JPH03500332A - 観察装置において高速かつ高解像度の3次元物体像を結像する方法及びシステム - Google Patents

観察装置において高速かつ高解像度の3次元物体像を結像する方法及びシステム

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JPH03500332A
JPH03500332A JP1500204A JP50020489A JPH03500332A JP H03500332 A JPH03500332 A JP H03500332A JP 1500204 A JP1500204 A JP 1500204A JP 50020489 A JP50020489 A JP 50020489A JP H03500332 A JPH03500332 A JP H03500332A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 察4Wにおいて高 かつ高”像度の3′−物 像紗象 る 法 びシステム 本出願は、1987年5月21日に出願された米国特許出願第052.841号 「観察装置において高速かつ高解像度の3次元物体像を結像スル方法及Uシスf ム(METHOD AND SYSTEM’FORRIG)ISPEED 、3 −D IMAGING OF AN 0BJECT AT A VISION  5TATION3.0に関し、本出願と同じ譲受人である。前記出願の全体の開 示は、ここで参照することによって組み入れられている。
遺五五号 本発明は、観察装置の物体像を結像させて物体の寸法の情報を展開する方法及び 装置に間し、特に、制御された光ビームを観察装置の物体に投射することにより 高速かつ高解像力の像を結像させて、その物体の寸法情報を展開する方法及びシ ステムに関する。
1景肢止 回路基板部品、はんだ、リード、ビン、配線1機械挿入物などの小さな物体を検 査するための高速で高解像度[すなわち、約0.25mm (0,001インチ )で微細]の三次元レーザー走査装置は1機械の画像装置の能力を大きく改善す ることができる。実際、画像上の多くの問題は、3次元においては当然であるが 、二次元ではほとんど問題はない。
三次元データを得るためにいくつかの方法が使用されてきた。
即ち、飛行時間(time of flight)、位相検出(phase d etectionl 。
自動焦点、受動立体視(passive 5tereol、テクスチュアグラデ ィエンド(texture gradi、ents)、三角測量等の方法である 。後者の方法は高解像度画像のために適しており、おそらく最もよく知られた技 術である。
通常の走査三角測量方法では、レーザービームがデフレクタによって測定される 物体を横切って走査され2広く拡散した光が集められ、位置感知検出器に画像を 結ぶ。スキャナーは2回転多角形、検流計、共振スキャナー、ホログラフィック デフレククー。
あるいは音響光学デフレフクーを用いることができる。同様に。
その位置感知検出器は、直線、あるいは面積アレイセンサー、ラテラルエフコク ト光グイオード(1at、eral effect photndiodel、 バイセル(bi−cell)あるいは電子光学位置検知装置である。しばしば一 対の位置検知器が影を減少させるために使用される。直線アl/イあるいは仰域 カメラを使用する場合は、影、感光性、及び視野のトレー ドオフが厳しい。
非常に高速で低い感光性を得るためには、前述した特許出願に記載された位置計 測装置が好ましい。しかしながら、非常に低い光レベルを検知する必要がない場 合は、ラテラルエフェクトフォトグイオードが約iM)izfl上のデータ速度 で使用することができ、安価であって市販の装置が利用できる、三角測量を基本 とした方法及び装置は、しばしばストラクチュアドライト(structure d light)の概念を用いている。米国特許第4.105.925号に記載 されているような方法は、検査される物体の表面に光線あるいは複数の光線を投 射するステップと、ビデオカメラで投影された光線(あるいは複数の光線)の変 位を検知するステップとを含んでいる。このような装置は、既製のものが利用で き、比較的安価である。
このような装置の主要な短所は、非常に低速度(代表的には10.000点/秒 )であることであり、1つの画像中に複数の投影された光線がある場合は、隣接 するストライブの重なりやストライブの間の複数の散乱光のためにデータの読み 取りが不明瞭になる。この両短所は、米国特許第4.375.921号に1己載 されているように、飛点走査装置を備えたラインブロジェクク、及び位置検知器 のいくつかのラインの1つを備えたビデオカメラに置き換えることによって克服 ′fることができる。
スキャカー、あるいはストラクチュアドライト装置を基本とした従来の三角測量 は、面積センサー、直線アレイ、あるいは大面積付M検知器のような大面積付M 検知器に光を供給するために、従来の画像レンズ(すなわち、縮小レンズ、35 mmレンズ、あるいはロングライン検知器のために設計された円柱レンズ)をし ばしば使用している。この大面積検知器にはいくつかの限界、即ち、大きな検知 器の容量によって低速度であり、ダークカレントが高く、及び小面積装置にみら れるよりもノイズフロア−が高い。
例えば、20mmX20mmのP−I−Nラテラルフォトタイオード(典型的に は1インチのビデオカメラ電子管と等価)は、数百PFの容量を有しており、数 μAのB!電流を有している。一方、2mmX2mmの装置は、約5pFの容量 で50nAの暗電流である。小さな検出器の速度及びノイズ特性は、大面積の装 置で達成できる特性よりも大きい。速度特性の改善は容量の減少に直接比例して おり、信号対雑音比の改善は少なくとも容量の減少の平方根と同程度である。
三角測量を基本にした代表的な画像では、視野(及びその結果、検査速度)を減 少させることなく、光を小面積装置に供給す像度の高さは従来の三角測量を基本 にした画像では必然的に減少する。また、球体縮小レンズが光を検知器に供給す るために使用される場合は(必然的に解像度が比例的に減少し)、その光を集め る装置の能力はその面積に比例して減少する。これらは厳しい制限であり、その 装置の特性を制限する望ましくないl−レード坩フを強制する。
ナカガワ等fNakagawa et al、、)の米国特許第4553844 号に記載されているように、この問題を克服するために同期走査法を使用するこ とができる。この走査法は、普通は、多角形あるいは検流計駆動ミラーを備えて いる。しがし、この方法は、センザーヘッドが回転ミラー(例えば、フーリエ平 面あるいはテレセントリック絞り位置)あるいは一対のミラーの形式で移動部分 を含むことが必要である9実際、第2のミラーは第1のミラーによって走査され る点を追跡するために使用される。これらの高速移動部分は、しばしば望ましく なく、特にセンサーが産業的環境にあるXYテーブルやロボットアーーで見られ るような種類の加速度を受ける場合は望ましくない。
従来の三角測量画像には矛盾が存在する、即ち、小さな検出器を使用することが 望ましいが、移動部品が含まれていない限り、視野もまた小さくなり、その解像 度もまた恵くなって、光を集める能力が低下する。たとえ解像度が悪いことが許 容できるものであったとしても、光を集める能力の損失は、装置の信号対雑音比 をさらに低減させる。信号対雑音比は、大面積検知器を使用するために、もとも と、特に高速では良好なものではなく、問題を複雑にしている8 他の多くの従来米国特許は、三角測量の手段による3次元データを得るための様 々な方法を記載している0例えば、チャッソン(Chasson)の米国特許第 4,188,544号は、光線を物体に投射するためにビーム拡張器と円柱レン ズが使用されるストラクチュアドライト法を記載している。この光線は、画像レ ンズ及びビデオカメラで計測される。各点の位置は、ピーク検知アルゴリズムで 決定される。測定速度は、ビデオカメラの読み出しによって遅くなる。複数の光 線はこの問題をある程度軽減する。
ブドラー(Bodlaj) ヘの米国特許第4,201.475号においては、 物体が位置計測寸法で走査され、非常に狭い視野を有する単一の光検知器で経時 変位が検知される。その装置の速度は、各測定点での走査装置の帰線時間で制限 される。この方法は、特に準ビデオ速度(すなわち、MH,)で小さな部分を検 査する必要があるときは、比較的遅くなる。
ベニ−(Pennyl ヘの特許第4.64.5.917号においては。
絞り掃引型彫機(Swept aperture profiler)が記載さ れている。
その装置も位置を決定するために経時変位を測定する。検流計で駆動されるミラ ーがデータの線(すなわち、xY座標)を走査するために使用される。音響光学 偏向器が位置感知寸法を走査するために使用され、光が光検出装置によって受け 取られたと同時にその深さを表示する。Z方向の走査にその音響光学偏向器を使 用することは、従来技術を改善することになる。また、光電子倍増管を検出装置 として使用することは、さらに改善されたダイナミックレンジでの使用を可能に する。
パルスブラマニアンfBalusubramanianlへの米国特許第4.3 55,904号は、三角測量を基本とした方法を記載しており、その方法は、レ ーザービームを走査し測定プローブの位置を制御するための装置とともに、位置 検知装置を濃度変化可能なティングが形成されているか、あるいは感光性フィル ム板が形成されているかにかかわらず1代表的な濃度変化可能なフィルターの濃 度に関する許容値は、どの1つの点でも代表的には±5%である。
サトシ・イド等fsatoshi Ido et al、lに付与された米国特 許第4・589,773号は、市販されている位置検出器を使用した、ウニバー を検査するための位置検知方法及び装置を記載している。光を10倍の縮小率で 物体表面上の小さな点に集めるために縮小レンズが使用される。拡木レンズが受 信装置で使用されて光を検出器に送る。三角測量の角度は受信装置及び検出器と 余角(90度)で45度をなす、この装置はウェハー検査に優れている。しかし ながら、その方法は他のいくつかの種類の検査作業に対しては不十分である。な ぜなら、(1)背の高い物体に対しては許容し難い陰影及び吸収効′果が発生す る:(2)プローブの視野が非常に狭(なる:f31(陰影を減少させるために )角度を15度に減少させると極端に高さ感度が低下し:さらに、(4)検出範 囲が比較的大きくなって装置の速度が増加するに従い速度や信号対雑音比を制限 する。
ナカガワ等に付与された米国特許第4,472.056号は、光線を投影するス テップ、及び位置センサーとして矩形のCCDを使用するステップを包含する方 法を記載している。この方法は、前述したチャッソンに付与された米国特許に記 載された方法を速度の点で大きく上回って改善している方法であり、比較的制限 された高さ範囲(すなわち、16レベル)の部分の検査に適している。物体の深 さに関連するピーク検出のためにロジックとハードウェアが包含されている。
クラブ等fcrabb et al暑に付与された米国特許第4,650.33 3号においては、光投射を構成する方法が記載されており、その方法は前述した ナカガワの特許に記載された方法をいくらか補うものである。単一のCCDライ ンアレイが使用できるような方法で1円柱レンズにより形成された光のストライ ブが音響光学偏向器で物体に走査される。これは特注したCCDを必要せずに光 投射を構成する方法を実施する安価な方法である。ここで再び、速度が制限され 、またプローブの迷光を受け入れない能力が制限され、あまり背の高くない(痕 跡のような)物体の高さ測定にしかその方法を使用することができない。それに もかかわらず、その方法は痕跡の高さ測定の検査作業に適している。
ホーゲン(Haugen)に付与された米国特許第4,543,967号であっ てハネウェル(Honeywell)に譲渡された特許は、三角測量を基本にし た走査装置を記載しており、その装置は、走査装置及び位置検出用デジタルマス クの寸法と重量を小さくするために、ホログラフィック偏向装置を使用している 。そのデジタルマスクはバイナリ−グレイコードの形式であって、各ビットに対 して検出器が必要(すなわち、8ビツトコードに対しては8個の検出器が必要) である。一連の光検出器に高精度に合焦させる必要があるため、スポット光を細 い線に変換させるべく、1つの円柱レンズがその受信装置の中で使用されている 。言換えれば、そのスポット光は線に変換され、光を連続長細検出器に送り出す 。空間の平均化はその装置では行なわれず、決定された光スポットの中心でも行 なわれない。
米国特許第4.634,879号は、光学三角測量の使用方法を開示しており、 その方法は、飛点カメラ装置内にプリズムと2つの光電子倍増管を使用して表面 の形状を決定する方法である。
がら、このバイセルは、受は取った光のスポットの中心を計算せず、それゆえ受 け取った光のスポットの強度分布に敏感である。
ノイズに対抗する特徴としては、レーザービームに振幅変調かがけられ、バック グラウンドの光ノイズに対する反応を除くために、フィルターネットワークがフ ィルター光電子倍増管に使用される。
λ虱のヱ昼 本発明の目的は、U察装置の物体の画像を高速かつ高解像度で3次元的に結像す る改善された方法及びシステムを提供することであり、その高速及び感度は、光 デフレクタと光学装置を備える飛点走査装置を使用することによって得られ、物 体から反射した光をラテラルエフェクトフォトダイオードのような1つの小さな 面積位置検出器に送り、その物体に関する寸法情報を発生させ、周囲の多くの反 射光を実質的に減少させる。
本発明の他の目的は、観察装置の物体を画像化するための三角測量を基本にした 方法及びシステムを提供することであり、その方法は、狭い三角測量角度で優れ た解像度を達成することにより、従来の方法や装置の多くの制限を克服しており 、比較的大きな視野を保ちながら、陰影や吸収効果が減少している。
さらに本発明の他の目的は、観察装置の物体に関する高解像度の寸法情報であっ て、比較的安くコンパクトな形で高い信号対雑音比を有している・情報を得るた めの物体の高速画像化のための方法及びシステムを提供することであり、その装 置は、標準の高速装置に接続することができる。
本発明の前述したあるいは他の目的を達成するために、観察装置の物体像を高速 かつ高解像度で3次元的に結像して、その物体に関する寸法情報を展開する方法 が提供される。その方法は、走査方向で制御された光ビームを第1の所定の角度 で物体の表面に走査して反射光信号を発生させるステップ、第2の角度でその反 射した光信号を第一組の光学要素で受け取るステップ、第1及び第2のレンズを 包含するステップ、及び受け取った信号を前記第1組の光学要素でフィルターを かけるステップを包含している。
その方法は、さらに反射した光信号の放射エネルギー量を位置検知方向を有する 小面積位置検出器で測定するステップ、前記測定値に比例した少な(とも1つの 電気信号を発生させるステップ、及びその少なくとも1つの電気信号から反射光 信号の中心値を計算するステップを包含している。その方法は、フィルターがか けられた光信号をアナモルフィック拡大レンズ及びフィールドレンズ装置で小面 積位置検出器に送り出すステップによって特徴づけられる。そのレンズ装置は1 位置検出器の位置計測方向に拡大するための第3のレンズ、及びその光信号を位 置検出器に送り出すための比較的焦点距離の短い高速の第4のレンズを包含して いる。
さらに本発明の前述したあるいは他の目的を達成するために、観察装置の物体像 を高速かつ高解像度で3次元的に結像して、その物体に関する寸法情報を展開す る結像装置が提供される。この装置は、走査方向で制御された光ビームを第1の 所定の角度で物体の表面に走査して反射光信号を発生させるための光源、及び第 2の角度でその反射した光信号を受取りその反射した光信号にフィルターをかけ るための第1及び第2のレンズを包含する1組の光学要素を包含している。この 装置は、反射した光信号の放射エネルギー量を測定し、その測定値に比例した少 なくとも1つの電気信号を発生させるための位置検知方向を有する小面積位置検 出器を包含する測定手段をさらに包含している。信号処理手段は、その少なくと も1つの電気信号から反射光信号の中心値を計算する。アナモルフィック拡大し ・ンズ及びフィールドレンズ装置は・その位置検出器の位置if I+1方向に 拡大するための第3のレンズ、及びその光信号を位置検出器に送り出すための比 較的焦点距離の短い第4の高速レンズを包含している・好ましくは第4のレンズ は、flo・ 5乃至flo・7の速度で、20乃至30mmの範囲の焦点距離 をもつように特別に製造される。
画像装置の一構成においては、光源は、好ましくは固体(例えば音響光学)レー ザー光デフlツクターを包含しており、1組の光学要素は、好ましくは集められ た光の偏光及び受け入れ角度を制御するためのマスクを包含している。
また好ましくは、その測定手段は放射エネルギーを少なくとも1つの電流に変換 するために、ラテラルエフェクトフォトダイオードのような高感度光検出器を包 含している。
さらに好ましくは、フィルターをかけられた光信号の視野は、位N検出器を通っ て変換手段により変換され、その物体に関する寸法情報の範囲を拡張する。
前述したように、本方法及び装置から生ずる利点は非常に大きい。例えば、この ような結像装置は範囲データと強度データがともに得られている検査測定製品の 中に組み込むことができる。
またこのような方法や装置は、ビデオ速度で高解像度の完全3次元画像を比較的 低コストで提供する。高い信号対雑音比、高い感度、高い集光能力、低静電容量 、及び低暗電流が達成されるのみならず、長い走査線(すなわち、視野)が達成 される。
本発明は、アナモルフィック拡大レンズ及びフィールドレンズ装置を使用し、光 を小面積位置センサーに送ることによって、従来技術の多くの問題を克服してお り、全てを固体素子とした光偏光装置を使用する際の利益(すなわち、コンノ〜 クト、丈夫、1妾続容易なと)を受ける、 本発明の目的、特徴、及び利点は、添付図面とともに本発明を実施するための最 良の形態の詳細な説明から、すぐに明ら力)となる。
区皿久鷲単な説明 第1図は1本発明の方法及び装置の概略図である。
第2a図は、物体のいくつかの位置が番号付けされてし)る階段形状を有する観 察装置における物体の形状図である。
第2b図は、レーザー出力・ントが物体に沿って第2a図の位置から走査された 場合の大面積検出器上の対応する位置を示した図である。
第2C図は、第2b図と類似しているが、本発明の方法及び装置が使用され小面 積光検出器に反射した光とスポット形状を与えているところが異なる。
4を−「するための最 の1態 第1図を谷間して、本発明によって構成された3次元画像装置の主要な要素が示 されており、全体的に10で示されている。その装置10は、硅察装置に配置さ れており、レーザーのような制。
御された光源、変調器、及び光学フィードパ・ンク回路12を包含している。音 響光学デフレクタ−14の形式のスキャナーと様々なレンズ要素16の形式のビ ーム形成合焦光学系は、概ね20で示した物体の反射表面18に一連のレーザー ビームを投射することによって、テレセントリックで平坦な走査を達成している 。その物体は、観察装置で平坦な基準表面22により支持されてし)る。
ブロック12の中ではレーザーが変調器と接続され、装置のノイズ特性が改善さ れる高い周波数にその情報が変換される。変調器は、サイン波、パルス振幅、パ ルス位1などを含む多様な変調のうちの1つを行ってもよい、好ましくは、その レーザーは固体レーザーグイオードであり、TTL信号(すなわち、TTL変調 )で閉じる。このように、レーザー信号は、前述の出願で詳細に述べたように、 ONとOFFの繰り返しの間で別々の信号処理作用を行うことができるように符 号化される。典型的には、出力レベルは機械的画像装置に適している20乃至3 0mW(クラスII −B )である。
Newport Electro−Optics社が眼光しているような固体音 響光学デフレクタ−(すなわち、A、0)14が使用されることが好ましい、こ のデフレフクーは、接続容易で非常に丈夫であり、かつコンパクトである。これ は大きな利点である。装置10の寸法は、はぼビデオカメラの大きさである。装 置12には動く部品は存在しない、長期間の安定性を維持することは容易である 。装置10は、XYテーブルあるいは比較的小さな作業のロポ・ントアームのよ うな移動機械(トランスレータ)に取り付けるのに十分な程度に丈夫に製造でき る。それゆえ、その装置を大量に製造することは比較的容易である。はとんどの A−0デフレククーは、1走査あたり約500スポツトを発生し、デジタイザー や画像処理装置に接続するのにit常に便利である。作動率tduty cyc le)は他の種類のスキャナーに比べて非常に高い(95%に対して50%)。
A−○デフレクター14は、前述したように全てが固体素子であるという利点を 有する。しかしながら、回折的な走査の性質によって、その視野において平均値 の約10乃至30%の緩や力)な発光の変動が生ずる。この種類の変動は大抵は 許容できるが、普通のレーザー走査の大きな利点、即ち、視野の全ての点に向け て同−入射角度で同一の光量を供給する能力を損なうために望ましくない。
全体的に24で示したような光学的及び電気的フィートノ\・ンク回路は、これ を緩やかに変化する変動に補正するために(すなわち、平坦なフィールド補正の ために)利用される。A−0デフレクク−14は、普通は空間フィルターで遮蔚 される走査ビームと直流ビームを発生する。この直流ビームはレーザー出力の約 30%である。全体の光は走査線の光(すなわち−次)及び直流ビーム(0次) の合計であるため、このビームの変動を計測することによって、発光の変動を推 定することができる。
直流ビームは、回路24の感光性検出器26によって計測される。その結果生ず る電気信号は、回路24の自動利得制御回路28(すなわち、増幅器と積分器を 包含する回路)によって用し1られ、A−0デフレクタ−14に加えられる交流 出力を調整されたミキサーで減衰あるいは増幅させる。その結果生ずる強度の分 布は、約1%まで平坦となり、三次元検査のためのグレイスケール検査及びダイ ナミックレンジの適度な改善に大きな利点を提供する。
物体20から反射した光信号を光学的に処理するのに使用される光学装置を、全 体的に38で示している。その光学装置38は、1組の光学要素を包含しており 、その部品は、物体20から焦点距離の1倍の位置で物体20からの拡散した光 を集ゆるためのテレセントリック受光レンズ40を包含している。縮小合焦レン ズ42は望遠鏡の対物レンズとして作動する。レンズ40と42は、好ましいコ ンシュゲイトfconjugate) として作用する。
縮小レンズ42は、様々な縮小及び拡大比率を達成するために交換することがで きる。縮小レンズ42は、マスク44のすぐ後ろに配置される。
マスク44は受光レンズ40から焦点距離の1倍の位置に配置され、空間及び偏 光フィルター面を提供するためのテレセントリック絞りとして作用する。1つの 実施例では、そのマスクは中間の空間フィルター面に配置された矩形開口部(す なわち、空間フィルター)を形成し、装置10が所望する各瞬間の視野の外側に ある物体からの二次的反射によってしばしば生じる不要な角度から入射する光l すなわち、軸外光、すなわち迷光)を遮断することができる。マスク44は、固 定開口部46すなわち電気機様的シャッターであってもよく、あるいは好ましく は、液晶で、二進の空間光変調器、あるいはソフトウェアの制御下で動的に変形 されるパルプである。このような構成は、物体の近傍で複数の反射が生じている 非常に光沢のある物体(リフローはんだ、配線の接続、回路、ビングリッドなど )の検査に有益である。結局、(絞りの大きさ全体を通過する)入射角度及び入 射光の偏光は、検出器に送られる前にデジタル的に制御することができる。
もし必要ならば、空間フィルターあるいはストリップは、検出される物体の高さ 形状に対して関連を持たされかつ適合させた、選択された不透明パターンと透明 パターンでプログラムすることができる。例えば、光沢のある背景に配置された 光沢のあるビンの高さ測定は、ビンを適正に配置した高さ範囲に対応する狭いス トリップのみが観測されるならば、さらに信頼できるものとなろう、そうでなけ れば、複数の反射は、有用な光によって生ずる戻りよりもかなり大きい信号の戻 りを生ずる。適正に配置された場合は、ビンの位置が報告されるが、不完全であ れば、ビンは観測されないであろう。
従来の三角測量を基本にしたスキャナー(すなわち、移動部品を含んでいないが 面積検出器を有している固体素子装置)が利用される場合は、マスク44の開口 部46は、特定された高さ範囲の検出のために必要なもの以上に大きくはないが 、なお好ましくはプログラム可能である。
光学装置38は、全体的に48で示され、アナモルフィック拡大レンズ装置とフ ィールドレンズ装置をさらに包含している。そのレンズ装置48は、−組のアナ モルフィック要素すなわちアナモルフィックレンズ50及び52を包含している 。このレンズ50は焦点距離が非常に長く、位置検知方向の画像を拡大するため に精度の高い負の円柱レンズとなっている。レンズ50の焦点距離は、典型的に は約−300mm乃至−1000mmの範囲である。
レンズ52は、好ましくは約F10.5あるいはFlo、6の速度の短い焦点距 離の特注の円柱型レンズであって、視野を拡大し、装置38の集光能力を拡大す るために使用される。
第2A区は、階段状の物体の形状を示しており、その物体上のいくつかの点が番 号づけされている。
第2B図は、レーザースポットがその物体に沿って走査されるときに大面積検出 器で観測される第2A図の番号付けされた位置を示している。これは従来技術を 示している。
第2C図は、第2A図の同じ番号付けされた位置を示しており、さらに1組のレ ンズ50及び52を用いた効果を示している。レンズ50と52は、小さく結像 した光のスポットを、滑らかな拡大された矩形あるいは楕円型のスポットに変換 し、単一の位置検知器53の拡張された領域を一様に照明し、点から点への感度 変化で生ずる空間ノイズを平均化する。
レンズ42と50の組み合わせは、位置検知寸法を拡大する役目を果たす6位置 検知方向への拡大は、普通は1対1よりも大きく、そのため顕微鏡的な拡大とな る。
レンズ52は、アナモルフィックフィールドレンズとして作用し、そこを通って 走査線が結像される。映し出された走査線の長さは、レンズ52の大きさくすな わち、40mm)とほとんど同じであるが、検出器53の寸法よりは明らかに大 きい。それゆえ、それは縮小光学系として作用する。レンズ52は、両凸単一レ ンズ、平凸半円柱、あるいは放射状に勾配した勾配屈折率光学系の形、あるいは それらの組合わせの形で製造することができる。しかしながら、両凸の設計が好 ましい。
装置10の深さ方向の測定範囲を拡張するため、追跡ミラー54を包含しており 、マスク44の後方でテレセントリックを維持するという条件で、都合の良い位 置に配置することができる。
代わりに、小さな角度デフレクタ−を使用できるが、光ビームを伝達するという よりむしろ光ビームがそれることになる。
変換ミラー54は、精密ミニチュア台に取りつけられ、この精密ミニチュア台は 、信号処理回路58に接続されているコントローラー56を介してソフトウェア の制御の下に変位される。
変換ミラー54は、装置10の測定範囲が大きく拡張するため256レベルある いは高さを識別することができる。幾つかの検査作業は、この高さ範囲の拡張が 要求される。例えば、約0.01mm (0,0004インチ)の深さ感度が要 求されるパッドのはんだ高さを測定するために望ましいかもしれない、一方、そ のパッドに一致させる部品のリード線の位置や形状を測定するためにも望ましい かもしれない。リード線は1部品から約6.3mm (0,25インチ)、ある いはそれ以上に上方に延びている。これは、ラテラルフォトダイオードの線形測 定範囲を超えている。また、ワイヤーループは非常に細く、正確な測定のために は、空間、深さに間する高解像度が要求される。しかしながら、これらのワイヤ ーは、約6.3mm (0,25インチ)にまで延びていることがあり、要求さ れている約0.005mm(0,0002インチ)の高さ及び空間解像力で全範 囲に適応するセンサーは実用的でない。
変換ミラー54はこの問題を緩和する。レンズ40が光を受さえすれば良い。こ のレンズ40は、検出器53よりいくらか大きい(位置検知寸法での)画像寸法 を提供することができる。変換ミラー54を変位させることは、検出器53の( レンズ40によって拘束される)全体視野を変換する効果があり、小さなエリア 検出器53をなお用いたままでさらに多くの高さレベルを検知することができる 。
好ましくは、単一の検出部品が、装置10の小面積位置検知器として使用される 。装置10は、ラテラルフォトダイオード(LEP)で正確なZ方向(すなわち 、深さ)を得ることができ、その内部抵抗は深さ計測を提供し、信号電流の減衰 を通して中心位置の算定可能性を提供する。位置検出器53は、5i−Tek  2L2のようなラテラルフォトダイオードであってよいが、好ましくは、位置検 知方向に沿って約6mmの幅と2mmの寸法を有する特別の矩形ラテラルエフェ クト検出器である。これらの位置検知装置は、線形アレイにわたる実質的な速度 範囲と深さ範囲に関する利点を有している。バイセル(Bi−cell) 、す なわちデジタルマスク(例えば、光エンコーダ)は、好ましくな検出器53は、 信号処理回路58に接続されているプリアンプに接続されており、その信号処理 回路58は、光スポットの中心を算定し、それによって、不均一で方向性のある 強度分布をなすことも可能である。
信号処理回路すなわち装置58は、変更可能なデータを拡張、圧縮し、適正なZ 軸の値、グレイスケール情報、および不正確な高さ情報を示す特別な値を得る。
信号処理回路58は、前述の出願で詳細に説明されている。
装置10は移動部品を持たない走査機構を補助するために設計されているが、シ ンクロナイズドスキャンニングジオメトリー法を用いれば、さらに付加的な利益 を得ることができ、非常に小さな点検出器を使用しその検出器上で空間的に平均 化することによって解像度を増大させることができる。
前述の結像方法及び装置には、多くの利点がある。例えば、画像は高い解像度、 準ビデオ速度で処理されて完全な3次元情報を得ることができる。高い信号対雑 音比、高さ感度、高集光能力、低静電容量、及び低暗電流とともに、大きな走査 線(すなわち、視野)が、達成されている。また、このような方法及び装置は、 低コストでの正確な準ビデオフレーム速度にお【づる深さ測定の可能性を提供す る7 本発明を実施するための最良の形態が詳細に説明されたが、次の請求の範囲で定 められているように、本発明が関連する技術に精通している者は、本発明を実施 するための様々な代替設計及び実施例を認めるであろう。
Rg、 1 走査寸法 一走査寸法一

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.走査方向で制御された光ビームを第1の所定の角度で物体の表面に走査して 対応する反射光信号を発生させるステップ:第1及び第2のレンズを包含する一 組の光学要素によって第2の角度でその反射した光信号を受け取るステップ:受 け取った信号をその1組の光学要素でフィルターをかけるステップ: 位置検知方向を有しかつ測定値に比例した少なくとも1つの電気信号を発生する 小面積の位置検出器によって茂射光信号の中の放射エネルギーの量を測定するス テップ:及びその少なくとも1つの電気信号から、反射光信号の中心値を計算す るステップを包含している 観察装置の物体の画像を高速かつ高解像度の3次元として形成して物体に関する 寸法情報を展開する方法において、フィルターがかけられた光信号を、アナモル フィック拡大レンズ及びフィールドレンズ装置で小面積位置検出器に送り出すス テップを包含し、 そのレンズ装置が、位置検出器の位置検知方向に拡大するための第3のレンズ、 及びその光信号を位置検出器に送り出すための比較的焦点距離の短い第4のレン ズを包含していることを特徴とする方法。
  2. 2.走査方向で制御して変調された光ビームを第1の所定の角度で物体の表面に 走査して対応する反射光信号を発生させるステップ: 第1及び第2のレンズを包含する一組の光学要素によって第2の再度でその反射 した光信号を受け取るステップ:受け取った信号をその1組の光学要素でフィル ターをかけるステップ: 小面積位置検出器で、反射した光信号の放射エネルギー量を測定し、その測定値 に比例した少なくとも1つの電気信号を発生させるステップ: その少なくとも1つの電気信号を復調するステップ、及びその少なくとも1つの 復調信号から、反射光信号の中心値を計算するステップを包含している 観察装置の比較的小さな物体の画像を高速かつ高解像度の3次元像として形成し て物体の寸法情報を展開する方法において、 フィルターがかけられた光信号を、アナモルフィック拡大レンズ及びフィールド レンズ装置で位置検出器に送り出すステップを包含し、 そのフィールドレンズ装置が、位置検出器の位置検知方向に拡大するための第3 のレンズ、及びその光信号を位置検出器に送り出すための比較的焦点距離の短い 第4のレンズを包含していることを特徴とする方法。
  3. 3.走査方向で制御された光ビームを第1の所定の角度で物体の表面を走査して 反射光信号を発生させるための光源、第2の角度でその反射した光信号を受取り その反射した光信号にフィルターをかけるための第1及び第2のレンズを包含す る第1組の光学要素、 反射した光信号の放射エネルギー量を測定しその測定値に比例した少なくとも1 つの電気信号を発生させるため、位置検知方向を有する小面積位置検出器を包含 する測定手段、及びその少なくとも1つの電気信号から、反射光信号の中心値を 計算する信号処理手段を包含する 観察装置の物体の画像を高速かつ高解像度で3次元的に結像させて、その物体の 寸法情報を展開する結像装置において、位置検出器の位置検知方向に拡大するた めの第3のレンズ、及びその光信号を位置検出器に送り出すための比較的焦点距 離の短い第4のレンズを包含しているアナモルフィック拡大レンズ及びフィール ドレンズ装置を包含していることを特徴とする結像装置。
  4. 4.前記第4のレンズが、20乃至30mmの範囲の焦点距離を有している請求 項1記載の方法又は請求項3記載の装置。
  5. 5.前記第4のレンズが、f/0.5乃至f/0.7の速度を有している請求項 4記載の装置。
  6. 6.前記第3のレンズが、−300乃至−1000mmの範囲の焦点距離を有し ている負の円柱型レンズである請求項4記載の装置。
  7. 7.前記第4のレンズが、両凸フィールドレンズである請求項5記載の装置。
  8. 8.前記第2及び第3のレンズが、協働して前記フィルターがかけられた光信号 を位置検出器の位置検知方向に拡大する請求項3記載の装置。
  9. 9.前記一組の光学要素が、受け取った光信号をフィルターにかけるために、物 体の高さ形状に関連したプログラム可能なマスクを包含している請求項1記載の 装置。
  10. 10.前記一組の光学要素が、受け取った光信号をフィルターにかけるために、 固定開口部を有するマスクを包含している請求項1記載の装置。
  11. 11.前記第1のレンズが第1の焦点距離を有しており、その第1のレンズが、 物体からその第1の焦点距離にほぼ等しい距離を隔てて位置するように取りつけ られている請求項9記載の装置。
  12. 12.前記マスクが、前記第1のレンズから第1の焦点距離にほぼ等しい距離を 隔てて配置されている請求項11記載の装置。
  13. 13.一つの感光性検出器が、反射した光信号の放射エネルギー量を測定し、そ れによって、その放射エネルギーを電流に変換するために使用されている請求項 1記載の方法又は請求項3記載の装置。
  14. 14.前記光検出器が、40mm2より小さな検出領域を有する半導体装置であ る請求項13記載の装置。
  15. 15.前記光検出器が、20mm2より小さな検出領域を有する請求項13記載 の装置。
  16. 16.前記制御されたビームが、レーザー走査ビームである請求項1乃至3のい ずれかに記載の装置。
  17. 17.前記レーザー走査ビームが、音響光学デフレクターで供給される請求項1 6記載の装置。
  18. 18.前記光デフレクターが直流ビームをさらに供給し、直流ビームの放射エネ ルギー量が測定されてその測定値に比例した制御信号を発生させ、その制御信号 が、光デフレクターが物体をほぼ均一に発光させるように光デフレクターを制御 するために使用される請求項17記載の装置。
  19. 19.前記フィルターをかけられた光信号の視野が、伝達装置によって位置検出 器を超えて伝達され、物体の寸法情報の範囲を拡張する請求項1乃至3のいずれ かに記載の方法又は装置。
  20. 20.前記変換装置が、前記フィルターをかけられた光信号を反射するための追 跡ミラー、及びその追跡ミラーの動きを制御するための制御装置を包含している 請求項19記載の装置。
  21. 21.走査方向で制御された光ビームを20度よりも小さな第1の所定の角度で 物体の表面に走査して反射光信号を発生させるための光デフレクターを包含して いる飛点走査装置、第2の角度でその反射した光信号を受取りその反射した光信 号にフィルターをかけるための第1及び第2のレンズを包含する1組の光学要素 、 反射した光信号の放射エネルギー量を測定し、その測定値に比例した少なくとも 1つの電気信号を発生させるための単一の小面積位置検出器を包含する測定手段 、その少なくとも1つの電気信号から、反射光信号の中心値を計算する信号処理 手段、及び 位置検出器の位置検知方向に拡大するための第3のレンズ、及びその光信号を位 置検出器に送り出すための比較的焦点距離の短い第4のレンズを包含しているア ナモルフィック拡大レンズ及びフィールドレンズ装置を包含していることを特徴 とする観察装置の物体の画像を高速かつ高解像度で3次元的に結像させてその物 体の寸法情報を展開する装置。
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WO (1) WO1989007238A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003535319A (ja) * 2000-05-30 2003-11-25 カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 距離測定用および/または面傾斜度測定用の光センサ
JP2018084582A (ja) * 2016-11-22 2018-05-31 アントン パール ゲーエムベーハーAnton Paar GmbH 実質的に水平な側方視で、走査型プローブ顕微鏡の試料とプローブとの間のギャップを撮像する走査型プローブ顕微鏡及び方法

Families Citing this family (115)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5179287A (en) * 1990-07-06 1993-01-12 Omron Corporation Displacement sensor and positioner
NL9002869A (nl) * 1990-12-27 1992-07-16 Philips Nv Inrichting voor het optisch meten van de hoogte van een oppervlak.
US5309222A (en) * 1991-07-16 1994-05-03 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Surface undulation inspection apparatus
US5237167A (en) * 1991-12-18 1993-08-17 Eastman Kodak Company Autofocussing system having anamorphic optics
JP2943499B2 (ja) * 1992-04-22 1999-08-30 日本電気株式会社 高さ測定方法および装置
US5412420A (en) * 1992-10-26 1995-05-02 Pheno Imaging, Inc. Three-dimensional phenotypic measuring system for animals
US5652658A (en) * 1993-10-19 1997-07-29 View Engineering, Inc. Grid array inspection system and method
US5668631A (en) 1993-12-20 1997-09-16 Minolta Co., Ltd. Measuring system with improved method of reading image data of an object
US6407817B1 (en) 1993-12-20 2002-06-18 Minolta Co., Ltd. Measuring system with improved method of reading image data of an object
US5684582A (en) * 1994-03-18 1997-11-04 Lucid Technologies, Inc. Spectrophotometry
US5742389A (en) * 1994-03-18 1998-04-21 Lucid Technologies Inc. Spectrophotometer and electro-optic module especially suitable for use therein
US5654799A (en) * 1995-05-05 1997-08-05 Measurex Corporation Method and apparatus for measuring and controlling the surface characteristics of sheet materials such as paper
FR2735859B1 (fr) * 1995-06-23 1997-09-05 Kreon Ind Procede d'acquisition et de numerisation d'objets au travers d'une paroi transparente et systeme de mise en oeuvre d'un tel procede
US5666325A (en) * 1995-07-31 1997-09-09 Nordson Corporation Method and apparatus for monitoring and controlling the dispensing of materials onto a substrate
US20010041843A1 (en) * 1999-02-02 2001-11-15 Mark Modell Spectral volume microprobe arrays
US5644141A (en) * 1995-10-12 1997-07-01 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Apparatus and method for high-speed characterization of surfaces
US6141105A (en) * 1995-11-17 2000-10-31 Minolta Co., Ltd. Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method
US6028671A (en) * 1996-01-31 2000-02-22 General Scanning, Inc. Method and system for suppressing unwanted reflections in an optical system
US6049385A (en) 1996-06-05 2000-04-11 Minolta Co., Ltd. Three dimensional measurement system and pickup apparatus
US5859924A (en) * 1996-07-12 1999-01-12 Robotic Vision Systems, Inc. Method and system for measuring object features
WO1998007022A1 (en) * 1996-08-16 1998-02-19 Imaging Research, Inc. A digital imaging system for assays in well plates, gels and blots
US5815272A (en) * 1996-10-23 1998-09-29 Harding; Kevin G. Filter for laser gaging system
JP3873401B2 (ja) * 1996-11-19 2007-01-24 コニカミノルタセンシング株式会社 3次元計測システム
US6556783B1 (en) * 1997-01-16 2003-04-29 Janet L. Gelphman Method and apparatus for three dimensional modeling of an object
US6118540A (en) * 1997-07-11 2000-09-12 Semiconductor Technologies & Instruments, Inc. Method and apparatus for inspecting a workpiece
US5956134A (en) * 1997-07-11 1999-09-21 Semiconductor Technologies & Instruments, Inc. Inspection system and method for leads of semiconductor devices
US6134013A (en) * 1997-09-15 2000-10-17 Optimet, Optical Metrology Ltd. Optical ball grid array inspection system
US6072898A (en) 1998-01-16 2000-06-06 Beaty; Elwin M. Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components
US6366357B1 (en) 1998-03-05 2002-04-02 General Scanning, Inc. Method and system for high speed measuring of microscopic targets
US6098031A (en) * 1998-03-05 2000-08-01 Gsi Lumonics, Inc. Versatile method and system for high speed, 3D imaging of microscopic targets
US6233049B1 (en) * 1998-03-25 2001-05-15 Minolta Co., Ltd. Three-dimensional measurement apparatus
US6181472B1 (en) * 1998-06-10 2001-01-30 Robotic Vision Systems, Inc. Method and system for imaging an object with a plurality of optical beams
US6424422B1 (en) * 1998-06-18 2002-07-23 Minolta Co., Ltd. Three-dimensional input device
US7353954B1 (en) 1998-07-08 2008-04-08 Charles A. Lemaire Tray flipper and method for parts inspection
AU4975399A (en) * 1998-07-08 2000-02-01 Lennard H. Bieman Machine vision and semiconductor handling
US6956963B2 (en) 1998-07-08 2005-10-18 Ismeca Europe Semiconductor Sa Imaging for a machine-vision system
DE19849793C1 (de) * 1998-10-28 2000-03-16 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung und Verfahren zur berührungslosen Erfassung von Unebenheiten in einer gewölbten Oberfläche
DE19855478B4 (de) * 1998-12-01 2006-01-12 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur optischen Erfassung einer Kontrastlinie
US6553138B2 (en) 1998-12-30 2003-04-22 New York University Method and apparatus for generating three-dimensional representations of objects
US6483345B1 (en) * 1999-06-23 2002-11-19 Nortel Networks Limited High speed level shift circuit for low voltage output
US6788411B1 (en) 1999-07-08 2004-09-07 Ppt Vision, Inc. Method and apparatus for adjusting illumination angle
US7034272B1 (en) 1999-10-05 2006-04-25 Electro Scientific Industries, Inc. Method and apparatus for evaluating integrated circuit packages having three dimensional features
US8788092B2 (en) 2000-01-24 2014-07-22 Irobot Corporation Obstacle following sensor scheme for a mobile robot
US8412377B2 (en) 2000-01-24 2013-04-02 Irobot Corporation Obstacle following sensor scheme for a mobile robot
US6956348B2 (en) 2004-01-28 2005-10-18 Irobot Corporation Debris sensor for cleaning apparatus
US6501554B1 (en) 2000-06-20 2002-12-31 Ppt Vision, Inc. 3D scanner and method for measuring heights and angles of manufactured parts
US6624899B1 (en) * 2000-06-29 2003-09-23 Schmitt Measurement Systems, Inc. Triangulation displacement sensor
US6870611B2 (en) * 2001-07-26 2005-03-22 Orbotech Ltd. Electrical circuit conductor inspection
EP1220596A1 (en) * 2000-12-29 2002-07-03 Icos Vision Systems N.V. A method and an apparatus for measuring positions of contact elements of an electronic component
US7571511B2 (en) 2002-01-03 2009-08-11 Irobot Corporation Autonomous floor-cleaning robot
US6690134B1 (en) 2001-01-24 2004-02-10 Irobot Corporation Method and system for robot localization and confinement
US7663333B2 (en) 2001-06-12 2010-02-16 Irobot Corporation Method and system for multi-mode coverage for an autonomous robot
US8396592B2 (en) 2001-06-12 2013-03-12 Irobot Corporation Method and system for multi-mode coverage for an autonomous robot
US9128486B2 (en) 2002-01-24 2015-09-08 Irobot Corporation Navigational control system for a robotic device
US6750974B2 (en) 2002-04-02 2004-06-15 Gsi Lumonics Corporation Method and system for 3D imaging of target regions
US20030222143A1 (en) * 2002-06-04 2003-12-04 Mitchell Phillip V. Precision laser scan head
US7202965B2 (en) * 2002-07-16 2007-04-10 Stanley Korn Method of using printed forms to transmit the information necessary to create electronic forms
US8386081B2 (en) 2002-09-13 2013-02-26 Irobot Corporation Navigational control system for a robotic device
US8428778B2 (en) 2002-09-13 2013-04-23 Irobot Corporation Navigational control system for a robotic device
WO2005013209A2 (en) * 2003-08-01 2005-02-10 Cummins-Allison Corp. Currency processing device and method
US7030383B2 (en) 2003-08-04 2006-04-18 Cadent Ltd. Speckle reduction method and apparatus
US7332890B2 (en) 2004-01-21 2008-02-19 Irobot Corporation Autonomous robot auto-docking and energy management systems and methods
US7535071B2 (en) * 2004-03-29 2009-05-19 Evolution Robotics, Inc. System and method of integrating optics into an IC package
WO2005109859A2 (en) * 2004-05-01 2005-11-17 Eliezer Jacob Digital camera with non-uniform image resolution
WO2006002385A1 (en) 2004-06-24 2006-01-05 Irobot Corporation Programming and diagnostic tool for a mobile robot
US7706917B1 (en) 2004-07-07 2010-04-27 Irobot Corporation Celestial navigation system for an autonomous robot
US8972052B2 (en) 2004-07-07 2015-03-03 Irobot Corporation Celestial navigation system for an autonomous vehicle
US8392021B2 (en) 2005-02-18 2013-03-05 Irobot Corporation Autonomous surface cleaning robot for wet cleaning
ATE523130T1 (de) 2005-02-18 2011-09-15 Irobot Corp Selbstfahrender flächenreinigungsroboter für nass-und trockenreinigung
US7620476B2 (en) 2005-02-18 2009-11-17 Irobot Corporation Autonomous surface cleaning robot for dry cleaning
US8930023B2 (en) 2009-11-06 2015-01-06 Irobot Corporation Localization by learning of wave-signal distributions
US7385688B1 (en) 2005-06-22 2008-06-10 Kla-Tencor Technologies Corp. Multi-spot illumination and collection optics for highly tilted wafer planes
US7345752B1 (en) * 2005-06-22 2008-03-18 Kla-Tencor Technologies Corp. Multi-spot illumination and collection optics for highly tilted wafer planes
US7365862B2 (en) * 2005-10-24 2008-04-29 General Electric Company Methods and apparatus for inspecting an object
KR101300493B1 (ko) 2005-12-02 2013-09-02 아이로보트 코퍼레이션 커버리지 로봇 이동성
EP1969438B1 (en) 2005-12-02 2009-09-09 iRobot Corporation Modular robot
EP2533120B1 (en) 2005-12-02 2019-01-16 iRobot Corporation Robot system
EP2816434A3 (en) 2005-12-02 2015-01-28 iRobot Corporation Autonomous coverage robot
EP2829939B1 (en) 2005-12-02 2019-11-13 iRobot Corporation Autonomous coverage robot navigation system
US7483151B2 (en) * 2006-03-17 2009-01-27 Alpineon D.O.O. Active 3D triangulation-based imaging method and device
US7564544B2 (en) * 2006-03-22 2009-07-21 3i Systems Corporation Method and system for inspecting surfaces with improved light efficiency
EP2548492B1 (en) 2006-05-19 2016-04-20 iRobot Corporation Removing debris from cleaning robots
US8417383B2 (en) 2006-05-31 2013-04-09 Irobot Corporation Detecting robot stasis
WO2008124397A1 (en) 2007-04-03 2008-10-16 David Fishbaine Inspection system and method
KR20140123110A (ko) 2007-05-09 2014-10-21 아이로보트 코퍼레이션 소형 자율 커버리지 로봇
JP5027735B2 (ja) * 2007-05-25 2012-09-19 サッポロビール株式会社 発泡性アルコール飲料の製造方法
CN101413789B (zh) * 2007-10-18 2010-09-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 表面轮廓检测装置及其检测方法
CN101861228B (zh) 2007-11-14 2013-09-11 浜松光子学株式会社 激光加工装置以及激光加工方法
RU2008101723A (ru) * 2008-01-16 2009-07-27 ООО Крейф (RU) Способ ввода с помощью дистанционного указателя, комплекс дистанционный указатель его реализующий и способ идентификации с их помощью
US20100226114A1 (en) * 2009-03-03 2010-09-09 David Fishbaine Illumination and imaging system
CN102724903B (zh) 2010-02-16 2015-11-25 艾罗伯特公司 真空吸尘器毛刷
US8314938B2 (en) * 2010-07-30 2012-11-20 Canon Kabushiki Kaisha Method and apparatus for measuring surface profile of an object
US8416403B2 (en) 2010-10-29 2013-04-09 GII Acquisitiom, LLC Method and system for high-speed, high-resolution 3-D imaging of manufactured parts of various sizes
US9372160B2 (en) 2011-05-17 2016-06-21 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting the ends of a manufactured part at a single inspection station having a measurement axis
US9575013B2 (en) 2011-05-17 2017-02-21 Gii Acquisition, Llc Non-contact method and system for inspecting a manufactured part at an inspection station having a measurement axis
US10094785B2 (en) 2011-05-17 2018-10-09 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting headed manufactured parts
US9228957B2 (en) 2013-05-24 2016-01-05 Gii Acquisition, Llc High speed method and system for inspecting a stream of parts
US10088431B2 (en) 2011-05-17 2018-10-02 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting headed manufactured parts
US9697596B2 (en) 2011-05-17 2017-07-04 Gii Acquisition, Llc Method and system for optically inspecting parts
US9042963B2 (en) * 2012-01-09 2015-05-26 Given Imaging Ltd. System and method for acquiring images from within a tissue
EP2867611A4 (en) 2012-06-27 2016-12-07 Pentair Water Pool & Spa Inc SWIMMING POOL CLEANER WITH LASER REMOVAL MEASUREMENT SYSTEM AND METHOD THEREFOR
GB2506106A (en) * 2012-08-14 2014-03-26 Light Blue Optics Ltd Touch sensing systems using a pair of beam deflectors controlled in tandem
US9486840B2 (en) * 2013-05-24 2016-11-08 Gii Acquisition, Llc High-speed, triangulation-based, 3-D method and system for inspecting manufactured parts and sorting the inspected parts
US8993914B2 (en) 2012-12-14 2015-03-31 Gii Acquisition, Llc High-speed, high-resolution, triangulation-based, 3-D method and system for inspecting manufactured parts and sorting the inspected parts
US9539619B2 (en) 2013-05-24 2017-01-10 Gii Acquisition, Llc High speed method and system for inspecting a stream of parts at a pair of inspection stations
US10207297B2 (en) 2013-05-24 2019-02-19 GII Inspection, LLC Method and system for inspecting a manufactured part at an inspection station
US10300510B2 (en) * 2014-08-01 2019-05-28 General Inspection Llc High speed method and system for inspecting a stream of parts
TWI595445B (zh) * 2016-08-31 2017-08-11 致茂電子股份有限公司 抗雜訊之立體掃描系統
EP3367333B1 (de) * 2017-02-28 2021-11-24 Phenospex B.V. Verfahren zur charakterisierung eines objekts
CN107218903B (zh) * 2017-05-09 2019-05-17 中国科学院上海光学精密机械研究所 隐性结构光三维成像方法
EP3441712A1 (de) * 2017-08-08 2019-02-13 Klingelnberg AG Koordinaten-messvorrichtung mit optischem sensor und entsprechendes verfahren
WO2019040653A1 (en) 2017-08-22 2019-02-28 Pentair Water Pool And Spa, Inc. SWIMMING POOL CLEANER ALGORITHM
US11815604B2 (en) 2020-05-27 2023-11-14 Shenzhen Litra Technology Co., Ltd. Passive nano-antenna array receiver and three-dimensional imaging system
CN111521993B (zh) * 2020-05-27 2023-07-28 深圳力策科技有限公司 一种无源纳米天线阵列接收器及三维成像系统
FR3139895B1 (fr) 2022-09-16 2024-12-20 Constellium Neuf Brisach Dispositif et procédé de contrôle de planéité d’une tôle métallique.

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4355904A (en) * 1978-09-25 1982-10-26 Balasubramanian N Optical inspection device for measuring depthwise variations from a focal plane
US4299491A (en) * 1979-12-11 1981-11-10 United Technologies Corporation Noncontact optical gauging system
US4473750A (en) * 1980-07-25 1984-09-25 Hitachi, Ltd. Three-dimensional shape measuring device
US4534650A (en) * 1981-04-27 1985-08-13 Inria Institut National De Recherche En Informatique Et En Automatique Device for the determination of the position of points on the surface of a body
US4627734A (en) * 1983-06-30 1986-12-09 Canadian Patents And Development Limited Three dimensional imaging method and device
JPS60117102A (ja) * 1983-11-30 1985-06-24 Hitachi Ltd 溶接線倣い検出装置
JPS61169822A (ja) * 1985-01-23 1986-07-31 Hoya Corp 直交偏波型光周波数シフタ
US4643578A (en) * 1985-03-04 1987-02-17 Robotic Vision Systems, Inc. Arrangement for scanned 3-D measurement
US4732485A (en) * 1985-04-17 1988-03-22 Olympus Optical Co., Ltd. Optical surface profile measuring device
US4798469A (en) * 1985-10-02 1989-01-17 Burke Victor B Noncontact gage system utilizing reflected light
US4796997A (en) * 1986-05-27 1989-01-10 Synthetic Vision Systems, Inc. Method and system for high-speed, 3-D imaging of an object at a vision station
US4758093A (en) * 1986-07-11 1988-07-19 Robotic Vision Systems, Inc. Apparatus and method for 3-D measurement using holographic scanning

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003535319A (ja) * 2000-05-30 2003-11-25 カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 距離測定用および/または面傾斜度測定用の光センサ
JP2018084582A (ja) * 2016-11-22 2018-05-31 アントン パール ゲーエムベーハーAnton Paar GmbH 実質的に水平な側方視で、走査型プローブ顕微鏡の試料とプローブとの間のギャップを撮像する走査型プローブ顕微鏡及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
US5024529A (en) 1991-06-18
ES2012221A6 (es) 1990-03-01
WO1989007238A1 (en) 1989-08-10
EP0397672A1 (en) 1990-11-22
DE3852890D1 (de) 1995-03-09
USRE36560E (en) 2000-02-08
BR8807464A (pt) 1990-05-15
EP0397672B1 (en) 1995-01-25
DE3852890T2 (de) 1995-08-03
JPH0585845B2 (ja) 1993-12-09
CA1287486C (en) 1991-08-13

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