JPH0354847B2 - - Google Patents
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- JPH0354847B2 JPH0354847B2 JP59169579A JP16957984A JPH0354847B2 JP H0354847 B2 JPH0354847 B2 JP H0354847B2 JP 59169579 A JP59169579 A JP 59169579A JP 16957984 A JP16957984 A JP 16957984A JP H0354847 B2 JPH0354847 B2 JP H0354847B2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
- H01G4/2325—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor characterised by the material of the terminals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
発明の分野
この発明は、セラミツクスに空隙を設けてお
き、該空隙に溶融状態の鉛または鉛合金を注入す
ることにより内部電極が形成される形式の積層セ
ラミツクコンデンサの構造の改良に関する。 従来の技術 第2図は、この発明をなす契機となつた従来の
積層セラミツクコンデンサの一例を示す断面図で
ある。第2図に示す積層セラミツクコンデンサ1
は、セラミツクス2を介して積層された複数の内
部電極3と、該内部電極3の所定のものに接続さ
れており、静電容量を取出すための1対の外部電
極4,5とを備える。この積層セラミツクコンデ
ンサ1は、次のようにして製造されている。たと
えば厚さ50−100μm程度のセラミツクグリーンシ
ートを作成し、しかる後該セラミツクグリーンシ
ート上にカーボン粉末またはカーボン粉末とセラ
ミツク粉末の混合粉末からなるペーストを印刷
し、複数枚のセラミツクグリーンシートを積層し
焼成することにより、カーボン粉末を燃焼により
削減させ、内部電極3となるべき部分に空隙を形
成する。しかる後、外部電極4,5となる多孔性
のAg焼付層をセラミツクス2の端面に形成する。
次に、減圧下において、このようにして得られた
チツプを約330〜360℃の溶融鉛中に浸漬し、浸漬
した状態で溶融鉛の上法の空間を加圧下に置くこ
とにより、セラミツクス2内に形成された空隙に
溶融鉛を注入する。次に、溶融鉛に浸漬されてい
るチツプを引上げ、冷却した後常圧に戻すことに
より内部電極3を形成する。このようにして内部
電極3として安価な卑金属である鉛を用いること
ができるので、安価な積層セラミツクコンデンサ
1を得ることができる。 発明が解決しようとする問題点 上述のような積層セラミツクコンデンサ1の製
造にあたつて、外部電極4,5となるAg層を内
部電極3の注入に先立ち形成するのは、減圧状態
−加圧状態−常圧状態のような圧力調製を行なつ
たとしても、チツプを溶融鉛から引上げた際に溶
融鉛が空隙から漏れ出てくるおそれがあるため、
これを防止するために予め多孔性の外部電極4,
5を形成しているのである。しかしながら、溶融
鉛中にチツプが浸漬された際に、外部電極4,5
として多孔性のAgを用いるものであるため、溶
融鉛中に外部電極4,5を構成するAgが溶出し、
外部電極4,5が消失あるいは食われてしまい、
上記のような空隙からの溶融鉛の漏洩を防止でき
ないという欠点や、あるいは鉛とAgとの反応に
よりPb−Ag合金層が形成され、その結果次工程
である、はんだによる基板への取付もしくはリー
ド線の取付に際し、はんだが付きにくいという欠
点があつた。 それゆえに、この発明の目的は、溶融鉛注入工
程において、溶融鉛との反応を起こさず、また消
失しない第1の層と、はんだ付け性に優れた第2
の層とからなる外部電極を有する積層セラミツク
コンデンサを提供することにある。 発明の構成 問題点を解決するための手段 この発明は、要約すれば、セラミツクスを介し
て積層された複数の内部電極と、該内部電極の所
定のものに接続されており、静電容量を取出すた
めの1対の外部電極とを備え、該内部電極は鉛ま
たは鉛合金からなり、予め焼成されたセラミツク
スに設けられた空隙に溶融状態の鉛または鉛合金
を注入することにより形成されている上記のタイ
プの積層セラミツクコンデンサにおいて、外部電
極が、ニツケルを主成分とする第1の層と、第1
の層の外側に形成された錫または鉛−錫を主成分
とする第2の層とからなることを特徴とする、積
層セラミツクコンデンサである。 この発明の好ましい実施例では、内部電極とな
る溶融状態の鉛または鉛合金の注入前に第1の層
が形成されており、第2の層は鉛または鉛合金の
注入後に形成される。 作 用 この発明では、外部電極がニツケルを主成分と
する第1の層を備えており、該ニツケルは溶融鉛
と特に反を有しないので、外部電極の溶融鉛によ
る消失あるいは食われが防止される。また、第1
の層の外側に第2の層として錫または鉛−錫を主
成分とする層が設けられているので、はんだとの
付着性が改善される。 実施例の説明 第1図は、この発明の一実施例を示す断面図で
ある。ここでは、セラミツクス12内に複数の内
部電極13が、セラミツクス12を介して積層さ
れている。またセラミツクス12の端面には、内
部電極13…13の所定のものに接続されてお
り、静電容量を取出すための1対の外部電極1
4,15が設けられている。ところで、内部電極
13…13は、第2図に示した積層セラミツクコ
ンデンサ1と同様に、セラミツクグリーンシート
上にカーボン粉末またはカーボン粉末とセラミツ
ク粉末の混合粉末からなるペーストを印刷した後
積層し焼成することにより内部電極13が形成さ
れ得るべき部分に空隙を形成し、しかる後溶融鉛
または鉛合金を注入することにより形成されてい
る。また、外部電極14,15は、それぞれ、ニ
ツケルを主成分とする第1の層16,17と、錫
または鉛−錫を主成分とする第2の層18,19
とからなるが、内部電極13の注入前に、ニツケ
ルを主成分とする第1の層16,17が形成さ
れ、しかる後内部電極13を溶融鉛もしくは鉛合
金の注入により形成した後、第2の層18,19
が、たとえば電解めつきにより形成される。 外部電極14,15を構成する第1の層16,
17は、ニツケルを主成分とするものであるが、
ホウ素、鉛などの他の成分を含むものであつても
よく、また第2の層18,19についても錫また
は鉛−錫合金のほか他の成分を含むものであつて
もよい。第1図に示した実施例では、上記のよう
に外部電極14,15が、鉛と反応しないニツケ
ルを主成分とする第1の層16,17を有するの
で、空隙に溶融鉛を注入し、内部電極13を形成
するに際して、溶融鉛と第1の層16,17が反
応せず、したがつて外部電極の消失あるいは鉛食
われを防止することができ、溶融鉛の漏れを防止
することができる。また、第2の層18,19
が、錫または鉛−錫を主成分とするため、得られ
たセラミツクコンデンサ11のはんだ付け性も確
保されることがわかる。 次に、この発明の具体例につき説明する。 セラミツクグリーンシート上に、カーボン粉末
70〜95重量%およびセラミツク粉末5〜30重量%
よりなるペーストにより、内部電極13となるべ
き部分に印刷を施し、このようにして得られた複
数枚のセラミツクグリーンシートを積層し圧着し
た後、200℃/1時間の速度にて1300℃まで加熱
し2時間保持することにより焼成し、しかる後自
然冷却させた。このようにして得られた焼結チツ
プでは、内部電極に相当する部分に印刷されたカ
ーボン粉末が消失しており、したがつてセラミツ
ク結晶粒が柱状に構成された多孔性空隙が焼結体
内部に形成されていた。この焼結チツプの電極取
出部分となる両端面に、Ni3Bおよびホウ硅酸鉛
ガラスフリツトよりなるペーストを塗布したもの
を実施例とし、自然雰囲気中で焼付けた。また、
比較例1、2として、焼結チツプの電極取出用両
端面にAgとホウ硅酸鉛ガラスフリツトよりなる
ペースト、ならびにAg−Pdおよびホウ酸鉛ガラ
スフリツトよりなるペーストをそれぞれ塗布し、
自然雰囲気中で焼付けたものを用意した。焼付温
度は、それぞれ、実施例に対しては600℃、Agを
含むペーストを用いた比較例については800℃、
Ag−Pdを含むペーストを用いたものについては
850℃とした。 上述のようにして準備した実施例および比較例
1、2の焼結チツプを、溶融鉛を充填した高圧容
器中に入れ、まず2〜10mmHgに減圧した後溶融
鉛中に浸漬し、しかる後溶融鉛が酸化しないよう
に窒素ガスを用いて容器内を10〜15気圧に5秒な
いし2分間加圧した。次に溶融鉛中からチツプを
引上げ、鉛が固化する温度まで冷却した後、常圧
に戻して高圧容器から取出した。 次頁の表に、実施例および各比較例1、2にお
いて、溶融鉛への浸漬時間を変化させた場合の外
部電極の残存面積率(%)を示す。
き、該空隙に溶融状態の鉛または鉛合金を注入す
ることにより内部電極が形成される形式の積層セ
ラミツクコンデンサの構造の改良に関する。 従来の技術 第2図は、この発明をなす契機となつた従来の
積層セラミツクコンデンサの一例を示す断面図で
ある。第2図に示す積層セラミツクコンデンサ1
は、セラミツクス2を介して積層された複数の内
部電極3と、該内部電極3の所定のものに接続さ
れており、静電容量を取出すための1対の外部電
極4,5とを備える。この積層セラミツクコンデ
ンサ1は、次のようにして製造されている。たと
えば厚さ50−100μm程度のセラミツクグリーンシ
ートを作成し、しかる後該セラミツクグリーンシ
ート上にカーボン粉末またはカーボン粉末とセラ
ミツク粉末の混合粉末からなるペーストを印刷
し、複数枚のセラミツクグリーンシートを積層し
焼成することにより、カーボン粉末を燃焼により
削減させ、内部電極3となるべき部分に空隙を形
成する。しかる後、外部電極4,5となる多孔性
のAg焼付層をセラミツクス2の端面に形成する。
次に、減圧下において、このようにして得られた
チツプを約330〜360℃の溶融鉛中に浸漬し、浸漬
した状態で溶融鉛の上法の空間を加圧下に置くこ
とにより、セラミツクス2内に形成された空隙に
溶融鉛を注入する。次に、溶融鉛に浸漬されてい
るチツプを引上げ、冷却した後常圧に戻すことに
より内部電極3を形成する。このようにして内部
電極3として安価な卑金属である鉛を用いること
ができるので、安価な積層セラミツクコンデンサ
1を得ることができる。 発明が解決しようとする問題点 上述のような積層セラミツクコンデンサ1の製
造にあたつて、外部電極4,5となるAg層を内
部電極3の注入に先立ち形成するのは、減圧状態
−加圧状態−常圧状態のような圧力調製を行なつ
たとしても、チツプを溶融鉛から引上げた際に溶
融鉛が空隙から漏れ出てくるおそれがあるため、
これを防止するために予め多孔性の外部電極4,
5を形成しているのである。しかしながら、溶融
鉛中にチツプが浸漬された際に、外部電極4,5
として多孔性のAgを用いるものであるため、溶
融鉛中に外部電極4,5を構成するAgが溶出し、
外部電極4,5が消失あるいは食われてしまい、
上記のような空隙からの溶融鉛の漏洩を防止でき
ないという欠点や、あるいは鉛とAgとの反応に
よりPb−Ag合金層が形成され、その結果次工程
である、はんだによる基板への取付もしくはリー
ド線の取付に際し、はんだが付きにくいという欠
点があつた。 それゆえに、この発明の目的は、溶融鉛注入工
程において、溶融鉛との反応を起こさず、また消
失しない第1の層と、はんだ付け性に優れた第2
の層とからなる外部電極を有する積層セラミツク
コンデンサを提供することにある。 発明の構成 問題点を解決するための手段 この発明は、要約すれば、セラミツクスを介し
て積層された複数の内部電極と、該内部電極の所
定のものに接続されており、静電容量を取出すた
めの1対の外部電極とを備え、該内部電極は鉛ま
たは鉛合金からなり、予め焼成されたセラミツク
スに設けられた空隙に溶融状態の鉛または鉛合金
を注入することにより形成されている上記のタイ
プの積層セラミツクコンデンサにおいて、外部電
極が、ニツケルを主成分とする第1の層と、第1
の層の外側に形成された錫または鉛−錫を主成分
とする第2の層とからなることを特徴とする、積
層セラミツクコンデンサである。 この発明の好ましい実施例では、内部電極とな
る溶融状態の鉛または鉛合金の注入前に第1の層
が形成されており、第2の層は鉛または鉛合金の
注入後に形成される。 作 用 この発明では、外部電極がニツケルを主成分と
する第1の層を備えており、該ニツケルは溶融鉛
と特に反を有しないので、外部電極の溶融鉛によ
る消失あるいは食われが防止される。また、第1
の層の外側に第2の層として錫または鉛−錫を主
成分とする層が設けられているので、はんだとの
付着性が改善される。 実施例の説明 第1図は、この発明の一実施例を示す断面図で
ある。ここでは、セラミツクス12内に複数の内
部電極13が、セラミツクス12を介して積層さ
れている。またセラミツクス12の端面には、内
部電極13…13の所定のものに接続されてお
り、静電容量を取出すための1対の外部電極1
4,15が設けられている。ところで、内部電極
13…13は、第2図に示した積層セラミツクコ
ンデンサ1と同様に、セラミツクグリーンシート
上にカーボン粉末またはカーボン粉末とセラミツ
ク粉末の混合粉末からなるペーストを印刷した後
積層し焼成することにより内部電極13が形成さ
れ得るべき部分に空隙を形成し、しかる後溶融鉛
または鉛合金を注入することにより形成されてい
る。また、外部電極14,15は、それぞれ、ニ
ツケルを主成分とする第1の層16,17と、錫
または鉛−錫を主成分とする第2の層18,19
とからなるが、内部電極13の注入前に、ニツケ
ルを主成分とする第1の層16,17が形成さ
れ、しかる後内部電極13を溶融鉛もしくは鉛合
金の注入により形成した後、第2の層18,19
が、たとえば電解めつきにより形成される。 外部電極14,15を構成する第1の層16,
17は、ニツケルを主成分とするものであるが、
ホウ素、鉛などの他の成分を含むものであつても
よく、また第2の層18,19についても錫また
は鉛−錫合金のほか他の成分を含むものであつて
もよい。第1図に示した実施例では、上記のよう
に外部電極14,15が、鉛と反応しないニツケ
ルを主成分とする第1の層16,17を有するの
で、空隙に溶融鉛を注入し、内部電極13を形成
するに際して、溶融鉛と第1の層16,17が反
応せず、したがつて外部電極の消失あるいは鉛食
われを防止することができ、溶融鉛の漏れを防止
することができる。また、第2の層18,19
が、錫または鉛−錫を主成分とするため、得られ
たセラミツクコンデンサ11のはんだ付け性も確
保されることがわかる。 次に、この発明の具体例につき説明する。 セラミツクグリーンシート上に、カーボン粉末
70〜95重量%およびセラミツク粉末5〜30重量%
よりなるペーストにより、内部電極13となるべ
き部分に印刷を施し、このようにして得られた複
数枚のセラミツクグリーンシートを積層し圧着し
た後、200℃/1時間の速度にて1300℃まで加熱
し2時間保持することにより焼成し、しかる後自
然冷却させた。このようにして得られた焼結チツ
プでは、内部電極に相当する部分に印刷されたカ
ーボン粉末が消失しており、したがつてセラミツ
ク結晶粒が柱状に構成された多孔性空隙が焼結体
内部に形成されていた。この焼結チツプの電極取
出部分となる両端面に、Ni3Bおよびホウ硅酸鉛
ガラスフリツトよりなるペーストを塗布したもの
を実施例とし、自然雰囲気中で焼付けた。また、
比較例1、2として、焼結チツプの電極取出用両
端面にAgとホウ硅酸鉛ガラスフリツトよりなる
ペースト、ならびにAg−Pdおよびホウ酸鉛ガラ
スフリツトよりなるペーストをそれぞれ塗布し、
自然雰囲気中で焼付けたものを用意した。焼付温
度は、それぞれ、実施例に対しては600℃、Agを
含むペーストを用いた比較例については800℃、
Ag−Pdを含むペーストを用いたものについては
850℃とした。 上述のようにして準備した実施例および比較例
1、2の焼結チツプを、溶融鉛を充填した高圧容
器中に入れ、まず2〜10mmHgに減圧した後溶融
鉛中に浸漬し、しかる後溶融鉛が酸化しないよう
に窒素ガスを用いて容器内を10〜15気圧に5秒な
いし2分間加圧した。次に溶融鉛中からチツプを
引上げ、鉛が固化する温度まで冷却した後、常圧
に戻して高圧容器から取出した。 次頁の表に、実施例および各比較例1、2にお
いて、溶融鉛への浸漬時間を変化させた場合の外
部電極の残存面積率(%)を示す。
【表】
比較例1、2すなわちAgおよびAg−Pdペース
トを塗布したものにあつては、いずれも溶融鉛と
の反応により外部電極が消失してしまつている
が、実施例すなわちNi3Bを塗布した外部電極で
は、2分間溶融鉛に浸漬した場合でも外部電極の
消失は全く起こらないことがわかる。このように
して第1の層が形成された実施例のチツプコンデ
ンサを電解錫めつき浴に入れ、15分間通電するこ
とにより第1の層すなわちNi厚膜層上に錫めつ
きを施した。このようにして得られた実施例のセ
ラミツクコンデンサは、リード線をはんだ付けす
るに際し、はんだ付けが容易であり、かつはんだ
食われが生じない外部電極構造を有するので、は
んだ付け性の改善された鉛注入型積層セラミツク
コンデンサを得ることが可能になつた。 なお、上記した実施例では、外部電極の第2の
層の形成に際し、錫を電解めつきしたが、錫に代
えて錫−鉛合金、たとえば鉛を3重量%以上含む
錫−鉛合金をめつきしてもよい。 また、溶融鉛についても、純粋な鉛に限らず、
同じく低融点の鉛合金を溶融させたものを用いて
もよい。 発明の効果 以上のように、この発明によれば、鉛または鉛
合金注入型の積層セラミツクコンデンサにおい
て、外部電極が、ニツケルを主成分とする第1の
層と、第1の層の外側に形成されており、錫また
は鉛−錫を主成分とする第2の層とからなるの
で、内部電極形成に際し溶融鉛と外部電極との反
応による外部電極の消失等を効果的に防止するこ
とができ、またはんだ付け性に優れた積層セラミ
ツクコンデンサを得ることが可能となる。
トを塗布したものにあつては、いずれも溶融鉛と
の反応により外部電極が消失してしまつている
が、実施例すなわちNi3Bを塗布した外部電極で
は、2分間溶融鉛に浸漬した場合でも外部電極の
消失は全く起こらないことがわかる。このように
して第1の層が形成された実施例のチツプコンデ
ンサを電解錫めつき浴に入れ、15分間通電するこ
とにより第1の層すなわちNi厚膜層上に錫めつ
きを施した。このようにして得られた実施例のセ
ラミツクコンデンサは、リード線をはんだ付けす
るに際し、はんだ付けが容易であり、かつはんだ
食われが生じない外部電極構造を有するので、は
んだ付け性の改善された鉛注入型積層セラミツク
コンデンサを得ることが可能になつた。 なお、上記した実施例では、外部電極の第2の
層の形成に際し、錫を電解めつきしたが、錫に代
えて錫−鉛合金、たとえば鉛を3重量%以上含む
錫−鉛合金をめつきしてもよい。 また、溶融鉛についても、純粋な鉛に限らず、
同じく低融点の鉛合金を溶融させたものを用いて
もよい。 発明の効果 以上のように、この発明によれば、鉛または鉛
合金注入型の積層セラミツクコンデンサにおい
て、外部電極が、ニツケルを主成分とする第1の
層と、第1の層の外側に形成されており、錫また
は鉛−錫を主成分とする第2の層とからなるの
で、内部電極形成に際し溶融鉛と外部電極との反
応による外部電極の消失等を効果的に防止するこ
とができ、またはんだ付け性に優れた積層セラミ
ツクコンデンサを得ることが可能となる。
第1図は、この発明の一実施例を示す断面図で
ある。第2図は、この発明をなす契機となつた従
来の注入型の積層セラミツクコンデンサを示す断
面図である。 図において、11は積層セラミツクコンデン
サ、12はセラミツクス、13は内部電極、1
4,15は外部電極、16,17は第1の層、1
8,19は第2の層を示す。
ある。第2図は、この発明をなす契機となつた従
来の注入型の積層セラミツクコンデンサを示す断
面図である。 図において、11は積層セラミツクコンデン
サ、12はセラミツクス、13は内部電極、1
4,15は外部電極、16,17は第1の層、1
8,19は第2の層を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 セラミツクスを介して積層された複数の内部
電極と、該内部電極の所定のものに接続されてお
り、静電容量を取出すための1対の外部電極とを
備え、前記内部電極は鉛または鉛合金からなり、
予め焼成されたセラミツクスに設けられた空隙に
溶融状態の鉛または鉛合金を注入することにより
形成されている、積層セラミツクコンデンサにお
いて、 前記外部電極は、ニツケルを主成分とする第1
の層と、錫または鉛−錫を主成分とし、第1の層
の外側に形成される第2の層とからなることを特
徴とする、積層セラミツクコンデンサ。 2 前記第1の層は、内部電極となる鉛または鉛
合金の注入前に形成されており、前記第2の層は
注入後に形成されている、特許請求の範囲第1項
記載の積層セラミツクコンデンサ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59169579A JPS6147618A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | 積層セラミツクコンデンサ |
| US06/754,393 US4618912A (en) | 1984-08-13 | 1985-07-12 | Monolithic ceramic capacitor |
| DE19853528906 DE3528906A1 (de) | 1984-08-13 | 1985-08-12 | Monolithischer keramikkondensator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59169579A JPS6147618A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | 積層セラミツクコンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6147618A JPS6147618A (ja) | 1986-03-08 |
| JPH0354847B2 true JPH0354847B2 (ja) | 1991-08-21 |
Family
ID=15889091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59169579A Granted JPS6147618A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | 積層セラミツクコンデンサ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4618912A (ja) |
| JP (1) | JPS6147618A (ja) |
| DE (1) | DE3528906A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0260427A1 (de) * | 1986-08-18 | 1988-03-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Füllschichtbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung |
| ATE82086T1 (de) * | 1986-08-18 | 1992-11-15 | Siemens Ag | Fuellschichtbauteil. |
| AT391770B (de) * | 1987-07-31 | 1990-11-26 | Siemens Bauelemente Ohg | Elektrisches vielschichtbauelement mit einem gesinterten, monolithischen keramikkoerper und verfahren zur herstellung des elektrischen vielschichtbauelementes |
| DE8713367U1 (de) * | 1987-10-05 | 1988-02-11 | Roederstein Spezialfabriken für Bauelemente der Elektronik und Kondensatoren der Starkstromtechnik GmbH, 8300 Landshut | Elektrischer Schichtenkondensator für die Oberflächenmontagetechnik |
| DE8713368U1 (de) * | 1987-10-05 | 1988-02-11 | Roederstein Spezialfabriken für Bauelemente der Elektronik und Kondensatoren der Starkstromtechnik GmbH, 8300 Landshut | Elektrisches Bauteil für die Oberflächenmontage-Technik |
| JPH0278211A (ja) * | 1988-09-13 | 1990-03-19 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミックコンデンサ |
| EP0412259B1 (en) * | 1989-06-16 | 1995-09-27 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electronic devices, method for forming end terminations thereof and paste material for forming same |
| JP2852372B2 (ja) * | 1989-07-07 | 1999-02-03 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミックコンデンサ |
| US5144527A (en) * | 1989-08-24 | 1992-09-01 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer capacitor and method of fabricating the same |
| JPH07273507A (ja) * | 1994-04-01 | 1995-10-20 | Tdk Corp | サーキュレータの製造方法 |
| FR2730347B1 (fr) * | 1996-04-12 | 1997-06-20 | Murata Manufacturing Co | Element de circuit non reciproque a haute frequence |
| JPH11189894A (ja) * | 1997-12-24 | 1999-07-13 | Murata Mfg Co Ltd | Sn合金メッキ皮膜、電子部品およびチップ型セラミック電子部品 |
| JP3596743B2 (ja) * | 1999-08-19 | 2004-12-02 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE980090C (de) * | 1951-06-17 | 1970-09-10 | Siemens Ag | Elektrischer Einfolienkondensator |
| US4071880A (en) * | 1974-06-10 | 1978-01-31 | N L Industries, Inc. | Ceramic bodies with end termination electrodes |
| GB2104291A (en) * | 1981-08-04 | 1983-03-02 | Standard Telephones Cables Ltd | Multilayer ceramic dielectric capacitors |
| EP0089550A3 (de) * | 1982-03-19 | 1984-09-26 | DRALORIC Electronic GmbH | Monolithischer Kondensator und Verfahren zu seiner Herstellung |
| US4458294A (en) * | 1982-07-28 | 1984-07-03 | Corning Glass Works | Compliant termination for ceramic chip capacitors |
-
1984
- 1984-08-13 JP JP59169579A patent/JPS6147618A/ja active Granted
-
1985
- 1985-07-12 US US06/754,393 patent/US4618912A/en not_active Expired - Lifetime
- 1985-08-12 DE DE19853528906 patent/DE3528906A1/de not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6147618A (ja) | 1986-03-08 |
| DE3528906A1 (de) | 1986-02-13 |
| US4618912A (en) | 1986-10-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |