JPH0353718B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気デイスクサーボトラツク書込
み検査方式に関し、詳しくは、サーボトラツク書
込み後においてサーボパターン書込み状態を検査
する際に、ヘツド（ヘツドキヤリジ）暴走などが
生じないようにすることができる磁気デイスクサ
ーボトラツク書込み装置の改良に関する。

［従来の技術］ 一般に、磁気デイスクのサーボトラツク書込み
作業では、サーボトラツク書込み面にトラツク対
応にサーボパターンをまず書込み、その後、サー
ボパターンが正確に書込まれているか否かの検査
が行われる。

この検査は、通常の磁気デイスク装置と同様に
サーボトラツクに書込まれた情報を磁気ヘツド
（サーボヘツド）で読出し、サーボヘツドにより
読出された信号をもとにして位置情報が生成し、
この情報により、所望の検査対象となる目標位置
（通常は、あるサーボトラツクと次のサーボトラ
ツクとの間の位置）までヘツド位置決めループ制
御に従つて制御をすることで行われる。

この場合のループ制御は、最初は速度モードで
作動させてヘツドを高速に移動させ、目標位置の
わずか手前まで来たときに、位置モード（フオロ
イングモード）に切換えて目標位置にヘツドを静
止させるように制御するものである。

［解決しようとする課題］ しかし、磁気デイスク媒体には、多種多様の欠
陥が存在するため、すでに書き込まれたサーボパ
ターンがデイスク自体の欠陥、その他の要因で正
しく書かれていない、いわゆる、サーボパターン
書込みエラーが発生する。このようなエラーがあ
る場合には、誤つた位置情報が生成される結果、
目標位置へのヘツドアクセス時に所望のループ制
御が行われなくなり、ヘツド（或はヘツドキヤリ
ジとヘツドポジシヨナと）を暴走させてしまつた
り、位置情報の不良分析ができないなどの問題を
生じる。

この発明の目的は、このような従来技術の問題
点を解決するものであつて、サーボトラツクに書
込まれたサーボパターン書込み状態の良否に関係
なく所望検査位置へのアクセス動作が安定に行え
る磁気デイスクサーボトラツク書込検査方式を提
供することにある。

［課題を解決するための手段］ このような目的を達成するために、この発明に
あつては、サーボヘツドによりサーボパターンを
複数のサーボトラツクのそれぞれに書込むために
通常の磁気デイスク装置におけるヘツド位置決め
制御よりも高精度な位置決め制御を行う第１のヘ
ツドアクセス制御系と、サーボトラツクに書込ま
れたサーボパターンをサーボヘツドにより読出
し、この読出し信号を受けて検査対象となる目標
位置にサーボヘツドを位置決めする第２のヘツド
アクセス制御系とを有し、目標位置の近傍までサ
ーボヘツドをアクセスさせ、目標位置に静止させ
て目標位置に書込まれたサーボパターンの検査を
行う磁気デイスクサーボトラツク書込み装置にお
いて、第２のヘツドアクセス制御系に含まれ、或
はこれとは独立に設けられ、第１及び第２のヘツ
ドアクセス制御系を制御する処理装置を備えてい
て、この処理装置が第１のヘツドアクセス制御系
によりサーボヘツドを目標位置に対してアクセス
させる制御をするとともにサーボヘツドから読出
された信号を受けてヘツド静止の位置制御に適す
るか否かを判定し、ヘツド静止の位置制御に適す
る位置までサーボヘツドが来たときに第１のヘツ
ドアクセス制御系から第２のヘツドアクセス制御
系にサーボヘツドのアクセス制御を切換えてサー
ボヘツドを目標位置に静止位置決めし、目標位置
におけるサーボパターンの検査を行うものであ
る。

［作用］ このように、目標とする検査位置へのアクセス
の際に、サーボヘツドから読出した信号を用いて
速度モードでアクセスすることはせずに、サーボ
パターンを書込む高精度位置決め系を利用して目
標位置の近傍までアクセスさせておき、近傍にサ
ーボヘツドが来たら位置モードに切換えて静止動
作をするように制御しているので、静止動作は従
来と同様な制御となり、サーボパターンの書込み
状態の検査には影響を与えないで済み、かつ、位
置決め途中でのサーボトラツクの書込みエラーに
も影響されないで目標検査位置までのヘツドアク
セスができる。

その結果、検査の段階のヘツドアクセスのとき
にはヘツドの暴走などは起こらず、サーボトラツ
クに書込まれたサーボパターン書込み状態の良否
に関係なく所望位置へのアクセス動作が安定に行
える。また、磁気デイスクサーボトラツク書込み
装置自体の構成も簡単になり、書込み不良の判定
や欠陥書込み情報の分析も十分にも行える。

［実施例］ 以下、この発明の一実施例について図面を参照
して詳細に説明する。

第１図は、この発明の磁気デイスクサーボトラ
ツク書込み検査方式を適用した磁気デイスクサー
ボトラツク書込み装置のブロツク図である。

図において、１は、サーボトラツクにサーボパ
ターンを書込むサーボヘツドであり、２は、サー
ボヘツド１を移動させて位置決めするヘツドキヤ
リジである。３は、レーザ測長器で構成される高
精度ヘツド位置測定装置であつて、レーザ測長器
３ａと反射鏡３ｂとを有している。

４は、複数枚のデイスクが同軸上に積み重ねら
れた磁気デイスクであつて、その最下段のデイス
クは、その裏面がサーボ面４ａとなつている。そ
して、磁気デイスク４はモータ４ｂにより回転駆
動される。５は、いわゆるボイスコイルモータと
してのヘツドポジシヨンであつて、ボイスコイル
５ａと永久磁石５ｂとを備えている。

６は、高精度ヘツド位置測定装置側のヘツドア
クセス制御回路であり、高精度ヘツド位置測定装
置３からの信号に応じて、ヘツドキヤリジ２を制
御してサーボヘツド１をサーボ面４ａ上の所定の
サーボトラツク位置に位置決めする制御をする。

７は、サーボヘツド１から得られるヘツド読出
し信号を受けて位置情報を生成する位置検出回路
であり、８は、回路検出回路７から得られる位置
情報を受けて静止位置の制御信号を発生する静止
位置制御回路である。

９は、マイクロプロセツサとメモリ等を有する
処理装置であつて、位置検出回路７から得られる
位置情報を受けてヘツドキヤリジ２を制御してサ
ーボヘツド１をサーボ面４ａ上の所定の検査位置
に位置決めするヘツドアクセス制御回路としての
処理を行う。また、処理装置９は、サーボヘツド
１から読出された信号に基づき、検査位置に隣接
する目標サーボトラツクの近傍（或いは検査位置
近傍）にサーボヘツド１が位置決めされたか否か
の判定処理を行い、さらに、ヘツドアクセス制御
回路６に対してサーボヘツド１の位置決め目標値
（例えば、検査位置手前にある目標サーボトラツ
ク）を設定する情報を送出し、かつ、この回路の
動作を制御する。

１１は、処理装置９と前記のヘツドアクセス制
御回路６とからヘツド位置決め制御情報を受け
て、いずれか一方の制御信号をサーボアンプ１０
に送出する切換回路であつて、その切換えが処理
装置９により制御される。サーボアンプ１０は、
前記のヘツド位置決め制御信号を受けて、それを
増幅し、駆動信号を発生してヘツドポジシヨナ５
を駆動する。

次に、その動作を説明すると、サーボ面４ａの
サーボトラツクへのサーボパターンの書込みに際
しては、まず、処理装置９がサーボヘツド１を静
止させるべき目標位置（目標サーボトラツク位置
に対応）の情報をヘツドアクセス制御回路６に入
力する。ヘツドアクセス制御回路６は、この情報
に従つて動作し、高精度ヘツド位置測定装置３、
ヘツドアクセス制御回路６、サーボアンプ１０、
ヘツドポジシヨナ５よりなる閉ループ制御により
ヘツド位置決め動作をする。その結果、サーボヘ
ツド１が目標となるサーボトラツクの位置に位置
決めされる。

サーボヘツド１が目標位置に停止したら、そこ
でサーボ面４ａにサーボパターンを書込み、その
後、隣接トラツク位置へのアクセスを行なつてそ
のサーボトラツクにもサーボパターンを書込む。
これを繰り返し行うことで、全トラツクにサーボ
パターンが書込まれる。

次に、書込んだサーボパターンが正しい書込み
状態になつているか否かを検査することが行われ
る。これは、従来の方式と異なり、この書込み時
の位置決め制御と同様に、まず、処理装置９は、
サーボヘツド１を静止させる検査位置に対応する
（或は隣接する）サーボトラツク（目標サーボト
ラツク）の位置の情報をヘツドアクセス制御回路
６に入力する。ヘツドアクセス制御回路６は、こ
の情報に従つて動作し、高精度ヘツド位置測定装
置３、ヘツドアクセス制御回路６、サーボアンプ
１０、ヘツドポジシヨナ５よりなる閉ループ制御
で前記の目標サーボトラツク（又は検査目標近
傍）へサーボヘツド１を移動させるヘツドアクセ
ス制御動作をする。

このとき同時に、サーボパターンの情報がサー
ボヘツド１から読出され、位置検出回路７により
位置情報が生成されてこの生成された位置情報が
処理装置９に入力されているので、ヘツドアクセ
ス制御回路６に設定した目標サーボトラツクの近
傍（又は検査目標位置の近傍）に位置決めされた
とき、処理装置９は、サーボヘツド１により読出
されたサーボパターンの位置情報に基づき、それ
がヘツド静止位置制御に適するか否かを、例え
ば、内部に記憶されている基準情報等から判定す
る。そして、それが適切なものと判定されれば、
処理装置９は、切換回路１１を処理装置９側での
ヘツドアクセス制御動作に切換えてサーボヘツド
１、位置検出回路７、静止位置制御回路８、サー
ボアンプ１０、ヘツドポジシヨナ５よりなる閉ル
ープ制御に従つて、サーボヘツド１が読出した信
号によりヘツド静止動作の制御（位置モードの制
御）を行つて、検査目標位置（通常は、前記の目
標サーボトラツクと次のサーボトラツクとの間）
へとサーボヘツド１を位置決めして静止させ、そ
の後、目標位置のサーボパターンを読出してサー
ボパターンが正しく書込まれたか否かの検査に入
る。

以上のようにすれば、目標サーボトラツクの近
傍（又は検査目標位置の近傍）までサーボヘツド
１を移動させるアクセス動作に対してはサーボヘ
ツド１が読出す信号を用いないで済むことから、
途中にあるサーボトラツクにおけるサーボパター
ンの書込み状態に不良があつても、言い換えれ
ば、不良のサーボトラツクからの読出し情報によ
り位置検出回路７で生成される位置情報が誤つた
ものであつても、それを用いないで済むためにヘ
ツドの暴走などが発生しない。

なお、高精度ヘツド位置測定装置３による位置
決めと、サーボヘツド１が読出した信号による位
置決めとは、条件が全く同じではないから、サー
ボヘツド１が目的の目標サーボトラツクの近傍
（又は検査目標位置の近傍）に近づいてときには、
従来と同様に処理装置９側のヘツドアクセス制御
動作に切換えて従来の検査と同様な位置モードに
してサーボヘツド１を静止位置決めするものであ
る。

そして、この状態で検査を行えば、従来と同様
にサーボパターン検査を行うことができ、この検
査において、サーボヘツド１から読出した信号に
基づく位置情報を処理装置９が不適当と判定した
時には、再度、高精度ヘツド位置測定装置３側の
閉ループ制御によりアクセスを行ない。同様の判
定を繰返して、再度不適当と判定されれば、その
サーボトラツクは、書込みエラーと判定され、異
常終了となる。なお、再度繰り返しを行うのは、
処理装置９がサーボヘツド１から読出した信号に
基く位置情報が静止位置制御に適すると判定され
た場合でも、実際にその情報により静止動作が正
しく行なえない場合も極めてまれに生ずるからで
ある。

このように、磁気デイスクサーボトラツク書込
み装置では、目標とするサーボトラツクへのアク
セスの際には、サーボヘツド１から読出した信号
を用いて速度モードでアクセスすることはしない
（位置モードで静止動作を制御するだけである）
ので、従来用いていた速度モードでアクセスする
ためのかなり複雑な回路が不要になる。また、磁
気デイスクサーボトラツク書込み装置のヘツドポ
ジシヨナの振動特性や、書込まれる磁気デイスク
ユニツトの振動特性も、従来の装置の場合ほど影
響しないので、不良などの判定が容易となる。し
たがつて、磁気デイスクサーボトラツク書込み装
置そのものの開発、製作も容易となる。

以上説明したきたが、この発明の第１のヘツド
アクセス制御系は、実施例では、高精度ヘツド位
置測定装置３、ヘツドアクセス制御回路６、サー
ボアンプ１０、ヘツドポジシヨナ５よりなる閉ル
ープで構成され、第２のヘツドアクセス制御系
は、位置検出回路７、静止位置制御回路８、サー
ボアンプ１０、ヘツドポジシヨナ５よりなる閉ル
ープ制御で構成さていて。その一部が共通となつ
ているが、これらは、一部を共通にしてもそうで
なくてもよい。なお、これら第１及び第２のヘツ
ドアクセス制御系の制御を処理装置９が行つてい
るが、ヘツドアクセス系の制御形態よつては、処
理装置９が第２のヘツドアクセス制御系に含まれ
ていてもよい。

［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、サー
ボトラツクの書込みエラーがあつてもヘツドの暴
走などは起こらず、磁気デイスクサーボトラツク
書込み装置自体の構成が簡単になり、書込み不良
の判定や分析も容易にできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の磁気デイスクサーボトラ
ツク書込み検査方式を適用した磁気デイスクサー
ボトラツク書込み装置のブロツク図である。 １…サーボヘツド、２…キヤリジ、３…高精度
ヘツド位置測定装置、４…磁気デイスク、５…ヘ
ツドポジシヨナ、６…測定器によるヘツドアクセ
ス制御回路、７…ヘツド読出し信号による位置検
出回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ サーボヘツドによりサーボパターンを複数の
   サーボトラツクのそれぞれに書込むために通常の
   磁気デイスク装置におけるヘツド位置決め制御よ
   りも高精度な位置決め制御を行う第１のヘツドア
   クセス制御系と、前記サーボトラツクに書込まれ
   た前記サーボパターンを前記サーボヘツドにより
   読出し、この読出し信号を受けて検査対象となる
   目標位置に前記サーボヘツドを位置決めする第２
   のヘツドアクセス制御系とも有し、前記目標位置
   の近傍まで前記サーボヘツドをアクセスさせ、前
   記目標位置に静止させて前記目標位置に書込まれ
   た前記サーボパターンの検査を行う磁気デイスク
   サーボトラツク書込み装置において、第２のヘツ
   ドアクセス制御系に含まれ、或はこれとは独立に
   設けられ、第１及び第２のヘツドアクセス制御系
   を制御する処理装置を備え、この処理装置は、第
   １のヘツドアクセス制御系により前記サーボヘツ
   ドを前記目標位置に対してアクセスさせる制御を
   するとともに前記サーボヘツドから読出された信
   号を受けてヘツド静止の位置制御に適するか否か
   を判定し、ヘツド静止の位置制御に適する位置ま
   で前記サーボヘツドが来たときに第１のヘツドア
   クセス制御系から第２のヘツドアクセス制御系に
   前記サーボヘツドのアクセス制御を切換えて前記
   サーボヘツドを前記目標位置に静止位置決めし、
   前記目標位置におけるサーボパターンの検査を行
   うところを特徴とする磁気デイスクサーボトラツ
   ク書込み検査方式。