JPH0353700B2 - - Google Patents
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- JPH0353700B2 JPH0353700B2 JP58084286A JP8428683A JPH0353700B2 JP H0353700 B2 JPH0353700 B2 JP H0353700B2 JP 58084286 A JP58084286 A JP 58084286A JP 8428683 A JP8428683 A JP 8428683A JP H0353700 B2 JPH0353700 B2 JP H0353700B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/10—Beam splitting or combining systems
- G02B27/16—Beam splitting or combining systems used as aids for focusing
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0916—Foucault or knife-edge methods
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
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- G—PHYSICS
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- Optical Head (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、対物レンズ系の焦平面と物体との間
のずれを検出するフオーカシングエラー検出装置
であつて、物体からの反射ビームの光路中に配置
され、物体からのビームを２個のサブビームに分
割するビームスプリツタと、前記ビームスプリツ
タの後段に配置され、ビーム分割方向に沿つて並
置されると共に２個の分割線によつて分離されて
いる少なくとも３個の検出器を有する放射感知検
出系と、前記検出器からの出力信号に基いてフオ
ーカシングエラー信号を発生する信号処理回路と
を具えるフオーカシングエラー検出装置に関する
ものである。
のずれを検出するフオーカシングエラー検出装置
であつて、物体からの反射ビームの光路中に配置
され、物体からのビームを２個のサブビームに分
割するビームスプリツタと、前記ビームスプリツ
タの後段に配置され、ビーム分割方向に沿つて並
置されると共に２個の分割線によつて分離されて
いる少なくとも３個の検出器を有する放射感知検
出系と、前記検出器からの出力信号に基いてフオ
ーカシングエラー信号を発生する信号処理回路と
を具えるフオーカシングエラー検出装置に関する
ものである。
このような装置は「Radio Mentor」45（1979
年）の第138〜140頁に記載されている論文
「PCM−Schallplatte fu¨r die 80 er Jahre」か
ら既知である。この装置は半導体ダイオードレー
ザの形態をした放射源を具えている。そして、こ
のレーザから放出された読み取りビームは対物レ
ンズ系によりデイスク形記録媒体の情報トラツク
上に合焦させられる。情報トラツクにより反射さ
れた読み取りビームは再び対物レンズ系を通り、
次に放射源と対物レンズ系との間に配置したビー
ム分割プリズムを通る。このプリズムに変調され
た読み取りビームを放射源により放出されたビー
ムの光路から分岐させ、変調されたビームは放射
に感応する検出装置に入射し、この検出装置から
変調されたビームの変調と一致する電気信号が出
力されている。
年）の第138〜140頁に記載されている論文
「PCM−Schallplatte fu¨r die 80 er Jahre」か
ら既知である。この装置は半導体ダイオードレー
ザの形態をした放射源を具えている。そして、こ
のレーザから放出された読み取りビームは対物レ
ンズ系によりデイスク形記録媒体の情報トラツク
上に合焦させられる。情報トラツクにより反射さ
れた読み取りビームは再び対物レンズ系を通り、
次に放射源と対物レンズ系との間に配置したビー
ム分割プリズムを通る。このプリズムに変調され
た読み取りビームを放射源により放出されたビー
ムの光路から分岐させ、変調されたビームは放射
に感応する検出装置に入射し、この検出装置から
変調されたビームの変調と一致する電気信号が出
力されている。
非常に小さな情報の細部を結像するために使用
され大きな開口数を有する光学系の焦点深度は小
さい。例えば顕微鏡又は非常に小さな情報細部を
有する光学式記録担体を読み取る装置若しくは記
録担体に情報を記録する装置で使用される結像装
置では、実際の焦点位置と所望の焦点面との間の
ずれを検出し、これに応じて焦点を補正する必要
がある。この目的で、前記論文に記載されている
ようにビーム分割プリズムの出射面に楔形プリズ
ムを設けることができる。この楔形プリズムはビ
ームを２個のサブビームに分割し、これらサブビ
ームを放射に感応する検出装置の別々の検出器に
入射させている。この検出装置は、例えば、放射
に感応する４個の検出器を具え、これらの検出器
を楔形プリズムの屈折線に対して直交するライン
に沿つて並置する。内側の２個の検出器からの信
号の和を外側の２個の検出器からの信号の和から
減算すると合焦誤差に比例する信号が得られる。
され大きな開口数を有する光学系の焦点深度は小
さい。例えば顕微鏡又は非常に小さな情報細部を
有する光学式記録担体を読み取る装置若しくは記
録担体に情報を記録する装置で使用される結像装
置では、実際の焦点位置と所望の焦点面との間の
ずれを検出し、これに応じて焦点を補正する必要
がある。この目的で、前記論文に記載されている
ようにビーム分割プリズムの出射面に楔形プリズ
ムを設けることができる。この楔形プリズムはビ
ームを２個のサブビームに分割し、これらサブビ
ームを放射に感応する検出装置の別々の検出器に
入射させている。この検出装置は、例えば、放射
に感応する４個の検出器を具え、これらの検出器
を楔形プリズムの屈折線に対して直交するライン
に沿つて並置する。内側の２個の検出器からの信
号の和を外側の２個の検出器からの信号の和から
減算すると合焦誤差に比例する信号が得られる。
この合焦誤差検出装置では検出器の面内に形成
された放射スポツトの中心間の距離が検出器の分
割線間の距離に等しくする必要があり、また放射
スポツトを検出器に対して正しく位置決めする必
要がある。ビームが正しく合焦している場合放射
スポツトは関連する分割線に対して対称的に形成
される。放射スポツトの中心間の距離が正しくな
かつたり、放射スポツトが正しく位置決めされて
いなかつたり、その両方がある場合誤つた合焦誤
差信号が生じ、正しい合焦制御が不可能になる。
された放射スポツトの中心間の距離が検出器の分
割線間の距離に等しくする必要があり、また放射
スポツトを検出器に対して正しく位置決めする必
要がある。ビームが正しく合焦している場合放射
スポツトは関連する分割線に対して対称的に形成
される。放射スポツトの中心間の距離が正しくな
かつたり、放射スポツトが正しく位置決めされて
いなかつたり、その両方がある場合誤つた合焦誤
差信号が生じ、正しい合焦制御が不可能になる。
本発明の目的はフオーカシングエラー検出装置
の組立後、放射スポツトの中心間の距離を分割線
間の距離と等しくすることができ、放射スポツト
の位置を補正できるフオーカシングエラー検出装
置を提供することにある。
の組立後、放射スポツトの中心間の距離を分割線
間の距離と等しくすることができ、放射スポツト
の位置を補正できるフオーカシングエラー検出装
置を提供することにある。
この目的を達成するため、本発明によるフオー
カシングエラー検出装置は、前記検出器を前記分
割線に沿つて延在する細条状検出器とし、前記分
割線が互いに鋭角をなすように構成したことを特
徴とする。
カシングエラー検出装置は、前記検出器を前記分
割線に沿つて延在する細条状検出器とし、前記分
割線が互いに鋭角をなすように構成したことを特
徴とする。
この所望の目的はビームが正しく合焦されてい
ない時２個のサブビームを検出器の面内で一方向
又は二方向に移動させることにより達成される。
ない時２個のサブビームを検出器の面内で一方向
又は二方向に移動させることにより達成される。
本発明によるフオーカシングエラー検出装置の
好適な実施例は、２個の分割線がなす角度をほぼ
22゜としたことを特徴とする。
好適な実施例は、２個の分割線がなす角度をほぼ
22゜としたことを特徴とする。
角度をこのように選ぶことにより検出器の寸法
が限られているときでさえ、調整レンジが十分大
きくとれ、フオーカシングエラー検出装置のフオ
ーカシングエラー信号の傾きを大きくすることが
できる。
が限られているときでさえ、調整レンジが十分大
きくとれ、フオーカシングエラー検出装置のフオ
ーカシングエラー信号の傾きを大きくすることが
できる。
本発明によるフオーカシングエラー検出装置を
具える記録担体の放射反射性情報面の情報を読み
取り及び／又は記録する装置は、前記フオーカシ
ングエラー検出装置が、前記放射反射性トラツク
で反射した放射ビームの光路中に配置され、反射
した放射ビームをトラツク方向とほぼ直交する方
向に沿つて２個のサブビームに分割するビームス
プリツタと、このビームスプリツタの後段に配置
され、ビーム分割方向に沿つて並置されると共に
２個の分割線によつて分離されている４個の検出
器を有する放射感知検出系と、前記放射感知検出
系の出力部に接続され、前記情報トラツクに形成
された放射スポツトの情報トラツクに対する位置
を表示する信号及びフオーカシングエラー信号を
発生する信号処理回路とを有し、前記分割線が互
いに鋭角をなすように構成したことを特徴とす
る。
具える記録担体の放射反射性情報面の情報を読み
取り及び／又は記録する装置は、前記フオーカシ
ングエラー検出装置が、前記放射反射性トラツク
で反射した放射ビームの光路中に配置され、反射
した放射ビームをトラツク方向とほぼ直交する方
向に沿つて２個のサブビームに分割するビームス
プリツタと、このビームスプリツタの後段に配置
され、ビーム分割方向に沿つて並置されると共に
２個の分割線によつて分離されている４個の検出
器を有する放射感知検出系と、前記放射感知検出
系の出力部に接続され、前記情報トラツクに形成
された放射スポツトの情報トラツクに対する位置
を表示する信号及びフオーカシングエラー信号を
発生する信号処理回路とを有し、前記分割線が互
いに鋭角をなすように構成したことを特徴とす
る。
図面につき本発明を触細に説明する。
第１図はデイスク形記録担体１の半径方向断面
の一部を示している。放射を反射する情報構体は
記録担体の上側に設けられており、情報トラツク
２に沿つて配置された多数の情報区域（図示せ
ず）を具えている。この情報構体は放射源３、例
えば、半導体ダイオードレーザから発生した読み
取りビームｂにより走査される。レンズ４により
発散ビームを対物レンズ系５の瞳が十分満たされ
るような断面の平行ビームに変換する。この対物
レンズ系５は情報構体上に最小寸法の放射スポツ
トＶを形成する。
の一部を示している。放射を反射する情報構体は
記録担体の上側に設けられており、情報トラツク
２に沿つて配置された多数の情報区域（図示せ
ず）を具えている。この情報構体は放射源３、例
えば、半導体ダイオードレーザから発生した読み
取りビームｂにより走査される。レンズ４により
発散ビームを対物レンズ系５の瞳が十分満たされ
るような断面の平行ビームに変換する。この対物
レンズ系５は情報構体上に最小寸法の放射スポツ
トＶを形成する。
読み取りビームは情報構体で反射され、記録担
体が読み取りビームに対して移動すると、反射ビ
ームは、記録担体に記録されている情報に従つて
時間変調される。この変調ビームを放射源から放
出されたビームから分離するために、放射源と対
物レンズ系との間にビーム分離プリズム６を置
く。このビーム分離プリズム６は２個のプリズム
素子７及び８を具え、両者の間にビーム分離層９
を形成する。ビーム分離プリズム６の入射面と出
射面に夫々符号１０及び１１を付した。ビーム分
離層９は半透明層とすることができる。読み出し
装置での放射光の損失を小さくするため偏光に感
応するビーム分離層を用いることもできる。この
場合、対物レンズ系５とビーム分離プリズム６と
の間にλ／４板１２を置く必要がある。但し、λ
は読み取りビームｂの波長である。このλ／４板
１２は、ビームが２回通過することにより、この
ビームの偏光面を90゜回転させる。ビーム分離プ
リズム６は放射源３から発生したビームをほぼ完
全に透過させ、他方変調ビームを放射に感応する
検出装置１３の方向に向けてほぼ完全に反射す
る。そして、この放射検出装置１３により記録担
体に記録されている情報が変調させられた信号を
発生する。
体が読み取りビームに対して移動すると、反射ビ
ームは、記録担体に記録されている情報に従つて
時間変調される。この変調ビームを放射源から放
出されたビームから分離するために、放射源と対
物レンズ系との間にビーム分離プリズム６を置
く。このビーム分離プリズム６は２個のプリズム
素子７及び８を具え、両者の間にビーム分離層９
を形成する。ビーム分離プリズム６の入射面と出
射面に夫々符号１０及び１１を付した。ビーム分
離層９は半透明層とすることができる。読み出し
装置での放射光の損失を小さくするため偏光に感
応するビーム分離層を用いることもできる。この
場合、対物レンズ系５とビーム分離プリズム６と
の間にλ／４板１２を置く必要がある。但し、λ
は読み取りビームｂの波長である。このλ／４板
１２は、ビームが２回通過することにより、この
ビームの偏光面を90゜回転させる。ビーム分離プ
リズム６は放射源３から発生したビームをほぼ完
全に透過させ、他方変調ビームを放射に感応する
検出装置１３の方向に向けてほぼ完全に反射す
る。そして、この放射検出装置１３により記録担
体に記録されている情報が変調させられた信号を
発生する。
対物レンズ系の焦点面と情報構体の面との間の
ずれの大きさと方向を表すフオーカシングエラー
信号を発生させるために、ビーム分離プリズム６
の出射面１１上に楔形プリズム１４を設け、放射
検出装置１３に例えば４個の放射検出器を設け
る。フオーカシングエラー検出の原理を示す第２
図ではこれらの放射検出器に１６，１７，１８及
び１９という符号を付した。この第２図は第１図
の−′線に沿つて切つた検出器を示す図であ
る。楔形プリズム１４の綾線（２個の屈折面が交
差する線）１５は第１図００′で示した読み取り
装置の光軸に平行にすることができる。しかし、
第１図に示したように綾線１５が光軸００′に対
して直交するように楔形プリズムを配置すると好
適である。このように構成すれば、検出器信号か
らトラツキング誤差信号を取り出すことができ
る。
ずれの大きさと方向を表すフオーカシングエラー
信号を発生させるために、ビーム分離プリズム６
の出射面１１上に楔形プリズム１４を設け、放射
検出装置１３に例えば４個の放射検出器を設け
る。フオーカシングエラー検出の原理を示す第２
図ではこれらの放射検出器に１６，１７，１８及
び１９という符号を付した。この第２図は第１図
の−′線に沿つて切つた検出器を示す図であ
る。楔形プリズム１４の綾線（２個の屈折面が交
差する線）１５は第１図００′で示した読み取り
装置の光軸に平行にすることができる。しかし、
第１図に示したように綾線１５が光軸００′に対
して直交するように楔形プリズムを配置すると好
適である。このように構成すれば、検出器信号か
らトラツキング誤差信号を取り出すことができ
る。
楔形プリズムはビームｂを夫々検出器１６及び
１７並びに検出器１８及び１９と協働する２個の
サブビームb1及びb2に分割する。
１７並びに検出器１８及び１９と協働する２個の
サブビームb1及びb2に分割する。
第１図及び第２図は読み取りビームが正確に情
報構体の面（情報面）に合焦している状態を示し
ている。読み取り装置は反射されたビームが正確
に検出器の面に入射するような構造にすることが
できる。正しく合焦している場合はサブビームb1
とb2が対称的に夫々関連検出器１６及び１７並び
に１８及び１９に入射する。フオーカシングエラ
ーがある場合は夫々関連検出器に対するサブビー
ムb1及びb2内の光量分布が変化し、これは検出器
に対するサブビームにより形成される放射スプツ
トV1及びV2のずれとして現われる。放射源から
放出されたビームの焦点が情報構体面の後側に位
置する場合、サブビームb1及びb2は内側に変位
し、検出器１６及び１９は検出器１７及び１８よ
りも少い放射エネルギーを受光することになる。
逆に、放射源により放出された読み取りビームの
焦点が情報構体の面の前側に位置する場合、逆の
現象が生じ、検出器１７及び１８は検出器１６及
び１９よりも少い放射エネルギーを受光する。第
２図に示すように、検出器１７及び１８からの信
号を第１の加算器２０により加算し、検出器１６
及び１９からの信号を第２の加算器２１により加
算し、これらの２個の加算器からの信号を差動増
幅器２２へ加えることによりフオーカシングエラ
ー信号Sfを得ることができる。情報信号Siは、２
個の入力端子を加算器２０及び２１に接続した第
３の加算器により加算器２０及び２１の出力信号
を加算することにより得ることができる。
報構体の面（情報面）に合焦している状態を示し
ている。読み取り装置は反射されたビームが正確
に検出器の面に入射するような構造にすることが
できる。正しく合焦している場合はサブビームb1
とb2が対称的に夫々関連検出器１６及び１７並び
に１８及び１９に入射する。フオーカシングエラ
ーがある場合は夫々関連検出器に対するサブビー
ムb1及びb2内の光量分布が変化し、これは検出器
に対するサブビームにより形成される放射スプツ
トV1及びV2のずれとして現われる。放射源から
放出されたビームの焦点が情報構体面の後側に位
置する場合、サブビームb1及びb2は内側に変位
し、検出器１６及び１９は検出器１７及び１８よ
りも少い放射エネルギーを受光することになる。
逆に、放射源により放出された読み取りビームの
焦点が情報構体の面の前側に位置する場合、逆の
現象が生じ、検出器１７及び１８は検出器１６及
び１９よりも少い放射エネルギーを受光する。第
２図に示すように、検出器１７及び１８からの信
号を第１の加算器２０により加算し、検出器１６
及び１９からの信号を第２の加算器２１により加
算し、これらの２個の加算器からの信号を差動増
幅器２２へ加えることによりフオーカシングエラ
ー信号Sfを得ることができる。情報信号Siは、２
個の入力端子を加算器２０及び２１に接続した第
３の加算器により加算器２０及び２１の出力信号
を加算することにより得ることができる。
第１図に示すように、楔形プリズム１４の基台
又は稜線１５をビーム分離プリズムの出射面１１
に置くことができる。楔形プリズムの頂角の値を
大きく、例えば約170゜に選ぶ場合、いずれの場合
でも楔形プリズム１４はほぼ同一の効果を有す
る。頂角はできるだけ大きく選び、検出器をでき
るだけ互に近づけ且つ１個の集積化された検出装
置として構成できるようにする。
又は稜線１５をビーム分離プリズムの出射面１１
に置くことができる。楔形プリズムの頂角の値を
大きく、例えば約170゜に選ぶ場合、いずれの場合
でも楔形プリズム１４はほぼ同一の効果を有す
る。頂角はできるだけ大きく選び、検出器をでき
るだけ互に近づけ且つ１個の集積化された検出装
置として構成できるようにする。
フオーカシングエラー信号はスポツトV1又は
V2の中心の夫々検出器１６及び１７の分割線並
びに検出器１８及び１９に分割線に対する位置に
より決まる。ビームb1が正しく合焦している場合
放射スポツトの中心間の距離が分割線間の距離に
等しくなることに注意しなければならない。フオ
ーカシングエラー検出装置の光学素子の公差が変
わるために放射スポツト間の距離がずれることが
ある。放射スポツト間の距離が大きすぎると、正
しく合焦されている場合でも上記放射スポツトが
検出器に対して外方にずれ、このため正のフオー
カシングエラー信号が出力される。これに対し、
放射スポツト間の距離が小さすぎるときは負のフ
オーカシングエラー信号が出力される。
V2の中心の夫々検出器１６及び１７の分割線並
びに検出器１８及び１９に分割線に対する位置に
より決まる。ビームb1が正しく合焦している場合
放射スポツトの中心間の距離が分割線間の距離に
等しくなることに注意しなければならない。フオ
ーカシングエラー検出装置の光学素子の公差が変
わるために放射スポツト間の距離がずれることが
ある。放射スポツト間の距離が大きすぎると、正
しく合焦されている場合でも上記放射スポツトが
検出器に対して外方にずれ、このため正のフオー
カシングエラー信号が出力される。これに対し、
放射スポツト間の距離が小さすぎるときは負のフ
オーカシングエラー信号が出力される。
検出器対１６，１７及び１８，１９の中心間の
距離を装置の組立体上での放射スポツトの中心間
の距離に適合させるために、検出器系は第３図に
示したように構成する。検出器対はも早や互に平
行には配置されず、検出器１６と１７の分割線l1
が検出器１８と１９の分割線l2に対して鋭角をな
すように配置する。第３図では２個の放射スポツ
トV1とV2の相互の距離ｄが検出器系の中心を通
る線ｙに沿つて測つた分割線間の距離に対応する
ように示されている。放射スポツトV1とV2の間
の距離がｄよりも大きいときはサブビームb1とb2
を、放射スポツトV1とV2が右方向へ動いてスポ
ツトの中心が正確に分割線上に位置するまでずら
す。放射スポツトの中心間の距離が短かすぎると
きはサブビームを左方向へずらす。
距離を装置の組立体上での放射スポツトの中心間
の距離に適合させるために、検出器系は第３図に
示したように構成する。検出器対はも早や互に平
行には配置されず、検出器１６と１７の分割線l1
が検出器１８と１９の分割線l2に対して鋭角をな
すように配置する。第３図では２個の放射スポツ
トV1とV2の相互の距離ｄが検出器系の中心を通
る線ｙに沿つて測つた分割線間の距離に対応する
ように示されている。放射スポツトV1とV2の間
の距離がｄよりも大きいときはサブビームb1とb2
を、放射スポツトV1とV2が右方向へ動いてスポ
ツトの中心が正確に分割線上に位置するまでずら
す。放射スポツトの中心間の距離が短かすぎると
きはサブビームを左方向へずらす。
読み取り装置の組立時に読み取り装置を調整
し、対物レンズ系の焦点を正しく調整するため
に、検出器に対する放射スポツトV1とV2の位置
を検出器信号を測定することにより定める。この
測定により、放射スポツトの位置を、例えば、ビ
ーム分割プリズム６をずらしたり、傾かせたりそ
の両方を行つたりして放射スポツトの中心が分割
線l1及びl2上に位置するように補正することがで
きる。
し、対物レンズ系の焦点を正しく調整するため
に、検出器に対する放射スポツトV1とV2の位置
を検出器信号を測定することにより定める。この
測定により、放射スポツトの位置を、例えば、ビ
ーム分割プリズム６をずらしたり、傾かせたりそ
の両方を行つたりして放射スポツトの中心が分割
線l1及びl2上に位置するように補正することがで
きる。
分割線l1及びl2をｘ方向、即ち、フオーカシン
グエラーのある場合に放射スポツトV1とV2が移
動する方向ｙに対し直交する方向に延在させると
フオーカシングエラー検出装置の感度が最適にな
る。角度αを22゜程度に選ぶと検出器の寸法は限
られるが、分割線間の距離は、放射スポツトV1
とV2の間の距離に適合させることができ、他方
フオーカシングエラーの感度は十分大きく維持さ
れる。
グエラーのある場合に放射スポツトV1とV2が移
動する方向ｙに対し直交する方向に延在させると
フオーカシングエラー検出装置の感度が最適にな
る。角度αを22゜程度に選ぶと検出器の寸法は限
られるが、分割線間の距離は、放射スポツトV1
とV2の間の距離に適合させることができ、他方
フオーカシングエラーの感度は十分大きく維持さ
れる。
楔形プリズム１４の稜線１５を第１図に示すよ
うに、光軸００′に対して直交する方向に延在す
るように配置することにより、放射スポツトV1
及びV2はトラツク方向に対しほぼ直交する方向
に沿つて互に離間して形成される。この場合、４
個の検出器１６，１７，１８及び１９から供給さ
れる信号から、読み取られるべきトラツクの中心
に対する読取スポツトＶのずれを表す信号を導き
出すことができる。
うに、光軸００′に対して直交する方向に延在す
るように配置することにより、放射スポツトV1
及びV2はトラツク方向に対しほぼ直交する方向
に沿つて互に離間して形成される。この場合、４
個の検出器１６，１７，１８及び１９から供給さ
れる信号から、読み取られるべきトラツクの中心
に対する読取スポツトＶのずれを表す信号を導き
出すことができる。
第２図に示すように、この信号Srは検出器１６
及び１７からの信号を加算装置２４に加え、検出
器１８及び１９からの信号を加算装置２５に加
え、両方の加算装置からの信号を差動増幅器２６
に加えることにより得られる。従つて、信号Srは
次式で表わされる。
及び１７からの信号を加算装置２４に加え、検出
器１８及び１９からの信号を加算装置２５に加
え、両方の加算装置からの信号を差動増幅器２６
に加えることにより得られる。従つて、信号Srは
次式で表わされる。
Sr＝（S16＋S17）−（S18＋S19）
検出装置１３をトラツキング信号Srを発生させ
るために使用しない場合は、この検出装置を第４
図に示すように３個の検出器だけで構成すること
ができる。分割線l1は検出器３１と３０とを分割
し、分割線l2は検出器３２と３０とを分割し、こ
れら分割線は互に鋭角をなすように設定する。こ
の場合、フオーカシングエラー信号Sfは次式で与
えられる。
るために使用しない場合は、この検出装置を第４
図に示すように３個の検出器だけで構成すること
ができる。分割線l1は検出器３１と３０とを分割
し、分割線l2は検出器３２と３０とを分割し、こ
れら分割線は互に鋭角をなすように設定する。こ
の場合、フオーカシングエラー信号Sfは次式で与
えられる。
Sf＝（S31＋S32）−S30
以上本発明を光学的読み取り装置と組み合せて
使用する場合につき述べてきたが、本発明は書き
込み装置又は読み取り−書き込み複合装置として
使用することもできる。書き込み装置は前述した
読み取り装置に類似した構造を有している。
使用する場合につき述べてきたが、本発明は書き
込み装置又は読み取り−書き込み複合装置として
使用することもできる。書き込み装置は前述した
読み取り装置に類似した構造を有している。
例えば金属層内にピツトを形成することにより
情報を記録する場合は、読み取りの場合よりも多
くのエネルギーを必要とし、また書き込みビーム
は記録すべき情報に従つて時間変調する必要があ
る。
情報を記録する場合は、読み取りの場合よりも多
くのエネルギーを必要とし、また書き込みビーム
は記録すべき情報に従つて時間変調する必要があ
る。
書き込み装置での放射源としてHeNeレーザの
ような気体レーザを使用することができる。また
電気−光学又は音響−光学変調器のような変調器
を書き込みビームの通路内に設ける必要がある。
代りにダイオードレーザを用いることもできる。
この場合書き込みビームはダイオードレーザを流
れる電流を変えることにより変調され、別に変調
器を設ける必要はない。
ような気体レーザを使用することができる。また
電気−光学又は音響−光学変調器のような変調器
を書き込みビームの通路内に設ける必要がある。
代りにダイオードレーザを用いることもできる。
この場合書き込みビームはダイオードレーザを流
れる電流を変えることにより変調され、別に変調
器を設ける必要はない。
上述したフオーカシングエラー検出装置は光学
的情報構体又は合焦させられる表面の特別な特性
を利用してはいない。唯一つの要件はこの表面が
放射を反射することである。それ故、このフオー
カシングエラー検出装置は、例えば、顕微鏡のよ
うに非常に正確に合焦させることが必要な種々の
装置で使用することができる。
的情報構体又は合焦させられる表面の特別な特性
を利用してはいない。唯一つの要件はこの表面が
放射を反射することである。それ故、このフオー
カシングエラー検出装置は、例えば、顕微鏡のよ
うに非常に正確に合焦させることが必要な種々の
装置で使用することができる。
第１図は本発明フオーカシングエラー検出装置
を具える装置の一実施例の略図、第２図は別個の
検出器と電子処理回路とを示す説明図、第３図は
検出装置の好適な一実施例の説明図、第４図は検
出装置の別の説明図である。 １…デイスク形記録担体、２…情報トラツク、
３…放射源、４…レンズ、５…対物レンズ係、６
…ビーム分離プリズム、７，８…プリズム素子、
９…ビーム分離層、１０…ビーム分割プリズムの
入射面、１１…ビーム分割プリズムの出射面、１
２…λ／４板、１３…放射検出装置、１４…楔プ
リズム、１５…稜線、１６〜１９…放射検出器、
２０…第１の加算器、２１…第２の加算器、２２
…差動増幅器、２３…第３の加算器、２４…加算
装置、２５…加算装置、２６…差動増幅器、３０
〜３３…検出器、ｂ…読み取りビーム（b1，b2…
サブビーム）、Ｖ，V1，V2…放射スポツト、０
０′…読み取り装置の光軸、Sf…合焦誤差信号、
Si…情報信号、Sr…トラツキング信号、l1，l2…
分割線。
を具える装置の一実施例の略図、第２図は別個の
検出器と電子処理回路とを示す説明図、第３図は
検出装置の好適な一実施例の説明図、第４図は検
出装置の別の説明図である。 １…デイスク形記録担体、２…情報トラツク、
３…放射源、４…レンズ、５…対物レンズ係、６
…ビーム分離プリズム、７，８…プリズム素子、
９…ビーム分離層、１０…ビーム分割プリズムの
入射面、１１…ビーム分割プリズムの出射面、１
２…λ／４板、１３…放射検出装置、１４…楔プ
リズム、１５…稜線、１６〜１９…放射検出器、
２０…第１の加算器、２１…第２の加算器、２２
…差動増幅器、２３…第３の加算器、２４…加算
装置、２５…加算装置、２６…差動増幅器、３０
〜３３…検出器、ｂ…読み取りビーム（b1，b2…
サブビーム）、Ｖ，V1，V2…放射スポツト、０
０′…読み取り装置の光軸、Sf…合焦誤差信号、
Si…情報信号、Sr…トラツキング信号、l1，l2…
分割線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 対物レンズ系の焦平面と物体との間のずれを
検出するフオーカシングエラー検出装置であつ
て、物体からの反射ビームの光路中に配置され、
物体からのビームを２個のサブビームに分割する
ビームスプリツタと、前記ビームスプリツタの後
段に配置され、ビーム分割方向に沿つて並置され
ると共に２個の分割線によつて分離されている少
なくとも３個の検出器を有する放射感知検出系
と、前記検出器からの出力信号に基いてフオーカ
シングエラー信号を発生する信号処理回路とを具
えるフオーカシングエラー検出装置において、前
記検出器を前記分割線に沿つて延在する細条状検
出器とし、前記分割線が互いに鋭角をなすように
構成したことを特徴とするフオーカシングエラー
検出装置。 ２ 前記分割線がなす角度を、ほぼ22゜としたこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載フオー
カシングエラー検出装置。 ３ 記録媒体の放射反射性情報面の情報トラツク
に情報を記録し及び／又は記録した情報を再生す
る情報記録再生装置であつて、対物レンズ系の焦
平面と放射反射性情報面との間のずれを検出する
フオーカシングエラー検出装置を具える情報記録
再生装置において、前記フオーカシングエラー検
出装置が、前記放射反射性トラツクで反射した放
射ビームの光路中に配置され、反射した放射ビー
ムをトラツク方向とほぼ直交する方向に沿つて２
個のサブビームに分割するビームスプリツタと、
このビームスプリツタの後段に配置され、ビーム
分割方向に沿つて並置されると共に２個の分割線
によつて分離されている４個の検出器を有する放
射感知検出系と、前記放射感知検出系の出力部に
接続され、前記情報トラツクに形成された放射ス
ポツトの情報トラツクに対する位置を表示する信
号及びフオーカシングエラー信号を発生する信号
処理回路とを有し、前記分割線が互いに鋭角をな
すように構成したことを特徴とする情報記録再生
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL8202058 | 1982-05-19 | ||
| NL8202058A NL8202058A (nl) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58208946A JPS58208946A (ja) | 1983-12-05 |
| JPH0353700B2 true JPH0353700B2 (ja) | 1991-08-15 |
Family
ID=19839755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58084286A Granted JPS58208946A (ja) | 1982-05-19 | 1983-05-16 | フォーカシングエラー検出装置及び情報記録再生装置 |
Country Status (16)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4533826A (ja) |
| JP (1) | JPS58208946A (ja) |
| KR (1) | KR880001707B1 (ja) |
| AT (1) | AT376509B (ja) |
| AU (1) | AU556995B2 (ja) |
| BE (1) | BE896768A (ja) |
| CA (1) | CA1200607A (ja) |
| CH (1) | CH661802A5 (ja) |
| DE (1) | DE3315220C2 (ja) |
| ES (1) | ES8403231A1 (ja) |
| FR (1) | FR2527370B1 (ja) |
| GB (1) | GB2120493B (ja) |
| HK (1) | HK28386A (ja) |
| IT (1) | IT1171671B (ja) |
| NL (1) | NL8202058A (ja) |
| SE (2) | SE8302743L (ja) |
Families Citing this family (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2135150A (en) * | 1983-02-15 | 1984-08-22 | Gen Electric | Optical inspection system |
| JPS59158029A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-07 | 松下電工株式会社 | 反射型光電スイツチ |
| JPS59162514A (ja) * | 1983-03-08 | 1984-09-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 画像走査記録装置における焦点調整方法 |
| FR2546310B1 (fr) * | 1983-05-20 | 1986-04-25 | Thomson Csf | Monture reglable pour miroir pivotant et tete optique d'enregistrement-lecture utilisant une telle monture |
| US4645351A (en) * | 1983-06-01 | 1987-02-24 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Methods and apparatus for discriminating between the front and back surfaces of films |
| JPS618744A (ja) * | 1984-06-22 | 1986-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光デイスク装置のフオ−カス誤差検出装置 |
| JPH0633537Y2 (ja) * | 1984-06-30 | 1994-08-31 | ソニ−株式会社 | 感光性半導体装置 |
| DE3546795C2 (ja) | 1984-10-01 | 1993-09-23 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo, Jp | |
| NL8403034A (nl) * | 1984-10-05 | 1986-05-01 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
| US5416755A (en) * | 1985-02-28 | 1995-05-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical pickup using split beams impinging on different photo-detector areas |
| NL8501489A (nl) * | 1985-05-24 | 1986-12-16 | Philips Nv | Positie-gevoelige stralingsdetector. |
| NL8502802A (nl) * | 1985-10-14 | 1987-05-04 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen en/of inschrijven van een optische spoorvormige informatiestruktuur. |
| JPH0734264B2 (ja) * | 1986-09-05 | 1995-04-12 | キヤノン株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
| US5231621A (en) * | 1986-09-05 | 1993-07-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detector which serves to split off a portion of a detected light beam only when the detected light beam is not refocused at an expected refocus point |
| JPH0626972Y2 (ja) * | 1986-10-03 | 1994-07-20 | パイオニア株式会社 | 光学式ピツクアツプ装置 |
| DE3635840A1 (de) * | 1986-10-22 | 1988-05-05 | Thomson Brandt Gmbh | Mit strahlen abtastendes abtastsystem |
| NL8700440A (nl) * | 1987-02-23 | 1988-09-16 | Philips Nv | Optische inrichting bevattende een houder met daarin aangebracht een optisch stelsel. |
| NL8702245A (nl) * | 1987-09-21 | 1989-04-17 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak. |
| GB8724575D0 (en) * | 1987-10-20 | 1987-11-25 | Renishaw Plc | Focus detection system |
| JPH01151022A (ja) * | 1987-12-09 | 1989-06-13 | Sharp Corp | 光ピックアップ装置 |
| JP2701324B2 (ja) * | 1988-06-16 | 1998-01-21 | ソニー株式会社 | 光学ヘッド装置 |
| JPH0231337A (ja) * | 1988-07-21 | 1990-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | 焦点誤差検出装置 |
| NL8802689A (nl) * | 1988-11-03 | 1990-06-01 | Koninkl Philips Electronics Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend oppervlak. |
| NL9002841A (nl) * | 1990-12-21 | 1992-07-16 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het langs optische weg inschrijven, uitlezen, en wissen van een meervlaks registratiedrager, en registratiedrager geschikt voor deze werkwijze en inrichting. |
| US5281802A (en) * | 1991-02-20 | 1994-01-25 | Ricoh Company, Ltd. | Focus error signal detection device with separating prism |
| TW221074B (ja) * | 1991-05-10 | 1994-02-11 | Philips Nv | |
| KR100301572B1 (ko) * | 1999-04-28 | 2001-09-26 | 김영수 | 광전자식 개폐기 |
| JP3765235B2 (ja) * | 2001-02-16 | 2006-04-12 | 日本電気株式会社 | 光ディスク装置 |
| WO2003079338A2 (en) * | 2002-03-20 | 2003-09-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Control method for focus and tracking in pickup apparatus |
| JP6010505B2 (ja) * | 2013-06-11 | 2016-10-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7803969A (nl) * | 1978-04-14 | 1979-10-16 | Philips Nv | Opto-elektronisch fokusfout-detektiestelsel. |
| NL7809635A (nl) * | 1978-09-22 | 1980-03-25 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen van een optische registra- tiedrager bevattende een stralingsreflekterende infor- matiestruktuur. |
| NL7907216A (nl) * | 1979-09-28 | 1981-03-31 | Philips Nv | Optisch fokusfout-detektiestelsel. |
| JPS56170537U (ja) * | 1980-05-16 | 1981-12-16 | ||
| JPS5733441A (en) * | 1980-08-07 | 1982-02-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical information recorder and reproducer |
| JPS5753831A (en) * | 1980-09-12 | 1982-03-31 | Olympus Optical Co Ltd | Method and device for reproduction of optical information |
| JPS57108811A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-07 | Hitachi Ltd | Optical focus position detector |
| JPS57195634U (ja) * | 1981-06-05 | 1982-12-11 |
-
1982
- 1982-05-19 NL NL8202058A patent/NL8202058A/nl not_active Application Discontinuation
- 1982-08-26 US US06/411,734 patent/US4533826A/en not_active Expired - Lifetime
-
1983
- 1983-04-27 DE DE3315220A patent/DE3315220C2/de not_active Expired
- 1983-05-06 GB GB08312580A patent/GB2120493B/en not_active Expired
- 1983-05-12 CA CA000428005A patent/CA1200607A/en not_active Expired
- 1983-05-13 IT IT21112/83A patent/IT1171671B/it active
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- 1983-05-16 JP JP58084286A patent/JPS58208946A/ja active Granted
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- 1983-05-16 SE SE8302743D patent/SE8302743L/xx not_active Application Discontinuation
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- 1983-05-16 SE SE8302743A patent/SE451789B/sv not_active IP Right Cessation
- 1983-05-16 CH CH2684/83A patent/CH661802A5/de not_active IP Right Cessation
- 1983-05-16 KR KR1019830002127A patent/KR880001707B1/ko not_active Expired
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| US4533826A (en) | 1985-08-06 |
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