JPH0425663Y2 - - Google Patents

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JPH0425663Y2
JPH0425663Y2 JP567384U JP567384U JPH0425663Y2 JP H0425663 Y2 JPH0425663 Y2 JP H0425663Y2 JP 567384 U JP567384 U JP 567384U JP 567384 U JP567384 U JP 567384U JP H0425663 Y2 JPH0425663 Y2 JP H0425663Y2
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JP567384U
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Description

【考案の詳細な説明】 (a) 考案の技術分野 本考案は1台の試験器によつて不特定多種類の
プリント板の特性試験を行なうための試験治具に
関する。
(b) 技術の背景 最近のプリント板は多品種少量化の傾向が著し
く、専用の試験設備を設置することは投資効率面
で問題があり、また段取替えによるオペレータの
時間損失も大きい。このため簡単な切換操作で多
種類のプリント板の特性試験を行なうことができ
長寿命で高性能のプリント板試験治具の開発が強
く要望されている。
(c) 従来技術と問題点 第1図は従来のプリント板試験治具を説明する
ための図である。
同図に示す如く従来のプリント板試験治具はプ
リント板試験部100と、試験部100から入力
される試験情報を回路別に整理して後述のテスタ
部50に送出する接続切替部120と、入力され
た試験情報を分析してデータ化するテスタ部50
とで構成されている。そして試験部100と、接
続切替部120とは仕切板121で区分されたそ
れぞれ独立の減圧槽すなわち試験部減圧槽1およ
び切替部減圧槽26に収められていて、その減圧
動作により試験部100においては被試験プリン
ト板2が吸着されて各測定ポイントが対応する試
験ピン4に接触し、接続切替部120においては
個別ボード27が吸着されて該ボード27に植設
された導電ピン21が対応する入出力コンタクト
ピン22に接触する構造になつている。
以下プリント板試験治具による試験手順を具体
的に説明する。
第1図に示す如く試験部減圧槽1内の空気を矢
印A方向に排気して減圧すると、被試験プリント
板2はガイドピン6に沿つて矢印B方向に吸引さ
れ、該プリント板2に実装された部品のリード3
は前記減圧槽1に付設された試験ピン4に接触す
る。これによつて前記被試験プリント板2の品質
情報が入力線12を介して切替部減圧槽26に付
設された入出力コンタクトピン22に入力され
る。ここで切替部減圧槽26内の空気を矢印C方
向に排気して減圧すると、個別ボード27はガイ
ドピン23に沿つて矢印D方向に吸引され、個別
ボード27に植立された導電ピン21が入出力コ
ンタクトピン22に接触するので、これによつて
個別ボード27に具備された電気回路導体28を
介した入出力コンタクトピン22の入力側から出
力側への導通回路が構成される。そして入出力コ
ンタクトピン22の出力側から出力線11を経由
してテスタ部50へ被試験プリント板2の品質情
報が送られ、そこで品質レベルが判断されること
になる。なお試験部可動板9および切替部可動板
19は、前記被試験プリント板2および前記個別
ボード27が、それぞれ矢印B方向、矢印D方向
に吸引されたとき、これら被試験プリント板2お
よび個別ボード27を支えて歪の発生を防止し、
それに実装された部品リード3および導電ピン2
1と試験ピン4および入出力コンタクトピン22
との接触を安定させるために設置したものであ
り、また復元バネ10は試験が終了した被試験プ
リント板2および個別ボード27をすみやかに試
験前の原位置へ復帰させるために設けたものであ
り、気密パツド7および気密シート8は、試験部
減圧槽1と切替部減圧槽26の気密性を向上させ
るために設けられている。さらに試験部100の
マスク板20は当該試験とは無関係な試験ピン4
をテスタ側と電気的に分離させるとともに該試験
ピン4が被試験プリント板2に接触してこれを損
傷させるのを防止するためのものである。そして
さらに切替部120のガイド板24は入出力コン
タクトピン22を的確に導電ピン21に接触させ
るための案内用に設けたものである。
しかしながら、従来の試験治具によればその構
造から明らかなように1台の試験治具によつて不
特定多種類のプリント板を試験するため標準位置
に複数個(一般にその個数は数千個に及び益々増
加の傾向にある)設けられた入出力コンタクトピ
ン22のすべてが被試験プリント板2に対応して
選択的に交換される個別ボード27に加わる。こ
のため入出力コンタクトピン22の各1本のバネ
反発力は約100gであるが、たとえば5000本のコ
ンタクトピンが使用されていると仮定すればこれ
らによるバネ総反発力は500Kgにもなるので、該
ボード27に歪が生じ減圧槽の空気洩れや導電ピ
ン21と入出力コンタクトピン22との接触不良
事故がしばしば発生し、プリント板試験の作業性
と試験信頼性が阻害されていた。
(d) 考案の目的 本考案の目的は上記従来の欠点を改良するため
になされたもので、当該試験に関係する入出力コ
ンタクトピンのみが作動する構造のプリント板試
験治具の提供を目的とするものである。
(e) 考案の構成 そしてこの目的は本考案によれば、減圧槽内に
プリント板試験部に電気的接続される入出力コン
タクトピン群およびテスタ部に電気的接続される
入出力コンタクトピン群を並列して設け、かつ前
記減圧槽の減圧動作により吸引されて前記2群の
入出力コンタクトピンの各々に対応するピン相互
を選択的に接続する電気回路導体と該導体の入出
力端子として植設された導電ピンとを具備した個
別ボードをそなえ、該個別ボードにより前記プリ
ント板試験部からの試験情報を前記テスタ部に伝
送する治具構成において、前記導電ピンの植立高
さが前記減圧動作によつて移動する前記個別ボー
ドの移動ストロークと同等に設定され該導電ピン
が当該試験に関係を有する前記入出力コンタクト
ピンとのみ限定的に接触し得る構造としたことを
特徴とするプリント板試験治具を提供することに
よつて達成される。
(f) 考案の実施例 以下本考案の1実施例を図面によつて詳述す
る。
第2図および第3図はかかる実施例によるプリ
ント板試験治具の要部構造を縦切断して示す図で
あつて、第2図が試験前の状態を、第3図が試験
中の状態をそれぞれ示している。なお、これら図
において前記第1図と同等の部分については同一
符号を付して示した。
第2図および第3図に示す如く本実施例のプリ
ント板試験治具は、被試験プリント板2に対応し
て選択され、かつ接続切替部120に装着される
個別ボード27に植設された導電ピン21の植立
高さを切替部減圧槽26の減圧動作により矢印D
方向に吸着される個別ボード27の運動ストロー
クSと同等にした点が特徴である。すなわち、こ
うすることによつて不特定多種類の被試験プリン
ト板2に対応すべく標準的位置に複数個設けられ
ている入出力コンタクトピン22が当該試験に必
要な前記導電ピン21とのみ接触し得ることにな
るわけである。なお個別ボード27は専用ボード
であるから不必要な導電ピン21が植立されてい
ないことはいうまでもない。ところで減圧動作に
伴なう前記個別ボード27の移動ストロークSは
入出力コンタクトピン22が導電ピン21により
矢印D方向へ押下げられる距離Hと、押下げられ
た個別ボード27の導電ピン21植設面と、自然
状態にある入出力コンタクトピン22の接触端と
の間隙Gとの合計距離になつている。従つて、当
該試験に無関係な入出力コンタクトピン22と減
圧によつて押下げられた個別ボード27との間に
は、常に安全間隙Gが維持されることになる。な
お導電ピン21によつて矢印D方向に押下げられ
る入出力コンタクトピン22の動作ストロークは
個別ボード27の移動ストロークSよりも大きく
設定してこれらが破損しないようにする。したが
つて本考案のプリント板試験治具構造によれば、
従来個々の被試験プリント板2についてはせいぜ
い40〜50%程度しか使用されない入出力コンタク
トピン22がすべて作動して個別ボードに必要以
上の外力を加えていた現象が回避される。
(g) 考案の効果 以上詳細に説明したように本考案のプリント板
試験治具は、被試験プリント板の試験情報をテス
タ部に伝える接続切替部の構造を改良することに
よつて試験治具の長寿命化と試験の高信頼性化と
を併せて可能にするといつた効果大なるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のプリント板試験治具を説明する
ための図、第2図および第3図は本考案の1実施
例によるプリント板試験治具の要部構造を示す縦
断面図である。 図面において、1は試験部減圧槽、2は被試験
プリント板、3は部品リード、4は試験ピン、6
および23はガイドピン、7は気密パツド、8は
気密シート、9および19は可動板、10は復元
バネ、11は出力線、12は入力線、20はマス
ク板、21は導電ピン、22は入出力コンタクト
ピン、24はガイド板、26は切替部減圧槽、2
7は個別ボード、28は電気回路導体、50はテ
スタ部、100はプリント板試験部、120は接
続切替部をそれぞれ示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 減圧槽内に、プリント板試験部に電気的接続さ
    れる入出力コンタクトピン群およびテスタ部に電
    気的接続される入出力コンタクトピン群を並列し
    て設け、かつ前記減圧槽の減圧動作により吸引さ
    れて前記2群の入出力コンタクトピンの各々対応
    するピン相互を選択的に接続する電気回路導体と
    該導体の入出力端子として植設された導電ピンと
    を具備した個別ボードをそなえ、該個別ボードに
    より前記プリント板試験部からの試験情報を前記
    テスタ部に伝送する治具構成において、前記導電
    ピンの植立高さが前記減圧動作によつて移動する
    前記個別ボードの移動ストロークと同等に設定さ
    れ、該導電ピンが当該試験に関係を有する前記入
    出力コンタクトピンとのみ限定的に接触し得る構
    造としたことを特徴とするプリント板試験治具。
JP567384U 1984-01-17 1984-01-17 プリント板試験治具 Granted JPS60118975U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP567384U JPS60118975U (ja) 1984-01-17 1984-01-17 プリント板試験治具

Applications Claiming Priority (1)

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JP567384U JPS60118975U (ja) 1984-01-17 1984-01-17 プリント板試験治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60118975U JPS60118975U (ja) 1985-08-12
JPH0425663Y2 true JPH0425663Y2 (ja) 1992-06-19

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ID=30482392

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JP567384U Granted JPS60118975U (ja) 1984-01-17 1984-01-17 プリント板試験治具

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JP (1) JPS60118975U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10976660B2 (en) 2016-09-13 2021-04-13 Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co , Ltd. Fluorene photoinitiator, preparation method therefor, photocurable composition having same, and use of same in photocuring field
US11118065B2 (en) 2017-02-17 2021-09-14 Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co., Ltd. Fluorenylaminoketone photoinitiator, preparation method thereof, and UV photocurable composition containing same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10976660B2 (en) 2016-09-13 2021-04-13 Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co , Ltd. Fluorene photoinitiator, preparation method therefor, photocurable composition having same, and use of same in photocuring field
US11118065B2 (en) 2017-02-17 2021-09-14 Changzhou Tronly Advanced Electronic Materials Co., Ltd. Fluorenylaminoketone photoinitiator, preparation method thereof, and UV photocurable composition containing same

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Publication number Publication date
JPS60118975U (ja) 1985-08-12

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