JPH0355293A - 光記録媒体およびその製造方法 - Google Patents

光記録媒体およびその製造方法

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JPH0355293A
JPH0355293A JP1102937A JP10293789A JPH0355293A JP H0355293 A JPH0355293 A JP H0355293A JP 1102937 A JP1102937 A JP 1102937A JP 10293789 A JP10293789 A JP 10293789A JP H0355293 A JPH0355293 A JP H0355293A
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recording
recording film
film
recording medium
substrate
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JP1102937A
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Hisaharu Hihashi
樋端 久治
Mitsuyuki Kuroiwa
光之 黒岩
Akira Todo
昭 藤堂
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Mitsui Petrochemical Industries Ltd
Original Assignee
Mitsui Petrochemical Industries Ltd
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  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、光あるいは熱等のエネルギービームの照射に
より基板上の記録膜にビットを形或してt,’f報を記
録するようにした光記録媒体およびその製造方法に関す
る。
発明の技術的背景ならびにその問題点 光記録媒体には、エネルギービームの照射により、記録
膜の一部に穴もしくは凹郎等の物理的変化部を形或する
方式のものと、記録膜の一部に光学的特性(屈折率、反
射率など)を変化させた光学特性変化部を形戊する方式
のものとがある。
いずれの方式の光記録媒体における記録膜としても、テ
ルル(Tθ)等の低融点金属を主成分とする記録膜が従
来から知られている(特開昭58−71195号公報、
特開昭58−9234号公報)。低融点金属膜として代
表的なTell[は、非常に低いエネルギーで所望の物
理的変化部もしくは光学特性変化部(以下、総称して、
rビット」と称す)を形或でき、高感度材料として極め
て有望である。ここで感度とは単位面積当りのビット形
或に要するエネルギー(sJ/cj)で定義される。
しかしながら、Toは大気中に放置された場合、酸素あ
るいは水分により酸化され、光透過率が上昇して透明に
なってしまう。このようなTeを紀録膜として使用する
場合、膜厚は数百λ程度と極めて薄いため、膜の酸化に
よって光透過率が上昇すると感度が著しく低下してしま
う。すなわち、膜が酸化されると融解温度および蒸発温
度が上昇するとともに、透明化により光等のエネルギー
の吸収が少なくなるため、ビット形或に要するエネルギ
ーが大きくなり、感度の著しい低下を来たす。
たとえばTe膜を温度70℃、相対湿度85%の雰囲気
に放置した場合、約5時間で感度が約20%低下し、約
15時間で約50%低下してしまう。
このような問題点を解決するため、T e 膜の酸化防
止のために種々の対策がとられている。その1つとして
安定無機物質でTell%をコーティングする方法が知
られているが、この方広は、Tθ膜の酸化防止には有効
であるが、感度を低下させてしまい、また高価であるた
め、実用化されていない。一方、Te@をプラスチック
コーティングする方法も知られているが、この方法はプ
ラスチックの熱伝導率が小さいことから感度を損なう度
合が小さく有利であるが、酸素や水を比較的容易に透過
させるため、Tell[の酸化防止にはあまり役立たな
い。
また、Te膜中にCおよびHを含ませる(特公昭59−
33320号公報)ことにより、記録層としてのTel
ljlの酸化を防止するようにした技術も提案されてい
るが、この技術ではCの含有量が少ないときには耐酸化
性がいまだ不充分であり、耐酸化性を向上させるために
、Cの含有量を多くすると、情報再生時におけるC/N
比が低下するという不都合を有している。
また上記のような問題点を解決するため、特開昭59−
63,038号公報には、Teを主成分としてCrを含
有する記録膜を具備する光記録媒体が開示されている。
この公報に開示されているように、Teを主成分とする
記録膜中にCrを含有させると、その含有量に対応して
記録膜の耐酸化性が向上し、光記録媒体の長寿命化が図
られることが知られている。
しかしながら、Toを主成分としてCrを含有する記録
膜を具備する光記録媒体にあっては、Crが多量に含ま
れると、記録感度が低下するという不都合を有している
。そこで、Teを主成分とする記録膜中に含まれるCr
の含有量は、耐酸化性向上および記録感度向上の観点か
ら、特開昭59−63.0.38号公報に示すように、
記録膜11のTeに対してCrが5〜15重量%となる
ように決定されるのが一般的であった。
ところが、Crが5〜15重量%の量で含まれるTe系
の記録膜を具備する光記録媒体の記録感度は、Tell
l単独の記録膜に比較して依然として低いことが本発明
者等によって見出された。本発明者等は、このようなT
eを主成分としてCrを含む記録膜を具備する光記録媒
体について鋭意検討したところ、特定量のCrを含有す
ると共にCおよびHを含ませたTeを主成分とする記録
膜を具備する光記録媒体は、耐酸化性が向上するにもか
かわらず、記録感度が、Crを多量に含有するTo系記
録膜と比較して著しく向上すると共に、記録マージンが
広がることを見出した。また、本発明者等は、このよう
にCr,CおよびHを含有し、Teを主成分とする記録
膜を基坂上に成膜した後に、熱処理を行なえば、さらに
記録感度が向上し、しかも記録マージンが広がることを
見出した。
発明の目的 本発明は、このような新たな知見に基づきなされたもの
であり、特に高温高湿下での記録膜の耐酸化性を向上さ
せ、光記録膜の長寿命化を図ると共に、小さいエネルギ
ーで情報の記録が可能であり、しかも高感度で記録マー
ジンの広い光記録媒体およびその製造方法を提供するこ
とを目的とする。
発明の概要 このような目的を達成するために、本発明に係る光記録
媒体は、基板と、この基板上に形成された記録膜とから
なり、この記録膜にエネルギービームを照射することに
より、この記録膜にビットを形戊して情報を記録するよ
うにした光記録媒体において、 前記記録膜は、Teを主成分としてCrSCおよびHを
含む薄膜であり、 前記記録膜に含まれるCrおよびCの含有割合が、記録
膜を溝戊する全原子数に対して、Crについては0.1
〜40原子%の範囲にあり、Cについては5〜40原子
%の範囲にあることを特徴としている。
また、本発明に係る光記録媒体は、基板と、この基板上
に形成された記録膜とからなり、この記録膜にエネルギ
ービームを照射することにより、この記録漠にビットを
形戊して情報を記録するようにした光記録媒体において
、 前記記録膜は、Toを主成分としてCr,CおよびHを
含む薄膜であり、 前記記録膜に含まれるCrの含有割合が、記録膜中のT
oおよびCrの合計原子数に対して、0.1〜40原子
%の範囲にあり、前記記録膜に含まれるCの含有割合が
、記録膜中のTe,CrおよびCの合計原子数に対して
、5〜40原子%の範囲にあることを特徴としている。
このような本発明に係る光記録媒体によれば、Teを主
成分とする記録膜にCrSCおよびHを含有させるよう
にしているので、記録膜の耐酸化性が向上し、光記録媒
体の長寿命化が期待できる。
しかも、本発明では、Cの含有量を、記録膜の全原子数
または記録膜中のTe,CrおよびCの合{1原子数に
対して、5〜40原子%の範囲にしてあるため、特に高
温高湿下での耐酸化性を著しく向上させることができる
。また、本発明で、記録膜中におけるCrの含有量を、
記録膜の全原子数または記録膜中のTeおよびCrの合
計原子数に対して、0.1〜40原子%、特に0,5〜
10原子%と、従来に比較して低い値に設定すると、従
来のCr含有量が多いTO膜に比較して優れた記録感度
を有することになる。
また、前記目的を達成するために、本発明に係る光記録
媒体の製造方法は、前述した記録膜を前記基板上に戊膜
した後に、この記録膜を熱処理することを特徴としてい
る。
前記熱処理は、70〜300℃の温度で5秒以上行なう
ことが好ましい。
このような本発明に係る光記録媒体の製造方法によれば
、成膜された記録膜を熱処理しているので、記録用エネ
ルギー出力の微小変動によっても記録膜に形成されるビ
ット形状を均一なものとすることができ、記録マージン
が広がると共にC/N比が向上し、また得られる光記録
媒体の記録感度が向上する。
なお本発明において記録マージンが狭いとは記録用エネ
ルギー出力の変動に応じてC/N比が変化することをい
う(以下同様の意味に用いる)。
すなわち記録マージンが狭いとは記録用エネルギー出力
を大きくした際にC/N比の低下がみられ、一定のC/
N比を示す記録用エネルギー出力の範囲が狭いことをい
う。また、C/N比とは、情報再生時における雑音の少
なさを示し、これが高い程良い。
発明の具体的説明 以下、本発明を図面に示す実施例に基づき詳細に説明す
る。
第1図は本発明の一実施例に係る光記録媒体の概略断面
図である。
第1図に示すように、本発明に係る光記録媒体10は、
基板11と、この基板の表面に形成された記録@12と
から構威されている。
基板11としては、たとえばガラスあるいはアルミニウ
ム等の無機材料の他に、ポリメチルメタクリレート、ボ
リカーボネート、ポリカーボネートとポリスチレンのボ
リマーアロイ、たとえばエチレンと1.4,5.8−ジ
メタノーt,2,!1,4.4a.5,8.8a−オク
タヒド口ナフタレン(テトラシク口ドデセン)との共重
合体、エチレンと2−メチル−1.4.5.8−ジメタ
ノ−1.2.3.4.4a,5.8.8a−オクタヒド
ロナフタレン(メチルテトラシク口ドデセン)との共重
合体、エチレンと2−エチル−1.4,5.8−ジメタ
ノ−l,2.3,4,4a.5,8.8a−オクタヒド
ロナフタレンとの共重合体などの米国特許第46147
78号明細書に示されるような非晶質ポリオレフィン、
ポリ4ーメチル−1−ベンテン、エボキシ樹脂、ポリエ
ーテルサルフオン、ポリサルフオン、ポリエーテルイミ
ド、エチレン・テトラシクロドデセン共重合体等の有機
材料を用いることができる。この基板11の厚みは、記
録媒体10全体に適度な剛性を付与するのに十分な厚さ
であれば良く、好ましくは0 .  5 〜2 .  
5 mm ,特に好ましくは1〜1.5關程度である。
本発明に係る記録膜12は、Teを主成分としてCr、
CおよびHを少なくとも含む薄膜であり、Te以外の低
融点元素、ないしはその他の成分を含んでも良い。紀録
膜12中に含ませることが可能なTe以外の元素として
は、TI,Mn..NiZr,Nb,TasAfiSP
tSSm,  BiIn.Se,Pb.CO% S[ 
  Pd,Sn,Zn等が例示される。
このような記録膜12に含まれるCrの含有割合は、記
録膜中に含まれる全原子数に対して、0.1〜40原子
%、好ましくは0.5〜10原子%、特に好ましくは1
〜4原子%の範囲にあるか、または記録膜中のTeおよ
びCrの合計原子数に対してのCrの含有割合が、0,
1〜6o原子%、好ましくは0.5〜15原子%,,特
に好ましくは1〜6原子%の範囲にあることが好ましい
このような範囲でCrを含ませることによって、記録膜
12の耐酸化性を向上させるにもかかわらず、記録感度
が低下せず、場合によっては記録感度を向上させること
ができるからである。
また、記録膜12中のCの含有量は、記録膜の寿命及び
記録感度の向上の点から、記録膜全体の原子数に対し、
5〜40原子%、好ましくは5〜20原子%、さらに好
ましくは5〜10原子%または記録膜中のTe,Crお
よびCの合計原子数に対して、5〜40原子%、好まし
くは5〜20原子%、さらに好ましくは5〜10原子%
であることが望ましい。このような範囲でCを含有させ
ることにより、記録感度および記録マージンをそれ程低
下させずに、特に高温高湿下での耐酸化性を向上させる
ことができる。
また、記録膜12中のHの含有量は、寿命等の点から全
体に対して5〜40原子%好ましくは5〜25原子%で
あることが望ましい。なお、紀録膜12中に含まれる各
元素の含有量は、本発明においては金属元素(To,C
rなど)についてはICP発光分析注(誘導結合型プラ
ズマ発光分析法)によって、またCについてはX線光電
子分光法(XPS)、(ESCA) 、Hについては有
機元素分析法によって測定される。
上記のような組成を有する記録膜12に情報を書込むに
は、記録すべき情報に応じて変調(オン●オフ)された
レーザビーム等のエネルギービームを該記録18112
に照射することにより、その照1.1部分にビットを形
成すればよい。このピッ1・は、穴や凹部等のような物
理的変化部であっても良いし、屈折率や反射率等の光学
的特性を変化させた光学特性変化部であっても良い。
このような記録II!I12の膜厚は、十分な光反射率
を得る程度に厚く、かつ感度を損なわない程度に薄いこ
とが必要である。具体的には、記録膜12に穴などの物
理的変化部を形成する場合には、紀録膜の膜厚は100
λ〜1μm好ましくは100〜5000入さらに好まし
くは150〜500λ程度である。また記録@12に反
射率または屈折率などの光学的特性変化部を形成する場
合には、記録膜の膜厚は100λ〜1μm好ましくは1
00〜5000人さら1こ好ましくは200〜2000
λ程度である。
このような記録膜12を基板11の表面に威膜するには
、たとえば次のようにして行なうことができる。
まず、TeおよびCrをそれぞれ別々のターゲットとし
て、もしくはTe−Cr合金をターゲットとし、Cおよ
びHを含む有機ガス、たとえばCH  やC2H2ガス
と、Arガスとの混合ガス4 中で、マグネトロンスパッタリング法により、基板11
,上に、CおよびHを含むTe−Cr合金薄膜から成る
紀録膜12を成膜する。また、スパッタリング法を用い
ることなく、CH4とTe−Cr合金の蒸気とをプラズ
マ状にして基板にCおよびHを含むTe−Cr合金薄膜
からなる記録膜12を成膜することも可能である。また
、気相成長またはプラズマ気相成長によっても、同様の
記録膜12を形戊することが可能である。さらに他の方
法としてTeSCr,C,H原子の一部または全部をイ
オン化してビーム状として基板上に積もらせるようにし
てもよい。
このようなCおよびHを含むTe−Cr合金薄膜から成
る記録膜12中のTeおよびCrの含有原子数比は、T
eとCrとを同時スパッタする際には、それぞれの印加
電圧によって、合金ターゲットを用いる場合には合金組
成によって自由に制御される。また、Te−Cr合金薄
膜から成る記録膜12中のCおよびHの含有量は、CH
4とArとの混合比および印加高周波電力により自由に
制御できる。この場合、膜が化学的に最も安定するHの
含有量はCの含有量によって決まる。ここでは膜中に水
素ガス(H2)が発生するほど多量に含有させない限り
、H含有量は任意に選ぶことができる。さらに膜厚はス
パッタリング時間に比例するので、自由に制御できる。
このようにして形成されるCおよびHを含有するTe−
Cr合金薄膜から成る記録膜12における反射率あるい
は消衰係数などの光学特性は、CとHとの含有量によっ
て異なり、情報記録用とじて利用するには、上記のよう
な光学特性に応じて膜厚が決定される。
なお、記録膜を成膜する際に薄膜製造装置内に導入され
る炭化水素としては、前述のメタンやアセチレンの他に
エタンなども用いられるがメタンが最も好ましい。この
ような炭化水素は、通常、不活性ガスとともに薄膜製造
装置内に導入されるが、この際用いられる不活性ガスと
し゜Cは、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリブトンな
どが挙げられるが、このうち特にアルゴンが好ましい。
上記のような条件で形成した記録膜12は、Toなどの
低融点金属単体で形成した膜に比べて著しく耐酸化性お
よび記録感度が向上している。
たとえば、Cr.CおよびHを含有するTe記録膜では
、70℃、85%RH(相対湿度)の条件下で100時
間経過後の反射率の変化は、Crの含有量が多い程少な
く、To単独の記録膜に比較して、本発明に係る記録膜
の耐酸化性が向上していることが実験により確認された
また、たとえば本発明に係る記録膜によれば、記録用エ
ネルギー出力が比較的小さ<、記録感度が向上している
ことが実験により確認された。
さらに、第2図に示すように、本発明に係る光記録媒体
(図中、曲線A)は、従来のCおよびHを含むTe膜を
有する光記録媒体(図中、IIII線B)に比較して、
記録用エネルギー出力の微小変動Vに対してC/N比が
ほとんど変化せず、記録マージンが広いことが確認され
た。
さらにまた、第3図に示すように、本発明に係る光記録
媒体(図中、曲線A)は、従来のCおよびHを含むTe
膜を有する光記録媒体(図中、曲線B)に比較して、反
射率の経時的変化がほとんどなく、耐久性が向上するこ
とも確認された。このことは表2からも明らかである。
また本発明では、上述したように基板11上に記録膜1
2を成膜した後、必要に応じて、この記録膜12または
紀録膜12と基板11を、不活性ガス、還元性ガス、も
しくは酸素を含んだガス雰囲気中で、熱処理することも
できる。熱処理温度は、紀録膜中に含まれるTeの融点
以下であることが必要であり、好ましくは70〜300
℃特に90〜150℃の温度範囲が良い。また熱処理時
間は好ましくは5秒以上、特に好ましくは5秒〜10時
間、最も好ましくは5分〜2時間である。
このように、記録II!12を基板11上に形成した後
に記録膜12または記録膜12と基板11を熱処理する
ことで、紀録膜における記録感度が向上すると共に、記
録マージンが広がる。
なお、本発明は、第1図に示す実施例に限定されず、本
発明の範囲内で種々に改変することができる。
たとえば、第4図に示すように、基板11と記録膜12
この間に、下地層13を積層させるようにしてもよい。
下地層13としては、たとえばフッ化マグネシウム(M
g F2)などからなるフッ化物膜、酸化ケイ素(S1
 0  , Sl O)も2 しくは窒化ケイ素(Sl 3N,)などからなるケイ素
化合物膜、Ti  NI  Cr,ANまたはN 1−
C rなどからなる金属薄膜、ポリテトラフルオ口エチ
レン(PTFE)薄膜などのフッ素置換の炭化水素化合
物および/またはそのボリマーの薄膜、Cr−C−H薄
膜(Cr,CおよびHを含む膜)などが用いられる。下
地層13の膜厚は、その材質によっても異なるが、一般
に、10〜1000大、好ましくは50〜500人であ
る。
このような膜厚に設定することで、透明性を維持するこ
とができると共に、下地層14としての種々の特性を発
褌することができる。
このような下地層13を基板11の表面に形成するには
、記録層12を形成する場合と同様に、マグネトロンス
パッタリング法、気相戊長法、プラズマ気相成長法、蒸
着法またはスビンコ−1・法などの塗布によって行なえ
ばよい。
このような下地層13を、基板11と記録膜12との間
に設ければ、記録感度がさらに向上し、場合によっては
記録マージンもさらに広がることになる。
また、本発明によれば、第1図または第4図に示す光記
録媒体10における記録膜12の表面に表面層を形成す
るようにしてもよい。表面層を形成する材質としては、
記録膜の元素、St、T1等の酸化物、窒化物、金属な
どが用いられる。表面層の膜厚は、その材質によっても
異なるが、5〜100大、好ましくは10〜50大であ
る。
発明の効果 本発明では、Teを主成分とする記録膜にCr,Cおよ
びHを含有させるようにしているので、記録膜の耐酸化
性ないし耐久性が向上し、光記録媒体の長寿命化が期待
できる。しかも、本発明では、Cの含有量を、紀録膜を
構成する全原子数または記録膜中のTo、CrおよびC
の合計原子数に対して、5〜40原子%の範囲にしてあ
るため、特に高温高湿下での耐酸化性を著しく向上させ
ることができる。特に記録膜中におけるCrの含有量を
、記録膜を構成する全原子数に対して0.1〜40原子
%、特に0.1〜10原子%または記録膜中のTeおよ
びCrの合計原子数に対して、0.1〜60原子%、特
に0.1〜15原子%と従来に比較して低い値に設定す
ると優れた記録感度が得られる。
また、本発明に係る光記録媒体の製造方法によれば、記
録膜の成膜後に熱処理するようにしているので、記録膜
に形成されるビット形状を均一かつ小さなものとするこ
とができ、記録用エネルギー出力の範囲を広くとれ(記
録マージンが広がる)、また得られる光記録媒体の記録
感度が向上する等の優れた効果を奏する。
[実施例] 以下、本発明をさらに具体的な実施例に基づき説明する
が、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
実施例1 真空容器を排気後、ArガスおよびCH4ガスを導入し
、内部圧力を6 X 1 0””’Tnrrと(7た(
 A r / C H 4 − 2 / 8 :ガス流
量比)。次に、ToおよびCrをターゲットとし、同時
スバッタを行なった。その際、各々のターゲットに与え
る電圧を制御し、かつスバッタ時間を制御することによ
りTe53Cr2C15H3oの組戊の記録膜を膜厚2
50入で非品質ポリオレフィン基板上に得た。
実施例2 ガス流量比をA r / C H i, − 8 / 
2とした以外は、実施例1と同様にしてT (3 go
 C r 3C e H t t、膜厚240大の記録
膜を非晶質ポリオレフィン基板上に得た。
実施例3 ガス流量比をAr /CH,−8/2とした以外は、実
施例1と同様にしてT +3 82C r x C e
 H tt、膜厚220大の記録膜を非晶質ポリオレフ
ィン基板上に得た。
比較例1 ガス流量比をA r / C H 4 − 9 / 1
とし、T oのターゲットを用いて実施例1と同様にし
てTo  C  H  ,膜厚250大の記録膜を非晶
質8947 ポリオレフィン基板上に得た。
参考例1 導入するガスをArのみとし実施例1と同様にしてTe
  Cr  、膜厚250大の記録膜を非晶973 質ポリオレフィン基板上に得た。
実施例1〜3の記録媒体(記録膜)を各々100℃の温
度でN2雰囲気下で20分間熱処理を施した。
参考例2 ガス流量比をA r / C H i, − 9 / 
1とした以外は、実施例1と同様にしてTe 88Cr
 ,C,H7、膜厚220大の記録膜を非品質ポリオレ
フィン基板上に得て、その記録媒体(記録膜)を実施例
4〜6と同様にして熱処理を施した。
[試験結果] (1)1800r叩でディスクを回転させ3.7Mll
zの周波数でレーザー光を照射し、記録特性を調べた。
ここでC/Nmaxとはレーザーバワーを変えた際のC
/N比の最大値を示す。記録感度はC/N>C/N I
laxXO.9となるレーザーバワーの最小値を表わし
、マージンとはC/N>C/Nmax X0.9となる
レーザーパワーの範囲を表わす。結果を表1に示す。
表1 (2)温度70℃、相対湿度85%の環境下に500時
間放置した後の反射f$Rを当初の反射率Roと比較し
た場合の試験結果を表2に示す。
表 2
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る光記録媒体の概略断面
図、第2,3図は本発明に係る光記録媒体と従来の光記
録媒体との作用効果上の相違を示すグラフ、第4図は本
発明の他の実施例に係る光記録媒体の概略断面図である

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)基板と、この基板上に形成された記録膜とからなり
    、この記録膜にエネルギービームを照射することにより
    、この記録膜にピットを形成して情報を記録するように
    した光記録媒体において、前記記録膜は、Teを主成分
    としてCr、CおよびHを含む薄膜であり、前記記録膜
    に含まれるCrおよびCの含有割合が、記録膜を構成す
    る全原子数に対して、Crについては0.1〜40原子
    %の範囲にあり、Cについては5〜40原子%の範囲に
    あることを特徴とする光記録媒体。 2)基板と、この基板上に形成された記録膜とからなり
    、この記録膜にエネルギービームを照射することにより
    、この記録膜にピットを形成して情報を記録するように
    した光記録媒体において、前記記録膜は、Teを主成分
    としてCr、CおよびHを含む薄膜であり、前記記録膜
    に含まれるCrの含有割合が、記録膜中のTeおよびC
    rの合計原子数に対して、0.1〜60原子%の範囲に
    あり、前記記録膜に含まれるCの含有割合が、記録膜中
    のTe、CrおよびCの合計原子数に対して、5〜40
    原子%の範囲にあることを特徴とする光記録媒体。 3)請求項第1項または第2項に記載の記録膜を前記基
    板上に成膜した後に、この記録膜を熱処理することを特
    徴とする光記録媒体の製造方法。 4)前記熱処理は、70〜300℃の温度で5秒以上行
    なうことを特徴とする請求項第3項に記載の光記録媒体
    の製造方法。
JP1102937A 1988-04-22 1989-04-22 光記録媒体およびその製造方法 Pending JPH0355293A (ja)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63-99384 1988-04-22
JP9938488 1988-04-22
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