JPH0352807B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0352807B2 JPH0352807B2 JP58109465A JP10946583A JPH0352807B2 JP H0352807 B2 JPH0352807 B2 JP H0352807B2 JP 58109465 A JP58109465 A JP 58109465A JP 10946583 A JP10946583 A JP 10946583A JP H0352807 B2 JPH0352807 B2 JP H0352807B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scale
- length
- measurement system
- tension
- angle measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/02—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/0011—Arrangements for eliminating or compensation of measuring errors due to temperature or weight
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- Medical Preparation Storing Or Oral Administration Devices (AREA)
- Infusion, Injection, And Reservoir Apparatuses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は特許請求の範囲第1項の上部概念に記
載した測定誤差補正装置を有する測長又は測角系
に関する。
載した測定誤差補正装置を有する測長又は測角系
に関する。
位置測定の際の測定誤差を補正するための上記
の種類の装置はすでに公知になつている。西ドイ
ツ国特許第2518745号公報には測長系が記載され
ており、この測長系においては直線的な測定誤差
の補正は尺度の両端を掴んでいる伸張および圧縮
装置により実現されている。非直線的な測定誤差
の補正は不可能である。
の種類の装置はすでに公知になつている。西ドイ
ツ国特許第2518745号公報には測長系が記載され
ており、この測長系においては直線的な測定誤差
の補正は尺度の両端を掴んでいる伸張および圧縮
装置により実現されている。非直線的な測定誤差
の補正は不可能である。
西ドイツ国特許第2735154号公報には一つの位
置測定系が公開されており、この測定系では測定
誤差補正のため尺度が、少くとも1つの位置にお
いて目盛り面にほぼ直角な方向に、押圧力又は引
張力の作用のもとに、誤差の値に対応して変形さ
せらている。この様な尺度を変形させることは、
若し走査単位が尺度の目盛り面上を導くことが不
可能であり、従つて、走査単位と尺度の目盛り面
との間の間隔の変動につて測定精度が悪化する可
能性がある場合には欠点となる。
置測定系が公開されており、この測定系では測定
誤差補正のため尺度が、少くとも1つの位置にお
いて目盛り面にほぼ直角な方向に、押圧力又は引
張力の作用のもとに、誤差の値に対応して変形さ
せらている。この様な尺度を変形させることは、
若し走査単位が尺度の目盛り面上を導くことが不
可能であり、従つて、走査単位と尺度の目盛り面
との間の間隔の変動につて測定精度が悪化する可
能性がある場合には欠点となる。
本発明の目的は測長又は測角系において簡単な
手段により、測定誤差、特に目盛り誤差および/
または機械的誤差を補正する非常に精密な装置を
提供し、該装置は万能的に使用可能なものにする
ことである。
手段により、測定誤差、特に目盛り誤差および/
または機械的誤差を補正する非常に精密な装置を
提供し、該装置は万能的に使用可能なものにする
ことである。
本発明によつて得られる効果は特に、提供され
た測定誤差補正装置が、大なる補正範囲に亘つ
て、直線的測定誤差補正ばかりでなく、非直線的
測定誤差の補正も可能であり、尺度の目盛り面の
平坦さを害する様なことがない。
た測定誤差補正装置が、大なる補正範囲に亘つ
て、直線的測定誤差補正ばかりでなく、非直線的
測定誤差の補正も可能であり、尺度の目盛り面の
平坦さを害する様なことがない。
本発明のその他の特徴を示す形成は実施態様項
に記載されている。
に記載されている。
本発明の実施例が添附図を用いて次に詳細に説
明される。
明される。
第1a,1b図によれば中空形材の形態のケー
ス1を有する測長系が、図示されていない工作機
械のベツド2にねじ結合3によつて固着されてい
る。工作機械の往復台4には連行体6を有する組
立台5が任意の態様で固着され、該連行体は刀身
状に平坦になつた部分7を介してスリツト8を通
過し、その他の部分では完全に閉鎖されているケ
ース1の内部に突入し、その際スリツト8に設け
られている弾性的な気密唇9はケース1の内部に
汚染が侵入するのを妨げている。ケース1の内面
には尺度10が弾性を有する粘着層11により取
付けられ、該尺度上に走査単位12がローラー1
3を介して支えられそして、照明装置、走査板お
よび光電素子から成る図示されていない公知の装
置を用いて、尺度10の目盛り14が走査され
る。目盛り14が走査される時走査単位12によ
り得られる周期的アナログ信号は、ベツド2と往
復台4との間の相対位置をデイジタルに表示する
ため、図示されていない評価/告知単位に導かれ
る。ベツド2に対する往復台4の相対運動は連行
体6によつて走査単位12に伝達される。
ス1を有する測長系が、図示されていない工作機
械のベツド2にねじ結合3によつて固着されてい
る。工作機械の往復台4には連行体6を有する組
立台5が任意の態様で固着され、該連行体は刀身
状に平坦になつた部分7を介してスリツト8を通
過し、その他の部分では完全に閉鎖されているケ
ース1の内部に突入し、その際スリツト8に設け
られている弾性的な気密唇9はケース1の内部に
汚染が侵入するのを妨げている。ケース1の内面
には尺度10が弾性を有する粘着層11により取
付けられ、該尺度上に走査単位12がローラー1
3を介して支えられそして、照明装置、走査板お
よび光電素子から成る図示されていない公知の装
置を用いて、尺度10の目盛り14が走査され
る。目盛り14が走査される時走査単位12によ
り得られる周期的アナログ信号は、ベツド2と往
復台4との間の相対位置をデイジタルに表示する
ため、図示されていない評価/告知単位に導かれ
る。ベツド2に対する往復台4の相対運動は連行
体6によつて走査単位12に伝達される。
第2−8図においては本発明の特徴を備えた尺
度10が示されている。第2a,2b図は、目盛
り14aを有する金属製尺度10aを平面図およ
び断面図により示し、この実施例においては、そ
の都度の測定誤差分布に応じて尺度10aの一部
分の長さを変化(伸張)させるための長手方向の
張力を発生させるは、尺度10aの表面に凹み1
5又は刻み目を形成することにより実現される。
凹み15又は刻み目を形成するのは図示されてい
ない円錐形又はくさび状の工具を用いて行なわれ
るか又は尺度を部分的にローラーで圧延すること
で行なわれる。
度10が示されている。第2a,2b図は、目盛
り14aを有する金属製尺度10aを平面図およ
び断面図により示し、この実施例においては、そ
の都度の測定誤差分布に応じて尺度10aの一部
分の長さを変化(伸張)させるための長手方向の
張力を発生させるは、尺度10aの表面に凹み1
5又は刻み目を形成することにより実現される。
凹み15又は刻み目を形成するのは図示されてい
ない円錐形又はくさび状の工具を用いて行なわれ
るか又は尺度を部分的にローラーで圧延すること
で行なわれる。
第3a−3d図は2つの平面図と2つの断面図
により、目盛り14dを有する尺度10bを示
し、この尺度においては、その都度の測定誤差分
布に応じて尺度10bの一部分の長さを変化させ
るための長手方向の張力を発生させるのは、引張
りばね16aおよび圧縮ばね16bの形態のばね
要素により実現され、これらのばね要素は尺度1
0bの長手方向に対して横向きに走行しているピ
ン18に掛つており、該ピンは尺度10bの長手
方向に走行している縁部の機20に固着されてい
る。
により、目盛り14dを有する尺度10bを示
し、この尺度においては、その都度の測定誤差分
布に応じて尺度10bの一部分の長さを変化させ
るための長手方向の張力を発生させるのは、引張
りばね16aおよび圧縮ばね16bの形態のばね
要素により実現され、これらのばね要素は尺度1
0bの長手方向に対して横向きに走行しているピ
ン18に掛つており、該ピンは尺度10bの長手
方向に走行している縁部の機20に固着されてい
る。
第4a−4d図は2つの平面図と2つの断面図
により、目盛り14cを有する尺度10cを示
し、この尺度においては、その都度の測定誤差分
布に応じて尺度10cの一部分の長さを変化さる
ための長手方向の張力を発生させるのは、円錐形
の円板16c、円錐形のリング16dおよびクリ
ツプ16eにより実現され、これらの部材は尺度
10cの長手方向に対して横向きに走行している
ピン24に掛つており、該ピンは尺度10cの長
手方向に走行している縁部の機26の孔19bに
固着している。円錐形の円板16cおよび円錐形
のリング16dはそれぞれ2本のピン24の間に
クランプされそして尺度10cをその範囲におい
て伸張させ、一方クランプ16eは双方のピン2
4を掴みそして尺度10cをその範囲において圧
縮する。ピン24はそれの弾性のためばねの作用
をする。
により、目盛り14cを有する尺度10cを示
し、この尺度においては、その都度の測定誤差分
布に応じて尺度10cの一部分の長さを変化さる
ための長手方向の張力を発生させるのは、円錐形
の円板16c、円錐形のリング16dおよびクリ
ツプ16eにより実現され、これらの部材は尺度
10cの長手方向に対して横向きに走行している
ピン24に掛つており、該ピンは尺度10cの長
手方向に走行している縁部の機26の孔19bに
固着している。円錐形の円板16cおよび円錐形
のリング16dはそれぞれ2本のピン24の間に
クランプされそして尺度10cをその範囲におい
て伸張させ、一方クランプ16eは双方のピン2
4を掴みそして尺度10cをその範囲において圧
縮する。ピン24はそれの弾性のためばねの作用
をする。
第5a−5c図では1つの平面図と2つの断面
図により、目盛り14dを有する尺度10dが示
され、この尺度においては、その都度の測定誤差
分布に応じて尺度10dの一部分の長さを変化さ
せるための長手方向の張力を発生させるのは、球
の形態のばね要素16fによつて実現され、これ
らのばね要素は尺度10dの長手方向に対して横
向きに、そして目盛り14dに平行に走行してい
る等間隔の孔19cの中に押込まれ、個々の孔1
9cの中に押込まれた球体16fの数が尺度10
dの伸長の量を定める。球体16fの代りに円筒
形の棒を用いることも可能である。
図により、目盛り14dを有する尺度10dが示
され、この尺度においては、その都度の測定誤差
分布に応じて尺度10dの一部分の長さを変化さ
せるための長手方向の張力を発生させるのは、球
の形態のばね要素16fによつて実現され、これ
らのばね要素は尺度10dの長手方向に対して横
向きに、そして目盛り14dに平行に走行してい
る等間隔の孔19cの中に押込まれ、個々の孔1
9cの中に押込まれた球体16fの数が尺度10
dの伸長の量を定める。球体16fの代りに円筒
形の棒を用いることも可能である。
図示されていないがばね要素として伸張ねじも
使用することが可能である。ピン18,24はま
た尺度物体内部で横方向に走行するスリツト、小
板又は段で置き換えることも可能である。
使用することが可能である。ピン18,24はま
た尺度物体内部で横方向に走行するスリツト、小
板又は段で置き換えることも可能である。
第6a−6d図では2つの平面図と2つの断面
図により、目盛り14eを有する尺度10eが示
され、この尺度においては、その都度の測定誤差
分布に応じて尺度10eの一部分の長さを変化さ
せるための長手方向の張力を発生させるのは、長
手方向に走行する引張りねじ29aにより実現さ
れ、この引張りねじは尺度10eの内部に配置さ
れた、横方向の溝31を有する長手方向の溝30
の中に配置されている。図には示されていない
が、尺度10eを圧縮するための引張りねじ29
の代りに、尺度を伸張するための圧縮ねじが配置
されることも可能である。
図により、目盛り14eを有する尺度10eが示
され、この尺度においては、その都度の測定誤差
分布に応じて尺度10eの一部分の長さを変化さ
せるための長手方向の張力を発生させるのは、長
手方向に走行する引張りねじ29aにより実現さ
れ、この引張りねじは尺度10eの内部に配置さ
れた、横方向の溝31を有する長手方向の溝30
の中に配置されている。図には示されていない
が、尺度10eを圧縮するための引張りねじ29
の代りに、尺度を伸張するための圧縮ねじが配置
されることも可能である。
第7a,7b図では1つの長手方向破断面図お
よび1つの横断面図により尺度10fが示され、
図の範囲を圧縮するため引張りねじ29bが尺度
の長手方向に対して斜めに走行しているねじ孔3
2の中に配置されている。
よび1つの横断面図により尺度10fが示され、
図の範囲を圧縮するため引張りねじ29bが尺度
の長手方向に対して斜めに走行しているねじ孔3
2の中に配置されている。
第8a,8b図では尺度10gが部分破断面図
と横断面図によつて示され、この尺度では、尺度
10gの長手方向に対して横向きに、ねじ孔33
の中に配置されている引張りねじ34によつて、
尺度10gに横方向の収縮が惹起され、この収縮
は、その都度の測定誤差分布に対応する尺度10
gの一部分の長さを変化させるための長手方向の
張力を発生させる。
と横断面図によつて示され、この尺度では、尺度
10gの長手方向に対して横向きに、ねじ孔33
の中に配置されている引張りねじ34によつて、
尺度10gに横方向の収縮が惹起され、この収縮
は、その都度の測定誤差分布に対応する尺度10
gの一部分の長さを変化させるための長手方向の
張力を発生させる。
熱的又は機械的な予備処理により前以て長手方
向の張力を与えられている尺度では、この張力を
必要な場所で解放してやることによつて、その都
度の測定誤差分布に対応する尺度の一部分の長さ
を変化させてやることができる。この前以て与え
られた張力を解放してやるのは、尺度の断面積を
化学的方法(化学的エツチング)、物理学的方法
(プラズマエツチング)、機械的方法(穿孔、フラ
イス、研磨、彫刻、砂吹付)で小さくしてやるか
又は熱的方法(レーザー光線)により行われる。
前以て与えられた張力を解放してやるための工具
は、測定の結果によりコンピユーターを用いて制
御されることが可能である。
向の張力を与えられている尺度では、この張力を
必要な場所で解放してやることによつて、その都
度の測定誤差分布に対応する尺度の一部分の長さ
を変化させてやることができる。この前以て与え
られた張力を解放してやるのは、尺度の断面積を
化学的方法(化学的エツチング)、物理学的方法
(プラズマエツチング)、機械的方法(穿孔、フラ
イス、研磨、彫刻、砂吹付)で小さくしてやるか
又は熱的方法(レーザー光線)により行われる。
前以て与えられた張力を解放してやるための工具
は、測定の結果によりコンピユーターを用いて制
御されることが可能である。
第1a,1b図は一つの測長系の横断面図と縦
断面図であり、第2a−8b図、第2a図は一の
尺度の平面図、第2b図は第2a図のA−B線に
沿う断面図、第3a図、第3b図、第3c図はそ
れぞれ別の尺度を示す平面図、第3d図は第3c
図のA−B線に沿う断面図、第4a図、第4b
図、第4c図は更に別の尺度を示す平面図、第4
d図は第4c図のA−B線に沿う断面図、第5a
図は更に別の尺度の平面図、第5b図は第5a図
のA−B線に沿う断面図、第5c図、第6a図、
第6b図、第6c図は更にそれぞれ異なる尺度の
平面図、第6d図は第6c図のA−B線に沿う断
面図、第7a図は更に別の尺度の平面図、第7b
図は第7a図のA−B線に沿う断面図、第8a図
は更に別の尺度の平面図、第8b図は第8a図の
A−B線に沿う断面図である。図において、 10,10a,10b−d,10e,10f,
10g……尺度、15……凹み、16……ばね要
素、19……分割面、29……引張りねじであ
る。
断面図であり、第2a−8b図、第2a図は一の
尺度の平面図、第2b図は第2a図のA−B線に
沿う断面図、第3a図、第3b図、第3c図はそ
れぞれ別の尺度を示す平面図、第3d図は第3c
図のA−B線に沿う断面図、第4a図、第4b
図、第4c図は更に別の尺度を示す平面図、第4
d図は第4c図のA−B線に沿う断面図、第5a
図は更に別の尺度の平面図、第5b図は第5a図
のA−B線に沿う断面図、第5c図、第6a図、
第6b図、第6c図は更にそれぞれ異なる尺度の
平面図、第6d図は第6c図のA−B線に沿う断
面図、第7a図は更に別の尺度の平面図、第7b
図は第7a図のA−B線に沿う断面図、第8a図
は更に別の尺度の平面図、第8b図は第8a図の
A−B線に沿う断面図である。図において、 10,10a,10b−d,10e,10f,
10g……尺度、15……凹み、16……ばね要
素、19……分割面、29……引張りねじであ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 目盛りを所有する1つの尺度10が1つの対
象物2にそして尺度10の目盛りを走査する1つ
の走査装置12が別の対象物4に結合し、その際
誤差補正のため、測定方向において尺度の長さの
変化を惹起させる誤差を補正するための装置、特
に目盛り誤差及び/又は機械誤差を補正する装置
を有し相互に移動可能な2つの対象物の相対的な
位置を測定する測長または測角系において、尺度
の長さの変化を惹起させるのは尺度10のみに設
けられ、長手方向の張力を発生させる機械的要素
16a〜16e,29a,29b,34又は尺度
10の表面の一部に数個の機械的な圧痕15を形
成すること又は尺度の材料の内部に前以て与えら
れていた長手方向の張力を、尺度10の断面積を
小さくしてやることによつて局部的に変化させる
ことによつて実現されることを特徴とする測長又
は測角系。 2 尺度10aの内部に長手方向の張力を発生さ
せるのは、尺度10aの少なくとも1つの表面に
凹み15又は刻み目を形成することにより実現さ
れることを特徴とする、特許請求の範囲1)に記
載の測長又は測角系。 3 尺度10b−10dの内部に長手方向の張力
を発生させるのは、少なくとも1つのばね要素1
6を、尺度10b−10dの長手方向に対し横方
向又は斜めに走行している尺度10b−10dの
分割面19の間に配置することにより実現される
ことを特徴とする、特許請求の範囲1)に記載の
測長又は測角系。 4 尺度10e,10fの内部に長手方向の張力
を発生させるのは、尺度10e,10fに、長手
方向又は斜め方向に走行する引張りねじ29およ
び/または圧縮ねじを少なくとも1つ配置するこ
とにより実現されることを特徴とする、特許請求
の範囲1)に記載の測長又は測角系。 5 尺度10gの内部に長手方向の張力を発生さ
せるのは、尺度10gの横方向の収縮を惹起して
やることにより実現されることを特徴とする、特
許請求の範囲1)に記載の測長又は測角系。 6 予備的に尺度に与えられた長手方向の張力の
変化は、尺度の横断面積を小さくしてやることに
より実現されることを特徴とする、特許請求の範
囲1)に記載の測長又は測角系。 7 尺度の横断面積を小さくしてやるのは、化学
的、物理学的、機械的又は熱的方法により行われ
ることを特徴とする、特許請求の範囲6)に記載
の測長又は測角系。 8 尺度の横断面積を小さくするための削除過程
は、前以つて実施される検定測定の結果に依存
し、コンピユータを用いて制御されることを特徴
とする、特許請求の範囲6)または7)に記載の
測長又は測角系。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3224005.8 | 1982-06-26 | ||
| DE19823224005 DE3224005A1 (de) | 1982-06-26 | 1982-06-26 | Laengen- oder winkelmesssystem |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5912305A JPS5912305A (ja) | 1984-01-23 |
| JPH0352807B2 true JPH0352807B2 (ja) | 1991-08-13 |
Family
ID=6166996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58109465A Granted JPS5912305A (ja) | 1982-06-26 | 1983-06-20 | 測長又は測角系 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4517742A (ja) |
| EP (1) | EP0097771B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5912305A (ja) |
| AT (1) | ATE25771T1 (ja) |
| BR (1) | BR8302740A (ja) |
| DE (1) | DE3224005A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008136447A1 (ja) | 2007-04-27 | 2008-11-13 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | 電気接続箱の排水構造体 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3319600A1 (de) * | 1983-05-30 | 1984-12-06 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengenmesseinrichtung |
| DE3401141C2 (de) * | 1984-01-14 | 1987-01-22 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Längen- oder Winkelmeßeinrichtung |
| DD249615A3 (de) * | 1985-05-02 | 1987-09-16 | Zeiss Jena Veb Carl | Messstabfassung fuer laengenmesssysteme |
| DE3621236A1 (de) * | 1986-06-25 | 1988-01-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Laengen- oder winkelmesseinrichtung |
| DE3624485A1 (de) * | 1986-07-19 | 1988-01-21 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Positionsmesseinrichtung |
| AT401819B (de) * | 1990-10-02 | 1996-12-27 | Rsf Elektronik Gmbh | Längenmesssystem |
| EP0506649B1 (de) * | 1991-03-25 | 1995-04-19 | RSF-Elektronik Gesellschaft m.b.H. | Längenmesssystem |
| DE4212970A1 (de) * | 1992-04-18 | 1993-10-21 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Längenmeßeinrichtung |
| EP0836078B1 (de) * | 1996-10-11 | 2002-12-18 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Massstab einer Längenmesseinrichtung sowie Verfahren zur Anbringung eines Massstabs |
| DE59813001D1 (de) † | 1997-04-16 | 2005-09-22 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Positionsmesseinrichtung und Verfahren zu deren Betrieb |
| DE10117193B4 (de) * | 2001-04-05 | 2013-04-04 | Anton Rodi | Messsystem zur Absolutwerterfassung von Winkeln oder Wegen |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE3224005C2 (ja) | 1988-01-21 |
| EP0097771B1 (de) | 1987-03-04 |
| DE3224005A1 (de) | 1984-01-05 |
| JPS5912305A (ja) | 1984-01-23 |
| BR8302740A (pt) | 1984-04-17 |
| ATE25771T1 (de) | 1987-03-15 |
| EP0097771A1 (de) | 1984-01-11 |
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