JPH0770174B2 - 磁気ディスク媒体の検査方法および検査装置 - Google Patents
磁気ディスク媒体の検査方法および検査装置Info
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- JPH0770174B2 JPH0770174B2 JP6860587A JP6860587A JPH0770174B2 JP H0770174 B2 JPH0770174 B2 JP H0770174B2 JP 6860587 A JP6860587 A JP 6860587A JP 6860587 A JP6860587 A JP 6860587A JP H0770174 B2 JPH0770174 B2 JP H0770174B2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
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- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ディスク媒体の検査方法および検査装
置に関し、さらに詳しくはテストエリアの重複をほとん
どさせることなく、よる効率的に検査が可能な磁気ディ
スク媒体の検査方法および検査装置に関する。
置に関し、さらに詳しくはテストエリアの重複をほとん
どさせることなく、よる効率的に検査が可能な磁気ディ
スク媒体の検査方法および検査装置に関する。
［従来の技術］ 磁気ディスク媒体の検査を行う場合には、検査時間の短
縮のために、検査領域を２つのテストエリアに分割して
２つのヘッドキャリッジにそれぞれのアクセス領域を割
り当て、それぞれのヘッドキャリッジを同時に移動さ
せ、割り当てられた領域にデータを書込み、そこからデ
ータを読出して磁気ディスク媒体の検査を効率的に行っ
ている。
縮のために、検査領域を２つのテストエリアに分割して
２つのヘッドキャリッジにそれぞれのアクセス領域を割
り当て、それぞれのヘッドキャリッジを同時に移動さ
せ、割り当てられた領域にデータを書込み、そこからデ
ータを読出して磁気ディスク媒体の検査を効率的に行っ
ている。
このような検査方式では、ヘッド取り付け時に２つのヘ
ッドキャリッジの双方に対して位置ずれが生じ、これに
より、テストしない部分とか二重テスト部分が発生して
しまう。そのため従来では、キャリブレーション測定時
にこの相対的な取り付けの誤差ずれ（オフセット）量を
測定して、シーク動作に反映させて位置の連続性を確保
している。このとき検査漏れを防ぐために、分割された
領域の境界部分はオーバラップさせてアクセスし、それ
ぞれのキャリッジに受け持たせたテストエリアの一部を
重複して検査することが行われる。
ッドキャリッジの双方に対して位置ずれが生じ、これに
より、テストしない部分とか二重テスト部分が発生して
しまう。そのため従来では、キャリブレーション測定時
にこの相対的な取り付けの誤差ずれ（オフセット）量を
測定して、シーク動作に反映させて位置の連続性を確保
している。このとき検査漏れを防ぐために、分割された
領域の境界部分はオーバラップさせてアクセスし、それ
ぞれのキャリッジに受け持たせたテストエリアの一部を
重複して検査することが行われる。
［解決しようとする問題点］ このような重複検査は、検査時間が増加し、特に、高密
度な磁気ディスク媒体を検査する場合には時間がかか
り、問題となる。しかも、検査結果に応じて媒体を等級
分けして分類する場合に重複部分に欠陥があるときに
は、コレクトエラー，アンコレクトエラー等の欠陥部分
が二重カウントとされるために分類自体に問題が残り、
歩留りが悪くなる。
度な磁気ディスク媒体を検査する場合には時間がかか
り、問題となる。しかも、検査結果に応じて媒体を等級
分けして分類する場合に重複部分に欠陥があるときに
は、コレクトエラー，アンコレクトエラー等の欠陥部分
が二重カウントとされるために分類自体に問題が残り、
歩留りが悪くなる。
したがって、この発明の目的は、このような問題点を解
決し、重複検査部分をなくし、或いは最小限に抑えるこ
とができるような磁気ディクス媒体の検査方法および検
査装置を提供することにある。
決し、重複検査部分をなくし、或いは最小限に抑えるこ
とができるような磁気ディクス媒体の検査方法および検
査装置を提供することにある。
［問題点を解決するための手段］ このような目的を達成するためにこの発明の磁気ディス
ク媒体検査方法の特徴は、第１及び第２のヘッドキャリ
ッジがそれぞれ上下に２つの磁気ヘッドを有し、これら
ヘッドキャリッジが磁気ディスク媒体のテストエリアを
分担し、表面と裏面とを同時に検査する磁気ヘッド媒体
検査装置において、第１のヘッドキャリッジの上又は下
の一方の磁気ヘッドが位置微調整機構を介してキャリッ
ジに取り付けられていて、磁気ディスク媒体に対する第
１及び第２のヘッドキャリッジの上側の磁気ヘッドの位
置ずれ量と第１及び第２のヘッドキャリッジの下側の磁
気ヘッドの位置ずれ量とに基づきこれら位置ずれ量のず
れ量の差を検出して、位置微調整機構によりずれ量の差
をゼロ又は最小にするように前記一方の磁気ヘッドの位
置を調整するものである。
ク媒体検査方法の特徴は、第１及び第２のヘッドキャリ
ッジがそれぞれ上下に２つの磁気ヘッドを有し、これら
ヘッドキャリッジが磁気ディスク媒体のテストエリアを
分担し、表面と裏面とを同時に検査する磁気ヘッド媒体
検査装置において、第１のヘッドキャリッジの上又は下
の一方の磁気ヘッドが位置微調整機構を介してキャリッ
ジに取り付けられていて、磁気ディスク媒体に対する第
１及び第２のヘッドキャリッジの上側の磁気ヘッドの位
置ずれ量と第１及び第２のヘッドキャリッジの下側の磁
気ヘッドの位置ずれ量とに基づきこれら位置ずれ量のず
れ量の差を検出して、位置微調整機構によりずれ量の差
をゼロ又は最小にするように前記一方の磁気ヘッドの位
置を調整するものである。
また、この発明の磁気ディスク媒体検査装置の特徴は、
第１のヘッドキャリッジの上下のうちの一方の磁気ヘッ
ドについてそのキャリッジに対する位置を微調整する位
置微調整機構と、第１及び第２のヘッドキャリッジのい
ずれか一方の２つの磁気ヘッドのいずれかにより書込ま
れた信号をいずれか他方の２つの磁気ヘッドのいずれか
対応する磁気ヘッドにより読出して磁気ディスク媒体に
対する第１及び第２のヘッドキャリッジの上側の磁気ヘ
ッドの位置ずれ量と第１及び第２のヘッドキャリッジの
下側の磁気ヘッドの位置ずれ量とを得てこれら位置ずれ
量のずれ量差を検出する差ずれ量検出手段と、テストエ
リアから得られる検査データが重複しないように第１及
び第２のヘッドキャリッジをアクセスさせる検査処理手
段とを備えていて、ずれ量差に応じてこのずれ量差がゼ
ロ又は最小になるように前記位置微調整機構を設定する
ものである。
第１のヘッドキャリッジの上下のうちの一方の磁気ヘッ
ドについてそのキャリッジに対する位置を微調整する位
置微調整機構と、第１及び第２のヘッドキャリッジのい
ずれか一方の２つの磁気ヘッドのいずれかにより書込ま
れた信号をいずれか他方の２つの磁気ヘッドのいずれか
対応する磁気ヘッドにより読出して磁気ディスク媒体に
対する第１及び第２のヘッドキャリッジの上側の磁気ヘ
ッドの位置ずれ量と第１及び第２のヘッドキャリッジの
下側の磁気ヘッドの位置ずれ量とを得てこれら位置ずれ
量のずれ量差を検出する差ずれ量検出手段と、テストエ
リアから得られる検査データが重複しないように第１及
び第２のヘッドキャリッジをアクセスさせる検査処理手
段とを備えていて、ずれ量差に応じてこのずれ量差がゼ
ロ又は最小になるように前記位置微調整機構を設定する
ものである。
［作用］ このように２つのヘッドキャリッジにより検査を行う検
査装置において、一方のヘッドキャリッジの磁気ヘッド
に対して上下の磁気ヘッドのオフセット量をキャンセル
するか、或いはずれ量だけ重複アクセスして重複する部
分をマスクすれば、重複検査領域をほとんどなくし、或
いは最小限の重複にとどめて検査することが可能とな
る。
査装置において、一方のヘッドキャリッジの磁気ヘッド
に対して上下の磁気ヘッドのオフセット量をキャンセル
するか、或いはずれ量だけ重複アクセスして重複する部
分をマスクすれば、重複検査領域をほとんどなくし、或
いは最小限の重複にとどめて検査することが可能とな
る。
したがって、検査効率が向上するばかりでなく、検査の
結果で分類される磁気ディスク媒体の評価も実際に近い
ものにすることができる。
結果で分類される磁気ディスク媒体の評価も実際に近い
ものにすることができる。
［実施例］ 以下、図面を参照し、この発明の一実施例について詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は、この発明の磁気ディスク媒体の検査方法およ
び装置を適用した磁気ディスク媒体検査装置の一実施例
の側面概要図、第２図は、そのオフセットと各ヘッドア
クセス系との関係を説明する図、第３図は、キャリブレ
ーション測定によるオフセット補正の処理のフローチャ
ート、第４図は、この発明の磁気ディスク媒体の検査方
法および装置を適用した他の磁気ディスク媒体検査装置
の一実施例の側面概要図である。
び装置を適用した磁気ディスク媒体検査装置の一実施例
の側面概要図、第２図は、そのオフセットと各ヘッドア
クセス系との関係を説明する図、第３図は、キャリブレ
ーション測定によるオフセット補正の処理のフローチャ
ート、第４図は、この発明の磁気ディスク媒体の検査方
法および装置を適用した他の磁気ディスク媒体検査装置
の一実施例の側面概要図である。
１は、検査対象となる磁気ディスク媒体であり、磁気デ
ィクス媒体検査装置のスピンドル２にチャックされてい
る。3,4は、対向して設けられた１組のヘッドアクセス
系であって、5,6は、それぞれそのヘッドキャリッジを
示している。
ィクス媒体検査装置のスピンドル２にチャックされてい
る。3,4は、対向して設けられた１組のヘッドアクセス
系であって、5,6は、それぞれそのヘッドキャリッジを
示している。
第１のヘッドキャリッジ５には、上下に対向した２つの
磁気ヘッド5a,5bが設けられていて、これらは、それぞ
れ検査対象となる磁気ディスク媒体１の表裏両面に対応
している。第２のヘッドキャリッジ６にも、同様に上下
に対向した２つの磁気ヘッド6a,6bが設けられていて、
磁気ヘッド6aは、キャリッジに対してその位置を調整で
きる位置微調整機構７を介してヘッドキャリッジ６の本
体に固定され支持されている。したがって、その位置は
調整可能である。
磁気ヘッド5a,5bが設けられていて、これらは、それぞ
れ検査対象となる磁気ディスク媒体１の表裏両面に対応
している。第２のヘッドキャリッジ６にも、同様に上下
に対向した２つの磁気ヘッド6a,6bが設けられていて、
磁気ヘッド6aは、キャリッジに対してその位置を調整で
きる位置微調整機構７を介してヘッドキャリッジ６の本
体に固定され支持されている。したがって、その位置は
調整可能である。
８は、検査回路であって、ヘッドキャリッジ5,6及び微
調整機構駆動回路９を制御するものであって、書込み／
読出し制御回路8a、キャリブレーション処理手段8b,位
置決め処理手段8c,検査処理手段8dとを有している。そ
してここに示す各処理手段は、実際にはマイクロプロセ
ッサ及びメモリとメモリに格納されたプログラムとによ
り実現されるものである。
調整機構駆動回路９を制御するものであって、書込み／
読出し制御回路8a、キャリブレーション処理手段8b,位
置決め処理手段8c,検査処理手段8dとを有している。そ
してここに示す各処理手段は、実際にはマイクロプロセ
ッサ及びメモリとメモリに格納されたプログラムとによ
り実現されるものである。
微調整機構駆動回路９は、位置微調整機構７の位置決め
回路であって、検査回路８の位置決め処理手段8cからの
位置信号により位置微調整機構７を駆動して所定の位置
に磁気ヘッド6aを位置決めする。
回路であって、検査回路８の位置決め処理手段8cからの
位置信号により位置微調整機構７を駆動して所定の位置
に磁気ヘッド6aを位置決めする。
第２図に見るように表裏に配置された磁気ヘッド5a,5b
及び磁気ヘッド6a,6bとは、厳密には上下に対応した位
置になく少しずれて支持されていて第２図ではこの様子
を誇大して描いている。ここで、磁気ヘッド5a,5b側に
点線で示したヘッド位置6c,6bは、磁気ディスク媒体１
が180度回転した場合の磁気ヘッド6a,6bに一致する位置
を示している。したがって、点線で示す磁気ヘッド6c,6
bと磁気ヘッド5a,5bとのずれ量がそれぞれ磁気ヘッド5
a,5bに対する磁気ヘッド6a,6bのオフセット量（相対取
付け誤差）となる。
及び磁気ヘッド6a,6bとは、厳密には上下に対応した位
置になく少しずれて支持されていて第２図ではこの様子
を誇大して描いている。ここで、磁気ヘッド5a,5b側に
点線で示したヘッド位置6c,6bは、磁気ディスク媒体１
が180度回転した場合の磁気ヘッド6a,6bに一致する位置
を示している。したがって、点線で示す磁気ヘッド6c,6
bと磁気ヘッド5a,5bとのずれ量がそれぞれ磁気ヘッド5
a,5bに対する磁気ヘッド6a,6bのオフセット量（相対取
付け誤差）となる。
ここで、上側の磁気ヘッド5aと磁気ヘッド6aとのずれ量
をd1とし、下側の磁気ヘッド5bと磁気ヘッド6bとのずれ
量をd2とする。このずれ量は、特定信号を一方の磁気ヘ
ッドで書込みそれを他方の磁気ヘッドで読出すことによ
り検出されるもので、キャリブレーション手段8aのキャ
リブレーション測定により検出される。
をd1とし、下側の磁気ヘッド5bと磁気ヘッド6bとのずれ
量をd2とする。このずれ量は、特定信号を一方の磁気ヘ
ッドで書込みそれを他方の磁気ヘッドで読出すことによ
り検出されるもので、キャリブレーション手段8aのキャ
リブレーション測定により検出される。
このような処理のフローチャートを示すのが第３図であ
り、そのステップにおいて、キャリッジ5,6の磁気ヘ
ッド5a,5b及び6a,6bを同じ位置までシークさせる。そし
てステップで、キャリッジ５側の磁気ヘッド5a,5bで
書込んだ信号のレベルをキャリッジ６側の磁気ヘッド6
a,6bでそれぞれ読取り、読取り電圧が最大となる位置を
探る。ステップにて読取り電圧が最大となる位置に基
づいて、磁気ヘッド5aと磁気ヘッド6aとの半径距離の差
がd1を検出し、磁気ヘッド5bと磁気ヘッド6bとの半径距
離の差がd2を検出する。
り、そのステップにおいて、キャリッジ5,6の磁気ヘ
ッド5a,5b及び6a,6bを同じ位置までシークさせる。そし
てステップで、キャリッジ５側の磁気ヘッド5a,5bで
書込んだ信号のレベルをキャリッジ６側の磁気ヘッド6
a,6bでそれぞれ読取り、読取り電圧が最大となる位置を
探る。ステップにて読取り電圧が最大となる位置に基
づいて、磁気ヘッド5aと磁気ヘッド6aとの半径距離の差
がd1を検出し、磁気ヘッド5bと磁気ヘッド6bとの半径距
離の差がd2を検出する。
ここで、キャリッジ６側は微調移動可能であることか
ら、キャリッジ５の下側の磁気ヘッド5b及びキャリッジ
６の下側の磁気ヘッド6bを基準として、上側の磁気ヘッ
ド5aと磁気ヘッド6aとのオフセット値d1を補正する。こ
の補正は、次のステップにおいて、ずれ量の差値d,d
＝d2−d1を求めて、ステップにて検査回路８の検査処
理手段8dの制御下で位置決め処理手段8cがキャリブレー
ション処理手段8dからずれ量の差値ｄを受けて、それに
対応する位置信号を微調整機構駆動回路９に送出する。
微調整機構駆動回路９は、受けた位置信号に応じて、位
置微調整機構７を調整してずれ量の差値ｄがゼロ又は最
小となるように位置微調整機構７により磁気ヘッド6aの
位置を調整する。
ら、キャリッジ５の下側の磁気ヘッド5b及びキャリッジ
６の下側の磁気ヘッド6bを基準として、上側の磁気ヘッ
ド5aと磁気ヘッド6aとのオフセット値d1を補正する。こ
の補正は、次のステップにおいて、ずれ量の差値d,d
＝d2−d1を求めて、ステップにて検査回路８の検査処
理手段8dの制御下で位置決め処理手段8cがキャリブレー
ション処理手段8dからずれ量の差値ｄを受けて、それに
対応する位置信号を微調整機構駆動回路９に送出する。
微調整機構駆動回路９は、受けた位置信号に応じて、位
置微調整機構７を調整してずれ量の差値ｄがゼロ又は最
小となるように位置微調整機構７により磁気ヘッド6aの
位置を調整する。
このようにすることによりキャリッジ５の磁気ヘッド5
a,5bに対するキャリッジ６の上下の磁気ヘッド6a,6bの
位置ずれ量，すなわち、オフセット量は等しくなる。
a,5bに対するキャリッジ６の上下の磁気ヘッド6a,6bの
位置ずれ量，すなわち、オフセット量は等しくなる。
その結果、前記等しくなったオフセット量、この例で
は、d2を考慮して、２つのヘッドキャリッジ5,6にそれ
ぞれテストエリアを割り当てることができ、その結果、
テストエリアを重複させることなく連続的に分割してテ
ストを行うことができる。
は、d2を考慮して、２つのヘッドキャリッジ5,6にそれ
ぞれテストエリアを割り当てることができ、その結果、
テストエリアを重複させることなく連続的に分割してテ
ストを行うことができる。
第３図は、微調整機構に換えてマスク処理手段10を設け
たものであって、第１図の実施例と同様にずれ量の差値
d,d＝|d2−d1|として差を求めて、ヘッドキャリッジ６
をずれ量の差分に相当する分だけ磁気ディスク媒体１の
上下一方の面のヘッドキャリッジ５のテストエリアを重
複させて、残りの片面だけを重複アクセスせずに連続性
をもたせる。
たものであって、第１図の実施例と同様にずれ量の差値
d,d＝|d2−d1|として差を求めて、ヘッドキャリッジ６
をずれ量の差分に相当する分だけ磁気ディスク媒体１の
上下一方の面のヘッドキャリッジ５のテストエリアを重
複させて、残りの片面だけを重複アクセスせずに連続性
をもたせる。
このようにしてテストを行い、重複する部分をアクセス
した磁気ヘッドの読出しデートをマスク処理手段10によ
りマスクする。なお、マスク処理手段10は、ヘッドキャ
リッジ６のどちらか一方の磁気ヘッド6a又は6bのリード
データをマスク処理するかを前記重複アクセスする面に
対応して選択できるものである。
した磁気ヘッドの読出しデートをマスク処理手段10によ
りマスクする。なお、マスク処理手段10は、ヘッドキャ
リッジ６のどちらか一方の磁気ヘッド6a又は6bのリード
データをマスク処理するかを前記重複アクセスする面に
対応して選択できるものである。
以上説明してきたが、実施例では、基準側の磁気ヘッド
を裏面側のものとしているが、いずれの側の磁気ヘッド
を基準としてもよく、位置微調整機構を設けるのは、磁
気ヘッドのいずれか１つでよいが、２つ設けても差し支
えない。
を裏面側のものとしているが、いずれの側の磁気ヘッド
を基準としてもよく、位置微調整機構を設けるのは、磁
気ヘッドのいずれか１つでよいが、２つ設けても差し支
えない。
また、第１図の実施例では、アクセス領域を重複しない
ようにしているが、これは検査データとしての読取りデ
ータが重複しなければよく、機械的な移動の関係でやも
えないような多生の重複があることはここでの重複に含
めるものではない。
ようにしているが、これは検査データとしての読取りデ
ータが重複しなければよく、機械的な移動の関係でやも
えないような多生の重複があることはここでの重複に含
めるものではない。
［発明の効果］ 以上の説明から理解できるように、この発明にあって
は、２つのヘッドキャリッジにより検査を行う検査装置
において、一方のヘッドキャリッジの磁気ヘッドに対し
て上下の磁気ヘッドのオフセット量をキャンセルする
か、或いはずれ量だけ重複アクセスして重複する部分を
マスクすれば、重複検査領域をほとんどなくし、或いは
最小限の重複にとどめて検査することが可能となる。
は、２つのヘッドキャリッジにより検査を行う検査装置
において、一方のヘッドキャリッジの磁気ヘッドに対し
て上下の磁気ヘッドのオフセット量をキャンセルする
か、或いはずれ量だけ重複アクセスして重複する部分を
マスクすれば、重複検査領域をほとんどなくし、或いは
最小限の重複にとどめて検査することが可能となる。
したがって、検査効率が向上するばかりでなく、検査の
結果で分類される磁気ディスク媒体の評価も実際に近い
ものにすることができる。
結果で分類される磁気ディスク媒体の評価も実際に近い
ものにすることができる。
第１図は、この発明の磁気ディスク媒体の検査方法およ
び装置を適用した磁気ディスク媒体検査装置の一実施例
の側面概要図、第２図は、そのオフセットと各ヘッドア
クセス系との関係を説明する図、第３図は、キャリブレ
ーション測定によるオフセット補正の処理のフローチャ
ート、第４図は、この発明の磁気ディスク媒体の検査方
法および装置を適用した他の磁気ディスク媒体検査装置
の一実施例の側面概要図である。 １……磁気ディスク媒体、２……スピンドル、 ３……第１のヘッドアクセス系、 ４……第２のヘッドアクセス系、 5,6……ヘッドキャリッジ、 5a,5b,6a,6b……磁気ヘッド、 ７……位置微調整機構、８……検査回路、 8a……書込み／読出し制御回路、 8b……キャリブレーション処理手段、 8c……位置決め処理手段、 8d……検査処理手段、９……微調整機構駆動回路、 10……マスク処理手段。
び装置を適用した磁気ディスク媒体検査装置の一実施例
の側面概要図、第２図は、そのオフセットと各ヘッドア
クセス系との関係を説明する図、第３図は、キャリブレ
ーション測定によるオフセット補正の処理のフローチャ
ート、第４図は、この発明の磁気ディスク媒体の検査方
法および装置を適用した他の磁気ディスク媒体検査装置
の一実施例の側面概要図である。 １……磁気ディスク媒体、２……スピンドル、 ３……第１のヘッドアクセス系、 ４……第２のヘッドアクセス系、 5,6……ヘッドキャリッジ、 5a,5b,6a,6b……磁気ヘッド、 ７……位置微調整機構、８……検査回路、 8a……書込み／読出し制御回路、 8b……キャリブレーション処理手段、 8c……位置決め処理手段、 8d……検査処理手段、９……微調整機構駆動回路、 10……マスク処理手段。
Claims (4)
- 【請求項１】第１及び第２のヘッドキャリッジがそれぞ
れ上下に２つの磁気ヘッドを有し、これらヘッドキャリ
ッジが磁気ディスク媒体のテストエリアを分担し、表面
と裏面とを同時に検査する磁気ヘッド媒体検査装置にお
いて、前記第１のヘッドキャリッジの上又は下の一方の
磁気ヘッドが位置微調整機構を介してキャリッジに取り
付けられていて、前記磁気ディスク媒体に対する前記第
１及び第２のヘッドキャリッジの上側の磁気ヘッドの位
置ずれ量と前記第１及び第２のヘッドキャリッジの下側
の磁気ヘッドの位置ずれ量とに基づきこれら位置ずれ量
のずれ量の差を検出して、前記位置微調整機構により前
記ずれ量の差をゼロ又は最小にするように前記一方の磁
気ヘッドの位置を調整することを特徴とする磁気ディス
ク媒体検査方法。 - 【請求項２】第１及び第２のヘッドキャリッジがそれぞ
れ上下に２つの磁気ヘッドを有し、これらヘッドキャリ
ッジが磁気ディスク媒体のテストエリアを分担し、表面
と裏面とを同時に検査する磁気ヘッド媒体検査装置にお
いて、 前記第１のヘッドキャリッジの上下のうちの一方の前記
磁気ヘッドについてそのキャリッジに対する位置を微調
整する位置微調整機構と、 前記第１及び第２のヘッドキャリッジのいずれか一方の
前記２つの磁気ヘッドのいずれかにより書込まれた信号
をいずれか他方の前記２つの磁気ヘッドのいずれか対応
する磁気ヘッドにより読出して前記磁気ディスク媒体に
対する前記第１及び第２のヘッドキャリッジの上側の磁
気ヘッドの位置ずれ量と前記第１及び第２のヘッドキャ
リッジの下側の磁気ヘッドの位置ずれ量とを得てこれら
位置ずれ量のずれ量差を検出する差ずれ量検出手段と、 前記テストエリアから得られる検査データが重複しない
ように前記第１及び第２のヘッドキャリッジをアクセス
させる検査処理手段とを備え、前記ずれ量差に応じてこ
のずれ量差がゼロ又は最小になるように前記位置微調整
機構を設定することを特徴とする磁気ディスク媒体検査
装置。 - 【請求項３】前記差ずれ量検出手段は、第１及び第２の
ヘッドキャリッジの上側の磁気ヘッドの位置ずれ量を第
１のずれ量として算出し、前記第１及び第２のヘッドキ
ャリッジの下側の磁気ヘッドの位置ずれ量を第２のずれ
量として算出し、前記第１のずれ量と前記第２のずれ量
との差を前記ずれ量差として算出するものであり、検査
処理手段は、前記テストエリアを重複させない状態で前
記第１及び第２のヘッドキャリッジをアクセスさせ、こ
の検査処理手段と前記差ずれ量検出手段とは、マイクロ
プロセッサがメモリに記憶されたそれぞれの手段を実現
するプログラムを実行することによる特許請求の範囲第
２項記載の磁気ディスク媒体検査装置。 - 【請求項４】前記差ずれ量検出手段は、第１及び第２の
ヘッドキャリッジの上側の磁気ヘッドの位置ずれ量を第
１のずれ量として算出し、前記第１及び第２のヘッドキ
ャリッジの下側の磁気ヘッドの位置ずれ量を第２のずれ
量として算出し、前記第１のずれ量と前記第２のずれ量
との差を前記ずれ量差として算出するものであり、検査
処理手段は、前記第１のヘッドキャリッジを前記ずれ量
差分に相当する分だけ前記磁気ディスク媒体の上下一方
の面の第２のヘッドキャリッジについてテストエリアに
ついて重複してアクセスさせ、この重複する部分の読出
しデータをマスクすることにより前記テストエリアの検
査データについて重複させないものであり、この検査処
理手段と前記差ずれ量検出手段とは、マイクロプロセッ
サがメモリに記憶されたそれぞれの手段を実現するプロ
グラムを実行することによる特許請求の範囲第２項記載
の磁気ディスク媒体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6860587A JPH0770174B2 (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | 磁気ディスク媒体の検査方法および検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6860587A JPH0770174B2 (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | 磁気ディスク媒体の検査方法および検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63234456A JPS63234456A (ja) | 1988-09-29 |
| JPH0770174B2 true JPH0770174B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=13378573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6860587A Expired - Lifetime JPH0770174B2 (ja) | 1987-03-23 | 1987-03-23 | 磁気ディスク媒体の検査方法および検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0770174B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013196723A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Hitachi High-Technologies Corp | 磁気ディスク検査装置 |
-
1987
- 1987-03-23 JP JP6860587A patent/JPH0770174B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63234456A (ja) | 1988-09-29 |
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