JPH034941Y2 - - Google Patents
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- JPH034941Y2 JPH034941Y2 JP9963383U JP9963383U JPH034941Y2 JP H034941 Y2 JPH034941 Y2 JP H034941Y2 JP 9963383 U JP9963383 U JP 9963383U JP 9963383 U JP9963383 U JP 9963383U JP H034941 Y2 JPH034941 Y2 JP H034941Y2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 77
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 12
- 230000006837 decompression Effects 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(a) 考案の技術分野
本考案は１台の試験機によつて特定多種のプリ
ント板の特性試験を行うための試験用治具に関す
るものである。
ント板の特性試験を行うための試験用治具に関す
るものである。
(b) 技術の背景
最近のプリント板は多品種少量化の傾向が著し
く、専用の試験設備を設置することは投資効率面
で問題があり、また段取替えによるオペレータの
時間損失も大きい。このため簡単な切換操作で特
定多種のプリント板の特性試験を行うことができ
る試験用治具の開発が強く要望されている。
く、専用の試験設備を設置することは投資効率面
で問題があり、また段取替えによるオペレータの
時間損失も大きい。このため簡単な切換操作で特
定多種のプリント板の特性試験を行うことができ
る試験用治具の開発が強く要望されている。
(c) 従来技術と問題点
第１図は従来のプリント板試験治具を説明する
ための図であり、同図において１は試験槽、２は
被試験プリント板、３は被試験プリント板に実装
された部品のリード、４は試験用コンタクトピ
ン、６および６′はガイドピン、７は気密パツド、
８は気密シート、９は可動板、１０は復元ばね、
１１は導線、１２はテスター部をそれぞれ示して
いる。
ための図であり、同図において１は試験槽、２は
被試験プリント板、３は被試験プリント板に実装
された部品のリード、４は試験用コンタクトピ
ン、６および６′はガイドピン、７は気密パツド、
８は気密シート、９は可動板、１０は復元ばね、
１１は導線、１２はテスター部をそれぞれ示して
いる。
第１図に示す如く試験槽１内の空気を矢印Ａ方
向に排気して減圧すると、被試験プリント板２は
ガイドピン６に沿つて矢印Ｂ方向に吸引され、該
被試験プリント板２に実装された部品のリード３
は前記試験槽１に付設されたコンタクトピン４に
接触する。これによつて前記被試験プリント板２
に実装された部品とテスター部１２との回路が前
記コンタクトピン４、導線１１を介して接続さ
れ、該テスター部１２によつて該被試験プリント
板２の回路の良否が判定される。なお可動板９は
前記被試験プリント板２が矢印Ｂ方向に吸引され
たとき該被試験プリント板２を支えて歪の発生を
防止しそれに実装された部品のリード３と前記コ
ンタクトピン４の接触を安定させるために設置し
たものであり、また復元ばね１０は試験が終了し
た前記被試験プリント板２をすみやかに試験前の
位置へ復帰させるために設けたものである。
向に排気して減圧すると、被試験プリント板２は
ガイドピン６に沿つて矢印Ｂ方向に吸引され、該
被試験プリント板２に実装された部品のリード３
は前記試験槽１に付設されたコンタクトピン４に
接触する。これによつて前記被試験プリント板２
に実装された部品とテスター部１２との回路が前
記コンタクトピン４、導線１１を介して接続さ
れ、該テスター部１２によつて該被試験プリント
板２の回路の良否が判定される。なお可動板９は
前記被試験プリント板２が矢印Ｂ方向に吸引され
たとき該被試験プリント板２を支えて歪の発生を
防止しそれに実装された部品のリード３と前記コ
ンタクトピン４の接触を安定させるために設置し
たものであり、また復元ばね１０は試験が終了し
た前記被試験プリント板２をすみやかに試験前の
位置へ復帰させるために設けたものである。
しかしながら、従来の試験治具によればその構
造から見て明らかなように種類の異なるプリント
板についてそれぞれ専用の試験治具を必要とする
うえ、段取替えのためのオペレータの損失時間は
非常に大きいものであつた。
造から見て明らかなように種類の異なるプリント
板についてそれぞれ専用の試験治具を必要とする
うえ、段取替えのためのオペレータの損失時間は
非常に大きいものであつた。
(d) 考案の目的
本考案は上記従来の欠点に鑑み、簡単な構造と
操作で特定多種類のプリント板の特性試験を効率
よく行い得る試験用治具を提供することを目的と
するものである。
操作で特定多種類のプリント板の特性試験を効率
よく行い得る試験用治具を提供することを目的と
するものである。
(e) 考案の構成
そしてこの目的は本考案によれば減圧槽内に複
数の試験用コンタクトピンを設け、その減圧動作
により被試験プリント板の電気回路導体を該試験
用コンタクトピンに吸着接触させて当該被試験プ
リント板の特性を試験する治具構成において、前
記試験用コンタクトピン群に着脱自在であつて被
試験プリント板個々の電気回路導体に対応する試
験コンタクトピンのみを挿通し得る孔を有する選
択マスクと、被試験プリント板がセツトされる前
記減圧槽か、またはそれとは別個の減圧槽内にお
いて植立されかつ前記試験用コンタクトピンと電
気的接続された複数の入力ピンと、同じく減圧槽
内において植立されかつ特性試験用のテスター部
と電気的接続された複数の出力ピンを、前記減圧
槽に着脱自在な基板構成を有し、その基板表面に
前記被試験プリント板の電気回路導体と同一配列
パターンの前記入力ピンと接触し得る入力接点お
よび該入力接点に電気的に接続されていて前記各
出力ピンと接触し得る複数の出力接点とを形成し
た個別ボードを付設したことを特徴とするプリン
ト板試験治具を提供することによつて達成され
る。
数の試験用コンタクトピンを設け、その減圧動作
により被試験プリント板の電気回路導体を該試験
用コンタクトピンに吸着接触させて当該被試験プ
リント板の特性を試験する治具構成において、前
記試験用コンタクトピン群に着脱自在であつて被
試験プリント板個々の電気回路導体に対応する試
験コンタクトピンのみを挿通し得る孔を有する選
択マスクと、被試験プリント板がセツトされる前
記減圧槽か、またはそれとは別個の減圧槽内にお
いて植立されかつ前記試験用コンタクトピンと電
気的接続された複数の入力ピンと、同じく減圧槽
内において植立されかつ特性試験用のテスター部
と電気的接続された複数の出力ピンを、前記減圧
槽に着脱自在な基板構成を有し、その基板表面に
前記被試験プリント板の電気回路導体と同一配列
パターンの前記入力ピンと接触し得る入力接点お
よび該入力接点に電気的に接続されていて前記各
出力ピンと接触し得る複数の出力接点とを形成し
た個別ボードを付設したことを特徴とするプリン
ト板試験治具を提供することによつて達成され
る。
(f) 考案の実施例
以下本考案実施例を図面によつて詳述する。
第２図は本考案によるプリント板試験治具の１
例構造を示す図であり、同図において第１図と同
等の部分については同一符号を付しており、また
１２は連絡用導線、１９は切換部可動板、２０は
選択マスク、２１は入力接点、２２は入力ピン、
２３は個別ボード用ガイドピン、２４は案内板、
２５は気密パッド、２６は接続切換槽、２７は個
別ボード、２８は回路結線用導線、２９は出力接
点、３０は出力ピン、１２０は個別ボード２７お
よび案内板２４等から構成された接続切換部、１
２１は仕切板をそれぞれ示している。
例構造を示す図であり、同図において第１図と同
等の部分については同一符号を付しており、また
１２は連絡用導線、１９は切換部可動板、２０は
選択マスク、２１は入力接点、２２は入力ピン、
２３は個別ボード用ガイドピン、２４は案内板、
２５は気密パッド、２６は接続切換槽、２７は個
別ボード、２８は回路結線用導線、２９は出力接
点、３０は出力ピン、１２０は個別ボード２７お
よび案内板２４等から構成された接続切換部、１
２１は仕切板をそれぞれ示している。
第２図に示す如く試験槽１と接続切換槽２６と
は同一基板上に仕切板１２１により区切られて一
体的に設けられている。そして試験槽１では各種
の被試験プリント板が試験できるように、コンタ
クトピン４の配列数を増加するとともにそれら各
ピンに対応するガイド孔を持つ可動板９が使用さ
れ、また被試験プリント板個々に応じたコンタク
トピン選択用の選択マスク２０が着脱自在に設け
られている。一方、接続切換槽２６には、前記試
験槽１の各コンタクトピン４より導出した連絡用
導線１２と接続された入力ピン２２と、テスター
部１２より導出した各導線１１と接続された出力
ピン３０と、これら入力ピン群２２および出力ピ
ン群３０をそれぞれ挿通してガイドする可動板１
９および案内板２４と、被試験プリント板個々に
応じて異なる配線パターンを構成すべくその基板
表面の所定位置に該被試験プリント板の電気回路
導体と同一配列パターンの入力接点２１および出
力接点２９を形成した個別ボード２７とが設けら
れている。なお、入力接点群２１と出力接点群２
９は前記入力ピン群２２および出力ピン群３０と
それぞれ選択的にコンタクトし、かつコンタクト
した入力ピンと出力ピンとは回路結線用導線２８
により当該個別ボード２７上で接続されるように
なつている。
は同一基板上に仕切板１２１により区切られて一
体的に設けられている。そして試験槽１では各種
の被試験プリント板が試験できるように、コンタ
クトピン４の配列数を増加するとともにそれら各
ピンに対応するガイド孔を持つ可動板９が使用さ
れ、また被試験プリント板個々に応じたコンタク
トピン選択用の選択マスク２０が着脱自在に設け
られている。一方、接続切換槽２６には、前記試
験槽１の各コンタクトピン４より導出した連絡用
導線１２と接続された入力ピン２２と、テスター
部１２より導出した各導線１１と接続された出力
ピン３０と、これら入力ピン群２２および出力ピ
ン群３０をそれぞれ挿通してガイドする可動板１
９および案内板２４と、被試験プリント板個々に
応じて異なる配線パターンを構成すべくその基板
表面の所定位置に該被試験プリント板の電気回路
導体と同一配列パターンの入力接点２１および出
力接点２９を形成した個別ボード２７とが設けら
れている。なお、入力接点群２１と出力接点群２
９は前記入力ピン群２２および出力ピン群３０と
それぞれ選択的にコンタクトし、かつコンタクト
した入力ピンと出力ピンとは回路結線用導線２８
により当該個別ボード２７上で接続されるように
なつている。
さて次に上記構成の試験治具の試験操作例につ
いて説明する。まず被試験プリント板２に応じた
選択マスク２０と個別ボード２７を試験槽１と接
続切換槽２６に取付け、次いで当該被試験プリン
ト板２を試験槽１に取付ける。この後、試験槽１
内の空気を矢印Ａ方向に排気して減圧する。これ
により被試験プリント板２はガイドピン６に沿つ
て矢印Ｂ方向に吸引され、該被試験プリント板２
に実装された部品のリード３が選択マスク２０か
ら露出している当該被試験プリント板２を試験す
るために必要なコンタクトピン４と接触し、結果
として連絡用導線１２を介して入力ピン２２に到
る回路が構成される。これに引続いて接続切換槽
２６内の空気を矢印Ｃ方向に排気して減圧する
と、個別ボード２７はガイドピン２３に沿つて矢
印Ｄ方向に吸引されて該個別ボード２７上に設け
られた前記入力接点２１、ならびに前記出力接点
２９が接続切換部１２０の接続切換槽２６に配設
されている入力ピン２２ならびに出力ピン３０に
接触する。この結果、被試験プリント板２の回路
部品−試験槽１のコンタクトピン４−連絡用導線
１２−接続切換槽２６の入力ピン２２−個別ボー
ド２７−出力ピン３０−導線１１を介して前記テ
スター部１２に到る回路が構成され、該テスター
部１２によつて前記被試験プリント板２の良否が
判定されることになる。この場合、接続切換部１
２０は仕切板１２１によつて独立しているので、
同種類の被試験プリント板２の試験中は接続切換
槽２６内を常時減圧しておけば個別ボード２７に
設けた入力接点２１ならびに出力接点２９と接続
切換槽２６の入力ピン２２ならびに出力ピン３０
との接触状態を常に安定に保つことができる。な
お案内板２４、切換部可動板１９ならびに復元ば
ね１０の説明は前第１図可動板９、復元ばね１０
と同等のため省略する。
いて説明する。まず被試験プリント板２に応じた
選択マスク２０と個別ボード２７を試験槽１と接
続切換槽２６に取付け、次いで当該被試験プリン
ト板２を試験槽１に取付ける。この後、試験槽１
内の空気を矢印Ａ方向に排気して減圧する。これ
により被試験プリント板２はガイドピン６に沿つ
て矢印Ｂ方向に吸引され、該被試験プリント板２
に実装された部品のリード３が選択マスク２０か
ら露出している当該被試験プリント板２を試験す
るために必要なコンタクトピン４と接触し、結果
として連絡用導線１２を介して入力ピン２２に到
る回路が構成される。これに引続いて接続切換槽
２６内の空気を矢印Ｃ方向に排気して減圧する
と、個別ボード２７はガイドピン２３に沿つて矢
印Ｄ方向に吸引されて該個別ボード２７上に設け
られた前記入力接点２１、ならびに前記出力接点
２９が接続切換部１２０の接続切換槽２６に配設
されている入力ピン２２ならびに出力ピン３０に
接触する。この結果、被試験プリント板２の回路
部品−試験槽１のコンタクトピン４−連絡用導線
１２−接続切換槽２６の入力ピン２２−個別ボー
ド２７−出力ピン３０−導線１１を介して前記テ
スター部１２に到る回路が構成され、該テスター
部１２によつて前記被試験プリント板２の良否が
判定されることになる。この場合、接続切換部１
２０は仕切板１２１によつて独立しているので、
同種類の被試験プリント板２の試験中は接続切換
槽２６内を常時減圧しておけば個別ボード２７に
設けた入力接点２１ならびに出力接点２９と接続
切換槽２６の入力ピン２２ならびに出力ピン３０
との接触状態を常に安定に保つことができる。な
お案内板２４、切換部可動板１９ならびに復元ば
ね１０の説明は前第１図可動板９、復元ばね１０
と同等のため省略する。
第３図は本考案によるプリント板試験治具の一
部分の変形例を説明するための図であり、この変
形例では選択マスク２０に中間ピン４０を、コン
タクトピン４にばね４１をそれぞれ付設すること
によつて被試験プリント板２に実装された部品の
リード３と接触しないコンタクトピン４′が第２
図に示した如く前記選択マスク２０によつて押圧
されることなく自然な状態を保つようにして損傷
を防止している。また前記選択マスク２０にかか
る荷重も軽減している。本考案はこのようにプリ
ント板の種類に応じて選択マスク２０ならびに個
別ボード２７を交換することによつて特定多種の
プリント板を試験することができる。なお、上記
試験槽１と接続切換槽２６の減圧槽は仕切板によ
る個別構造に限らず、相互に連通する構造であつ
ても良い。この場合、被試験プリント板と個別ボ
ードとは同時に吸引されることになるのはいうま
でもない。
部分の変形例を説明するための図であり、この変
形例では選択マスク２０に中間ピン４０を、コン
タクトピン４にばね４１をそれぞれ付設すること
によつて被試験プリント板２に実装された部品の
リード３と接触しないコンタクトピン４′が第２
図に示した如く前記選択マスク２０によつて押圧
されることなく自然な状態を保つようにして損傷
を防止している。また前記選択マスク２０にかか
る荷重も軽減している。本考案はこのようにプリ
ント板の種類に応じて選択マスク２０ならびに個
別ボード２７を交換することによつて特定多種の
プリント板を試験することができる。なお、上記
試験槽１と接続切換槽２６の減圧槽は仕切板によ
る個別構造に限らず、相互に連通する構造であつ
ても良い。この場合、被試験プリント板と個別ボ
ードとは同時に吸引されることになるのはいうま
でもない。
(g) 考案の効果
以上詳細に説明したように本考案のプリント板
試験治具は、試験槽の若干の改造と接続切換部の
追設だけの簡易構成でかつ簡単な操作によつて１
台の試験機で容易に特定多種のプリント板試験を
的確かつ効率的に行い得るといつた効果大なるも
のである。
試験治具は、試験槽の若干の改造と接続切換部の
追設だけの簡易構成でかつ簡単な操作によつて１
台の試験機で容易に特定多種のプリント板試験を
的確かつ効率的に行い得るといつた効果大なるも
のである。
第１図は従来のプリント板試験治具を説明する
ための図、第２図は本考案の一実施例によるプリ
ント板試験治具の構造を示す図、第３図は第２図
示のプリント板試験治具の一部分変形例を説明す
るための図である。 図面において１は試験槽、２は被試験プリント
板、３は被試験プリント板に実装された部品のリ
ード、４はコンタクトピン、６および６′はガイ
ドピン、１０は復元ばね、１２はテスター部、２
０は選択マスク、２３は個別ボード用ガイドピ
ン、２４は案内板、２６は接続切換槽、２７は個
別ボード、１２０は接続切換部、４０は中間ピン
をそれぞれ示す。
ための図、第２図は本考案の一実施例によるプリ
ント板試験治具の構造を示す図、第３図は第２図
示のプリント板試験治具の一部分変形例を説明す
るための図である。 図面において１は試験槽、２は被試験プリント
板、３は被試験プリント板に実装された部品のリ
ード、４はコンタクトピン、６および６′はガイ
ドピン、１０は復元ばね、１２はテスター部、２
０は選択マスク、２３は個別ボード用ガイドピ
ン、２４は案内板、２６は接続切換槽、２７は個
別ボード、１２０は接続切換部、４０は中間ピン
をそれぞれ示す。
Claims (1)
- 減圧槽内に複数の試験用コンタクトピンを設
け、その減圧動作により被試験プリント板の電気
回路導体を該試験用コンタクトピンに吸着接触さ
せて当該被試験プリント板の特性を試験する治具
構成において、前記試験用コンタクトピン群に着
脱自在であつて被試験プリント板個々の電気回路
導体に対応する試験コンタクトピンのみを挿通し
得る孔を有する選択マスクと、被試験プリント板
がセツトされる前記減圧槽かまたはそれとは別個
の減圧槽内において植立されかつ前記試験用コン
タクトピンと電気的接続された複数の入力ピン
と、同じく減圧槽内において植立されかつ特性試
験用のテスター部と電気的接続された複数の出力
ピンと、前記減圧槽に着脱自在な基板構成を有
し、その基板表面に前記被試験プリント板の電気
回路導体と同一配列パターンの前記入力ピンと接
触し得る入力接点および該入力接点に電気的に接
続されていて前記各出力ピンと接触し得る複数の
出力接点とを形成した個別ボードを付設したこと
を特徴とするプリント板試験治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9963383U JPS607079U (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | プリント板試験治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9963383U JPS607079U (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | プリント板試験治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS607079U JPS607079U (ja) | 1985-01-18 |
| JPH034941Y2 true JPH034941Y2 (ja) | 1991-02-07 |
Family
ID=30236033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9963383U Granted JPS607079U (ja) | 1983-06-27 | 1983-06-27 | プリント板試験治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS607079U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120112648A (ko) * | 2010-08-17 | 2012-10-11 | 가부시키가이샤 아드반테스트 | 접속 장치, 그것을 구비한 반도체 웨이퍼 시험 장치 및 접속 방법 |
-
1983
- 1983-06-27 JP JP9963383U patent/JPS607079U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS607079U (ja) | 1985-01-18 |
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