JPH0350460Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「考案の目的」 （産業上の利用分野） 本考案は、IC等の電子部品の端子をテストす
る場合に使用されるクリツプ装置に係り、特にプ
リント基板に端子ピン数やピンピツチの異なる電
子部品が配置されている場合に最適なクリツプ装
置に関するものである。

（従来の技術） 従来よりICの端子をテストするために、端子
に対応するテストプローブを有するテストクリツ
プが使用され、該クリツプでICを挟持すること
によりテストプローブをIC端子に接触させるよ
うにしている。

一方、プリント基板に配置されたICの端子を
自動検査する際に使用される治具としては、樹脂
板に所定ピツチ（通常2.54mm）で格子状に孔を開
け、該樹脂板の任意の孔にテストプローブを立て
てこれを被検査プリント基板に接触させるように
していた。

（考案が解決しようとする問題点） ところが上記した従来の樹脂板とテストプロー
ブとからなる治具にあつては、被検査プリント基
板上のICが治具の孔に対応する位置に配置され
ていない場合には使用できない欠点があつた。

本考案の目的は上記した従来の欠点を解消し、
端子ピン数やピンピツチの異なる電子部品がプリ
ント基板上に配置されていてもこれらを適確にテ
ストできるようにした電子部品テスト用クリツプ
装置を提供することにある。

「考案の構成」 （問題点を解決するための手段） 本考案に係る電子部品テスト用クリツプ装置
は、クリツプベースに電子部品の端子ピンに対応
するテストプローブを立設し、該クリツプベース
の両端には先端側を常時閉じる方向に付勢されて
いるクリツプベースを分解自在に取り付け、上記
クリツプベース上には高さ調節自在にコネクタを
設けたものである。

（作用） クリツプ装置のコネクタを取り外した状態のも
のを使用し、クリツプレバーの後端側を摘まみ、
先端側を開いて電子部品を挟持するとテストプロ
ーブが端子ピンに接触して従来の通常のテストク
リツプとして使用できる。

プリント基板に配置された複数の電子部品の端
子テスト用治具として使用する場合には、各電子
部品に対応するクリツプ装置でそれぞれの電子部
品を挟持する。この状態で自動検査機に配置され
るべき保持ベース板（又は別に用意した定規板）
を定規として各クリツプ装置におけるコネクタの
高さを揃えた後、コネクタを介して各クリツプ装
置を保持ベース板にビス止め等によつて固定す
る。この状態で各クリツプ装置のクリツプレバー
を取り外す。これによつて保持ベース板には、プ
リント基板に配置された電子部品の端子ピンに対
応するテストプローブを備えたクリツプベースが
保持され、自動検査機に配置されるべき治具を得
ることができる。

この治具を自動検査機に配置して保持ベース板
を上記プリント基板側に接近させると各テストプ
ローブはその内部に挿入されているバネによつて
所定の圧接力で電子部品の端子に適確に接触す
る。

（実施例） 本考案に係る電子部品テスト用クリツプ装置の
実施例を第１図乃至第４図に基づいて説明する
が、第１図は斜視図、第２図は正面図、第３図は
クリツプレバーを取り外した状態の正面図、第４
図はコネクタを取り外した状態の斜視図である。

図において、１はクリツプ装置全体を示し、プ
リント基板２０に配置された電子部品２１の端子
ピン２２に対応するテストプローブ３を立設した
クリツプベース２と、該クリツプベース２の両端
に分解自在に取り付けられていて先端側を常時閉
じる方向に付勢されているクリツプレバー４と、
上記クリツプベース２上に取り付けられていて高
さ調節自在になつているコネクタ５とを備えてい
る。

上記した構成を説明すると、クリツプベース２
は上下二段の板６，７からなつていて電子部品の
端子数に対応する孔が穿設されており、これに多
数のテストプローブ３が挿入配置されている。こ
のテストプローブ３は内部にバネが内装されてい
て先端部が伸縮自在となつている。上段側板６の
両端には軸受部８を介してクリツプレバー４が取
り付けられるが、このクリツプレバー４はシヤフ
ト９を抜くと簡単に取り外し得るようになつてい
る。クリツプレバー４の先端には挟持爪４ａが形
成されており、該挟持爪で電子部品を挟持するよ
うになつている。対向するクリツプレバー４，４
間の先端部近くには引つ張りコイルバネ１０が配
置されていてクリツプレバー４，４の先端側が常
時閉じる方向に付勢されており、下段側板７がス
トツパーとなつているが、クリツプレバー４を取
り外すとこのコイルバネ１０も分解されるように
なつている。なお、この付勢手段としては、例え
ば、シヤフト部に捻りコイルバネを配置する形式
でもよい。

クリツプベース２の上面には着脱自在にコネク
タ５が取り付けられるが、このコネクタ５は固定
部材１１と可動部材１２とからなり、高さ調節は
調節用長孔１３を介して蝶ネジ１４で固定して行
なわれる。

この可動部材１２の上面には取付長孔１５が形
成されており、一方、自動検査機（図示しない）
にセツトされる保持ベース板１６には上記取付長
孔１５とクロスする方向の長孔１７が多数形成さ
れていてこれと上記取付長孔１５とが交わる位置
において取付ビス１８等によつて固定されるよう
になつている。

次に使用例を説明すると、クリツプ装置１のコ
ネクタ５を取り外した状態のものを使用し、クリ
ツプレバー４，４の後端側を摘まみ、先端側を開
いて電子部品２１を挟持するとテストプローブ３
が端子ピン２２に接触して従来の通常のテストク
リツプとして使用できる。

プリント基板２０に配置された複数の電子部品
２１の端子テスト用治具として使用する場合には
コネクタ５を取り付けたものが使用され、各電子
部品に対応するクリツプ装置でそれぞれの電子部
品２１を挟持する。この状態で自動検査機に配置
されるべき保持ベース板１６を各クリツプ装置１
の上方に乗せ、これをレベル定規としてコネクタ
５における可動部材１２の高さを揃えて蝶ネジ１
４で固定する。なお、このコネクタ高さのレベル
設定に際しては別に用意した定規板を用いてもよ
いこと勿論である。次に、各クリツプ装置１にお
ける可動部材１２の取付長孔１５と保持ベース板
１６の長孔１７との交点においてビス１８等によ
つて固定し、この状態で各クリツプ装置１のシヤ
フト９を抜き取つてクリツプレバー４を取り外
す。これによつて保持ベース板１６には、プリン
ト基板２０に配置された電子部品２１の端子ピン
２２に対応するテストプローブ３を備えたクリツ
プベース２が保持され、自動検査機に配置される
べき治具を得ることができる。

この治具を自動検査機に配置して保持ベース板
１６を上記プリント基板２０側に接近させると各
テストプローブ３はその内部に挿入されているバ
ネによつて所定の圧接力で電子部品２１の端子ピ
ン２２に適確に接触する。

「考案の効果」 本考案に係る電子部品テスト用クリツプ装置に
よれば、被検査部品たる電子部品の端子ピン数や
ピンピツチに応じたクリツプ装置を簡単に製作す
ることができると共にそのテストプローブの本数
等を可変することも容易である。また、これらク
リツプ装置を装備させることにより自動検査機に
用いられるクリツプ治具を簡単に得ることがで
き、プリント基板上に複数種の電子部品が配置さ
れている場合のテストクリツプ装置として最適で
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第４図は本考案に電子部品テスト用
クリツプ装置の実施例を示し、第１図は斜視図、
第２図は正面図、第３図はクリツプレバーを取り
外した状態の正面図、第４図はコネクタを取り外
した状態の斜視図である。 １：クリツプ装置全体、２：クリツプベース、
３：テストプローブ、４：クリツプレバー、５：
コネクタ、６，７：板、８：軸受部、９：シヤフ
ト、１０：バネ、１１：固定部材、１２：可動部
材、１３：調節用長孔、１４：蝶ネジ、１５：取
付長孔、１６：保持ベース板、１７：長孔、１
８：取付ビス、２０：プリント基板、２１：電子
部品、２２：端子ピン。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 電子部品の端子ピンに対応するテストプローブ
   を立設したクリツプベースと、該クリツプベース
   の両端に分解自在に取り付けられていて先端側を
   常時閉じる方向に付勢されているクリツプレバー
   と、上記クリツプベース上に取り付けられていて
   高さ調節自在になつているコネクタとを備えてい
   ることを特徴とする電子部品テスト用クリツプ装
   置。