JPH0350448Y2 - - Google Patents
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- JPH0350448Y2 JPH0350448Y2 JP6238685U JP6238685U JPH0350448Y2 JP H0350448 Y2 JPH0350448 Y2 JP H0350448Y2 JP 6238685 U JP6238685 U JP 6238685U JP 6238685 U JP6238685 U JP 6238685U JP H0350448 Y2 JPH0350448 Y2 JP H0350448Y2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 37
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 229910001410 inorganic ion Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000003480 eluent Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
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- 238000004255 ion exchange chromatography Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
産業上の利用分野
本考案は、イオンクロマトグラフの検出用セル
に設けられた電導度検出器により検出されるバツ
クグラウンド信号を除去する電導度検出器用のバ
ツクグラウンド信号除去装置に関する。
に設けられた電導度検出器により検出されるバツ
クグラウンド信号を除去する電導度検出器用のバ
ツクグラウンド信号除去装置に関する。
従来の技術
分離カラムに試料と溶離液とを導入し、分離カ
ラムにおいて分離溶出された試料成分である無機
イオンを電導度検出器を備える検出用セルに導入
し、その無機イオンを検出するイオンクロマトグ
ラフのカラム方式においては、分離カラムの後段
に溶離液として用いる酸又は塩基性の電解質を除
去するための除去システムを接続したサプレツサ
方式と、除去システムを具備しないノンサプレツ
サ方式とが知られている。ノンサプレツサ方式に
おいては、除去システムを具備していないため、
検出用セルの電導度検出器からはレベルの高いバ
ツクグラウンド信号が発生されるが、このバツク
グラウンド信号の中から無機イオンを検出対象と
する微弱な測定信号を検出しなければならない。
ラムにおいて分離溶出された試料成分である無機
イオンを電導度検出器を備える検出用セルに導入
し、その無機イオンを検出するイオンクロマトグ
ラフのカラム方式においては、分離カラムの後段
に溶離液として用いる酸又は塩基性の電解質を除
去するための除去システムを接続したサプレツサ
方式と、除去システムを具備しないノンサプレツ
サ方式とが知られている。ノンサプレツサ方式に
おいては、除去システムを具備していないため、
検出用セルの電導度検出器からはレベルの高いバ
ツクグラウンド信号が発生されるが、このバツク
グラウンド信号の中から無機イオンを検出対象と
する微弱な測定信号を検出しなければならない。
前記した微弱な測定信号を検出する従来の回路
装置を第４図に基づいて説明すると、正弦波発生
器１から発生される図示の1KHzの周波数を持つ
正弦波信号Ａが不図示の分離カラムから分離溶出
された無機イオンと溶離液とが導入される検出用
セル２に入力される。無機イオンを検出対象とす
る測定信号は秒オーダの時間幅を持つピーク波形
信号であるから、正弦波信号Ａにより変調され、
検出用セル２から図示の変調波信号Ｂを出力し、
これを加算器３に入力する。一方、正弦波発生器
１の正弦波信号Ａは反転アンプ４により反転さ
れ、極性の反転した正弦波信号Ｃをアツテネータ
５に加え、ここで減衰された正弦波信号Ｄが加算
器３に入力される。加算器３の出力信号は高利得
アンプ６により増幅され、図示の出力信号Ｅを同
期検波回路７に入力し、検波された復調信号Ｆを
ローパスフイルタ８に入力し、平滑した信号を不
図示のデータ処理装置やCRTの如き表示装置に
入力する。バツクグラウンド信号の除去は、オペ
レータがローパスフイルタ８を介し出力装置に表
示される信号を観測し、バツクグラウンド信号が
消失される迄アツテネータ５を手動制御すること
により行なわれる。
装置を第４図に基づいて説明すると、正弦波発生
器１から発生される図示の1KHzの周波数を持つ
正弦波信号Ａが不図示の分離カラムから分離溶出
された無機イオンと溶離液とが導入される検出用
セル２に入力される。無機イオンを検出対象とす
る測定信号は秒オーダの時間幅を持つピーク波形
信号であるから、正弦波信号Ａにより変調され、
検出用セル２から図示の変調波信号Ｂを出力し、
これを加算器３に入力する。一方、正弦波発生器
１の正弦波信号Ａは反転アンプ４により反転さ
れ、極性の反転した正弦波信号Ｃをアツテネータ
５に加え、ここで減衰された正弦波信号Ｄが加算
器３に入力される。加算器３の出力信号は高利得
アンプ６により増幅され、図示の出力信号Ｅを同
期検波回路７に入力し、検波された復調信号Ｆを
ローパスフイルタ８に入力し、平滑した信号を不
図示のデータ処理装置やCRTの如き表示装置に
入力する。バツクグラウンド信号の除去は、オペ
レータがローパスフイルタ８を介し出力装置に表
示される信号を観測し、バツクグラウンド信号が
消失される迄アツテネータ５を手動制御すること
により行なわれる。
考案が解決しようとする問題点
オペレータの手動操作によるバツクグラウンド
信号の除去に加え、検出用セルのバツクグラウン
ド信号の発生を遅延要素であるローパスフイルタ
を介し、出力装置に表示された信号をオペレータ
が確認し、制御するものであるから、速応性のあ
るバツクグラウンド信号の除去を行なうことがで
きず、しかもアツテネータの制御を手動で行なつ
ているため、その制御操作作業は煩らわしいもの
となつている。
信号の除去に加え、検出用セルのバツクグラウン
ド信号の発生を遅延要素であるローパスフイルタ
を介し、出力装置に表示された信号をオペレータ
が確認し、制御するものであるから、速応性のあ
るバツクグラウンド信号の除去を行なうことがで
きず、しかもアツテネータの制御を手動で行なつ
ているため、その制御操作作業は煩らわしいもの
となつている。
本考案は、前記した従来技術の有する問題点に
かんがみ、速応性をもちかつ自動的に検出用セル
から出力されるバツクグラウンド信号を除去する
電導度検出器用のバツクグラウンド信号除去装置
を提供することを目的とする。
かんがみ、速応性をもちかつ自動的に検出用セル
から出力されるバツクグラウンド信号を除去する
電導度検出器用のバツクグラウンド信号除去装置
を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
本考案は、前記目的を達成するため、正弦波信
号が入力される検出用セルと、該検出用セルの出
力信号と該正弦波信号を反転し、アツテネータに
より減衰されたバツクグラウンド除去信号とを加
算する加算器と、該加算器の出力信号を検波し、
ろ波する回路とを備えるものにおいて、前記正弦
波信号を入力され、所定位相のパルスを発生する
位相検出回路と、前記位相検出回路と加算器とか
らの出力信号を入力され、検出用セルから発生さ
れるバツクグラウンド信号を除去するようにアツ
テネータを制御するコントロール回路とを備える
電導度検出器用のバツクグラウンド信号除去装置
にある。
号が入力される検出用セルと、該検出用セルの出
力信号と該正弦波信号を反転し、アツテネータに
より減衰されたバツクグラウンド除去信号とを加
算する加算器と、該加算器の出力信号を検波し、
ろ波する回路とを備えるものにおいて、前記正弦
波信号を入力され、所定位相のパルスを発生する
位相検出回路と、前記位相検出回路と加算器とか
らの出力信号を入力され、検出用セルから発生さ
れるバツクグラウンド信号を除去するようにアツ
テネータを制御するコントロール回路とを備える
電導度検出器用のバツクグラウンド信号除去装置
にある。
作 用
正弦波信号を入力された検出用セルの出力信号
と、正弦波信号を反転し、アツテネータにより減
衰された出力信号とを加算器に入力し、その加算
信号をコントロール回路に入力する。一方、正弦
波信号を入力され、所定位相のパルスを発生する
位相検出回路の出力信号をコントロール回路に加
え、検出用セルから発生されるバツクグラウンド
信号を除去するようにアツテネータを制御する。
と、正弦波信号を反転し、アツテネータにより減
衰された出力信号とを加算器に入力し、その加算
信号をコントロール回路に入力する。一方、正弦
波信号を入力され、所定位相のパルスを発生する
位相検出回路の出力信号をコントロール回路に加
え、検出用セルから発生されるバツクグラウンド
信号を除去するようにアツテネータを制御する。
実施例
以下に、本考案の電導度検出器用のバツクグラ
ウンド信号除去装置の実施例を説明する。
ウンド信号除去装置の実施例を説明する。
第１図は本考案の一実施例装置のブロツク図を
示すが、同図における参照符号１乃至４，６乃至
８を付したものは第４図に示す同一参照符号を付
したものと同一構造、同一機能を有するものであ
るから、それらの個々の説明および作用について
の説明は省略する。
示すが、同図における参照符号１乃至４，６乃至
８を付したものは第４図に示す同一参照符号を付
したものと同一構造、同一機能を有するものであ
るから、それらの個々の説明および作用について
の説明は省略する。
第１図において、反転アンプ４に接続されたア
ツテネータ９は並列接続された抵抗と、これに直
列接続されたスイツチとからなり、それらのスイ
ツチは後述するコントロール回路１１からの出力
信号により制御される。１０は位相検出回路で、
第３図Ａに示す正弦波発生器１の正弦波信号が入
力されると、所定レベル以上にて第３図Ｂに示す
パルス信号を発生し、これをコントロール回路１
１に入力する。コントロール回路１１は高利得ア
ンプ６と位相検出回路１０との出力信号が入力さ
れるもので、その詳細を第２図に示す。第２図に
おいて、１２は比較器で、高利得アンプ６の出力
信号と、バツクグラウンド信号をその値より低く
するための基準電圧VRとが入力され、その偏差
信号を出力する。１３は第１のアンドゲートで、
比較器１２の偏差信号と不図示のクロツク発生器
からのクロツク信号とが入力され、比較器１２の
偏差信号が正極性の間クロツク信号を出力する。
１４は第２のアンドゲートで、アンドゲート１３
のクロツク信号と、位相検出回路１０の出力信号
と、バツクグラウンド除去指令信号とが入力さ
れ、それらのアンド信号が出力される。１５はＮ
ビツトバイナリカウンタで、アンドゲート１４か
らのパルスを計数し、その計数出力に対応してア
ツテネータ９のスイツチを開閉する。
ツテネータ９は並列接続された抵抗と、これに直
列接続されたスイツチとからなり、それらのスイ
ツチは後述するコントロール回路１１からの出力
信号により制御される。１０は位相検出回路で、
第３図Ａに示す正弦波発生器１の正弦波信号が入
力されると、所定レベル以上にて第３図Ｂに示す
パルス信号を発生し、これをコントロール回路１
１に入力する。コントロール回路１１は高利得ア
ンプ６と位相検出回路１０との出力信号が入力さ
れるもので、その詳細を第２図に示す。第２図に
おいて、１２は比較器で、高利得アンプ６の出力
信号と、バツクグラウンド信号をその値より低く
するための基準電圧VRとが入力され、その偏差
信号を出力する。１３は第１のアンドゲートで、
比較器１２の偏差信号と不図示のクロツク発生器
からのクロツク信号とが入力され、比較器１２の
偏差信号が正極性の間クロツク信号を出力する。
１４は第２のアンドゲートで、アンドゲート１３
のクロツク信号と、位相検出回路１０の出力信号
と、バツクグラウンド除去指令信号とが入力さ
れ、それらのアンド信号が出力される。１５はＮ
ビツトバイナリカウンタで、アンドゲート１４か
らのパルスを計数し、その計数出力に対応してア
ツテネータ９のスイツチを開閉する。
本実施例装置の作用を説明すると、高利得アン
プ６の出力信号が比較器１２に入力され、基準電
圧VRとの比較を行ない、その偏差信号をアンド
ゲート１３に入力する。アンドゲート１３は比較
器１２の偏差信号とクロツク信号とのアンドをと
り、アンド出力であるクロツク信号をアンドゲー
ト１４に入力する。アンドゲートは、これに入力
される位相検出回路１０の出力信号とバツクグラ
ウンド除去指令信号とのアンドをとり、アンド出
力であるクロツク信号を出力し、これをＮビツト
バイナリカウンタ１５に入力する。このカウンタ
１５は入力されるクロツク信号を計数し、その計
数内容に対応してアツテネータ９のスイツチの開
閉を行なう。アツテネータ９の出力信号は加算器
３に入力され、検出用セル２から出力されるバツ
クグラウンド信号の振幅が基準電圧VRよりも低
くなる迄アツテネータ９の抵抗値が制御され、こ
れによりバツクグラウンド信号が除去される。
プ６の出力信号が比較器１２に入力され、基準電
圧VRとの比較を行ない、その偏差信号をアンド
ゲート１３に入力する。アンドゲート１３は比較
器１２の偏差信号とクロツク信号とのアンドをと
り、アンド出力であるクロツク信号をアンドゲー
ト１４に入力する。アンドゲートは、これに入力
される位相検出回路１０の出力信号とバツクグラ
ウンド除去指令信号とのアンドをとり、アンド出
力であるクロツク信号を出力し、これをＮビツト
バイナリカウンタ１５に入力する。このカウンタ
１５は入力されるクロツク信号を計数し、その計
数内容に対応してアツテネータ９のスイツチの開
閉を行なう。アツテネータ９の出力信号は加算器
３に入力され、検出用セル２から出力されるバツ
クグラウンド信号の振幅が基準電圧VRよりも低
くなる迄アツテネータ９の抵抗値が制御され、こ
れによりバツクグラウンド信号が除去される。
なお、本実施例装置において、高利得アンプの
出力をコントロール回路に入力させているが、加
算器の出力を直接入力しても同様な作用効果を奏
することができる。
出力をコントロール回路に入力させているが、加
算器の出力を直接入力しても同様な作用効果を奏
することができる。
考案の効果
以上説明したように本考案によると、検出用セ
ルとアツテネータとの出力信号を加算する加算器
の出力信号と位相検出回路の出力信号とを、遅延
要素を介在させずにコントロール回路に入力し、
検出用セルから出力されるバツクグラウンド信号
を除去するようにアツテネータをコントロール回
路の出力信号により制御する構成であるから、従
来の除去方式に比し、バツクグラウンド信号を速
応性をもつてかつ自動的に制御し、除去すること
ができる。
ルとアツテネータとの出力信号を加算する加算器
の出力信号と位相検出回路の出力信号とを、遅延
要素を介在させずにコントロール回路に入力し、
検出用セルから出力されるバツクグラウンド信号
を除去するようにアツテネータをコントロール回
路の出力信号により制御する構成であるから、従
来の除去方式に比し、バツクグラウンド信号を速
応性をもつてかつ自動的に制御し、除去すること
ができる。
第１図乃至第３図は本考案の実施例装置に関す
るものを示し、第１図は本考案の一実施例装置の
ブロツク図、第２図はコントロール回路の細部を
示す回路図、第３図Ａは位相検出回路への入力波
形図、同図Ｂはその出力波形図、第４図は従来装
置のブロツク図である。 １は正弦波発生器、２は検出用セル、３は加算
器、４は反転アンプ、６は高利得アンプ、７は同
期検波回路、８はローパスフイルタ、９はアツテ
ネータ、１０は位相検出回路、１１はコントロー
ル回路、１２は比較器、１３と１４はアンドゲー
ト、１５はＮビツトバイナリカウンタを示す。
るものを示し、第１図は本考案の一実施例装置の
ブロツク図、第２図はコントロール回路の細部を
示す回路図、第３図Ａは位相検出回路への入力波
形図、同図Ｂはその出力波形図、第４図は従来装
置のブロツク図である。 １は正弦波発生器、２は検出用セル、３は加算
器、４は反転アンプ、６は高利得アンプ、７は同
期検波回路、８はローパスフイルタ、９はアツテ
ネータ、１０は位相検出回路、１１はコントロー
ル回路、１２は比較器、１３と１４はアンドゲー
ト、１５はＮビツトバイナリカウンタを示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 正弦波信号が入力される検出用セルと、該検
出用セルの出力信号と該正弦波信号を反転し、
アツテネータにより減衰されたバツクグラウン
ド除去信号とを加算する加算器と、該加算器の
出力信号を検波し、ろ波する回路とを備えるも
のにおいて、 前記正弦波信号を入力され、所定位相のパル
スを発生する位相検出回路と、 前記位相検出回路と加算器とからの出力信号
を入力され、検出用セルから発生されるバツク
グラウンド信号を除去するようにアツテネータ
を制御するコントロール回路と を備える電導度検出器用のバツクグラウンド信
号除去装置。 (2) 前記コントロール回路は加算回路からの出力
信号と基準電圧とが入力される比較器と、該比
較器からの偏差信号とクロツク信号とが入力さ
れる第１のアンドゲートと、該第１のアンドゲ
ートからの出力信号と、位相検出回路からの出
力信号と、バツクグラウンド除去指令信号とが
入力される第２のアンドゲートと、該第２のア
ンドゲートからの出力信号が入力され、アツテ
ネータを制御するＮビツトバイナリカウンタと
を備えることを特徴とする前記実用新案登録請
求の範囲(1)記載の電導度検出器用のバツクグラ
ウンド信号除去装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6238685U JPH0350448Y2 (ja) | 1985-04-25 | 1985-04-25 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6238685U JPH0350448Y2 (ja) | 1985-04-25 | 1985-04-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61178457U JPS61178457U (ja) | 1986-11-07 |
| JPH0350448Y2 true JPH0350448Y2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=30591556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6238685U Expired JPH0350448Y2 (ja) | 1985-04-25 | 1985-04-25 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0350448Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019155592A1 (ja) * | 2018-02-09 | 2019-08-15 | 株式会社島津製作所 | 電気伝導度検出器及びバックグランド減算信号の位相調整値を求めるための方法 |
-
1985
- 1985-04-25 JP JP6238685U patent/JPH0350448Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61178457U (ja) | 1986-11-07 |
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