JPH0240576Y2 - - Google Patents
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- JPH0240576Y2 JPH0240576Y2 JP17459582U JP17459582U JPH0240576Y2 JP H0240576 Y2 JPH0240576 Y2 JP H0240576Y2 JP 17459582 U JP17459582 U JP 17459582U JP 17459582 U JP17459582 U JP 17459582U JP H0240576 Y2 JPH0240576 Y2 JP H0240576Y2
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Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
本考案は映像および音声信号のごとき情報が凹
凸面の配列からなる情報トラツクをもつて記録さ
れた通常円盤盤状等の情報媒体から記録情報を読
みとるため、上記情報媒体に光ビームを照射しそ
の反射光を検出して主情報信号、上記光ビームの
トラツキング情報信号および同光ビームのフオー
カス情報信号を得る光ピツクアツプ装置に関する
ものである。
凸面の配列からなる情報トラツクをもつて記録さ
れた通常円盤盤状等の情報媒体から記録情報を読
みとるため、上記情報媒体に光ビームを照射しそ
の反射光を検出して主情報信号、上記光ビームの
トラツキング情報信号および同光ビームのフオー
カス情報信号を得る光ピツクアツプ装置に関する
ものである。
いわゆる光学式ビデイオデイスク、光学式
DAD（デイジタルオーデイオデイスク）等のごと
く円盤状情報媒体にピツト等と称される凸面部ま
たは凹面部の列などで形成された凹凸面の列から
なる情報トラツクをもつて記録された情報を読み
とるには、上記情報トラツクにレーザビーム等の
光ビームを照射し、その反射光を受光素子で検出
して、これにより記録情報に対応する主情報信号
ならびに上記光ビームの上記情報トラツクに対す
るトラツキング制御のためのトラツキング情報信
号および同フオーカシング制御のためのフオーカ
ス情報信号を得ている。このような情報の読取り
検出を行なうものが、光ピツクアツプ装置であ
る。
DAD（デイジタルオーデイオデイスク）等のごと
く円盤状情報媒体にピツト等と称される凸面部ま
たは凹面部の列などで形成された凹凸面の列から
なる情報トラツクをもつて記録された情報を読み
とるには、上記情報トラツクにレーザビーム等の
光ビームを照射し、その反射光を受光素子で検出
して、これにより記録情報に対応する主情報信号
ならびに上記光ビームの上記情報トラツクに対す
るトラツキング制御のためのトラツキング情報信
号および同フオーカシング制御のためのフオーカ
ス情報信号を得ている。このような情報の読取り
検出を行なうものが、光ピツクアツプ装置であ
る。
例えば上記DAD用の光ピツクアツプ装置とし
て従来次のようなものがあつた。
て従来次のようなものがあつた。
すなわち、第１の例は光学系が第１図のように
構成されている。光ビームの光源としての半導体
レーザ１から出た光はコリメートレンズ２で平行
光束となり偏光プリズム３に入射する。偏光プリ
ズム３に入射したレーザビームは偏光プリズム３
内の偏光膜３ａで反射され、さらに偏光プリズム
３の他の面で反射されλ／４（１／４波長）板４
を通つて対物レンズ５で約１〜1.5μm程度の直径
のスポツトに絞られる。情報媒体であるデイスク
６の記録面で反射された光は再び対物レンズ５を
通り、偏光膜３ａまで往路と同じ経路をたどつて
戻る。λ／４板４の作用によりデイスク反射光は
偏光方向が往路と直交するように変えられている
ので、偏光膜３ａを透過し、半導体レーザ１には
戻らずに焦点検出用の臨界角プリズム７に入射す
る。臨界角プリズム７に入射した光は該プリズム
７内で３回反射された後４分割型の受光素子とし
ての例えば４分割型pinフオトダイオード（以下
「４分割PD）と略称する）８に入射する。
構成されている。光ビームの光源としての半導体
レーザ１から出た光はコリメートレンズ２で平行
光束となり偏光プリズム３に入射する。偏光プリ
ズム３に入射したレーザビームは偏光プリズム３
内の偏光膜３ａで反射され、さらに偏光プリズム
３の他の面で反射されλ／４（１／４波長）板４
を通つて対物レンズ５で約１〜1.5μm程度の直径
のスポツトに絞られる。情報媒体であるデイスク
６の記録面で反射された光は再び対物レンズ５を
通り、偏光膜３ａまで往路と同じ経路をたどつて
戻る。λ／４板４の作用によりデイスク反射光は
偏光方向が往路と直交するように変えられている
ので、偏光膜３ａを透過し、半導体レーザ１には
戻らずに焦点検出用の臨界角プリズム７に入射す
る。臨界角プリズム７に入射した光は該プリズム
７内で３回反射された後４分割型の受光素子とし
ての例えば４分割型pinフオトダイオード（以下
「４分割PD）と略称する）８に入射する。
この第１の例における上記４分割PD８の検出
信号を処理する回路を第２図に示す。
信号を処理する回路を第２図に示す。
第２図において、４分割PD８を構成する４個
のフオトダイオードをDa，Db，Dc，Ddとしデ
イスク６の半径方向すなわちラジアル方向ｒと情
報トラツクの接線方向すなわちタンジエンシヤル
方向ｔとが図示のような方向に対応するものとす
る。（第１図参照デイスク６の面に垂直な方向を
Ｚ方向とする。）そして、各フオトダイオードDa
〜Ddの出力をそれぞれSa〜Sdとすれば、フオト
ダイオードDa，Dbの出力Sa，Sbを加算器９で加
算し、フオトダイオードDc，Ddの出力Sc，Sdを
加算器１０で加算して、差動増幅器１１で両者の
差をとり、ローパスフイルタ１２でその直流分を
取り出してフオーカス情報信号SFを得ている。一
方、フオトダイオードDa，Dcの出力Sa，Scを加
算器１３で加算し、フオトダイオードDb，Ddの
出力Sb，Sdを加算器１４で加算し、さらに加算
器１３，１４の出力を加算器１５で加算して主情
報信号RFを得ている。また、減算器１６で加算
器１３と１４の出力の差をとる。第１のパルス発
生器１７は加算器１５の出力である主情報信号
RFの平均光量受光時を基準（ゼロレベル）とし
た立上りのゼロクロスを検出しそれに同期して第
１のサンプリングパルスS1を発生し、第２のパル
ス発生器１８は主情報信号RFの上述同様の基準
による立下りのゼロクロスを検出しそれに同期し
て第２のサンプリングパルスS2を発生する。第１
のサンプルホールド回路１９は第１のサンプリン
グパルスS1で減算器１６の出力をサンプルホール
ドし、第２のサンプルホールド回路２０は第２の
サンプリングパルスS2で減算器１６の出力をサン
プルホールドして、それぞれホールド出力S3，S4
を得る。これら両サンプルホールド回路１９，２
０のホールド出力S3，S4は減算器２１に与えら
れ、両者の差がトラツキング情報信号STとして出
力される。
のフオトダイオードをDa，Db，Dc，Ddとしデ
イスク６の半径方向すなわちラジアル方向ｒと情
報トラツクの接線方向すなわちタンジエンシヤル
方向ｔとが図示のような方向に対応するものとす
る。（第１図参照デイスク６の面に垂直な方向を
Ｚ方向とする。）そして、各フオトダイオードDa
〜Ddの出力をそれぞれSa〜Sdとすれば、フオト
ダイオードDa，Dbの出力Sa，Sbを加算器９で加
算し、フオトダイオードDc，Ddの出力Sc，Sdを
加算器１０で加算して、差動増幅器１１で両者の
差をとり、ローパスフイルタ１２でその直流分を
取り出してフオーカス情報信号SFを得ている。一
方、フオトダイオードDa，Dcの出力Sa，Scを加
算器１３で加算し、フオトダイオードDb，Ddの
出力Sb，Sdを加算器１４で加算し、さらに加算
器１３，１４の出力を加算器１５で加算して主情
報信号RFを得ている。また、減算器１６で加算
器１３と１４の出力の差をとる。第１のパルス発
生器１７は加算器１５の出力である主情報信号
RFの平均光量受光時を基準（ゼロレベル）とし
た立上りのゼロクロスを検出しそれに同期して第
１のサンプリングパルスS1を発生し、第２のパル
ス発生器１８は主情報信号RFの上述同様の基準
による立下りのゼロクロスを検出しそれに同期し
て第２のサンプリングパルスS2を発生する。第１
のサンプルホールド回路１９は第１のサンプリン
グパルスS1で減算器１６の出力をサンプルホール
ドし、第２のサンプルホールド回路２０は第２の
サンプリングパルスS2で減算器１６の出力をサン
プルホールドして、それぞれホールド出力S3，S4
を得る。これら両サンプルホールド回路１９，２
０のホールド出力S3，S4は減算器２１に与えら
れ、両者の差がトラツキング情報信号STとして出
力される。
すなわち、この第１の例ではフオーカス情報信
号SFの検出は臨界角プリズムを用い、４分割PD
８の各フオトダイオード出力Sa〜Sdに基づく （Sa＋Sb）−（Sc＋Sd） なる信号の直流分を取り出すことによつて行なつ
ている。このようなフオーカス情報検出方式は一
般に臨界角法と称されている。
号SFの検出は臨界角プリズムを用い、４分割PD
８の各フオトダイオード出力Sa〜Sdに基づく （Sa＋Sb）−（Sc＋Sd） なる信号の直流分を取り出すことによつて行なつ
ている。このようなフオーカス情報検出方式は一
般に臨界角法と称されている。
また、この第１の例ではトラツキング情報信号
STの検出は上記各フオトダイオード出力Sa〜Sd
に基づく （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） なる信号を Sa＋Sb＋Sc＋Sd なる主情報信号RFの立上りゼロクロスおよび立
下りゼロクスでそれぞれサンプリングし、両者の
差をとることによつて行なつている。このような
トラツキング情報検出方式はヘテロダイン法など
と称されている。
STの検出は上記各フオトダイオード出力Sa〜Sd
に基づく （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） なる信号を Sa＋Sb＋Sc＋Sd なる主情報信号RFの立上りゼロクロスおよび立
下りゼロクスでそれぞれサンプリングし、両者の
差をとることによつて行なつている。このような
トラツキング情報検出方式はヘテロダイン法など
と称されている。
また第２の例は光学系が第３図のように構成さ
れている。第３図では第１図と同様の部分には同
符号を付して示しており、この場合半導体レーザ
１の出力ビームはビームスプリツタとしての偏光
プリズム３を介してコリメートレンズ２に入射
し、さらにλ／４板４を通つて対物レンズ５でデ
イスク６の記録面に集光される。デイスク６から
の反射光は対物レンズ５、λ／４板４、コリメー
トレンズ２を通つて偏光プリズム３内で反射偏光
され、シリンドリカルレンズ２２を通つて４分割
PD８に入射する。
れている。第３図では第１図と同様の部分には同
符号を付して示しており、この場合半導体レーザ
１の出力ビームはビームスプリツタとしての偏光
プリズム３を介してコリメートレンズ２に入射
し、さらにλ／４板４を通つて対物レンズ５でデ
イスク６の記録面に集光される。デイスク６から
の反射光は対物レンズ５、λ／４板４、コリメー
トレンズ２を通つて偏光プリズム３内で反射偏光
され、シリンドリカルレンズ２２を通つて４分割
PD８に入射する。
４分割PD８の出力は図示していない演算処理
回路により、各フオトダイオード出力Sa〜Sdを
演算し、 Sa＋Sb＋Sc＋Sd を得て、主情報信号RFとするとともに、 （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） より、フオーカス情報信号SFを得、 （Sa＋Sb）−（Sc＋Sd） より、トラツキング情報信号STを得ている。
回路により、各フオトダイオード出力Sa〜Sdを
演算し、 Sa＋Sb＋Sc＋Sd を得て、主情報信号RFとするとともに、 （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） より、フオーカス情報信号SFを得、 （Sa＋Sb）−（Sc＋Sd） より、トラツキング情報信号STを得ている。
この第２の例におけるシリンドリカルレンズ２
２を用いたフオーカス情報信号SFの検出方式は非
点収差法と称され、隣接する２つのフオトダイオ
ードの和同士の差によるトラツキング情報信号ST
の検出方式はプツシユプル法と称されている。
２を用いたフオーカス情報信号SFの検出方式は非
点収差法と称され、隣接する２つのフオトダイオ
ードの和同士の差によるトラツキング情報信号ST
の検出方式はプツシユプル法と称されている。
ところで、上記第１の例の場合、フオーカス情
報信号SFの検出に臨界角法を用いているため、臨
界角プリズムによつて光量が減じさらに臨界角付
近の角度変化に対する反射係数の変化がゆるやか
で感度が低くなりがちであるという問題があり、
また上記第２の例の場合トラツキング情報信号ST
の検出にプツシユプル法を用いているため、デイ
スク６が傾いた（そり等により）場合、４分割
PD８上でスポツト位置が移動するため悪影響を
受けトラツキング動作が不安定となるとともにピ
ツト深さの違いによつても制御が狂うという問題
があつた。
報信号SFの検出に臨界角法を用いているため、臨
界角プリズムによつて光量が減じさらに臨界角付
近の角度変化に対する反射係数の変化がゆるやか
で感度が低くなりがちであるという問題があり、
また上記第２の例の場合トラツキング情報信号ST
の検出にプツシユプル法を用いているため、デイ
スク６が傾いた（そり等により）場合、４分割
PD８上でスポツト位置が移動するため悪影響を
受けトラツキング動作が不安定となるとともにピ
ツト深さの違いによつても制御が狂うという問題
があつた。
しかも上記第１および第２の例では、ともに
Sa＋Sb＋Sc＋Sd、（Sa＋Sb）−（Sc＋Sd）、（Sa＋
Sc）−（Sb＋Sd）なる３種の演算を必要とするた
め演算処理回路系が複雑化するという問題もあつ
た。
Sa＋Sb＋Sc＋Sd、（Sa＋Sb）−（Sc＋Sd）、（Sa＋
Sc）−（Sb＋Sd）なる３種の演算を必要とするた
め演算処理回路系が複雑化するという問題もあつ
た。
本考案の目的とするところは、簡単な構成でフ
オーカス情報、トラツキング情報を高精度、高感
度に検出でき、記録媒体面の傾斜にも強い光ピツ
クアツプ装置を提供することにある。
オーカス情報、トラツキング情報を高精度、高感
度に検出でき、記録媒体面の傾斜にも強い光ピツ
クアツプ装置を提供することにある。
本考案はフオーカス情報検出に非点収差法を用
い、トラツキング情報検出にヘテロダイン法を用
いて、演算処理の多くの部分を共通化したことを
特徴としている。
い、トラツキング情報検出にヘテロダイン法を用
いて、演算処理の多くの部分を共通化したことを
特徴としている。
本考案の一実施例の光学系の要部の模式的構成
を第４図に、信号処理回路の構成を第５図に示
す。
を第４図に、信号処理回路の構成を第５図に示
す。
第４図に示すように本実施例で用いている非点
収差法では、反射ビームがコリメータレンズ２で
集光され、シリンドリカルレンズ２２を通つた後
４分割PD８で受光される。ここで、４分割PD８
のフオトダイオードDa，DbとDc，Ddを分割す
る分割線がラジアル方向ｒに対応し、フオトダイ
オードDa，DdとDb，Dcを分割する分割線がタ
ンジエンシヤル方向ｔに対応するとともにシリン
ドリカルレンズ２２の円筒面の軸方向が上記両分
割線に45゜傾斜しフオトダイオードDaとDcを結ぶ
方向に対応するように配置される。
収差法では、反射ビームがコリメータレンズ２で
集光され、シリンドリカルレンズ２２を通つた後
４分割PD８で受光される。ここで、４分割PD８
のフオトダイオードDa，DbとDc，Ddを分割す
る分割線がラジアル方向ｒに対応し、フオトダイ
オードDa，DdとDb，Dcを分割する分割線がタ
ンジエンシヤル方向ｔに対応するとともにシリン
ドリカルレンズ２２の円筒面の軸方向が上記両分
割線に45゜傾斜しフオトダイオードDaとDcを結ぶ
方向に対応するように配置される。
また、第５図に示すように上記４分割PD８は
フオトダイオードDaとDcを直列接続して両者の
出力SaとScを加算合成するようにし、フオトダ
イオードDbとDdを直列接続して両者の出力Sbと
Sdを加算合成するようにする。これら加算合成
された信号Sa＋ScとSb＋Sdとは両者の差すなわ
ち （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） を得るための減算器２，３、および両者の和すな
わち （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） を得るための加算器２４にそれぞれ与えられる。
減算器２３の出力はローパスフイルタ２５で直流
分が取り出されフオーカス情報信号SFとなる。加
算器２４の出力はそのまま主情報信号RFとして
導出される一方第１、第２のパルス発生器２６，
２７にも与えられる。第１のパルス発生器２６は
入力信号が平均光量受光時の加算器２４の出力レ
ベルを下方から上方へよぎる点すなわち立上りゼ
ロクロスに同期して第１のサンプリングパルスS5
を出力し、第２のパルス発生器２７は同様の立下
りゼロクロスに同期して第２のサンプリングパル
スS6を出力する。第１のサンプリングパルスS5は
第１のサンプルホールド回路２８に与えられ、該
第１のサンプルホールド回路２８は減算器２３の
出力を上記第１のサンプリングパルスS5でサンプ
リングしホールドする。同様に第２のサンプルホ
ール回路２９には上記第２のサンプリングパルス
S6が与えられ、上記減算器２３の出力をサンプル
ホールドする。これら第１、第２のサンプルホー
ルド回路２８，２９の出力S7，S8は減算器３０に
与えられ、両者の差S7−S8が求められ、これがト
ラツキング情報信号STとして出力される。
フオトダイオードDaとDcを直列接続して両者の
出力SaとScを加算合成するようにし、フオトダ
イオードDbとDdを直列接続して両者の出力Sbと
Sdを加算合成するようにする。これら加算合成
された信号Sa＋ScとSb＋Sdとは両者の差すなわ
ち （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） を得るための減算器２，３、および両者の和すな
わち （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） を得るための加算器２４にそれぞれ与えられる。
減算器２３の出力はローパスフイルタ２５で直流
分が取り出されフオーカス情報信号SFとなる。加
算器２４の出力はそのまま主情報信号RFとして
導出される一方第１、第２のパルス発生器２６，
２７にも与えられる。第１のパルス発生器２６は
入力信号が平均光量受光時の加算器２４の出力レ
ベルを下方から上方へよぎる点すなわち立上りゼ
ロクロスに同期して第１のサンプリングパルスS5
を出力し、第２のパルス発生器２７は同様の立下
りゼロクロスに同期して第２のサンプリングパル
スS6を出力する。第１のサンプリングパルスS5は
第１のサンプルホールド回路２８に与えられ、該
第１のサンプルホールド回路２８は減算器２３の
出力を上記第１のサンプリングパルスS5でサンプ
リングしホールドする。同様に第２のサンプルホ
ール回路２９には上記第２のサンプリングパルス
S6が与えられ、上記減算器２３の出力をサンプル
ホールドする。これら第１、第２のサンプルホー
ルド回路２８，２９の出力S7，S8は減算器３０に
与えられ、両者の差S7−S8が求められ、これがト
ラツキング情報信号STとして出力される。
次に上記構成における作用について詳細に説明
する。
する。
第４図において、デイスク記録面からの回折反
射光がコリメートレンズ２に平行光束で入射した
場合、コリメートレンズ２とシリンドリカルレン
ズ２２によりシリンドリカルレンズ２２の円筒面
の軸に平行な焦線FLaとそれに直角方向の焦線
FLbとが与いに所定距離間して形成される。これ
らの両焦線FLa，FLbの間で光束の断面が円とな
る位置に４分割PD８が配置される。したがつて
第４図に実線で示すような光線はコリメートレン
ズ２に入射した位置関係そのままの位置関係でフ
オトダイオードDaとDcに入射する。一方、第４
図に破線で示すような光線はコリメートレンズ２
に入射した位置関係が焦線FLaで反転し、逆にな
つてフオトダイオードDbとDdに入射する。すな
わち、コリメートレンズ２に入射した光束はシリ
ンドリカルレンズ２２の円筒面の軸に平行な線に
対して線対称の関係となつて４分割PD８に入射
する。この非点収差法ではデイスク面へ入射する
レーザビームの焦点ずれに伴ない、交差方向すな
わち上記軸に平行な方向とそれに直交する方向の
２組のフオトダイオードDa，DcとDb，Ddとの
出力相互間に直流信号差 （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） が生ずることを利用して、フオーカス情報信号SF
の検出を行なう。このため、シリンドリカルレン
ズ２２を介挿して４分割PD８上に円形のスポツ
トが形成されているとき（すなわちフオーカスエ
ラーがないとき）とシリンドリカルレンズ２２を
介挿しない（もちろん円形スポツトが形成されて
いる）ときとで４分割PD８の出力に基づく （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） は変らない（シリンドリカルレンズ２２を介挿し
ない場合は焦点ずれによる変化が生じない）。ま
た、後述するようにヘテロダイン法によるトラツ
キング情報信号STも （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） で検出されることになるので、主情報信号RFを
得るための Sa＋Sb＋Sc＋Sd を考慮しても、（Sa＋Sc）および（Sb＋Sd）が
共通であるので、予めフオトダイオードDa〜Dd
の相互結線すなわちDaとDcを直列接続しDbと
Ddを直列接続する結線によつて（Sa＋Sc）およ
び（Sb＋Sd）なる２組の合成出力を直接的に得
るようにすることができる。ここで、光学系によ
つて集光された光束の中心位置が４分割PD８の
中心位置からずれた場合トラツキング情報信号ST
を得るための （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） なる信号中に主情報信号RF成分 Sa＋Sb＋Sc＋Sd が混入することになるが後述の回路の動作によつ
て、これが問題となることはない。
射光がコリメートレンズ２に平行光束で入射した
場合、コリメートレンズ２とシリンドリカルレン
ズ２２によりシリンドリカルレンズ２２の円筒面
の軸に平行な焦線FLaとそれに直角方向の焦線
FLbとが与いに所定距離間して形成される。これ
らの両焦線FLa，FLbの間で光束の断面が円とな
る位置に４分割PD８が配置される。したがつて
第４図に実線で示すような光線はコリメートレン
ズ２に入射した位置関係そのままの位置関係でフ
オトダイオードDaとDcに入射する。一方、第４
図に破線で示すような光線はコリメートレンズ２
に入射した位置関係が焦線FLaで反転し、逆にな
つてフオトダイオードDbとDdに入射する。すな
わち、コリメートレンズ２に入射した光束はシリ
ンドリカルレンズ２２の円筒面の軸に平行な線に
対して線対称の関係となつて４分割PD８に入射
する。この非点収差法ではデイスク面へ入射する
レーザビームの焦点ずれに伴ない、交差方向すな
わち上記軸に平行な方向とそれに直交する方向の
２組のフオトダイオードDa，DcとDb，Ddとの
出力相互間に直流信号差 （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） が生ずることを利用して、フオーカス情報信号SF
の検出を行なう。このため、シリンドリカルレン
ズ２２を介挿して４分割PD８上に円形のスポツ
トが形成されているとき（すなわちフオーカスエ
ラーがないとき）とシリンドリカルレンズ２２を
介挿しない（もちろん円形スポツトが形成されて
いる）ときとで４分割PD８の出力に基づく （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） は変らない（シリンドリカルレンズ２２を介挿し
ない場合は焦点ずれによる変化が生じない）。ま
た、後述するようにヘテロダイン法によるトラツ
キング情報信号STも （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） で検出されることになるので、主情報信号RFを
得るための Sa＋Sb＋Sc＋Sd を考慮しても、（Sa＋Sc）および（Sb＋Sd）が
共通であるので、予めフオトダイオードDa〜Dd
の相互結線すなわちDaとDcを直列接続しDbと
Ddを直列接続する結線によつて（Sa＋Sc）およ
び（Sb＋Sd）なる２組の合成出力を直接的に得
るようにすることができる。ここで、光学系によ
つて集光された光束の中心位置が４分割PD８の
中心位置からずれた場合トラツキング情報信号ST
を得るための （Sa＋Sc）−（Sb＋Sd） なる信号中に主情報信号RF成分 Sa＋Sb＋Sc＋Sd が混入することになるが後述の回路の動作によつ
て、これが問題となることはない。
また、非点収差法の採用により、臨界角法のよ
うにレーザビームの偏光状態に大きく影響される
こともなく、臨界角設定の必要があるわけでもな
いので、光軸合わせが容易に行なえるという利点
もある。
うにレーザビームの偏光状態に大きく影響される
こともなく、臨界角設定の必要があるわけでもな
いので、光軸合わせが容易に行なえるという利点
もある。
次に信号処理について詳述する。
第５図において、減算器２３により信号（Sa
＋Sc）と（Sb＋Sd）との直流信号差と交流信号
差を同時に取り出し、直流信号差はローパスフイ
ルタ２５で分離抽出してフオーカス情報信号SFと
して出力し、交流信号差は次のようにしてトラツ
キング情報信号STを得るために用いられる。トラ
ツキング情報信号STは、加算器２４で得た（Sa
＋Sc）と（Sb＋Sd）の加算信号すなわち総和信
号の立上りに同期した第１のサンプリングパルス
S5と同総和信号の立下りに同期した第２のサンプ
リングパルスS6とで上記減算器２３の出力（交流
信号差）をサンプリングしてホールドし、信号S7
とS8を得、減算器３０でこれら信号S7とS8の差を
求めることによつて得ている。上記総和信号は主
情報信号RFとして用いられる。
＋Sc）と（Sb＋Sd）との直流信号差と交流信号
差を同時に取り出し、直流信号差はローパスフイ
ルタ２５で分離抽出してフオーカス情報信号SFと
して出力し、交流信号差は次のようにしてトラツ
キング情報信号STを得るために用いられる。トラ
ツキング情報信号STは、加算器２４で得た（Sa
＋Sc）と（Sb＋Sd）の加算信号すなわち総和信
号の立上りに同期した第１のサンプリングパルス
S5と同総和信号の立下りに同期した第２のサンプ
リングパルスS6とで上記減算器２３の出力（交流
信号差）をサンプリングしてホールドし、信号S7
とS8を得、減算器３０でこれら信号S7とS8の差を
求めることによつて得ている。上記総和信号は主
情報信号RFとして用いられる。
この場合、反射光束（検出光束）の中心位置が
４分割PD８の中心からずれた場合、トラツキン
グ情報信号ST中に主情報信号RF成分が混入する
が、上述のようにトラツキング情報信号STは主情
報信号RFの平均光量に対応するレベルをよぎる
点に同期してサンプリングされているのでサンプ
リングされた信号に混入する主情報信号RF成分
も平均光量に相当する一定レベルとなり、トラツ
キング情報信号STに悪影響を与えることはない。
４分割PD８の中心からずれた場合、トラツキン
グ情報信号ST中に主情報信号RF成分が混入する
が、上述のようにトラツキング情報信号STは主情
報信号RFの平均光量に対応するレベルをよぎる
点に同期してサンプリングされているのでサンプ
リングされた信号に混入する主情報信号RF成分
も平均光量に相当する一定レベルとなり、トラツ
キング情報信号STに悪影響を与えることはない。
また、上記構成において、４分割PD８の出力
はフオーカス情報信号SFを得る場合とトラツキン
グ情報信号STを得る場合とで同一の演算を行なつ
ているので、各フオトダイオードDa〜Ddを交差
的に加算結合して４分割PD８部分で２組の信号
に予め合成している。このため４分割PD８の出
力は従来方式の半分に減らすことができ、回路構
成が著しく簡単となる。
はフオーカス情報信号SFを得る場合とトラツキン
グ情報信号STを得る場合とで同一の演算を行なつ
ているので、各フオトダイオードDa〜Ddを交差
的に加算結合して４分割PD８部分で２組の信号
に予め合成している。このため４分割PD８の出
力は従来方式の半分に減らすことができ、回路構
成が著しく簡単となる。
もちろん、この場合フオーカス情報検出に非点
収差法を用いているので、先に述べた臨界角法の
ような検出感度の低下もなく、高感度で簡単な構
成を実現できる。
収差法を用いているので、先に述べた臨界角法の
ような検出感度の低下もなく、高感度で簡単な構
成を実現できる。
なお、本考案は上述し且つ図面に示す実施例に
のみ限定されることなく、その要旨を変更しない
範囲内で種々変形して実施することができる。
のみ限定されることなく、その要旨を変更しない
範囲内で種々変形して実施することができる。
本考案によれば、極めて簡単な構成でフオーカ
ス情報、トラツキング情報を高精度、高感度に検
出でき、記録媒体面の傾斜にも強い光ピツクアツ
プ装置を提供することができる。
ス情報、トラツキング情報を高精度、高感度に検
出でき、記録媒体面の傾斜にも強い光ピツクアツ
プ装置を提供することができる。
第１図および第２図は従来装置の第１の例を説
明するためのそれぞれ光学系の模式的斜視図およ
び信号処理系のブロツク図、第３図は従来装置の
第２の例を説明するための光学系の模式的斜視
図、第４図は本考案の一実施例を説明するための
光学系の原理的構成図、第５図は同実施例におけ
る信号処理系のブロツク図である。 ２……コリメートレンズ、８……４分割型pin
フオトダイオード（４分割PD）、２２……シリン
ドリカルレンズ、２３，３０……減算器、２４…
…加算器、２５……ローパスフイルタ、２６，２
７……パルス発生器、２８，２９……サンプルホ
ールド回路。
明するためのそれぞれ光学系の模式的斜視図およ
び信号処理系のブロツク図、第３図は従来装置の
第２の例を説明するための光学系の模式的斜視
図、第４図は本考案の一実施例を説明するための
光学系の原理的構成図、第５図は同実施例におけ
る信号処理系のブロツク図である。 ２……コリメートレンズ、８……４分割型pin
フオトダイオード（４分割PD）、２２……シリン
ドリカルレンズ、２３，３０……減算器、２４…
…加算器、２５……ローパスフイルタ、２６，２
７……パルス発生器、２８，２９……サンプルホ
ールド回路。
Claims (1)
- 配列された凹凸面からなる情報トラツクをもつ
て情報が記録された情報媒体に光ビームを照射し
その反射光を検出し、上記情報媒体における上記
光ビームのトラツキング情報信号およびフオーカ
ス情報信号を得るとともに上記情報トラツクに記
録された主情報信号を読取る光ピツクアツプ装置
において、上記情報トラツク方向およびそれに直
角の方向に各対応する方向について２分割されて
なり上記反射光を受光する４分割型の受光素子
と、この受光素子の受光面近傍に上記反射光を集
光するための光学系と、この光学系による光路内
に上記受光素子の両分割線に対して45゜の方向に
円筒面の軸方向を対応させて配置されたシリンド
リカルレンズと、上記４分割型の受光素子の各単
位受光素子の出力をその配置に対して交差的に２
個ずつ加算結合する合成回路と、この合成回路の
２組の合成出力の和をとつて主情報信号を得る加
算回路と、上記合成回路の２組の合成出力の差を
とる第１の差分検出回路と、この第１の差分検出
回路の出力の直流分をとり出してフオーカス情報
信号を得る直流検出回路と、上記加算回路の情報
信号出力が該情報信号レベルの平均値を上昇方向
および下降方向によぎるタイミングにそれぞれ各
別に同期して上記第１の差分検出回路出力をサン
プリングして第１および第２のサンプリング値を
得る同期サンプリング回路と、この同期サンプリ
ング回路で得た第１および第２のサンプリング値
の差をとつてトラツキング情報信号を得る第２の
差分検出回路とを具備したことを特徴とする光ピ
ツクアツプ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17459582U JPS5978526U (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 光ピツクアツプ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17459582U JPS5978526U (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 光ピツクアツプ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5978526U JPS5978526U (ja) | 1984-05-28 |
| JPH0240576Y2 true JPH0240576Y2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=30380058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17459582U Granted JPS5978526U (ja) | 1982-11-18 | 1982-11-18 | 光ピツクアツプ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5978526U (ja) |
-
1982
- 1982-11-18 JP JP17459582U patent/JPS5978526U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5978526U (ja) | 1984-05-28 |
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