JPH0349988A - 光情報記録媒体 - Google Patents
光情報記録媒体Info
- Publication number
- JPH0349988A JPH0349988A JP1185677A JP18567789A JPH0349988A JP H0349988 A JPH0349988 A JP H0349988A JP 1185677 A JP1185677 A JP 1185677A JP 18567789 A JP18567789 A JP 18567789A JP H0349988 A JPH0349988 A JP H0349988A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording medium
- recording
- optical information
- recording layer
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- Pending
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光情報記録媒体に関し、詳しくは、光による記
S層の相変化を利用して情報の記録、再生及び書換えを
行なうための相変化型光情報記録媒体に関する。
S層の相変化を利用して情報の記録、再生及び書換えを
行なうための相変化型光情報記録媒体に関する。
電磁波特にレーザービームの照射により情報の記録・再
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、結晶
−非晶質相聞或いは結晶−結晶相聞の転移を利用する。
生および消去可能な光メモリー媒体の一つとして、結晶
−非晶質相聞或いは結晶−結晶相聞の転移を利用する。
いわゆる相変化型記録媒体が良く知られている。特に光
磁気メモリーでは困難な単一ビームによるオーバーライ
ドが可能であり、ドライブ側の光学系もより単純である
ことなどから最近その研究開発が活発になっている。そ
の代表的な材料例としては、USP 3,530,44
1に開示されているようなGe−Te、 Ge−Te−
5b、 Ge−Te−5,Ge−5e−5,Ge−3e
−3b、 Ge−As−5s、In−Te、 5e−T
e、 5e−As等所謂カルコゲン系合金材料が挙げら
れる。また、安定性、高速結晶化等の向上を目的にGe
−Te系にAu(特開昭61−219692号公報)、
Sn及びAu(特開昭61−270190号公報)、P
d(特開昭62−19490号公報)等を添加した材料
の提案や、記録/消去の繰返し性能向上を目的にGe−
Te−5e−3bの組成比を特定した材料(特開昭62
−73438号公報)の提案等もなされている。
磁気メモリーでは困難な単一ビームによるオーバーライ
ドが可能であり、ドライブ側の光学系もより単純である
ことなどから最近その研究開発が活発になっている。そ
の代表的な材料例としては、USP 3,530,44
1に開示されているようなGe−Te、 Ge−Te−
5b、 Ge−Te−5,Ge−5e−5,Ge−3e
−3b、 Ge−As−5s、In−Te、 5e−T
e、 5e−As等所謂カルコゲン系合金材料が挙げら
れる。また、安定性、高速結晶化等の向上を目的にGe
−Te系にAu(特開昭61−219692号公報)、
Sn及びAu(特開昭61−270190号公報)、P
d(特開昭62−19490号公報)等を添加した材料
の提案や、記録/消去の繰返し性能向上を目的にGe−
Te−5e−3bの組成比を特定した材料(特開昭62
−73438号公報)の提案等もなされている。
しかしながら、そのいずれもが相変化型書換え可能光メ
モリー媒体として要求される諸特性のすべてを満足し得
るものとはいえないのが実情である。特に記録感度、消
去感度の向上、オーバーライド時の消し残りによる消去
比低下の防止、並びに記録部、未記録部の長寿命化が解
決すべき最重要課題となっている。
モリー媒体として要求される諸特性のすべてを満足し得
るものとはいえないのが実情である。特に記録感度、消
去感度の向上、オーバーライド時の消し残りによる消去
比低下の防止、並びに記録部、未記録部の長寿命化が解
決すべき最重要課題となっている。
本発明は従来技術における以上の問題を全て解消し、高
速消去、消去率、記録の安定性、記録感度の向上等の材
料特性を全て満足する新規な相転移性化合物を用いたオ
ーバーライド可能な相変化型光情報記録媒体の提供を目
的とするものである。
速消去、消去率、記録の安定性、記録感度の向上等の材
料特性を全て満足する新規な相転移性化合物を用いたオ
ーバーライド可能な相変化型光情報記録媒体の提供を目
的とするものである。
本発明の相変化型光情報記録媒体は基本的には基板−ヒ
に一般式 (但しXは周期律表第1a族元索から選ばれた1種、Y
は同じく第Vb族元素から選ばれた1種、2は同じく第
VIb族元素から選ばれた1種を表わす。
に一般式 (但しXは周期律表第1a族元索から選ばれた1種、Y
は同じく第Vb族元素から選ばれた1種、2は同じく第
VIb族元素から選ばれた1種を表わす。
)で示される三元化合物よりなる記録層を設けたことを
特徴としている。
特徴としている。
ちなみに、本発明者らは前記目的を達成するために多く
の研究・検討を行なった結果、前記一般式で表わされた
三元化合物は、■融点約500〜700℃の範囲にあり
、また、バンドギャップが約0.5〜2、OeVの範囲
にあるため、現在多く使用されている(Ga、 AQ)
As系半尋体レーザーに対して効率的に吸収1発熱効果
が期待でき、更に、結晶化における構造は立方晶等対称
性が高いため感度の向上及び高速消去が期待され、そし
て、特に融点が600℃前後で、また、バンドギャップ
は半導体レーザー光を吸収する必要上1 、7eV以下
(但し可視域のLDが実現した場合はこの限りではない
)の化合物が好適であること、及び■箭記一般式の化合
物の場合、成膜条件によっては従来の非晶質−結晶質間
の相転移と同時に、結晶質−結晶質間の相転移も可能で
あること、を確めた。本発明はこれに基づいてなされた
ものである。
の研究・検討を行なった結果、前記一般式で表わされた
三元化合物は、■融点約500〜700℃の範囲にあり
、また、バンドギャップが約0.5〜2、OeVの範囲
にあるため、現在多く使用されている(Ga、 AQ)
As系半尋体レーザーに対して効率的に吸収1発熱効果
が期待でき、更に、結晶化における構造は立方晶等対称
性が高いため感度の向上及び高速消去が期待され、そし
て、特に融点が600℃前後で、また、バンドギャップ
は半導体レーザー光を吸収する必要上1 、7eV以下
(但し可視域のLDが実現した場合はこの限りではない
)の化合物が好適であること、及び■箭記一般式の化合
物の場合、成膜条件によっては従来の非晶質−結晶質間
の相転移と同時に、結晶質−結晶質間の相転移も可能で
あること、を確めた。本発明はこれに基づいてなされた
ものである。
以下に本発明をさらに詳細に説明する。
本発明で用いられる新規な相転移性三元化合物の具体例
としては、Na5bSe2. Na5bSe、、Na5
bSa、 。
としては、Na5bSe2. Na5bSe、、Na5
bSa、 。
Na5bTe、、Li5bSe、、Li5bS、、Li
5bTe、KSbSa、、KSbS2、KSbTe、、
Cs5bSe、、Cs5bS、、CzSbTe、、Na
B1Se2. KBiSe、、C5BiSe、等が挙げ
られる。
5bTe、KSbSa、、KSbS2、KSbTe、、
Cs5bSe、、Cs5bS、、CzSbTe、、Na
B1Se2. KBiSe、、C5BiSe、等が挙げ
られる。
基板としてはガラス、ポリメチルメタクリレート、ポリ
カーボネート等が使用される。
カーボネート等が使用される。
本発明の光情報記録媒体を作るには、基板上に、前記三
元化合物を真空蒸着法あるいはスパッタ法によって記録
層として形成せしめればよい、記録層の厚さは300〜
1500人、好ましくは500−1000人である。
元化合物を真空蒸着法あるいはスパッタ法によって記録
層として形成せしめればよい、記録層の厚さは300〜
1500人、好ましくは500−1000人である。
なお、記録層を非晶質状態にするか或いは結晶質状態に
するかは蒸着又はスパッタ時の基板温度によって決定さ
れ、常温の場合は非晶質状態となり、また、100℃以
上の場合(又は前記温度でのアニール後)は結晶状態と
なる。
するかは蒸着又はスパッタ時の基板温度によって決定さ
れ、常温の場合は非晶質状態となり、また、100℃以
上の場合(又は前記温度でのアニール後)は結晶状態と
なる。
本発明では記録層上に更に保護層を設けることができる
。保護層の材料としては熱的に安定な窒化シリコン、窒
化アルミニウム等の窒化物;二酸化シリコン、二酸化チ
タン等の酸化物などが使用される。なお、保護層の厚さ
は通常300〜1500人、好ましくは約1000人で
ある。この保護層の形成法は、記録層の場合と同様、真
空蒸着法若しくはスパッタ法が採用しうる。
。保護層の材料としては熱的に安定な窒化シリコン、窒
化アルミニウム等の窒化物;二酸化シリコン、二酸化チ
タン等の酸化物などが使用される。なお、保護層の厚さ
は通常300〜1500人、好ましくは約1000人で
ある。この保護層の形成法は、記録層の場合と同様、真
空蒸着法若しくはスパッタ法が採用しうる。
次に実施例を示す。
実施例l
Na5bSe、をターゲットとし、スパッタ法により直
径130+am、厚さ1.2mmのガラス基板を一定速
度で回転させながら約1000入庫の記録層を形成した
。
径130+am、厚さ1.2mmのガラス基板を一定速
度で回転させながら約1000入庫の記録層を形成した
。
続いて、この記録層上に約1000人の窒化シリコン膜
(保護層)を形成して光情報記録媒体を作成した。
(保護層)を形成して光情報記録媒体を作成した。
この時、テストピースとしてスライドガラス上に同様な
記録層を設けた。そして、この記録層をX線回折で測定
したところ非晶質であることが確認された。
記録層を設けた。そして、この記録層をX線回折で測定
したところ非晶質であることが確認された。
この光記録媒体を300℃のArガス雰囲気中に30分
間保持してアニールした。この時の記録層はX線回折及
び定量分析の結果から結晶質であり、Na5bSe、か
らなることが確認された。また、780na+の波長に
対する分光反射率を測定したところ、初期の非晶質状態
に比べて21%変化していることが確認された。
間保持してアニールした。この時の記録層はX線回折及
び定量分析の結果から結晶質であり、Na5bSe、か
らなることが確認された。また、780na+の波長に
対する分光反射率を測定したところ、初期の非晶質状態
に比べて21%変化していることが確認された。
次に、この熱処理後の光記録媒体を180Orpmの速
度で回転させながらビーム径を14程度に絞った半導体
レーザー光(発振波長λ=780nm)を照射すること
により、記録、再生及び消去を行なった。
度で回転させながらビーム径を14程度に絞った半導体
レーザー光(発振波長λ=780nm)を照射すること
により、記録、再生及び消去を行なった。
なお、最小記録出力は13+mV、再生出力は2+++
W、最小消去出力は8I1wである。この出力/消去条
件で記録後、さらに2MHzでオーバーライド実験を行
った。
W、最小消去出力は8I1wである。この出力/消去条
件で記録後、さらに2MHzでオーバーライド実験を行
った。
その結果、初期記録のC/N比は52dBでオーバーラ
イド後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残
りが若干認められたが、その値(消去率)は32dBで
あり、充分使用可能な段階であることが確認された。ま
た、104回の記録、消去のくり返し実験を行なったが
信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性
を良好であることが確認された。
イド後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残
りが若干認められたが、その値(消去率)は32dBで
あり、充分使用可能な段階であることが確認された。ま
た、104回の記録、消去のくり返し実験を行なったが
信号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性
を良好であることが確認された。
更に、記録感度は記録層がGeTeよりなる光情報記録
媒体(比較品A)に比べて約8%、また記録層がSb、
Te、よりなる光情報記録媒体(比較品B)に比べて
約6%それぞれ高かった。消去速度は比較品Aに比べて
約8%、また比較品Bに比べて約8それぞれ速かった。
媒体(比較品A)に比べて約8%、また記録層がSb、
Te、よりなる光情報記録媒体(比較品B)に比べて
約6%それぞれ高かった。消去速度は比較品Aに比べて
約8%、また比較品Bに比べて約8それぞれ速かった。
実施例2
NaSbSe、の代りにCs5bSe2を用いた以外は
実施例1と同じ方法で光情報記録媒体を作成した。この
ものの記録層は非晶質であることがX線回折で確認され
た。
実施例1と同じ方法で光情報記録媒体を作成した。この
ものの記録層は非晶質であることがX線回折で確認され
た。
この光記録媒体を、実施例1ど同様に、300℃のAr
ガス雰囲気中に30分間保持してアニールした。
ガス雰囲気中に30分間保持してアニールした。
この時の記録層はX線回折及び定量分析の結果から結晶
質であり、Cs5bSe、からなることが確認された。
質であり、Cs5bSe、からなることが確認された。
また、780nmの波長に対する分光反射率を測定した
ところ、初期の非晶質状態に比べて29%変化している
ことが確認された。
ところ、初期の非晶質状態に比べて29%変化している
ことが確認された。
次に、この熱処理後の記録媒体を1800rp+mの速
度で回転させながらビーム径を14程度に絞った半導体
レーザー光(発振波長λ=78on@)を照射すること
により、記録、再生及び消去を行なった。なお、最小記
録出力は13mw、再生出力は2IIv、最小消去出力
は10■Vである。この出力/消去条件で記録後、さら
に2MHzでオーバーライド実験を行った。
度で回転させながらビーム径を14程度に絞った半導体
レーザー光(発振波長λ=78on@)を照射すること
により、記録、再生及び消去を行なった。なお、最小記
録出力は13mw、再生出力は2IIv、最小消去出力
は10■Vである。この出力/消去条件で記録後、さら
に2MHzでオーバーライド実験を行った。
その結果、初期記録のC/N比は51dBでオーバーラ
イド後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残
りが若干認められたが、その値(消去率)は30dBで
あり、充分使用可能な段階であることが確認された。ま
た104回の記録、消去のくり返し実験を行なったが信
号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性も
良好であることが確認された。
イド後も51dBと殆ど変らなかった。しかし、消去残
りが若干認められたが、その値(消去率)は30dBで
あり、充分使用可能な段階であることが確認された。ま
た104回の記録、消去のくり返し実験を行なったが信
号レベルの低下はほとんど認められず、くり返し特性も
良好であることが確認された。
更に、記録感度は記録層がGeTeよりなる光情報記録
媒体(比較品A)に比べて約9%、また記録層がSbz
Tf3sよりなる光情報記録媒体(比較品B)に比べ
て約6%それぞれ高かった。消去速度は比較品Aに比べ
て約8%、また、比較品Bに比べて約6%それぞれ速か
った。
媒体(比較品A)に比べて約9%、また記録層がSbz
Tf3sよりなる光情報記録媒体(比較品B)に比べ
て約6%それぞれ高かった。消去速度は比較品Aに比べ
て約8%、また、比較品Bに比べて約6%それぞれ速か
った。
本発明で用いられる前記一般式で表わされる三元化合物
は融点が約500〜700℃の範囲にあり、かつ、結晶
化時の構造が立方晶等対称性の高い状態にあるため、非
晶質−納品質問又は結晶質−結晶質量の相転移を利用し
た光メモリー用材料として使用したとき、メモリーの安
定性及び高速結晶化即ち高速消去が期待できる。また、
この化合物はバンドギャップが約0.5〜2.OeVの
間にあるため、半導体レーザーを効率よく吸収して熱変
換することができるので、高速消去及び高感度化が期待
できる。
は融点が約500〜700℃の範囲にあり、かつ、結晶
化時の構造が立方晶等対称性の高い状態にあるため、非
晶質−納品質問又は結晶質−結晶質量の相転移を利用し
た光メモリー用材料として使用したとき、メモリーの安
定性及び高速結晶化即ち高速消去が期待できる。また、
この化合物はバンドギャップが約0.5〜2.OeVの
間にあるため、半導体レーザーを効率よく吸収して熱変
換することができるので、高速消去及び高感度化が期待
できる。
Claims (1)
- (1)基板上に電磁波等の照射により可逆的な相変化が
もたらされる記録層を形成した光情報記録媒体において
、前記記録層は一般式 XYZ_2 (但し、Xは周期律表 I a族元素から選ばれた1種、
Yは周期律表Vb族元素から選ばれた1種、Zは周期律
表VIb族元素から選ばれた1種を表わす。)で示される
三元化合物よりなることを特徴とする光情報記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1185677A JPH0349988A (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | 光情報記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1185677A JPH0349988A (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | 光情報記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0349988A true JPH0349988A (ja) | 1991-03-04 |
Family
ID=16174937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1185677A Pending JPH0349988A (ja) | 1989-07-18 | 1989-07-18 | 光情報記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0349988A (ja) |
-
1989
- 1989-07-18 JP JP1185677A patent/JPH0349988A/ja active Pending
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