JPH0352821B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0352821B2 JPH0352821B2 JP59115331A JP11533184A JPH0352821B2 JP H0352821 B2 JPH0352821 B2 JP H0352821B2 JP 59115331 A JP59115331 A JP 59115331A JP 11533184 A JP11533184 A JP 11533184A JP H0352821 B2 JPH0352821 B2 JP H0352821B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform
- circuit
- time width
- pulse
- short
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 46
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 25
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 4
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 239000008151 electrolyte solution Substances 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/1031—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
- G01N15/12—Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
- G01N15/131—Details
- G01N15/132—Circuits
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、波高歪を含むことがある波形を出
力する導電式粒子検出装置に適用する粒子分析装
置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application This invention relates to a particle analyzer that is applied to a conductive particle detector that outputs a waveform that may include wave height distortion.
従来例の構成とその問題点
導電式粒子検出装置は、塩濃度0.8%程度の薄
い電解質液中に測定用粒子を浮遊させたところの
懸濁液に一対の電極を浸漬し、両電極間を微細孔
を有する絶縁壁で隔絶し、両電極間に電位差を与
えて前記細孔を通じてのみ電極間に電流が流れる
ようにしたもので、両側の液間に水圧差を加え細
孔を通じて液とともに粒子を流過させると、粒子
径に対する細孔径を適切に選べば粒子の通過に対
応して粒子体積に比例した電流変化が電極間に生
ずるという特性を利用した装置である。Conventional structure and its problems A conductive particle detection device immerses a pair of electrodes in a suspension of measurement particles suspended in a thin electrolyte solution with a salt concentration of about 0.8%, and connects the electrodes between the two electrodes. The two electrodes are separated by an insulating wall with micropores, and a potential difference is applied between the two electrodes so that current flows between the electrodes only through the pores.By applying a water pressure difference between the liquid on both sides, particles flow together with the liquid through the pores. This device utilizes the property that when a particle is passed through, a current change proportional to the particle volume occurs between the electrodes in response to the passage of the particle, if the pore size is appropriately selected relative to the particle size.
粒子検出波形を詳細に検討すると、細孔の中心
付近を通過したときのみ粒子体積に比例したパル
ス波高値を示し、細孔の外周近くを通過する波形
は部分的に高目の波高値を示すこととなつて、粒
度情報に誤差を生じることが確められている。 A detailed examination of the particle detection waveform reveals that only when the particle passes near the center of the pore, the pulse peak value is proportional to the particle volume, while the waveform that passes near the periphery of the pore shows a partially high pulse peak value. In particular, it has been confirmed that errors occur in particle size information.
第6図の細孔11の粒子12の通過の様子イ,
ロ,ハ,ニの模式図と、第7図の波形図が示すよ
うに細孔11の入口周囲は電流線密度が高く感度
が高い。但し図はまとめて表現したもので、一般
的には各状態が別個に起こる程度に希釈してい
る。 The state of passage of particles 12 through pores 11 in Fig. 6a,
As shown in the schematic diagrams B, C, and D and the waveform diagram in FIG. 7, the current line density around the entrance of the pore 11 is high and the sensitivity is high. However, the diagram is a collective representation and is generally diluted to the extent that each state occurs separately.
イは細孔11の内周面のごく近くを粒子12が
通過し、入口および出口で高い波高値を示しその
間はほぼ平坦になつている。ロは細孔11の中心
近くを通るのであるが、同時刻に2つの粒子12
が存在することがあるような通過の仕方であり、
その波形はピークが2つあり、その間は比較的に
深い谷となつている。ハは細孔11の丁度中心を
粒子12が通過する場合で、ピークが一点の対称
形のきれいな山形の波形を示す。ニは入口では細
孔11の内周面近くを出口では中心近くを通るよ
うに斜めに通過した場合で、その波形は入口での
高い波高部、これに続く平坦部を有するものとな
つている。 In A, the particles 12 pass very close to the inner peripheral surface of the pores 11, exhibiting high wave height values at the entrance and exit, and are almost flat between them. B passes near the center of the pore 11, but at the same time two particles 12
It is a way of passing such that there may be
The waveform has two peaks, with a relatively deep valley between them. C shows a case where the particle 12 passes exactly through the center of the pore 11, and shows a neat mountain-shaped waveform with a symmetrical peak at one point. D is a case in which the wave passes obliquely so that it passes near the inner peripheral surface of the pore 11 at the entrance and near the center at the exit, and the waveform has a high wave height section at the entrance followed by a flat section. .
導電式粒子検出装置は構造が簡単で、しかも感
度が高いため、懸濁液中を走査するための細孔の
閉塞トラブルと粒子通過経路による粒子信号歪の
欠点はあるが、広く利用されている粒子測定装置
の一つである。従来から精密粒子分析の分野で
は、この装置の検出歪に対する対策が問題とさ
れ、種々の研究が続けられてきた。 Conductive particle detection devices have a simple structure and high sensitivity, so they are widely used, although they have the disadvantages of clogging of pores for scanning in suspensions and particle signal distortion due to particle passage paths. This is one of the particle measuring devices. In the field of precision particle analysis, countermeasures against the detection distortion of this device have long been an issue, and various studies have been conducted.
ベルヌーイの原理を応用して粒子の細孔流通通
路を中心部の狭い範囲に絞る「ハイドロダイナミ
ツクフオーカシング」あるいは「シースフロー」
と呼ばれる。特開昭53−119086号公報その他に見
られる流体力学面での改良法がその一つである。 ``Hydrodynamic focusing'' or ``sheath flow'' applies Bernoulli's principle to narrow down the pore flow path of particles to a narrow area in the center.
It is called. One such method is an improvement method in terms of fluid dynamics, which is found in Japanese Patent Application Laid-Open No. 53-119086 and others.
また、検出粒子信号波形を分析し、細孔の中心
付近を通過する歪のない信号以外の、歪を持つた
信号をすべて無視する波形選択によるものも一つ
の改良法である。 Another improvement method is to analyze the detected particle signal waveform and select a waveform that ignores all distorted signals other than undistorted signals passing near the center of the pore.
その他にも種々あるが、これら2つが代表的な
ものである。 There are many others, but these two are representative.
流れを絞る前記流体装置によるものは理想的で
はあるが、複雑な流体機構を必要をするため装置
が高価になり、また保守が難しいという欠点があ
る。 Although the fluid device that restricts the flow is ideal, it requires a complicated fluid mechanism, making the device expensive and difficult to maintain.
前記波形選択の判別回路として例えば、特公昭
54−26919号公報、特公昭55−12980号公報に示さ
れたものがある。これらは、何れも、粒子波形を
ピークホールドして得る電圧を所定の割合に分割
した各電圧レベルをスレツシユホールド電圧と
し、各スレツシユホールド電圧と、遅延させた前
記粒子波形とを比較して各レベルでの波形持続時
間を積分回路で相対測定し、正常基準値と比較す
ることによつて波形を取捨選択している。 For example, as a discriminating circuit for waveform selection,
Some of these are disclosed in Japanese Patent Publication No. 54-26919 and Japanese Patent Publication No. 12980/1983. In both of these, each voltage level obtained by peak-holding the particle waveform is divided into a predetermined ratio is set as a threshold voltage, and each threshold voltage is compared with the delayed particle waveform. Waveforms are selected by relatively measuring the waveform duration at each level using an integrating circuit and comparing it with a normal reference value.
しかし、この波形選択によるものは無視した信
号の数がかなりにのぼるため、サンプリング数を
多くして精度を保つ必要があり、能率面、精度面
で問題を残している。 However, since the number of signals ignored by this waveform selection increases considerably, it is necessary to increase the number of samplings to maintain accuracy, which leaves problems in terms of efficiency and accuracy.
発明の目的
この発明の目的は、構造的に比較的簡単で低コ
ストであるとともに保守が容易であり、また粒子
分布の測定精度が高くしかも処理速度の速い粒子
分析装置を提供することである。OBJECTS OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a particle analyzer that is relatively simple in structure, low cost, easy to maintain, has high particle distribution measurement accuracy, and has a high processing speed.
発明の構成
この発明の粒子分析装置は、細孔における粒子
通過に伴う電気量発生手段と、この発生電気量の
微分手段と、前記微分手段の出力波形が0レベル
近くの正、負両レベル間の所定閾外にあるときの
外時間幅を長、短T1,T2(T1>T2)に区別する
手段と、前記出力波形が前記正、負両レベルを一
方向に通過するときの通過時間幅を長、短t1,t2
(t1>t2)に区別する手段と、前記閾外時間幅が
長T1でかつ前記通過時間幅が短t2のときに前記所
定通過方向でのゼロクロス時点を検出する手段
と、前記閾外時間幅が短T2でかつ前記通過時間
幅が長t1のときに前記所定通過方向とは逆方向で
のゼロクロス時点を検出する手段と、前記閾外時
間幅が長T1でかつ前記通過時間幅が短t2の場合の
後の所定時間内において前記閾外時間幅が短T2
でかつ前記通過時間幅が短t2のときに前記所定通
過方向でのゼロクロス時点を検出する手段と、前
記のホールドされた各時点ごとにおいて前記発生
電気量の値をホールドする手段とを備えたもので
ある。Structure of the Invention The particle analyzer of the present invention includes a means for generating an amount of electricity accompanying the passage of particles through a pore, a means for differentiating the amount of electricity generated, and an output waveform of the differentiating means between both positive and negative levels near the 0 level. means for distinguishing the external time width into long, short T 1 and T 2 (T 1 > T 2 ) when the output waveform is outside a predetermined threshold of the output waveform, and when the output waveform passes through both the positive and negative levels in one direction. The transit time width is long and short t 1 , t 2
(t 1 > t 2 ); means for detecting a zero-cross point in the predetermined passing direction when the outside-threshold time width is long T 1 and the passing time width is short t 2 ; means for detecting a zero-cross point in a direction opposite to the predetermined passing direction when the off-threshold time width is short T 2 and the passing time width is long t 1 ; When the above-mentioned passing time width is short T 2 within a predetermined time after that, the above-mentioned outside-threshold time width is short T 2
and means for detecting a zero-crossing point in the predetermined passing direction when the passing time width is short t2 , and means for holding the value of the amount of generated electricity at each held point. It is something.
この発明の構成による作用は、以下の実施例に
おける動作説明によつて明らかとなろう。 The effects of the structure of the present invention will become clear from the explanation of the operation in the following embodiments.
実施例の説明
この発明の一実施例を第1図ないし第4図に基
づいて説明する。第1図は粒子分析装置の主要部
である波形処理装置のブロツクを、第2図はそれ
の動作を示す各部の波形を、第3図は粒子分析装
置の全体構成の概念図を表わす。DESCRIPTION OF THE EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4. FIG. 1 shows the blocks of a waveform processing device which is the main part of the particle analyzer, FIG. 2 shows the waveforms of each part showing its operation, and FIG. 3 shows a conceptual diagram of the overall structure of the particle analyzer.
第3図において、導電式粒子検出装置7は、試
料容器1、粒子懸濁試料2、細孔3を有する検出
器(絶縁壁)4と電極5,6を備え、試料2を流
動定量する流体制御部と、電極5,6に電位差を
与え、検出パルスを発生させ増幅する検出部から
成る。 In FIG. 3, a conductive particle detection device 7 includes a sample container 1, a particle suspension sample 2, a detector (insulating wall) 4 having pores 3, and electrodes 5, 6, and includes a fluid for flowing and quantifying the sample 2. It consists of a control section and a detection section that applies a potential difference to the electrodes 5 and 6 to generate and amplify a detection pulse.
波形処理装置8は本発明の主要部を成すもので
あり、第1図がそのブロツク構成図を示す。波形
処理装置8は、微分回路51、ゼロクロスコンパ
レータ52、Tmセンターパルス回路53、パル
ス幅検出回路54、デジタルフイルタ55,5
9、デイレー回路56、移相補正回路64、ダブ
ルパルスゲート回路58、ワンシヨツト回路6
3、サンプルホールド回路65、波高値A/D変
換回路66、アンド回路57,60,61、オア
回路62から成る。 The waveform processing device 8 constitutes the main part of the present invention, and FIG. 1 shows its block diagram. The waveform processing device 8 includes a differentiation circuit 51, a zero cross comparator 52, a Tm center pulse circuit 53, a pulse width detection circuit 54, and digital filters 55, 5.
9, delay circuit 56, phase shift correction circuit 64, double pulse gate circuit 58, one shot circuit 6
3. Consists of a sample hold circuit 65, a peak value A/D conversion circuit 66, AND circuits 57, 60, 61, and an OR circuit 62.
aは導電式粒子検出装置7から微分回路51お
よび移相補正回路64に入力される入力端子線で
あり、その入力パルスの波形が第2図のaに例示
されている。すなわち、第7図のロ,イ,ハに相
当する波形がこの順に示されている。 A is an input terminal line that is input from the conductive particle detection device 7 to the differential circuit 51 and the phase shift correction circuit 64, and the waveform of the input pulse is illustrated in a in FIG. 2. That is, the waveforms corresponding to B, A, and C in FIG. 7 are shown in this order.
微分回路51の出力はゼロクロスコンパレータ
52、Tmセンターパルス回路53およびパルス
幅検出回路54に入力される。パルス幅検出回路
54の出力はデジタルフイルタ55に入力され、
その出力はデイレー回路56に入力される。Tm
センターパルス回路53の出力およびデイレー回
路56の出力はアンド回路57に入力され、その
出力はダブルパルスゲート回路58に入力され
る。ダブルパルスゲート回路58の出力および
Tmセンターパルス回路53の出力はアンド回路
61に入力される。 The output of the differentiating circuit 51 is input to a zero cross comparator 52, a Tm center pulse circuit 53, and a pulse width detection circuit 54. The output of the pulse width detection circuit 54 is input to a digital filter 55,
Its output is input to a delay circuit 56. Tm
The output of the center pulse circuit 53 and the output of the delay circuit 56 are input to an AND circuit 57, and the output thereof is input to a double pulse gate circuit 58. The output of the double pulse gate circuit 58 and
The output of the Tm center pulse circuit 53 is input to an AND circuit 61.
Tmセンターパルス回路53の出力はデジタル
フイルタ59に入力され、デジタルフイルタ59
の出力およびゼロクロスコンパレータ52の出力
はアンド回路60に入力される。アンド回路60
の出力およびアンド回路61の出力はオア回路6
2に入力され、その出力はワンシヨツト回路63
に入力される。 The output of the Tm center pulse circuit 53 is input to the digital filter 59.
and the output of the zero-cross comparator 52 are input to an AND circuit 60. AND circuit 60
The output of and the output of the AND circuit 61 are the OR circuit 6
2, and its output is input to the one-shot circuit 63.
is input.
移相補正回路64の出力はサンプルホールド回
路65に入力され、ワンシヨツト回路63の出力
によつてトリガされたときサンプルホールド回路
65から波高値A/D変換回路66に出力され
る。波高値A/D変換回路66からは第3図の粒
度記録装置9に出力される。 The output of the phase shift correction circuit 64 is input to a sample hold circuit 65, and when triggered by the output of the one shot circuit 63, the output is output from the sample hold circuit 65 to a peak value A/D conversion circuit 66. The peak value A/D conversion circuit 66 outputs the signal to the grain size recording device 9 shown in FIG.
波形処理装置8の動作について説明する。 The operation of the waveform processing device 8 will be explained.
入力端子線aには前記検出装置7から増幅され
た種々波形の粒子パルスが送られてくる。 Amplified particle pulses of various waveforms are sent from the detection device 7 to the input terminal line a.
微分回路51は、適正な時定数を持つ信号の変
化率に比例する信号を得るための回路であり、第
2図の入力波形(a)の勾配係数値に対応する出力が
信号線bに得られ微分波形(b)が得られる。 The differentiating circuit 51 is a circuit for obtaining a signal proportional to the rate of change of the signal having an appropriate time constant, and an output corresponding to the slope coefficient value of the input waveform (a) in FIG. 2 is obtained on the signal line b. The differential waveform (b) is obtained.
ゼロクロスコンパレータ52は、波形(b)の正範
囲で動作する飽和増幅器であり、出力として線j
上に波形(j)のごとく雑音パルスとともにゼロクロ
ス微分パルス波形(j)が得られる。 The zero cross comparator 52 is a saturation amplifier that operates in the positive range of waveform (b), and outputs the line j
As shown in the waveform (j) above, a zero-cross differential pulse waveform (j) is obtained along with a noise pulse.
Tmセンターパルス回路53は、±v0で与えら
れるスレツシユホールド電圧を有し+v0を負側に
越える電圧が入るとき出力が立上り、−v0を負側
に越える時立下る。したがつて出力波形は線e上
に波形(e)で表されるTmセンターパルスとなる。
言い換えれば+v0以上の波高値のパルスの後縁で
入力が±v0の間にある時パルスを発生する。 The Tm center pulse circuit 53 has a threshold voltage given by ±v 0 , and its output rises when a voltage exceeding +v 0 on the negative side is input, and falls when it exceeds -v 0 on the negative side. Therefore, the output waveform becomes a Tm center pulse represented by waveform (e) on line e.
In other words, a pulse is generated when the input is between ±v 0 at the trailing edge of a pulse with a peak value of +v 0 or more.
パルス幅検出回路54は、前記v0以上のパルス
電圧で飽和する過飽和増幅器で、出力波形(c′)
を線c′上に送出する。 The pulse width detection circuit 54 is a supersaturation amplifier that saturates at a pulse voltage of v0 or more, and the output waveform (c')
is sent out on line c′.
デジタルフイルタ55は、内部で10μsの基準パ
ルスを入力の立上りとともに発生させ、入力パル
ス幅が10μs以下の場合は不通過とするもので、波
形(c′)の入力で波形(c)の出力を生ずる。 The digital filter 55 internally generates a 10 μs reference pulse at the rising edge of the input, and does not pass the input pulse if the input pulse width is 10 μs or less. arise.
デイレー回路56は、波形(c)の正常パルスの後
縁を定時間保持させてパルスを見掛上遅延させ波
形(d)を出力する。 The delay circuit 56 holds the trailing edge of the normal pulse of waveform (c) for a fixed period of time to apparently delay the pulse and output waveform (d).
以上のパルス幅検出回路54、デジタルフイル
タ55およびデイレー回路56が、発明の構成に
いう「微分手段の出力波形が0レベル近くの正、
負両レベル間の所定閾外にあるときの外時間幅を
長、短T1,T2(T1>T2)に区別する手段」Aを
構成している。 The above-described pulse width detection circuit 54, digital filter 55 and delay circuit 56 are configured so that "the output waveform of the differentiating means is positive near 0 level,"
This constitutes a "means A" for distinguishing the external time width into long, short T 1 and T 2 (T 1 >T 2 ) when it is outside a predetermined threshold between both negative levels.
閾外時間幅の長T1と短T2の例を第4A,Bに
示す。 Examples of long T 1 and short T 2 of the off-threshold time width are shown in 4A and 4B.
アンド回路57は波形(e)のTmセンターパルス
と前記デイレー回路56の波形(d)の出力を入力と
して、正常波形パルスの選択を行い、波形(f)のパ
ルスを出力する。 The AND circuit 57 inputs the Tm center pulse of waveform (e) and the output of the waveform (d) of the delay circuit 56, selects a normal waveform pulse, and outputs a pulse of waveform (f).
すなわち、波形ハと波形ロとが正常波形として
出力され、波形イは異常波形として無視される。 That is, waveform C and waveform B are output as normal waveforms, and waveform A is ignored as an abnormal waveform.
以上の手段Aとゼロクロスコンパレータ52お
よびアンド回路57が、発明の構成にいう「前記
閾外時間幅が長T1でかつ前記通過時間幅が短t2の
ときに前記所定通過方向でのゼロクロス時点を検
出する手段」Cを構成している。 The above means A, the zero-cross comparator 52, and the AND circuit 57 serve as the "zero-crossing point in the predetermined passing direction when the above-mentioned out-of-threshold time width is long T1 and the passing time width is short t2 .""C" constitutes a means for detecting.
デジタルフイルタ59は、内部で2μsの基準パ
ルスを入力の立上りとともに発生させ、2μs以上
のパルス幅のパルスのみ通過させる働きをする。
これにより、波形(i)が得られる。 The digital filter 59 internally generates a 2 μs reference pulse at the rising edge of the input, and functions to pass only pulses with a pulse width of 2 μs or more.
As a result, waveform (i) is obtained.
以上のTmセンターパルス回路53およびデジ
タルフイルタ59が、発明の構成にいう「出力波
形が前記正、負両レベルを一方向に通過するとき
の通過時間幅を長、短t1,t2(t1>t2)に区別する
手段」Bを構成している。 The above-mentioned Tm center pulse circuit 53 and digital filter 59 set the passing time widths of long and short t 1 , t 2 (t 1 > t 2 ).
通過時間幅の長t1と短t2の例も第4図A,Bに
示してある。 Examples of long and short transit time widths t 1 and t 2 are also shown in FIGS. 4A and 4B.
アンド回路60は、前記ゼロクロス微分パルス
の波形(j)と前記デジタルフイルタ59の出力を入
力として、Tmセンターパルスのゼロクロス点を
選択させる。これによつて、波形(j)中のj1のパル
スのみが出力される。 The AND circuit 60 inputs the waveform (j) of the zero-crossing differential pulse and the output of the digital filter 59, and selects the zero-crossing point of the Tm center pulse. As a result, only the j1 pulse in waveform (j) is output.
以上の手段Bとゼロクロスコンパレータ52お
よびアンド回路60が、発明の構成による「閾外
時間幅が短T2でかつ前記通過時間幅が長t1のとき
に前記所定通過方向とは逆方向でのゼロクロス時
点を検出する手段」Dを構成している。 The above means B, the zero-cross comparator 52, and the AND circuit 60 according to the configuration of the invention are configured to perform a process in a direction opposite to the predetermined passing direction when the off-threshold time width is short T2 and the passing time width is long T1 . This constitutes "means D for detecting the zero-crossing point."
ダブルパルスゲート回路58は、定パルス幅パ
ルス発生回路で波形(e)のTmセンターパルスのダ
ブルパルス発生可能範囲をカバーするパルス幅に
選択され、波形ロのダブルパルスをアンド回路6
1に通過させる働きをしている。 The double pulse gate circuit 58 is a constant pulse width pulse generation circuit, and the pulse width is selected to cover the double pulse generation range of the Tm center pulse of waveform (e), and the double pulse of the waveform (b) is connected to the AND circuit 6.
It functions to pass through to 1.
すなわち、前記の手段Cが、波形ハと波形イと
を区別して、波形ハのみを選択し、波形イを無視
したのであるが、この機能が波形(f)で表わされて
いるようにダブルパルスの波形ロにおける2つ目
のピークをも無視した結果を招くことになつてい
る。そこで、この無視されたダブルパルスの2つ
目のピークを復活させるためにダブルパルスゲー
ト回路58およびアンド回路61を設けてある。 In other words, the above means C distinguishes between waveform C and waveform A, selects only waveform C, and ignores waveform A, but this function is double as shown in waveform (f). The result is that the second peak in the pulse waveform B is also ignored. Therefore, a double pulse gate circuit 58 and an AND circuit 61 are provided to restore the second peak of this ignored double pulse.
アンド回路61は、ダブルパルスゲート回路5
8の出力波形(g)とTmセンターパルス回路53の
出力波形(e)とのアンドをとつているため、その出
力波形(h)のようになる。 The AND circuit 61 is the double pulse gate circuit 5
Since the output waveform (g) of 8 and the output waveform (e) of the Tm center pulse circuit 53 are ANDed, the output waveform (h) is obtained.
すなわち、手段Cとダブルパルスゲート回路5
8およびアンド回路61が、発明の構成にいう
「前記閾外時間幅が長T1でかつ前記通過時間幅が
短t2の場合の後の所定時間内において前記閾外時
間幅が短T2でかつ前記通過時間幅が短t2のときに
前記所定通過方向でのゼロクロス時点を検出する
手段」Eを構成している。 That is, the means C and the double pulse gate circuit 5
8 and the AND circuit 61, as stated in the configuration of the invention, ``the above-mentioned off-threshold time width is short T2 within a predetermined time after the case where the above-mentioned off-threshold time width is long T1 and the above-mentioned passing time width is short T2. and when the passing time width is short t2 , a means for detecting a zero-cross point in the predetermined passing direction is constituted.
以上により、アンド回路60とアンド回路61
の出力を2入力とするオア回路62の出力波形(k)
は入力波形(a)の正常波高値を示すタイミングと一
致することに成る。そのタイミングでワンシヨツ
ト回路63を駆動してサンプルホールドトリガパ
ルス(l)を発生させ、移相補正回路64で補正され
た入力波形(a)の適性波高値ホールドをサンプルホ
ールド回路65内で行わせ、波形(m)を出力さ
せる。 As described above, the AND circuit 60 and the AND circuit 61
Output waveform (k) of the OR circuit 62 with two inputs as the output of
coincides with the timing indicating the normal peak value of input waveform (a). At that timing, the one shot circuit 63 is driven to generate a sample hold trigger pulse (l), and the appropriate peak value of the input waveform (a) corrected by the phase shift correction circuit 64 is held in the sample hold circuit 65. Output the waveform (m).
一方、同じトリガパルス(l)でホールド波高値の
高速A/D変換を波高値A/D変換回路66で行
わせる。この回路66は、トリガパルスで積分を
開始し、ホールド波高値に至るまで発振器のゲー
トを開いて計数する積分計数型の回路で、充分の
速度を得ることができる。 On the other hand, the peak value A/D conversion circuit 66 performs high-speed A/D conversion of the hold peak value using the same trigger pulse (l). This circuit 66 is an integral counting type circuit that starts integration with a trigger pulse and counts by opening the oscillator gate until the hold peak value is reached, and can obtain sufficient speed.
粒度記録装置9は、予め区分けされた波高値群
毎にチヤネルを設け、各チヤネルのパルス個数を
CRTあるいは印字紙上に集計表示するものであ
る。この粒度記録装置として、例えば特開昭57−
14739号公報で開示されているものを利用できる。 The particle size recording device 9 provides a channel for each wave height value group divided in advance, and records the number of pulses in each channel.
The totals are displayed on CRT or printed paper. As this particle size recording device, for example,
What is disclosed in Publication No. 14739 can be used.
従来の波高値分類のみで粒度分布を画くと第5
図Bのように歪波形の異常に高い信号をも検知す
るので、第5図Aの実分布に比べて大径粒子が多
いような歪分布が得られるのであるが、この発明
の実施例によれば、上記歪分布を防止して正しい
実分布を得ることができる。 If the particle size distribution is drawn only by conventional wave height classification, the fifth
Since it also detects signals with abnormally high distortion waveforms as shown in Figure B, a strain distribution with more large-diameter particles than the actual distribution in Figure 5A can be obtained. According to this, it is possible to prevent the above-mentioned distorted distribution and obtain a correct actual distribution.
また、従来の流れを絞る流体装置に比べて構造
が簡単でありコストダウンを果たせるし、従来の
波形選択方式に比べると、同数サンプリングであ
れば測定精度が改善されるという効果がある。 In addition, compared to conventional flow restricting fluid devices, the structure is simpler and costs can be reduced, and compared to conventional waveform selection methods, measurement accuracy is improved if the number of samples is the same.
なお、導電式粒子検出装置7において、絶縁壁
10の細孔11を、その孔長が孔径よりも大きい
ときは、波形の中央波高値が粒子通過位置に関係
なく粒子体積により正確に比例するので、そのよ
うに孔長、孔径を設定すれば、さらに精度アツプ
を図ることができる。孔長を孔径の約1.1〜1.5倍
にすることがよいことが確かめられている。 In the conductive particle detection device 7, when the pore length of the pore 11 of the insulating wall 10 is larger than the pore diameter, the center peak value of the waveform is more accurately proportional to the particle volume regardless of the particle passing position. If the hole length and hole diameter are set in this way, accuracy can be further improved. It has been found that it is good to make the pore length approximately 1.1 to 1.5 times the pore diameter.
発明の効果
この発明によれば、構造の簡素化、コストダウ
ン、保守の容易化とともに、粒度布布測定を高精
度に行うことができるという効果がある。Effects of the Invention According to the present invention, there are effects that the structure can be simplified, costs can be reduced, maintenance can be facilitated, and particle size distribution can be measured with high precision.
第1図はこの発明の一実施例の波形処理装置の
ブロツク図、第2図はその動作を示す各部の波形
図、第3図は全体構成の概念図、第4図は動作説
明のための波形図、第5図は分布特性図、第6図
は従来例の主要部の断面図、第7図はその波形図
である。
51……微分回路(微分手段)、A……閾外時
間幅区別手段、B……通過時間幅区別手段、C…
…ゼロクロス時点検出手段、D……ゼロクロス時
点検出手段、E……ゼロクロス時点検出手段、6
5……サンプルホールド回路(ホールド手段)。
Fig. 1 is a block diagram of a waveform processing device according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a waveform diagram of each part showing its operation, Fig. 3 is a conceptual diagram of the overall configuration, and Fig. 4 is a diagram for explaining the operation. FIG. 5 is a distribution characteristic diagram, FIG. 6 is a sectional view of the main part of the conventional example, and FIG. 7 is its waveform diagram. 51...differentiation circuit (differentiation means), A...extra-threshold time width discrimination means, B...passing time width discrimination means, C...
...Zero cross point detection means, D...Zero cross point detection means, E...Zero cross point detection means, 6
5...Sample hold circuit (hold means).
Claims (1)
と、この発生電気量の微分手段と、前記微分手段
の出力波形が0レベル近くの正、負両レベル間の
所定閾外にあるときの閾外時間幅を長、短T1,
T2(T1>T2)に区別する手段と、前記出力波形
が前記正、負両レベルを一方向に通過するときの
通過時間幅を長、短t1,t2(t1>t2)に区別する手
段と、前記閾外時間幅が長T1でかつ前記通過時
間幅が短t2のときに前記所定通過方向でのゼロク
ロス時点を検出する手段と、前記閾外時間幅が短
T2でかつ前記通過時間幅が長t1のときに前記所定
通過方向とは逆方向でのゼロクロス時点を検出す
る手段と、前記閾外時間幅が長T1でかつ前記通
過時間幅が短t2の場合の後の所定時間内において
前記閾外時間幅が短T2でかつ前記通過時間幅が
短t2のときに前記所定通過方向でのゼロクロス時
点を検出する手段と、前記のホールドされた各時
点ごとにおいて前記発生電気量の値をホールドす
る手段とを備えた粒子分析装置。 2 前記電気量発生手段における細孔が、その孔
長が孔径よりも大きいものである特許請求の範囲
第1項記載の粒子分析装置。[Scope of Claims] 1. A means for generating an amount of electricity accompanying the passage of particles through a pore, a means for differentiating the generated amount of electricity, and an output waveform of the differentiating means outside a predetermined threshold between both positive and negative levels near the 0 level. The out-of-threshold time width when T 1 is long, short T 1 ,
T 2 (T 1 >T 2 ), and a means for distinguishing the passing time width when the output waveform passes through both the positive and negative levels in one direction as long, short t 1 and t 2 (t 1 >t 2 ) means for detecting a zero-cross point in the predetermined passing direction when the above-mentioned off-threshold time width is long T 1 and the above-mentioned passing time width is short t 2 ; short
means for detecting a zero-cross point in a direction opposite to the predetermined passing direction when T 2 and the passing time width is long t 1 ; means for detecting a zero-cross point in the predetermined passing direction when the outside-threshold time width is short T 2 and the passing time width is short t 2 within a predetermined time after the case of t 2 ; and means for holding the value of the amount of generated electricity at each point in time. 2. The particle analyzer according to claim 1, wherein the pores in the electrical quantity generating means have a pore length larger than a pore diameter.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59115331A JPS60257342A (en) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | Particle analyzing instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59115331A JPS60257342A (en) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | Particle analyzing instrument |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60257342A JPS60257342A (en) | 1985-12-19 |
| JPH0352821B2 true JPH0352821B2 (en) | 1991-08-13 |
Family
ID=14659912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59115331A Granted JPS60257342A (en) | 1984-06-04 | 1984-06-04 | Particle analyzing instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60257342A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2939199B1 (en) * | 2008-12-02 | 2011-02-11 | C2 Diagnostics | METHOD AND DEVICE FOR FLOW CYTOMETRY WITHOUT SAGING FLUID |
-
1984
- 1984-06-04 JP JP59115331A patent/JPS60257342A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60257342A (en) | 1985-12-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2815435B2 (en) | Particle analyzer and blood cell counter | |
| US5257087A (en) | Method and apparatus for measuring particles in a fluid | |
| JP3328032B2 (en) | Particle analyzer | |
| US4412175A (en) | Debris alarm | |
| JP2641927B2 (en) | Particle measurement device | |
| MXPA97006597A (en) | Method for the regulation and discrimination of the form of the impulse in a nucl spectroscopy system | |
| US10641697B2 (en) | Device for counting particles | |
| AU578166B2 (en) | Editing particle produced electrical pulses | |
| US4510438A (en) | Coincidence correction in particle analysis system | |
| JPH0727581A (en) | Electromagnetic flow meter | |
| US3875516A (en) | Discriminator circuits | |
| US4653078A (en) | Method and apparatus for detecting occurrence of clogging conditions by counting particles suspended in a liquid method | |
| JPH0352821B2 (en) | ||
| US3961249A (en) | Particle size distribution analyzation employing trailing edge differentiation | |
| US4450435A (en) | Analog debris alarm | |
| EP1664737B1 (en) | A pulse height analyser | |
| JPH0479531B2 (en) | ||
| US3890568A (en) | Method and apparatus for particle length measurement | |
| US3710263A (en) | Axial trajectory sensor having gating means controlled by pulse duration measuring for electronic particle study apparatus and method | |
| JP4540301B2 (en) | Radiation monitor | |
| PL116106B1 (en) | Method and system for determination of red blood cell count,mean volume of blood cell,value of hematocrit and other blood parameters in blood sample | |
| JPH0220674Y2 (en) | ||
| US3820020A (en) | Particle study apparatus including an axial trajectory sensor | |
| JPS63298029A (en) | Bottom waveform signal processor for particle analyzing device | |
| US3801903A (en) | Particle study apparatus including an axial trajectory sensor |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |