JPH0354291B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0354291B2 JPH0354291B2 JP4049784A JP4049784A JPH0354291B2 JP H0354291 B2 JPH0354291 B2 JP H0354291B2 JP 4049784 A JP4049784 A JP 4049784A JP 4049784 A JP4049784 A JP 4049784A JP H0354291 B2 JPH0354291 B2 JP H0354291B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical fiber
- mode coupling
- stimulated raman
- wavelength
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 claims description 43
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 29
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 29
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 29
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 6
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 14
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、光後方散乱法を偏波保持フアイバに
適用して誘導ラマン散乱の長手方向への非線形モ
ード結合量を正確に測定する方法に関するもので
ある。
適用して誘導ラマン散乱の長手方向への非線形モ
ード結合量を正確に測定する方法に関するもので
ある。
〔従来技術〕
従来、光フアイバ中の誘導ラマン散乱がどのよ
うに光フアイバ中で発生するのかを測定するため
には、第１図に示す測定系を用いている。すなわ
ち、光パルス光源１からの光パルスを、偏光子２
およびビームスプリツタ３を経た後に偏波保持光
フアイバ４に入射する。この光フアイバ４からの
後方散乱光はビームスプリツタ３を経て検光子５
および分光器６を通過した後、光検出器７により
検出される。偏光子２および検光子５は直交ニコ
ルに配置され、入射端でのフレネル反射を除去す
る。なお、ここで分光器６を用いているのは、誘
導ラマン光およびレーザ光の波長選択を行うため
である。光検出器７で検出された信号は信号処理
部８で処理され、最終的に表示部９に出力され
る。
うに光フアイバ中で発生するのかを測定するため
には、第１図に示す測定系を用いている。すなわ
ち、光パルス光源１からの光パルスを、偏光子２
およびビームスプリツタ３を経た後に偏波保持光
フアイバ４に入射する。この光フアイバ４からの
後方散乱光はビームスプリツタ３を経て検光子５
および分光器６を通過した後、光検出器７により
検出される。偏光子２および検光子５は直交ニコ
ルに配置され、入射端でのフレネル反射を除去す
る。なお、ここで分光器６を用いているのは、誘
導ラマン光およびレーザ光の波長選択を行うため
である。光検出器７で検出された信号は信号処理
部８で処理され、最終的に表示部９に出力され
る。
入力光パルスが弱い場合にかかる構成により得
られた後方散乱光を第２図Ａに示す。この場合に
は誘導ラマンが発生していないので、分光器６の
波長は入射光パルスの波長に設定して、その波長
の光を取り出す。ここでは、光フアイバの損失で
決まる指数関数的減衰波形Ａが観測される。Ｂは
出力端面でのフレネル反射による後方散乱光を示
す。
られた後方散乱光を第２図Ａに示す。この場合に
は誘導ラマンが発生していないので、分光器６の
波長は入射光パルスの波長に設定して、その波長
の光を取り出す。ここでは、光フアイバの損失で
決まる指数関数的減衰波形Ａが観測される。Ｂは
出力端面でのフレネル反射による後方散乱光を示
す。
入射パルスのパワーを増加すると、誘導ラマン
が発生し、フアイバ長手方向において、第２図Ｂ
に示すように、その増幅Ｃおよび減衰Ｄがなされ
る。これによると後方散乱波形の初期部での誘導
ラマン散乱の増幅の様子がよくわかり、対数変換
を行なうと直線で表わされ、その傾きから誘導ラ
マン散乱の利得がわかる。
が発生し、フアイバ長手方向において、第２図Ｂ
に示すように、その増幅Ｃおよび減衰Ｄがなされ
る。これによると後方散乱波形の初期部での誘導
ラマン散乱の増幅の様子がよくわかり、対数変換
を行なうと直線で表わされ、その傾きから誘導ラ
マン散乱の利得がわかる。
しかし、この方法では、偏波保持光フアイバの
長手方向に沿つて、２つの主軸（ｘおよびｙ軸）
の間での誘導ラマン散乱の結合がどのように生じ
ているかは測定できない。特に、偏波保持光フア
イバを用いる場合、ｘ軸からの誘導ラマン光がｙ
軸方向へどのように結合していくかを知ることが
コヒーレント伝送等においては非常に重要である
が、これまではそれを測定できる方法はなかつ
た。このような誘導ラマン光のｙ軸方向への結合
は伝送後の信号光の消光比の劣化をもたらし、コ
ヒーレント伝送にとつて重大な問題である。
長手方向に沿つて、２つの主軸（ｘおよびｙ軸）
の間での誘導ラマン散乱の結合がどのように生じ
ているかは測定できない。特に、偏波保持光フア
イバを用いる場合、ｘ軸からの誘導ラマン光がｙ
軸方向へどのように結合していくかを知ることが
コヒーレント伝送等においては非常に重要である
が、これまではそれを測定できる方法はなかつ
た。このような誘導ラマン光のｙ軸方向への結合
は伝送後の信号光の消光比の劣化をもたらし、コ
ヒーレント伝送にとつて重大な問題である。
さらにまた、各主軸方向での誘導ラマン散乱の
発生の波長分布は、光フアイバ出力端で容易に測
定できるが、長手方向にわたつて偏波保持光フア
イバ内部でどのようにラマン形の非線形モード結
合が生じているかはこれまで測定できなかつた。
発生の波長分布は、光フアイバ出力端で容易に測
定できるが、長手方向にわたつて偏波保持光フア
イバ内部でどのようにラマン形の非線形モード結
合が生じているかはこれまで測定できなかつた。
そこで、本発明の目的は、これらの欠点を解決
し、偏波保持光フアイバの両主軸から２種類の誘
導ラマン散乱信号の比率を求め、その大きさから
ラマン形非線形モード結合量を測定する方法を提
供することにある。
し、偏波保持光フアイバの両主軸から２種類の誘
導ラマン散乱信号の比率を求め、その大きさから
ラマン形非線形モード結合量を測定する方法を提
供することにある。
かかる目的を達成するために、本発明は、光パ
ルスを偏波保持光フアイバに入射し、該光フアイ
バの２つの直交する主軸方向からの後方散乱光の
うちの誘導ラマン散乱光の波長域の光を分光器を
介して順次に検出し、これら検出された光の強度
の比率を求めることにより、前記光フアイバで発
生する誘導ラマン散乱光の光フアイバ長手手向に
ついての偏波モード結合の状態を測定することを
特徴とする。
ルスを偏波保持光フアイバに入射し、該光フアイ
バの２つの直交する主軸方向からの後方散乱光の
うちの誘導ラマン散乱光の波長域の光を分光器を
介して順次に検出し、これら検出された光の強度
の比率を求めることにより、前記光フアイバで発
生する誘導ラマン散乱光の光フアイバ長手手向に
ついての偏波モード結合の状態を測定することを
特徴とする。
ここで、前記分光器の設定波長を誘導ラマン散
乱の中心波長に設定し、各ラマン波長での非線形
モード結合を測定することができる。
乱の中心波長に設定し、各ラマン波長での非線形
モード結合を測定することができる。
〔実施例〕
以下に図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第３図は本発明の１実施例であつて、ここに、
１は光パルス光源（例えばYAGレーザ、F+セン
ターレーザ）、２は偏光子、３はビームスプリツ
タ、４は被測定偏波保持光フアイバ、５は検光
子、６は分光器、７は光検出器、８は信号処理
部、９は表示部である。１０は光スイツチングを
行なうための超音波光偏向素子、１１は偏向素子
１０を駆動するための電気回路および遅延回路、
１２は光源１を駆動するための電気パルス発生器
である。
１は光パルス光源（例えばYAGレーザ、F+セン
ターレーザ）、２は偏光子、３はビームスプリツ
タ、４は被測定偏波保持光フアイバ、５は検光
子、６は分光器、７は光検出器、８は信号処理
部、９は表示部である。１０は光スイツチングを
行なうための超音波光偏向素子、１１は偏向素子
１０を駆動するための電気回路および遅延回路、
１２は光源１を駆動するための電気パルス発生器
である。
本発明方法においては、まず、電気パルス発生
器１２からの電気パルスにより光源１を駆動し、
そこから発生する光パルスを偏光子２およびビー
ムスプリツタ３を経て、偏波保持光フアイバ４の
主軸のうちｘ軸方向に入射させる。光パルスはこ
の光フアイバ４中を伝搬し、後方散乱光を発生す
る。光パルス強度が弱ければ入射光と同一波長の
後方散乱光が観測される。パルス強度が強くなる
と、誘導ラマン散乱により、波長のシフトした後
方散乱光が観測される。
器１２からの電気パルスにより光源１を駆動し、
そこから発生する光パルスを偏光子２およびビー
ムスプリツタ３を経て、偏波保持光フアイバ４の
主軸のうちｘ軸方向に入射させる。光パルスはこ
の光フアイバ４中を伝搬し、後方散乱光を発生す
る。光パルス強度が弱ければ入射光と同一波長の
後方散乱光が観測される。パルス強度が強くなる
と、誘導ラマン散乱により、波長のシフトした後
方散乱光が観測される。
ここで、入射光パルスのｘ軸方向の後方散乱光
をPL bx、ｙ軸方向の後方散乱光をPL byとし、誘導ラ
マン散乱により発生したストークス光のｘ軸方向
の光をPS bx、ｙ軸方向の光をPS byとする。なお、簡
単のために、誘導ラマン散乱は１次ストークスの
みとし、波長選択は分光器６で行なう。また、
PL bx，PL byの波長とPS bx，PS byの波長とはラマンシフ
ト量だけ異なる。PL bxは偏光子２と検光子５の偏
光方向が同一の場合である。従つて、光フアイバ
４の入射端面でのフレネル反射（散乱レベルに比
べて40dB程度大きい）をも一緒に受光すること
になるので、超音波光偏向器１０を用いて入射端
でのフレネル反射光のマスキングを行ない、PL bx
を無歪み状態で光検出器７により受光する。な
お、光マスキングのタイミングは駆動回路１１に
より制御する。後方散乱光は微弱であるので、
Ｓ／Ｎ比改善等の信号処理を行うのが好適である。
をPL bx、ｙ軸方向の後方散乱光をPL byとし、誘導ラ
マン散乱により発生したストークス光のｘ軸方向
の光をPS bx、ｙ軸方向の光をPS byとする。なお、簡
単のために、誘導ラマン散乱は１次ストークスの
みとし、波長選択は分光器６で行なう。また、
PL bx，PL byの波長とPS bx，PS byの波長とはラマンシフ
ト量だけ異なる。PL bxは偏光子２と検光子５の偏
光方向が同一の場合である。従つて、光フアイバ
４の入射端面でのフレネル反射（散乱レベルに比
べて40dB程度大きい）をも一緒に受光すること
になるので、超音波光偏向器１０を用いて入射端
でのフレネル反射光のマスキングを行ない、PL bx
を無歪み状態で光検出器７により受光する。な
お、光マスキングのタイミングは駆動回路１１に
より制御する。後方散乱光は微弱であるので、
Ｓ／Ｎ比改善等の信号処理を行うのが好適である。
次いで、同様の測定を検光子５を90゜回転させ
てｙ軸方向について行う。すなわち、光フアイバ
４の他方の主軸すなわちｙ軸方向からの信号PL by
を測定する。
てｙ軸方向について行う。すなわち、光フアイバ
４の他方の主軸すなわちｙ軸方向からの信号PL by
を測定する。
このように順次に測定した両信号光PL bxおよび
PL byを信号処理装置１１に供給し、ここで両信号
光の強度の比率を求め、その結果を、誘導ラマン
散乱光の光フアイバ長手方向についての偏波モー
ド結合係数および消光比などを表示装置１２に表
示する。
PL byを信号処理装置１１に供給し、ここで両信号
光の強度の比率を求め、その結果を、誘導ラマン
散乱光の光フアイバ長手方向についての偏波モー
ド結合係数および消光比などを表示装置１２に表
示する。
ここで、光源１からの入射光を強くし、かつ分
光器６を誘導ラマン波長に設定することにより、
PS bxおよびPS byを測定することができる。
光器６を誘導ラマン波長に設定することにより、
PS bxおよびPS byを測定することができる。
ここで、ｘ軸方向でのレーザ入力をPL x、スト
ークス光をPS x、またｙ軸方向でのレーザ入力を
PL y、ストークス光をPS xとすると、それらの量は
次の結合方程式を満足する。
ークス光をPS x、またｙ軸方向でのレーザ入力を
PL y、ストークス光をPS xとすると、それらの量は
次の結合方程式を満足する。
dPL／x／dz＝−γPS xPL x−γ′PS yPL x＋ｈ（PL y−PL x）
−αPL x(1) dPS／x／dz＝γPL xPS x＋γ′PL yPS x＋ｈ（PS y−PS x）−
αPS x(2) dPL／y／dz＝−γPS yPL y−γ′PS xPL y＋ｈ（PL x−PL y）
−αPL y(3) dPS／y／dz＝γPL yPS y＋γ′PL xPS y＋ｈ（PS x−PS y）−
αPS y(4) ここで、γは偏波が同一方向でのラマン利得、
γ′は直交方向でのラマン利得、ｈは線形なモード
結合係数、αはフアイバ損失である。
−αPL x(1) dPS／x／dz＝γPL xPS x＋γ′PL yPS x＋ｈ（PS y−PS x）−
αPS x(2) dPL／y／dz＝−γPS yPL y−γ′PS xPL y＋ｈ（PL x−PL y）
−αPL y(3) dPS／y／dz＝γPL yPS y＋γ′PL xPS y＋ｈ（PS x−PS y）−
αPS y(4) ここで、γは偏波が同一方向でのラマン利得、
γ′は直交方向でのラマン利得、ｈは線形なモード
結合係数、αはフアイバ損失である。
式(1)〜(4)において、右辺の第１、２項は誘導ラ
マンによる非線形モード結合であり、第３項は線
形なモード結合、第４項はフアイバ損失を示して
いる。従つて、上式は一般化したモード結合の関
係を示している。
マンによる非線形モード結合であり、第３項は線
形なモード結合、第４項はフアイバ損失を示して
いる。従つて、上式は一般化したモード結合の関
係を示している。
さて、上式を参考にしながら、モード結合の様
子を説明する。
子を説明する。
非線形モード結合時の後方散乱の様子を第４図
Ａ〜Ｆに示す。ここでは、光パルスはPL xで与え、
PL y（Ｏ）＝０としている。第４図ＡおよびＢには、
入射パルスが微弱な場合、すなわち線形領域での
同方向（ｘ軸）後方散乱光および直交方向（ｙ
軸）後方散乱光を示す。第４図Ａに示す尖頭波形
は出力端面でのフレネル反射による後方散乱光で
ある。
Ａ〜Ｆに示す。ここでは、光パルスはPL xで与え、
PL y（Ｏ）＝０としている。第４図ＡおよびＢには、
入射パルスが微弱な場合、すなわち線形領域での
同方向（ｘ軸）後方散乱光および直交方向（ｙ
軸）後方散乱光を示す。第４図Ａに示す尖頭波形
は出力端面でのフレネル反射による後方散乱光で
ある。
入射パルスを強くすると、誘導ラマン散乱によ
り非線形モード結合が発生し、第４図Ａは第４図
Ｃの実線部に変化し、第４図Ｂは第４図Ｅに変化
する。いずれにおいても、後方散乱光のレベルは
増加するとともに、その傾きも変化している。こ
の変化はストークス光、すなわちPS bx，PS byの発生
に起因している。
り非線形モード結合が発生し、第４図Ａは第４図
Ｃの実線部に変化し、第４図Ｂは第４図Ｅに変化
する。いずれにおいても、後方散乱光のレベルは
増加するとともに、その傾きも変化している。こ
の変化はストークス光、すなわちPS bx，PS byの発生
に起因している。
分光器６の波長をレーザパルスの波長からスト
ークス波長に設定して得られた同一方向（ｘ軸）
の誘導ラマン成分をPS bx、直交方向（ｙ軸）の成
分をPS byとし、その波形を第４図ＤおよびＦにそ
れぞれ示す。これより、徐々に誘導ラマン散乱が
増幅されていく様子がよくわかる。第４図Ｄおよ
びＦの立ち上がり部分を対数変換することにより
その傾きからラマンの利得係数γおよびγ′が求ま
る。第４図ＤとＦとを比べると、増幅の割合いに
ついては、第４図Ｆの方が小さいのは、直交方向
でのラマン利得係数γ′がγに比べて小さいためで
ある。
ークス波長に設定して得られた同一方向（ｘ軸）
の誘導ラマン成分をPS bx、直交方向（ｙ軸）の成
分をPS byとし、その波形を第４図ＤおよびＦにそ
れぞれ示す。これより、徐々に誘導ラマン散乱が
増幅されていく様子がよくわかる。第４図Ｄおよ
びＦの立ち上がり部分を対数変換することにより
その傾きからラマンの利得係数γおよびγ′が求ま
る。第４図ＤとＦとを比べると、増幅の割合いに
ついては、第４図Ｆの方が小さいのは、直交方向
でのラマン利得係数γ′がγに比べて小さいためで
ある。
本発明では、このようにして得られた種々の後
方散乱光の比率を求めることにより、非線形モー
ド結合の様子を求める。その様子を第５図Ａ〜Ｅ
により説明する。第５図Ａは入力パルスが弱い線
形領域の場合でのPL by／PL bxの変化を示す。その傾
きは2hで与えられ、モード結合係数を求まる。
方散乱光の比率を求めることにより、非線形モー
ド結合の様子を求める。その様子を第５図Ａ〜Ｅ
により説明する。第５図Ａは入力パルスが弱い線
形領域の場合でのPL by／PL bxの変化を示す。その傾
きは2hで与えられ、モード結合係数を求まる。
入射パワーを増大して誘導ラマンが発生すると
（非線形領域）、パワーの増加とともに第５図Ｂに
示すように変化する。これは、誘導ラマン散乱に
よりPL bx（ｚ）が減少し、さらに急激にPL by（ｚ）も
減少するためである。
（非線形領域）、パワーの増加とともに第５図Ｂに
示すように変化する。これは、誘導ラマン散乱に
よりPL bx（ｚ）が減少し、さらに急激にPL by（ｚ）も
減少するためである。
第５図Ｃにはｘ軸方向でのレーザ光波長におけ
る後方散乱パワーPL bxに対する誘導ラマン散乱の
変化PS bxの割合いを示す。入射パワーを増加する
につれて入射端近傍でラマンが立ち上がる。
る後方散乱パワーPL bxに対する誘導ラマン散乱の
変化PS bxの割合いを示す。入射パワーを増加する
につれて入射端近傍でラマンが立ち上がる。
第５図Ｄには分光器６により波長選択して得ら
れるラマン波長での散乱光PS byPS bxを示す。入射パ
ワーを増加するにつれて、PS bx（ｚ）の方がPS by
（ｚ）に比べて早く立ち上がり、大きな値となる
ため、PS by／PS bxは急激に小さくなる。
れるラマン波長での散乱光PS byPS bxを示す。入射パ
ワーを増加するにつれて、PS bx（ｚ）の方がPS by
（ｚ）に比べて早く立ち上がり、大きな値となる
ため、PS by／PS bxは急激に小さくなる。
第５図Ｅは分光器６をはずして直交する２軸
（ｘ，ｙ）間の後方散乱パワーの比率（PL by＋
PS by）／（PL bx＋PS bx）を求めたものである。入力
が増加するにつれて、PS byの増加量がPL bx＋PS bxの
変化に比べて大きいので、パワーの増加とともに
モード結合量は増加することになる。
（ｘ，ｙ）間の後方散乱パワーの比率（PL by＋
PS by）／（PL bx＋PS bx）を求めたものである。入力
が増加するにつれて、PS byの増加量がPL bx＋PS bxの
変化に比べて大きいので、パワーの増加とともに
モード結合量は増加することになる。
このように、第５図Ｂ〜Ｅにおいて、光パルス
パワーの増加とともにｘ，ｙ軸間での非線形モー
ド結合がどのように長手方向に変化していくのか
よくわかる。
パワーの増加とともにｘ，ｙ軸間での非線形モー
ド結合がどのように長手方向に変化していくのか
よくわかる。
本発明の測定方法によれば、個別の光フアイバ
について入射エネルギの増大に伴う誘導ラマン光
の発生と、モード結合の長手方向の分布を知るこ
とができるので、個別の光フアイバの特性とし
て、実質的な消光比の劣化をもたらさない入力限
界を知ることができる。
について入射エネルギの増大に伴う誘導ラマン光
の発生と、モード結合の長手方向の分布を知るこ
とができるので、個別の光フアイバの特性とし
て、実質的な消光比の劣化をもたらさない入力限
界を知ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、偏波保
持光フアイバ中の誘導ラマン散乱形の非線形モー
ド結合の様子を、光後方散乱法を用いて、２つの
直交主軸における後方散乱光の比率から求めるこ
とができる。これによれば、従来測定できなかつ
た非線形モード結合の様子がフアイバの長手方向
にわたつて判る利点がある。さらに加えて、本発
明によれば、個別の光フアイバについて入力限界
を求めることができるから、コヒーレント通信に
おける入力限界を知る上でも有効である。
持光フアイバ中の誘導ラマン散乱形の非線形モー
ド結合の様子を、光後方散乱法を用いて、２つの
直交主軸における後方散乱光の比率から求めるこ
とができる。これによれば、従来測定できなかつ
た非線形モード結合の様子がフアイバの長手方向
にわたつて判る利点がある。さらに加えて、本発
明によれば、個別の光フアイバについて入力限界
を求めることができるから、コヒーレント通信に
おける入力限界を知る上でも有効である。
第１図は従来のラマン形後方散乱法の説明図、
第２図ＡおよびＢは第１図の方法により得られる
後方散乱信号を示す線図、第３図は本発明装置の
一実施例を示す構成図、第４図Ａ〜Ｆは第３図の
測定系により得られた後方散乱光の説明図、第５
図Ａ〜Ｅは本発明により測定した非線形モード結
合状態の種々の態様を示す線図である。 １…光パルス光源、２…偏光子、３…ビームス
プリツタ、４…被測定偏波保持光フアイバ、５…
検光子、６…分光器、７…光検出器、８…信号処
理部、９…表示器、１０…超音波光偏向器、１１
…超音波光偏向器用駆動回路および遅延回路、１
２…電気パルス発生器。
第２図ＡおよびＢは第１図の方法により得られる
後方散乱信号を示す線図、第３図は本発明装置の
一実施例を示す構成図、第４図Ａ〜Ｆは第３図の
測定系により得られた後方散乱光の説明図、第５
図Ａ〜Ｅは本発明により測定した非線形モード結
合状態の種々の態様を示す線図である。 １…光パルス光源、２…偏光子、３…ビームス
プリツタ、４…被測定偏波保持光フアイバ、５…
検光子、６…分光器、７…光検出器、８…信号処
理部、９…表示器、１０…超音波光偏向器、１１
…超音波光偏向器用駆動回路および遅延回路、１
２…電気パルス発生器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 光パルスを偏波保持光フアイバに入射し、該
光フアイバの２つの直交する主軸方向からの後方
散乱光のうちの誘導ラマン散乱光の波長域の光を
分光器を介して順次に検出し、これら検出された
光の強度の比率を求めることにより、前記光フア
イバで発生する誘導ラマン散乱光の光フアイバ長
手方向についての偏波モード結合の状態を測定す
ることを特徴とする非線形モード結合状態の測定
方法。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の測定方法におい
て、前記分光器の設定波長を誘導ラマン散乱の中
心波長に設定し、各ラマン波長での非線形モード
結合を測定することを特徴とする非線形モード結
合状態の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4049784A JPS60185132A (ja) | 1984-03-05 | 1984-03-05 | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4049784A JPS60185132A (ja) | 1984-03-05 | 1984-03-05 | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60185132A JPS60185132A (ja) | 1985-09-20 |
| JPH0354291B2 true JPH0354291B2 (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=12582200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4049784A Granted JPS60185132A (ja) | 1984-03-05 | 1984-03-05 | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60185132A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101305326B1 (ko) * | 2006-12-20 | 2013-09-06 | 엘지전자 주식회사 | 공기조화기 |
| CN106895959B (zh) * | 2017-04-17 | 2019-01-25 | 吉林大学 | 一种基于双光子灯笼和少模光纤环形器的少模光纤模式耦合测量装置 |
-
1984
- 1984-03-05 JP JP4049784A patent/JPS60185132A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60185132A (ja) | 1985-09-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Von Der Weid et al. | On the characterization of optical fiber network components with optical frequency domain reflectometry | |
| JPH0364812B2 (ja) | ||
| EP0605301B1 (en) | Optical time domain reflectometer | |
| US4968112A (en) | Apparatus for providing depolarized light | |
| US6462863B1 (en) | System and method for resolving polarization mode dispersion in optical fibers | |
| CN119845419A (zh) | 一种监测受激布里渊散射效应的光学系统及监测方法 | |
| JPH0549057B2 (ja) | ||
| JPS60185132A (ja) | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 | |
| JPH0743286B2 (ja) | 光ファイバ式分布形温度センサ | |
| CA1224936A (en) | Test method for optical fibers and apparatus therefor | |
| JP3222046B2 (ja) | 光ファイバ歪測定装置 | |
| US5226102A (en) | Light-reflection method for transmission-loss measurements in optical fiber lightguides | |
| CN207263419U (zh) | 一种基于瑞利散射技术的光缆故障检测系统 | |
| JPH0130097B2 (ja) | ||
| JPH05256702A (ja) | 光スペクトラムアナライザ | |
| JP3059580B2 (ja) | 光パルス試験器 | |
| JPH0682086B2 (ja) | モ−ド結合評価装置 | |
| JPS607333A (ja) | 偏波保持光フアイバの測定方法および装置 | |
| JPH0663908B2 (ja) | 光パルス試験装置 | |
| JPS59200486A (ja) | 光フアイバによる光増幅装置 | |
| JPS62123327A (ja) | コヒ−レントｏｔｄｒ装置 | |
| JP3167202B2 (ja) | 温度測定方法及び装置 | |
| JPS63131043A (ja) | 後方散乱光測定装置 | |
| JPH0252231A (ja) | 光パルス試験器 | |
| Ohmori et al. | Single-pass Raman generation pumped by a mode-locked laser |