JPH0353178A - Ｏｐｃドラム試験装置 - Google Patents
Ｏｐｃドラム試験装置Info
- Publication number
- JPH0353178A JPH0353178A JP1189093A JP18909389A JPH0353178A JP H0353178 A JPH0353178 A JP H0353178A JP 1189093 A JP1189093 A JP 1189093A JP 18909389 A JP18909389 A JP 18909389A JP H0353178 A JPH0353178 A JP H0353178A
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- drum
- opc drum
- opc
- ocr
- eraser lamp
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 20
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Cleaning In Electrography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はレーザプリンタ等に用いる有機系感光体ドラム
の検査装置に関する。
の検査装置に関する。
レーザプリンタに用いる有機系感光体ドラム（以下ＯＰ
Ｃドラムという）の従来の試験装置は、ＯＰＣドラム外
周の外側の所定の位置に固定した帯電器および通光形の
表面電位計センサーとイレーサーランプと光ファイバー
とを有するＯＰＣドラム試験装置が用いられている。
Ｃドラムという）の従来の試験装置は、ＯＰＣドラム外
周の外側の所定の位置に固定した帯電器および通光形の
表面電位計センサーとイレーサーランプと光ファイバー
とを有するＯＰＣドラム試験装置が用いられている。
このようなＯＰＣドラム試験装置は、ＯＰＣドラムの外
周の外側の所定の位置に所定の角度で配置した帯電器お
よび通光形の表面電位計センサおよびイレーサーランプ
および光ファイバーと、ＯＰＣドラムを回転させるため
のモーターと、ＯＰＣドラムを感光させるための光を発
生する光源部からなるＯＰＣドラム試験部と、上記のＯ
ＰＣドラム試験部を収容して外光を遮断するＯＰＣドラ
ム試験室と、上記のＯＰＣドラム試験部の動作を制御す
る制御部と、上記のイレーサーランプおよび光源部の光
量の測定およびＯＰＣドラムの表面電位の測定およびＯ
ＰＣドラムに対して帯電器から流込む電流の測定を行う
ための測定部とを備えている。
周の外側の所定の位置に所定の角度で配置した帯電器お
よび通光形の表面電位計センサおよびイレーサーランプ
および光ファイバーと、ＯＰＣドラムを回転させるため
のモーターと、ＯＰＣドラムを感光させるための光を発
生する光源部からなるＯＰＣドラム試験部と、上記のＯ
ＰＣドラム試験部を収容して外光を遮断するＯＰＣドラ
ム試験室と、上記のＯＰＣドラム試験部の動作を制御す
る制御部と、上記のイレーサーランプおよび光源部の光
量の測定およびＯＰＣドラムの表面電位の測定およびＯ
ＰＣドラムに対して帯電器から流込む電流の測定を行う
ための測定部とを備えている。
第５図はこのような従来のｏＰＣドラム試験装置の一例
を扉を取除いて内部を示した斜視図である。
を扉を取除いて内部を示した斜視図である。
第５図において、ＯＰＣドラム試験部２２には、イレー
サランブ２６と帯電器２７と光ファイバ２９と通行形の
表面電位計センサ３０が支持板３２に固定して取付けら
れている。制御部２を操作してモーター３１を回転させ
ることにより、ＯＰＣドラム２５を所定の試験条件で回
転させてイレーサランブ２６を点灯し、帯電器２７に高
圧〈マイナス数千ボルト〉を印加してコロナ放電を発生
させてＯＰＣドラム２５の表面を帯電させる。光源部８
からレーザー光を発生させて光ファイバ２９を介してＯ
ＰＣドラム２５の表面に照射し、通光形の表面電位計セ
ンサ３０を用いてＯＰＣドラム２５の表面の電位を測定
する。イレーサランプ２６と光源部２８の光量は、光量
センサー（図示省略〉をイレーサランブ２６および光フ
ァイバ２つの位置に設置して測定部２４によって測定す
る。
サランブ２６と帯電器２７と光ファイバ２９と通行形の
表面電位計センサ３０が支持板３２に固定して取付けら
れている。制御部２を操作してモーター３１を回転させ
ることにより、ＯＰＣドラム２５を所定の試験条件で回
転させてイレーサランブ２６を点灯し、帯電器２７に高
圧〈マイナス数千ボルト〉を印加してコロナ放電を発生
させてＯＰＣドラム２５の表面を帯電させる。光源部８
からレーザー光を発生させて光ファイバ２９を介してＯ
ＰＣドラム２５の表面に照射し、通光形の表面電位計セ
ンサ３０を用いてＯＰＣドラム２５の表面の電位を測定
する。イレーサランプ２６と光源部２８の光量は、光量
センサー（図示省略〉をイレーサランブ２６および光フ
ァイバ２つの位置に設置して測定部２４によって測定す
る。
帯電器２７からＯＰＣドラム２５に流込む電流は、ＯＰ
Ｃドラム２５の回転軸に取付けた接点（図示省略〉によ
って電流を取出し、測定部２４によって測定を行う，ｏ
ｐｃドラム試験部２２の制御は制御部２３で行い、測定
部２４によって表面電位と流込み電流とを測定してＯＰ
Ｃドラム２５の帯電特性および暗減衰特性および光減衰
特性および耐久特性の試験を行う． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述したような従来のＯＰＣドラム試験装置は、ＯＰＣ
ドラム試験部にイレーサーランプと帯電器と光ファイバ
と通光形の表面電位計センサとを支持板に所定の角度を
なす位置に固定して取付けているため、ＯＰＣドラムの
表面上のイレーサランブおよび帯電器から一定の角度の
位置の表面電位しか試験できないという欠点がある。
Ｃドラム２５の回転軸に取付けた接点（図示省略〉によ
って電流を取出し、測定部２４によって測定を行う，ｏ
ｐｃドラム試験部２２の制御は制御部２３で行い、測定
部２４によって表面電位と流込み電流とを測定してＯＰ
Ｃドラム２５の帯電特性および暗減衰特性および光減衰
特性および耐久特性の試験を行う． 〔発明が解決しようとする課題〕 上述したような従来のＯＰＣドラム試験装置は、ＯＰＣ
ドラム試験部にイレーサーランプと帯電器と光ファイバ
と通光形の表面電位計センサとを支持板に所定の角度を
なす位置に固定して取付けているため、ＯＰＣドラムの
表面上のイレーサランブおよび帯電器から一定の角度の
位置の表面電位しか試験できないという欠点がある。
本発明のＯＰＣドラム試験装置は、被試験体のＯＣＲド
ラムを取付けて回転するモータと、前記ＯＣＲドラムの
外周の外側に設けてコロナ放電によって前記ＯＣＲドラ
ムを帯電させる帯電器と、前記ＯＣＲドラムの表面にレ
ーザ光を照射する光ファイバと、前記レーザ光によって
前記ＯＣＲドラムの表面電位を検出する通光形の表面電
位計センサと、前記ＯＣＲドラムの帯電を消去するイレ
ーサランブと、前記レーザ光を発生する光源部とを備え
るＯＰＣドラム試験部と、前記ＯＰＣドラム試験部の動
作を制御する制御部と、前記ＯＰＣドラムの特性値の測
定を行う測定部とを備え、前記ＯＰＣドラムの両端部に
支持板を設け、前記支持板に円環状の溝を設け、前記帯
電器および前記光ファイバおよび前記表面電位計センサ
および前記イレーサランプを前記円環状の溝に滑動自在
に保持したものである。
ラムを取付けて回転するモータと、前記ＯＣＲドラムの
外周の外側に設けてコロナ放電によって前記ＯＣＲドラ
ムを帯電させる帯電器と、前記ＯＣＲドラムの表面にレ
ーザ光を照射する光ファイバと、前記レーザ光によって
前記ＯＣＲドラムの表面電位を検出する通光形の表面電
位計センサと、前記ＯＣＲドラムの帯電を消去するイレ
ーサランブと、前記レーザ光を発生する光源部とを備え
るＯＰＣドラム試験部と、前記ＯＰＣドラム試験部の動
作を制御する制御部と、前記ＯＰＣドラムの特性値の測
定を行う測定部とを備え、前記ＯＰＣドラムの両端部に
支持板を設け、前記支持板に円環状の溝を設け、前記帯
電器および前記光ファイバおよび前記表面電位計センサ
および前記イレーサランプを前記円環状の溝に滑動自在
に保持したものである。
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例の扉を取除いて内部を示した
斜視図、第２図は第■図の実施例の外観を示す斜視図、
第３図は第１図の実施例のＯＰＣドラム試験部の詳細を
示す斜視図、第４図は第１図の東施例のＯＰＣドラム試
験部の構或を示す側面図である． 第１図〜第４図において、ＯＰＣドラム５をＯＰＣドラ
ム試験部２に取付けた後、ＯＰＣドラム５の周囲に配設
してある帯電器７および通光形の表面電位計センサー１
０およびイレーサーランプ６および光ファイバー９を試
験条件に合せて移動した後、前面の扉１４を閉じる。制
御部２を操作してモーターｌ１を回転させることによっ
てＯＰＣドラム５をその試験条件で回転させてイレーサ
ランプ６を点灯し、帯電器７に高圧くマイナス数千ボル
ト）を印加してコロナ放電を発生してＯＰＣドラム５の
表面に帯電させる。光源部８からレーザー光を発生させ
て光ファイバー９を介してＯＰＣドラム５の表面にレー
ザー光を照射し、通光形の表面電位計センサ１０を用い
てＯＰＣドラム５の表面の電位を測定する。イレーサラ
ンプ６および光源部８の光量は光量センサー（図示省略
）をイレーサーランプ６および光ファイバー９の位置に
設置して測定部４によって測定する。帯電器７からＯＰ
Ｃドラム５に流込む電流は、ＯＰＣドラム５の回転軸に
取付けた接点（図示省略）によって電流を取出して測定
部４によって測定する。
斜視図、第２図は第■図の実施例の外観を示す斜視図、
第３図は第１図の実施例のＯＰＣドラム試験部の詳細を
示す斜視図、第４図は第１図の東施例のＯＰＣドラム試
験部の構或を示す側面図である． 第１図〜第４図において、ＯＰＣドラム５をＯＰＣドラ
ム試験部２に取付けた後、ＯＰＣドラム５の周囲に配設
してある帯電器７および通光形の表面電位計センサー１
０およびイレーサーランプ６および光ファイバー９を試
験条件に合せて移動した後、前面の扉１４を閉じる。制
御部２を操作してモーターｌ１を回転させることによっ
てＯＰＣドラム５をその試験条件で回転させてイレーサ
ランプ６を点灯し、帯電器７に高圧くマイナス数千ボル
ト）を印加してコロナ放電を発生してＯＰＣドラム５の
表面に帯電させる。光源部８からレーザー光を発生させ
て光ファイバー９を介してＯＰＣドラム５の表面にレー
ザー光を照射し、通光形の表面電位計センサ１０を用い
てＯＰＣドラム５の表面の電位を測定する。イレーサラ
ンプ６および光源部８の光量は光量センサー（図示省略
）をイレーサーランプ６および光ファイバー９の位置に
設置して測定部４によって測定する。帯電器７からＯＰ
Ｃドラム５に流込む電流は、ＯＰＣドラム５の回転軸に
取付けた接点（図示省略）によって電流を取出して測定
部４によって測定する。
ＯＰＣドラム試験部２の制御は制御部３で行い、測定部
４によって表面電位と流込み電流を測定することにより
、ＯＰＣドラム５の帯電特性および暗減衰特性および光
減衰特性および耐久特性の試験を行う。
４によって表面電位と流込み電流を測定することにより
、ＯＰＣドラム５の帯電特性および暗減衰特性および光
減衰特性および耐久特性の試験を行う。
ＯＰＣドラム試験室１は、第３図に示すように、ＯＰＣ
ドラムの両側に設けた支持板１２に円環状の講１３を設
け、この円環状の講１３に帯電器およびイレーサーラン
プおよび通光形の表面電位計センサーおよび光ファイバ
の端部を滑動自在に支持し、この溝の中を第４図の矢印
に示すように移動させることによって帯電器７およびイ
レーサランプ６および表面電位計センサ１０および光フ
ァイバ９のＯＰＣドラム５に対ずる角度を任意の角度に
変えることができるようにしてある。
ドラムの両側に設けた支持板１２に円環状の講１３を設
け、この円環状の講１３に帯電器およびイレーサーラン
プおよび通光形の表面電位計センサーおよび光ファイバ
の端部を滑動自在に支持し、この溝の中を第４図の矢印
に示すように移動させることによって帯電器７およびイ
レーサランプ６および表面電位計センサ１０および光フ
ァイバ９のＯＰＣドラム５に対ずる角度を任意の角度に
変えることができるようにしてある。
本発明のＯＰＣドラム試験装置は、ＯＰＣドラムの両側
の支持板に設けた円環状の溝において、帯電器およびイ
レーサーランプおよび通光形の表面電位計センサーおよ
び光ファイバの端部を支持し、この円環状の溝の中を滑
動させることによって帯電器およびイレーサランプおよ
び表面電位計センサおよび光ファイバのＯＰＣドラムに
対する角度を任意の角度に変えることができるため、Ｏ
ＰＣドラムに対するイレーサランプと帯電器との任意の
角度における表面電位の試験を行うことができるという
効果がある。
の支持板に設けた円環状の溝において、帯電器およびイ
レーサーランプおよび通光形の表面電位計センサーおよ
び光ファイバの端部を支持し、この円環状の溝の中を滑
動させることによって帯電器およびイレーサランプおよ
び表面電位計センサおよび光ファイバのＯＰＣドラムに
対する角度を任意の角度に変えることができるため、Ｏ
ＰＣドラムに対するイレーサランプと帯電器との任意の
角度における表面電位の試験を行うことができるという
効果がある。
第１図は本発明の一実施例の扉を取外して内部を示した
斜視図、第２図は第１図の実施例の外観を示す斜視図、
第３図は第１図の実施例のＯＰＣドラム試験部の詳細を
示す斜視図、第４図は第１図の実施例のｏＰＣドラム試
験部の構成を示す側面図、第５図は従来のＯＰＣドラム
試験装置の一例を示す斜視図である。 １・２１・・・ＯＰＣドラム試験室、２・２２・・・Ｏ
ＰＣドラム試験部、３・２３・・・制御部、４・２４・
・・測定部、５・２５・・・ＯＰＣドラム、６・２６・
・・イレーサランプ、７・２７・・・帯電器、８・２８
・・・光源部、９・２９・・・光ファイバ、１０・３０
・・・表面電位計センサ、１１・３１・・・モーター
１２・３２・・・支持板、１３・・・溝、１４・・・扉
。
斜視図、第２図は第１図の実施例の外観を示す斜視図、
第３図は第１図の実施例のＯＰＣドラム試験部の詳細を
示す斜視図、第４図は第１図の実施例のｏＰＣドラム試
験部の構成を示す側面図、第５図は従来のＯＰＣドラム
試験装置の一例を示す斜視図である。 １・２１・・・ＯＰＣドラム試験室、２・２２・・・Ｏ
ＰＣドラム試験部、３・２３・・・制御部、４・２４・
・・測定部、５・２５・・・ＯＰＣドラム、６・２６・
・・イレーサランプ、７・２７・・・帯電器、８・２８
・・・光源部、９・２９・・・光ファイバ、１０・３０
・・・表面電位計センサ、１１・３１・・・モーター
１２・３２・・・支持板、１３・・・溝、１４・・・扉
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被試験体のＯＣＲドラムを取付けて回転するモータと、
前記ＯＣＲドラムの外周の外側に設けてコロナ放電によ
って前記ＯＣＲドラムを帯電させる帯電器と、前記ＯＣ
Ｒドラムの表面にレーザ光を照射する光ファイバと、前
記レーザ光によって前記ＯＣＲドラムの表面電位を検出
する通光形の表面電位計センサと、前記ＯＣＲドラムの
帯電を消去するイレーサランプと、前記レーザ光を発生
する光源部とを備えるＯＰＣドラム試験部と、前記ＯＰ
Ｃドラム試験部の動作を制御する制御部と、 前記ＯＰＣドラムの特性値の測定を行う測定部とを備え
、 前記ＯＰＣドラムの両端部に支持板を設け、前記支持板
に円環状の溝を設け、前記帯電器および前記光ファイバ
および前記表面電位計センサおよび前記イレーサランプ
を前記円環状の溝に滑動自在に保持したことを特徴とす
るＯＣＲドラム試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1189093A JPH0353178A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Ｏｐｃドラム試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1189093A JPH0353178A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Ｏｐｃドラム試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0353178A true JPH0353178A (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=16235220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1189093A Pending JPH0353178A (ja) | 1989-07-20 | 1989-07-20 | Ｏｐｃドラム試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0353178A (ja) |
-
1989
- 1989-07-20 JP JP1189093A patent/JPH0353178A/ja active Pending
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