JPH0479531B2 - - Google Patents

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JPH0479531B2
JPH0479531B2 JP60015974A JP1597485A JPH0479531B2 JP H0479531 B2 JPH0479531 B2 JP H0479531B2 JP 60015974 A JP60015974 A JP 60015974A JP 1597485 A JP1597485 A JP 1597485A JP H0479531 B2 JPH0479531 B2 JP H0479531B2
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JP
Japan
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circuit
signal
waveform
level
pulse
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Application number
JP60015974A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS61173133A (en
Inventor
Masamichi Tani
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
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Publication of JPS61173133A publication Critical patent/JPS61173133A/en
Publication of JPH0479531B2 publication Critical patent/JPH0479531B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/1031Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects
    • G01N15/12Investigating individual particles by measuring electrical or magnetic effects by observing changes in resistance or impedance across apertures when traversed by individual particles, e.g. by using the Coulter principle
    • G01N15/131Details
    • G01N15/132Circuits

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention] 【産業上の利用分野】[Industrial application field]

この発明は、波高歪を含むことがある波形を出
力する導電式粒子検出装置を適用する粒子分析装
置に関するものである。
The present invention relates to a particle analyzer that uses a conductive particle detector that outputs a waveform that may include wave height distortion.

【従来の技術】[Conventional technology]

導電式粒子検出装置は、塩濃度0.8%程度の薄
い電解質液中に測定用粒子を浮遊させたところの
懸濁液に一対の電極を浸漬し、両電極間を微細孔
を有する絶縁壁で隔絶し、両電極間に電位差を与
えて前記細孔を通じてのみ電極間に電流が流れる
ように構成したものである。 すなわち、両側の液間に水圧差を加え細孔を通
じて液とともに粒子を流過させると、粒子径に対
する細孔径を適切に選べば粒子の通過に対応して
粒子体積に比例した電流変化が電極間に生ずると
いう特性を利用した装置である。 粒子検出波形を詳細に検討すると、細孔の中心
付近を通過したときのみ粒子体積に比例したパル
ス波高値を示し、細孔の外周近くを通過する波形
は部分的に高目の波高値を示すこととなつて、粒
度情報に誤差を生じることが確められている。 第7図の細孔11における粒子12の通過の様
子イ,ロ,ハ,ニの模式図と、第8図の波形図と
が示すように細孔11の入口周囲は電流線密度が
高く感度が高い。ただし、図はまとめて表現した
もので、一般的には各状態が別個に起こる程度に
懸濁液を希釈している。 イは、細孔11の内周面のごく近くを粒子12
が通過する場合で、入口および出口で高い波高値
を示しその間はほぼ平坦になつている。 ロは、細孔11の中心近くを通る場合で、同時
刻に2つの粒子12が存在することがあるような
通過の仕方であり、その波形はピークが2つあ
り、その間は比較的に深い谷となつている。 ハは、細孔11の丁度中心を粒子12が通過す
る場合で、ピークが一点の対称形のきれいな山形
の波形を示す。 ニは、入口では細孔11の内周面近くを、出口
では中心近くを通るうに斜めに通過した場合で、
その波形は入口での高い波高部と、これに続く平
坦部とを有するものとなつている。 導電式粒子検出装置は構造が簡単で、しかも感
度が高いため、懸濁液中を走査する上で細孔の閉
塞トラブルと、粒子通過経路による粒子信号歪の
欠点はあるが、広く利用されている粒子測定装置
の一つである。従来から精密粒子分析の分野で
は、この装置の検出歪に対する対策が問題とさ
れ、種々の研究が続けられてきた。 ベルヌーイの原理を応用して粒子の細孔流通通
路を中心部の狭い範囲に絞る「ハイドロダイナミ
ツクフオーカシング」あるいは「シースフロー」
と呼ばれる、特開昭53−119086号公報その他に見
られる流体力学面での改良法がその一つである。 また、検出粒子信号波形を分析し、細孔の中心
付近を通過する歪のない信号以外のい、歪を持つ
た信号をすべて無視する波形選択によるものも一
つの改良法である。 その他にも種々あるが、これら2つが代表的な
ものである。
A conductive particle detection device immerses a pair of electrodes in a suspension of measurement particles suspended in a thin electrolyte solution with a salt concentration of about 0.8%, and separates the electrodes with an insulating wall with micropores. However, a potential difference is applied between the two electrodes so that current flows between the electrodes only through the pores. In other words, when a water pressure difference is applied between the liquid on both sides and the particles flow together with the liquid through the pores, if the pore size is chosen appropriately for the particle size, a current change proportional to the particle volume will occur between the electrodes in response to the passage of the particles. This is a device that takes advantage of the characteristics that occur in A detailed examination of the particle detection waveform reveals that only when the particle passes near the center of the pore, the pulse peak value is proportional to the particle volume, while the waveform that passes near the periphery of the pore shows a partially high pulse peak value. In particular, it has been confirmed that errors occur in particle size information. As shown in the schematic diagrams A, B, C, and D of the passage of particles 12 through the pore 11 in FIG. 7 and the waveform diagram in FIG. 8, the area around the entrance of the pore 11 has a high current line density and sensitivity. is high. However, the diagram is a collective representation, and the suspension is generally diluted to such an extent that each state occurs separately. A, the particle 12 is placed very close to the inner peripheral surface of the pore 11.
When passing through, the wave height value is high at the entrance and exit, and the area between them is almost flat. B is a case where two particles 12 pass near the center of the pore 11, and two particles 12 may exist at the same time, and the waveform has two peaks, with a relatively deep peak between them. It forms a valley. 3 shows a case where the particle 12 passes exactly through the center of the pore 11, and shows a neat mountain-shaped waveform with a symmetrical peak at one point. D is a case in which the pore passes obliquely near the inner peripheral surface of the pore 11 at the entrance and near the center at the exit;
The waveform has a high wave height section at the entrance and a flat section following this. Conductive particle detection devices have a simple structure and high sensitivity, so they are widely used, although they have problems with pore clogging when scanning suspensions and particle signal distortion due to particle passage paths. This is one of the particle measuring devices available today. In the field of precision particle analysis, countermeasures against the detection distortion of this device have long been an issue, and various studies have been conducted. ``Hydrodynamic focusing'' or ``sheath flow'' applies Bernoulli's principle to narrow down the pore flow path of particles to a narrow area in the center.
One such method is an improvement method in terms of fluid dynamics, which is found in Japanese Patent Application Laid-Open No. 53-119086 and others. Another improvement method is to analyze the waveform of the detected particle signal and select a waveform that ignores all distorted signals other than undistorted signals passing near the center of the pore. There are many others, but these two are representative.

【発明が解決しようとする問題点】[Problems to be solved by the invention]

前記の流れを絞る流体装置によるものは理想的
ではあるが、複雑な流体機構を必要をするため装
置が高価になり、また保守が難しいという欠点が
ある。 前記波形選択の判別回路として例えば、特公昭
54−26919号公報、特公昭55−12980号公報に示さ
れたものがある。これらは、何れも、粒子波形を
ピークホールドして得る電圧を所定の割合に分割
した各電圧レベルをスレツシユホールド電圧と
し、各スレツシユホールド電圧と、遅延させた前
記粒子波形とを比較して各レベルでの波形持続時
間を積分回路で相対測定し、正常基準値と比較す
ることによつて波形を取捨選択している。 しかし、この波形選択によるものは無視した信
号の数がかなりにのぼるため、サンプリング数を
多くして精度を保つ必要があり、能率面、精度面
で問題を残している。 特願昭59−115331号(昭和59年6月4日出願)
の特許出願は同一出願人の出願に係るものである
が、この出願の発明粒子分析装置は、前記の問題
を改善したものである。 しかしながら、その粒子分析装置では、なお、
条件設定がむずかしくて分析精度が十分には高く
はなく、回路が複雑になるという問題があつた。 この発明の目的は、回路構成がより簡単でかつ
分折精度がより高い粒子分析装置を提供すること
である。
Although the fluid device that restricts the flow described above is ideal, it requires a complicated fluid mechanism, making the device expensive and difficult to maintain. For example, as a discriminating circuit for waveform selection,
Some of these are disclosed in Japanese Patent Publication No. 54-26919 and Japanese Patent Publication No. 12980/1983. In both of these, each voltage level obtained by peak-holding the particle waveform is divided into a predetermined ratio is set as a threshold voltage, and each threshold voltage is compared with the delayed particle waveform. Waveforms are selected by relatively measuring the waveform duration at each level using an integrating circuit and comparing it with a normal reference value. However, since the number of signals ignored by this waveform selection increases considerably, it is necessary to increase the number of samplings to maintain accuracy, which leaves problems in terms of efficiency and accuracy. Patent Application No. 59-115331 (filed on June 4, 1988)
This patent application is filed by the same applicant, and the invention particle analyzer of this application improves the above-mentioned problem. However, with this particle analyzer,
There were problems in that the conditions were difficult to set, the analysis accuracy was not high enough, and the circuit was complicated. An object of the present invention is to provide a particle analyzer with a simpler circuit configuration and higher analysis accuracy.

【問題点を解決するための手段】[Means to solve the problem]

この発明が前記問題点を解決するために講じた
技術的手段(発明の構成)は、つぎのとおりであ
る。 すなわち、この発明の粒子分析装置は、細孔に
おける粒子通過に伴う電気量発生手段と、この発
生電気量の微分手段と、前記微分手段の出力波形
が0レベル近くの正、負両レベル間の所定閾外に
あるときパルスを発生する弁別手段と、前記所定
閾を入力信号の大・小変化に応じて大・小変化す
る所定閾可変手段と、前記微分手段の出力波形が
0レベルにある時点を検出する0レベル検出手段
と、前記弁別手段の出力信号およ前記0レベル検
出手段の出力信号によつて前記発生電気量の信号
レベルをホールドする信号レベルホールド手段
と、前記弁別手段の出力信号により前記信号レベ
ルホールド手段の出力信号をA/D変換するA/
D変換手段とを備えたものである。
The technical means (structure of the invention) taken by this invention to solve the above problems are as follows. That is, the particle analyzer of the present invention includes a means for generating an amount of electricity accompanying the passage of particles through a pore, a means for differentiating the amount of electricity generated, and an output waveform of the differentiating means between positive and negative levels near 0 level. a discriminating means that generates a pulse when the pulse is outside a predetermined threshold; a predetermined threshold variable means that changes the predetermined threshold to a large or small degree according to a large or small change in the input signal; and an output waveform of the differentiating means is at 0 level. 0 level detection means for detecting a point in time; signal level holding means for holding the signal level of the generated quantity of electricity according to an output signal of the discrimination means and an output signal of the 0 level detection means; and an output of the discrimination means. A/D converter for A/D converting the output signal of the signal level holding means according to the signal;
D conversion means.

【作用】[Effect]

この発明の構成による作用は、以下の実施例に
おける動作説明によつて明らかとなろう。
The effects of the structure of the present invention will become clear from the explanation of the operation in the following embodiments.

【実施例】【Example】

この発明の一実施例を第1図ないし第3図に基
づいて説明する。第1図は粒子分析装置の主要部
である波形処理装置のブロツクを、第2図はそれ
の動作を示す各部の波形を、第3図は粒子分析装
置の全体構成を概念図である。 第3図において、導電式粒子検出装置7は、試
料容器1、粒子懸濁試料2、細孔3を有する検出
器(絶縁壁)4と電極5,6を備え、試料2を流
動定量する流体制御部と、電極5,6に電位差を
与え、検出パルスを発生させ増幅する検出部から
なる。 波形処理装置8はこの発明の主要部をなすもの
であり、第1図がそのブロツク構成図を示す。波
形処理装置8は、微分回路31、ACl回路
(Automatic Comparater Level回路)32、絶
縁コンパレータ33、後縁コンパレータ34、ゼ
ロクロスコンパレータ35、アンド回路36、ワ
ンシヨツト回路37、コンバートスタートパルス
回路38、移相補正回路39、サンプルホールド
回路40、波高値A/D変換回路41ならびに
Tnセンターパルス回路42からなる。 aは導電式粒子検出装置7から微分回路31お
よび移相補正回路39に入力される入力端子線で
ある。 微分回路31が、発明の構成にいう「微分手
段」の一例である。 前縁コンパレータ33、後縁コンパレータ34
およびTnセンターパルス回路42が、発明の構
成にいう「弁別手段」の一例である。 ゼロクロスコンパレータ35が、発明の構成に
いう「0レベル検出手段」の一例である。 ACL回路32が、発明の構成にいう「所定閾
可変手段」の一例である。 サンプルホールド回路40が、発明の構成にい
う「信号レベルホールド手段」の一例である。 波高値A/D変換回路41が、発明の構成にい
う「A/D変換手段」の一例である。 微分回路31の出力端子は、前縁コンパレータ
33、後縁コンパレータ34およびゼロクロスコ
ンパレータ35の入力端子に接続されている。前
縁コンパレータ33と後縁コンパレータ34の出
力端間にTnセンターパルス回路42が接続され、
Tnセンターパルス回路42の出力端子とゼロク
ロスコンパレータ35の出力端子とがアンド回路
36の入力端子に接続されている。 そして、アンド回路36の出力端子がワンシヨ
ツト回路37の入力端子に接続され、ワンシヨツ
ト回路37の出力端子が、サンプルホールド回路
40のトリガ端子に接続されている。ワンシヨツ
ト回路37は、サンプルホールド回路40に対す
るトリガパルスを発生させるものである。 移相補正回路39の出力端子はサンプルホール
ド回路40の入力端子に接続され、サンプルホー
ルド回路40の出力端子は波高値A/D変換回路
41の入力端子に接続されている。サンプルホー
ルド回路40の出力端子は波高値A/D変換回路
41の入力端子に接続されている。サンプルホー
ルド回路40は、ワンシヨツト回路37の出力に
よつてトリガされたとき、波高値A/D変換回路
41に出力する。波高値A/D変換回路41から
は第3図の粒度記録装置9に出力される。 後縁コンパレータ34の出力端子はコンバート
スタートパルス回路38の入力端子に接続され、
コンバートスタートパルス回路38の出力端子は
波高値A/D変換回路41のトリガ端子に接続さ
れている。コンバートスタートパルス回路38が
発生したトリガパルスは、波高値A/D変換回路
41に入力される。 つぎに、波形処理装置8の動作を第2図に基づ
いて説明する。 導電式粒子検出装置7から増幅された種々の
波形の粒子パルスが入力端子aを介して微分回
路31および移相補正回路39に入力される。 その入力信号の波形が第2図のaに例示され
ている。すなわち、第7図のロ,イ,ハに相当
する波形がこの順に示されている。 微分回路31は、適正な時定数を持つ信号の
変化率に比例する信号を得るための回路であ
り、第2図の入力波形aの勾配係数値に対応す
る出力が信号線bに得られ微分波形bが得られ
る。 ACL回路32は、前縁コンパレータ33、
後縁コンパレータ34の比較電圧を供給する回
路であつて、入力信号の大・小変化に応じて比
較電圧が大・小に変化する。 なお、無信号時は、バイアス直流電圧が供給
されるようになつている。 前縁コンパレータ33にACL回路32の出
力電圧を正電圧で印加する(第2図bのE1
照)のに対し、後縁コンパレータ34には反転
させて負電圧を印加し(第2図bのE2参照)、
微分回路31の出力を同様に印加する。 前縁コンパレータ33は、微分回路31の出
力波形がレベル電圧を正側に越える時に出力パ
ルスを発生する(第2図c参照)。 後縁コンパレータ34は、微分回路31の出
力波形がレベル電圧を負側に越える時に出力パ
ルスを発生する(第2d参照)。 Tnセンターパルス回路42は、前縁コンパ
レータ33の出力の立ち下がりで立ち上がり、
後縁コンパレータ34の出力立ち上がりで立ち
下がるパルスを発生する(第2図e参照)。 ゼロクロスコンパレータ35は、比較電圧を
ほぼゼロ電圧として、僅かに0を越えると出力
パルスを発生する(第2図f参照)。 ゼロクロスコンパレータ35の出力とTn
ンターパルス回路42の出力をアンド回路36
に入力すると、アンド回路36がワンシヨツト
回路37にパルスを出力する(第2図g参照)。 このパルスによつてワンシヨツト回路37
は、サンプルホールド回路40のトリガ端子に
対してホールドスタートトリガ信号を出力する
(第2図h参照)。 サンプルホールド回路40は、ホールドスタ
ートトリガ信号の入力によつて、移相補正回路
39からの入力信号を、その時点でホールドす
る(第2図j参照)。 一方、後縁コンパレータ34の出力がコンバ
ートスタートパルス回路38に入力され、コン
バートスタートパルス回路38は、後縁パルス
の立ち上がりによつてコンバートスタートパル
スを波高値A/D変換回路41に出力する(第
2図i参照)。 波高値A/D変換回路41は、コンバートス
タートパルスによつて、でホールドしていた
信号波高値をA/D変換し、粒度記録装置9に
出力する。 つぎに、微分信号をコンパレータで電圧比較し
た場合、波形歪み、信号レベル変動に影響される
ことなく、安定したパルス出力を得るための手段
を検討する。第4図に前縁パルスと後縁パルスの
特性を示す。図の左側は正常波形、右側は異常波
形を示す。Aは入力波形、Bは微分波形、Cは前
縁パルス、Dは後縁パルスを示す。血球信号を微
分すると、歪み部分が強調される。そのため、図
Bのように一定のコンパレータ電圧にすると、歪
み部分にかかるとともに、入力信号の大小によ
り、パルス幅が変動してしまう。 この2つの問題を解決するために、つぎの2つ
の方法が考えられる。 (1) 微分信号の半値幅を自動的にピツクアツプす
る。 (2) コンパレータの比較電圧を入力レベルに応じ
て動かす。 第5図の回路は、の方法を採用したものであ
る。 第5図において、33は前縁コンパレータ、
C1はコンデンサ、R1,R2,R3は抵抗、VCは直流
電源である。コンデンサC1と抵抗R1とが微分回
路31を構成してる。32aはACL回路32の
正側部分である。 無信号時には前縁コンパレータ33の入力端子
に比較電圧VCが印加されている。入力信号があ
ると、R3/(R2+R3)に低減されて比較電圧VC
に加算さ、前縁コンパレータ33の(−)入力端
子に印加される。この時(+)入力端子には、
C1,R1の時定数で微分された図Cの微分信号が
印加され、コンパレータ比較電圧が入力信号(破
線)に同期している。 この回路の波形を第6図に示す。Aは入力波
形、Bは微分波形で破線はコンパレータ電圧を示
す。Cはコンパレータ出力波形である。 この回路の特徴は、微分波形中間部の影響を受
けにくいこと、および信号レベル変動に伴つて比
較電圧も追従的に変化するため、パルス幅の変動
を抑制することができるということである。 以上の構成により、微分回路31の出力の中間
部の低いレベルの歪みの影響が、ゼロクロスコン
パレータ35、前縁コンパレータ33および後縁
コンパレータ34に対して派及することが抑制さ
れ、粒子分析の精度が向上するとともに、回路構
成が特願昭59−115331号に開示の発明に比べて簡
単になる。 また、後縁パルス出力の確実性が増大し、コン
バートスタートパルスとして現実に使用すること
ができるようになり、正規パルスレベル以外のパ
ルスでもサンプルホールドが可能となる。このた
め、より簡素な論理を使用することができ、回路
構成を一層簡素化でき、精度も向上する。 したがつて、シース機構を使用しないで、従来
の検出機構に処理回路を付加するだけで、正確な
粒度分布信号を得ることも可能となる。
An embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 3. FIG. 1 shows a block diagram of a waveform processing device which is the main part of a particle analyzer, FIG. 2 shows waveforms of each part showing its operation, and FIG. 3 is a conceptual diagram of the overall structure of the particle analyzer. In FIG. 3, a conductive particle detection device 7 includes a sample container 1, a particle suspension sample 2, a detector (insulating wall) 4 having pores 3, and electrodes 5, 6, and includes a fluid for flowing and quantifying the sample 2. It consists of a control section and a detection section that applies a potential difference to the electrodes 5 and 6 to generate and amplify a detection pulse. The waveform processing device 8 constitutes the main part of the present invention, and FIG. 1 shows its block diagram. The waveform processing device 8 includes a differentiator circuit 31, an ACl circuit (Automatic Comparator Level circuit) 32, an insulated comparator 33, a trailing edge comparator 34, a zero cross comparator 35, an AND circuit 36, a one shot circuit 37, a convert start pulse circuit 38, and a phase shift correction. circuit 39, sample hold circuit 40, peak value A/D conversion circuit 41, and
It consists of a T n center pulse circuit 42. a is an input terminal line that is input from the conductive particle detection device 7 to the differentiation circuit 31 and the phase shift correction circuit 39. The differentiating circuit 31 is an example of the "differentiating means" referred to in the configuration of the invention. Leading edge comparator 33, trailing edge comparator 34
and T n center pulse circuit 42 are an example of the "discrimination means" referred to in the configuration of the invention. The zero cross comparator 35 is an example of "0 level detection means" in the configuration of the invention. The ACL circuit 32 is an example of the "predetermined threshold variable means" in the configuration of the invention. The sample hold circuit 40 is an example of "signal level hold means" in the configuration of the invention. The peak value A/D conversion circuit 41 is an example of "A/D conversion means" in the configuration of the invention. The output terminal of the differentiating circuit 31 is connected to the input terminals of a leading edge comparator 33, a trailing edge comparator 34, and a zero cross comparator 35. A T n center pulse circuit 42 is connected between the output terminals of the leading edge comparator 33 and the trailing edge comparator 34,
The output terminal of the T n center pulse circuit 42 and the output terminal of the zero cross comparator 35 are connected to the input terminal of the AND circuit 36 . The output terminal of the AND circuit 36 is connected to the input terminal of the one shot circuit 37, and the output terminal of the one shot circuit 37 is connected to the trigger terminal of the sample hold circuit 40. The one shot circuit 37 generates a trigger pulse for the sample hold circuit 40. The output terminal of the phase shift correction circuit 39 is connected to the input terminal of the sample hold circuit 40, and the output terminal of the sample hold circuit 40 is connected to the input terminal of the peak value A/D conversion circuit 41. An output terminal of the sample hold circuit 40 is connected to an input terminal of a peak value A/D conversion circuit 41. The sample hold circuit 40 outputs an output to the peak value A/D conversion circuit 41 when triggered by the output of the one shot circuit 37. The peak value A/D conversion circuit 41 outputs the signal to the grain size recording device 9 shown in FIG. The output terminal of the trailing edge comparator 34 is connected to the input terminal of the convert start pulse circuit 38;
The output terminal of the conversion start pulse circuit 38 is connected to the trigger terminal of the peak value A/D conversion circuit 41. The trigger pulse generated by the conversion start pulse circuit 38 is input to the peak value A/D conversion circuit 41. Next, the operation of the waveform processing device 8 will be explained based on FIG. 2. Particle pulses of various waveforms amplified from the conductive particle detection device 7 are input to the differentiation circuit 31 and the phase shift correction circuit 39 via the input terminal a. The waveform of the input signal is illustrated in FIG. 2a. That is, the waveforms corresponding to B, A, and C in FIG. 7 are shown in this order. The differentiating circuit 31 is a circuit for obtaining a signal proportional to the rate of change of the signal having an appropriate time constant, and an output corresponding to the slope coefficient value of the input waveform a shown in FIG. Waveform b is obtained. The ACL circuit 32 includes a leading edge comparator 33,
This is a circuit that supplies a comparison voltage for the trailing edge comparator 34, and the comparison voltage changes from large to small according to large and small changes in the input signal. Note that when there is no signal, a bias DC voltage is supplied. The output voltage of the ACL circuit 32 is applied as a positive voltage to the leading edge comparator 33 (see E1 in Fig. 2b), whereas a negative voltage is inverted and applied to the trailing edge comparator 34 (see Fig. 2b). (see E 2 ),
The output of the differentiating circuit 31 is similarly applied. The leading edge comparator 33 generates an output pulse when the output waveform of the differentiating circuit 31 exceeds the level voltage on the positive side (see FIG. 2c). The trailing edge comparator 34 generates an output pulse when the output waveform of the differentiating circuit 31 exceeds the level voltage to the negative side (see 2d). The T n center pulse circuit 42 rises when the output of the leading edge comparator 33 falls;
A falling pulse is generated at the rising edge of the output of the trailing edge comparator 34 (see FIG. 2e). The zero cross comparator 35 sets the comparison voltage to approximately zero voltage and generates an output pulse when it slightly exceeds zero (see FIG. 2f). The output of the zero cross comparator 35 and the output of the T n center pulse circuit 42 are connected to an AND circuit 36.
, the AND circuit 36 outputs a pulse to the one-shot circuit 37 (see FIG. 2g). This pulse causes one-shot circuit 37
outputs a hold start trigger signal to the trigger terminal of the sample and hold circuit 40 (see FIG. 2h). Upon receiving the hold start trigger signal, the sample hold circuit 40 holds the input signal from the phase shift correction circuit 39 at that point in time (see FIG. 2j). On the other hand, the output of the trailing edge comparator 34 is input to the conversion start pulse circuit 38, and the conversion start pulse circuit 38 outputs the conversion start pulse to the peak value A/D conversion circuit 41 according to the rising edge of the trailing edge pulse. (See Figure 2 i). The peak value A/D conversion circuit 41 A/D converts the signal peak value held by the conversion start pulse and outputs it to the grain size recording device 9. Next, we will consider means for obtaining a stable pulse output without being affected by waveform distortion or signal level fluctuation when voltages are compared between differential signals using a comparator. FIG. 4 shows the characteristics of the leading edge pulse and the trailing edge pulse. The left side of the figure shows a normal waveform, and the right side shows an abnormal waveform. A shows the input waveform, B shows the differential waveform, C shows the leading edge pulse, and D shows the trailing edge pulse. Differentiating the blood cell signal emphasizes the distorted parts. Therefore, if the comparator voltage is set to be constant as shown in FIG. B, the pulse width will not only be applied to the distorted portion but also fluctuate depending on the magnitude of the input signal. In order to solve these two problems, the following two methods can be considered. (1) Automatically pick up the half-width of the differential signal. (2) Move the comparison voltage of the comparator according to the input level. The circuit shown in FIG. 5 employs the method described below. In FIG. 5, 33 is a leading edge comparator;
C 1 is a capacitor, R 1 , R 2 and R 3 are resistors, and V C is a DC power supply. A capacitor C 1 and a resistor R 1 constitute a differentiating circuit 31. 32a is the positive side portion of the ACL circuit 32. When there is no signal, a comparison voltage V C is applied to the input terminal of the leading edge comparator 33. When there is an input signal, it is reduced to R 3 /(R 2 + R 3 ) and the comparison voltage V C
and is applied to the (-) input terminal of the leading edge comparator 33. At this time, the (+) input terminal has
The differential signal shown in Figure C, which is differentiated by the time constants C 1 and R 1 , is applied, and the comparator comparison voltage is synchronized with the input signal (dashed line). The waveforms of this circuit are shown in FIG. A represents the input waveform, B represents the differential waveform, and the broken line represents the comparator voltage. C is the comparator output waveform. The characteristics of this circuit are that it is not susceptible to the influence of the intermediate portion of the differential waveform, and that the comparison voltage also changes in a manner that follows changes in the signal level, so that fluctuations in the pulse width can be suppressed. With the above configuration, the influence of low-level distortion in the middle part of the output of the differentiating circuit 31 is suppressed from being applied to the zero-cross comparator 35, the leading edge comparator 33, and the trailing edge comparator 34, and the accuracy of particle analysis is suppressed. In addition, the circuit configuration is simpler than that of the invention disclosed in Japanese Patent Application No. 115331/1986. Further, the reliability of the output of the trailing edge pulse increases, and it becomes possible to actually use it as a conversion start pulse, and it becomes possible to sample and hold pulses other than the normal pulse level. Therefore, simpler logic can be used, the circuit configuration can be further simplified, and accuracy can be improved. Therefore, it is also possible to obtain an accurate particle size distribution signal by simply adding a processing circuit to a conventional detection mechanism without using a sheath mechanism.

【発明の効果】【Effect of the invention】

この発明によれば、特願昭59−115331号に開示
のものに比べて、回路構成をより簡単化すること
ができるとともに、分析精度をより向上すること
ができるという効果がある。
According to this invention, compared to the one disclosed in Japanese Patent Application No. 59-115331, it is possible to simplify the circuit configuration and further improve the accuracy of analysis.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例の粒子分析装置の
主要部である波形処理装置のブロツクを、第2図
はそれの動作を示す各部の波形を、第3図は粒子
分析装置の全体構成の概念図、第4図に前縁パル
スと後縁パルスの特性を示す特性図、第5図は前
縁コンパレータ回路まわりの回路図、第6図は改
善された特性図、第7図は従来例の主要部の断面
図、第8図はその波形図である。 31……微分回路(微分手段)、32……ACL
回路(所定閾可変手段)、33……前縁コンパレ
ータ、34……後縁コンパレータ、42……Tn
センターパルス回路、33,34,42……弁別
手段、35……ゼロクロスコンパレータ(0レベ
ル検出手段)、40……サンプルホールド回路
(信号レベルホールド手段)、41……波高値A/
D変換回路(A/D変換手段)。
Fig. 1 shows the block of the waveform processing device which is the main part of a particle analyzer according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 shows the waveforms of each part showing its operation, and Fig. 3 shows the overall configuration of the particle analyzer. Figure 4 is a characteristic diagram showing the characteristics of leading edge pulses and trailing edge pulses, Figure 5 is a circuit diagram around the leading edge comparator circuit, Figure 6 is an improved characteristic diagram, and Figure 7 is a conventional characteristic diagram. A sectional view of the main part of the example, and FIG. 8 is a waveform diagram thereof. 31...differentiation circuit (differentiation means), 32...ACL
circuit (predetermined threshold variable means), 33...leading edge comparator, 34... trailing edge comparator, 42...T n
Center pulse circuit, 33, 34, 42... Discrimination means, 35... Zero cross comparator (0 level detection means), 40... Sample hold circuit (signal level holding means), 41... Peak value A/
D conversion circuit (A/D conversion means).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 細孔における粒子通過に伴う電気量発生手段
と、この発生電気量の微分手段と、前記微分手段
の出力波形が0レベル近くの正、負レベル間の所
定閾外にあるときパルスを発生する弁別手段と、
前記所定閾を入力信号の大・小変化に応じて大・
小変化する所定閾可変手段と、前記微分手段の出
力波形が0レベルにある時点を検出する0レベル
検出手段と、前記弁別手段の出力信号および前記
0レベル検出手段の出力信号によつて前記発生電
気量の信号レベルをホールドする信号レベルホー
ルド手段と、前記弁別手段の出力信号により前記
信号レベルホールド手段の出力信号をA/D変換
するA/D変換手段とを備えた粒子分析装置。
1. means for generating an amount of electricity accompanying the passage of particles through the pores, means for differentiating the generated amount of electricity, and generating a pulse when the output waveform of the differentiating means is outside a predetermined threshold between positive and negative levels near the 0 level; Discrimination means;
The predetermined threshold is set to large or small depending on large or small changes in the input signal.
a predetermined threshold variable means that changes by a small amount; a 0 level detecting means for detecting a point in time when the output waveform of the differentiating means is at the 0 level; and an output signal of the discriminating means and an output signal of the 0 level detecting means. A particle analyzer comprising: a signal level hold means for holding a signal level of an electric quantity; and an A/D conversion means for A/D converting the output signal of the signal level hold means based on the output signal of the discrimination means.
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