ωにおける屈切力ψ〓は、屈
折特性測定装置1から得られる被検レンズの屈折
特性の情報と一対一の関係にあるから、また係数
a,bはあらかじめ定まつた値であるから、被検
レンズのアツベ数の情報νdを入力されることによ
つて、CPU4は、被検レンズの屈折特性の情報
(測定値)と被検レンズの真の屈折力ψdとの対応
をとることができる。すなわち補正が行なわれ
る。CPU4は式(4)に基づいた演算を行なつても良
いし、あらかじめメモリ5内部に記憶されていた
対応表に基づいて、補正した真の屈折力ψdを求
めるようにしてもよい。
折特性測定装置1から得られる被検レンズの屈折
特性の情報と一対一の関係にあるから、また係数
a,bはあらかじめ定まつた値であるから、被検
レンズのアツベ数の情報νdを入力されることによ
つて、CPU4は、被検レンズの屈折特性の情報
(測定値)と被検レンズの真の屈折力ψdとの対応
をとることができる。すなわち補正が行なわれ
る。CPU4は式(4)に基づいた演算を行なつても良
いし、あらかじめメモリ5内部に記憶されていた
対応表に基づいて、補正した真の屈折力ψdを求
めるようにしてもよい。
第1図の如き構成の自動レンズメータの外観図
は第2図のようなものである。すなわち、第2図
において、本体20の一部には、被検レンズのア
ツベ数を入力するための数値入力器21が設けら
れている。この数値入力器21は第1図の分散情
報入力装置2の一部を構成するもので、テンキー
のようなものに置き替えても良い。レンズ載置台
22に配設された不図示の被検レンズに光源部2
3からの測定光が透過し、測定レンズ24に入射
した後、光電変換され、この光電変換信号に基づ
いて測定値が求められる。つまり、この測定値
は、屈折特性測定装置1から得られる被検レンズ
の屈折特性の情報に対応する。そして補正された
値に基づいて表示窓25に被検レンズの屈折特性
として、球面度数、乱視度数、乱視軸が表示され
る。
は第2図のようなものである。すなわち、第2図
において、本体20の一部には、被検レンズのア
ツベ数を入力するための数値入力器21が設けら
れている。この数値入力器21は第1図の分散情
報入力装置2の一部を構成するもので、テンキー
のようなものに置き替えても良い。レンズ載置台
22に配設された不図示の被検レンズに光源部2
3からの測定光が透過し、測定レンズ24に入射
した後、光電変換され、この光電変換信号に基づ
いて測定値が求められる。つまり、この測定値
は、屈折特性測定装置1から得られる被検レンズ
の屈折特性の情報に対応する。そして補正された
値に基づいて表示窓25に被検レンズの屈折特性
として、球面度数、乱視度数、乱視軸が表示され
る。
なお、第3図に測定光学系の原理を示し、第4
図には第3図の動作を説明するために光電変換器
とスリツト像との関係を示す。
図には第3図の動作を説明するために光電変換器
とスリツト像との関係を示す。
第3図において光源30より発した光はコリメ
ーターレンズ32によつて平行光束となり、被検
レンズLに入射し、その屈折特性に応じて屈折さ
れる。被検レンズLの近傍には、光軸30に対し
て対称かつ互に平行(x方向)な2本のスリツト
状開口部33a,33bを光軸外に有するマスク
33が配置されており、マスク33から光軸上所
定の距離だけ離れて、光軸に垂直かつほぼ対称に
して前記スリツト33a,33bに垂直(y方
向)に光電変換器としての1次元検出アレイ(以
下単にフオトアレイと称す)34が配置されてい
る。
ーターレンズ32によつて平行光束となり、被検
レンズLに入射し、その屈折特性に応じて屈折さ
れる。被検レンズLの近傍には、光軸30に対し
て対称かつ互に平行(x方向)な2本のスリツト
状開口部33a,33bを光軸外に有するマスク
33が配置されており、マスク33から光軸上所
定の距離だけ離れて、光軸に垂直かつほぼ対称に
して前記スリツト33a,33bに垂直(y方
向)に光電変換器としての1次元検出アレイ(以
下単にフオトアレイと称す)34が配置されてい
る。
マスク33を通つた光はフオトアレイ34に到
達し、2本のスリツトに対応して2本の縞33
a′,33b′を形成する。フオトアレイ34と縞3
3a′,33b′との位置関係は、被検レンズに乱視
とプリズムがない場合には第4図Aのようにな
る。この場合フオトアレイと光軸との交点を座標
原点にとり、フオトアレイ34の方向をy軸にと
り、2本の縞33a′,33b′がフオトアレイを切
る点の位置を夫々y1,y2とすると、この場合はy1
=−y2となり、縞の間隔y1−y2が被検レンズのy
方向での球面度数が対応する。また乱視がなく、
プリズムがある場合は例えば第4図Bのようにな
り、2本の縞33a′,33b′の中心の原点からの
ずれPがプリズム度数に対応し、ずれのy軸成分
(y1+y2)/2がプリズム度数のy軸方向の成分
に対応する。さらに、乱視とプリズム両方があ
り、乱視軸もy軸(測定経線方向)と一致しない
ような一般的な場合は第4図Cのようになる。2
本の縞33a′,33b′の間隔y1−y2はレンズ度数
のy軸方向の成分に対応し、縞の中心位置(y1+
y2)/2はプリズム度数のy軸方向の成分に対応
する。そこで、マスク33とフオトアレイ34と
を一体として光軸を中心に、被検レンズに対して
相対的に回転させれば、各経線方向のレンズ度数
とプリズム度数を測定する事ができる。そして、
レンズ度数が最大と最小のとき、2本の主経線方
向のレンズ度数が得られ、このときの回転角位置
より乱視軸方向が得られる。また、プリズム度数
が最大のときの値が、被検レンズのプリズム度数
となり、このときの回転角位置よりプリズム基底
方向が得られる。
達し、2本のスリツトに対応して2本の縞33
a′,33b′を形成する。フオトアレイ34と縞3
3a′,33b′との位置関係は、被検レンズに乱視
とプリズムがない場合には第4図Aのようにな
る。この場合フオトアレイと光軸との交点を座標
原点にとり、フオトアレイ34の方向をy軸にと
り、2本の縞33a′,33b′がフオトアレイを切
る点の位置を夫々y1,y2とすると、この場合はy1
=−y2となり、縞の間隔y1−y2が被検レンズのy
方向での球面度数が対応する。また乱視がなく、
プリズムがある場合は例えば第4図Bのようにな
り、2本の縞33a′,33b′の中心の原点からの
ずれPがプリズム度数に対応し、ずれのy軸成分
(y1+y2)/2がプリズム度数のy軸方向の成分
に対応する。さらに、乱視とプリズム両方があ
り、乱視軸もy軸(測定経線方向)と一致しない
ような一般的な場合は第4図Cのようになる。2
本の縞33a′,33b′の間隔y1−y2はレンズ度数
のy軸方向の成分に対応し、縞の中心位置(y1+
y2)/2はプリズム度数のy軸方向の成分に対応
する。そこで、マスク33とフオトアレイ34と
を一体として光軸を中心に、被検レンズに対して
相対的に回転させれば、各経線方向のレンズ度数
とプリズム度数を測定する事ができる。そして、
レンズ度数が最大と最小のとき、2本の主経線方
向のレンズ度数が得られ、このときの回転角位置
より乱視軸方向が得られる。また、プリズム度数
が最大のときの値が、被検レンズのプリズム度数
となり、このときの回転角位置よりプリズム基底
方向が得られる。
(考案の効果)
以上述べた如く本考案によれば、被検レンズの
アツベ数等分散情報を入力し、その値によつて測
定値を補正するようにしたので、測定波長にかか
わらず、被検レンズの真の屈折特性を得ることが
できる。特に本考案は、厳しい測定精度が要求さ
れるレンズ製造工場に導入すれば有効である。
アツベ数等分散情報を入力し、その値によつて測
定値を補正するようにしたので、測定波長にかか
わらず、被検レンズの真の屈折特性を得ることが
できる。特に本考案は、厳しい測定精度が要求さ
れるレンズ製造工場に導入すれば有効である。
第1図は本考案の一実施例を示すブロツク図、
第2図は本考案の一実施例の外観を示す斜視図、
第3図は本考案に用いられる測定光学系の原理を
説明するための斜視図、第4図a,b,cは第3
図の動作を説明するための光電変換器とスリツト
像との関係を示す図、である。 主要部分の符号の説明、1……屈折特性測定装
置、2……分散情報入力装置、4……CPU、6
……表示器。
第2図は本考案の一実施例の外観を示す斜視図、
第3図は本考案に用いられる測定光学系の原理を
説明するための斜視図、第4図a,b,cは第3
図の動作を説明するための光電変換器とスリツト
像との関係を示す図、である。 主要部分の符号の説明、1……屈折特性測定装
置、2……分散情報入力装置、4……CPU、6
……表示器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 測定光源からの光を被検レンズを介して受光す
る光電変換器を設け、該光電変換器の光電変換信
号に基ずいて前記被検レンズの屈折特性に応じた
測定値を求めるレンズ屈折特性自動測定装置にお
いて、 前記被検レンズのアツベ数νdの情報を入力す
る分散情報入力手段と、該分散情報入力手段から
のアツベ数νdの情報と前記測定値φwとを入力
し、前記測定値を前記被検レンズのレンズ設計時
に用いる波長での屈折特性φdに補正する補正装
置と、該補正装置により補正された屈折特性を表
示せしめる表示装置と、を有し、前記補正装置は
次式 φd=(1+a+b/νd)φw (a、bは定数) によつて補正することを特徴とする屈折特性自動
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985018003U JPH0348512Y2 (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985018003U JPH0348512Y2 (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61135243U JPS61135243U (ja) | 1986-08-23 |
| JPH0348512Y2 true JPH0348512Y2 (ja) | 1991-10-16 |
Family
ID=30506232
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985018003U Expired JPH0348512Y2 (ja) | 1985-02-12 | 1985-02-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0348512Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5288048A (en) * | 1976-01-17 | 1977-07-22 | Tsubosaka Hirobumi | Device for inspecting focus point of camera lens |
-
1985
- 1985-02-12 JP JP1985018003U patent/JPH0348512Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61135243U (ja) | 1986-08-23 |
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