JPH0355524Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0355524Y2 JPH0355524Y2 JP1986032635U JP3263586U JPH0355524Y2 JP H0355524 Y2 JPH0355524 Y2 JP H0355524Y2 JP 1986032635 U JP1986032635 U JP 1986032635U JP 3263586 U JP3263586 U JP 3263586U JP H0355524 Y2 JPH0355524 Y2 JP H0355524Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guide rail
- narrow
- lead
- wide
- guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この考案はICテスト装置或はICの製造装置等
に用いられるIC用ガイドレールに関する。
に用いられるIC用ガイドレールに関する。
「考案の背景」
デイアルライン形ICはIC本体の両側にリード
が導出され、このリードが90°折り曲げられて二
列に整列された形状を有する。このリードの導出
構造はレールに沿つてICを流すのに便利な構造
となつている。このため一般にデイアルライン形
ICを試験するICテスト装置ではICをガイドレー
ルに沿わせて搬送し、テスト部に送ること及びテ
ストの結果に応じて良品と不良品に仕分けを行な
つている。
が導出され、このリードが90°折り曲げられて二
列に整列された形状を有する。このリードの導出
構造はレールに沿つてICを流すのに便利な構造
となつている。このため一般にデイアルライン形
ICを試験するICテスト装置ではICをガイドレー
ルに沿わせて搬送し、テスト部に送ること及びテ
ストの結果に応じて良品と不良品に仕分けを行な
つている。
ところでICにはリードの対向間隔の幅が300ミ
ル、400ミル、600ミル、750ミルのように各種の
寸法の規格がある。これら各種の規格が存在する
ため従来より複数の規格のICをガイドする複合
ガイドレールが用いられている。
ル、400ミル、600ミル、750ミルのように各種の
寸法の規格がある。これら各種の規格が存在する
ため従来より複数の規格のICをガイドする複合
ガイドレールが用いられている。
「従来技術」
第3図に従来の複合ガイドレールを示す。図中
1は幅狭のIC10をガイドする第1ガイドレー
ル、2は幅広のIC20をガイドする第2ガイド
レールを示す。
1は幅狭のIC10をガイドする第1ガイドレー
ル、2は幅広のIC20をガイドする第2ガイド
レールを示す。
第1ガイドレール1はIC10及び20の腹部
を滑走させる滑走面を兼務し、中央に溝3を形成
し摩擦抵抗を低減している。
を滑走させる滑走面を兼務し、中央に溝3を形成
し摩擦抵抗を低減している。
第1ガイドレール1の上端両側に突条1Aを突
出形成し、この突条1Aによつて幅狭のIC10
のリード10Aの内側の面と対接させ、幅狭IC
10をガイドする。
出形成し、この突条1Aによつて幅狭のIC10
のリード10Aの内側の面と対接させ、幅狭IC
10をガイドする。
第2ガイドレール2は第1ガイドレール1の外
側に設けられ、外側に向つて突出した突条2Aが
幅広IC20のリード20Aの内側の面と対接し
幅広IC20をガイドする。
側に設けられ、外側に向つて突出した突条2Aが
幅広IC20のリード20Aの内側の面と対接し
幅広IC20をガイドする。
「考案が解決しようとする問題点」
IC10及び20のリード10A及び20Aは
第4図に示すように基部側が幅広の形状とされ、
先端側は細い形状とされる。幅広の部分は強度が
強いため折曲げた形状を精度よく保つことができ
る。これに対しリード10A及び20Aの幅が細
い部分は強度が比較的弱いため外力が加わると第
6図に点線で示すように折曲り易い。
第4図に示すように基部側が幅広の形状とされ、
先端側は細い形状とされる。幅広の部分は強度が
強いため折曲げた形状を精度よく保つことができ
る。これに対しリード10A及び20Aの幅が細
い部分は強度が比較的弱いため外力が加わると第
6図に点線で示すように折曲り易い。
幅狭IC10のリード10Aが内側に折曲つた
状態で与えられた場合は第1ガイドレール1に形
成した突条1Aの突出量を大きく選定し逃げを形
成しておくことによりリード10Aの先端が側壁
1Bに接触することを防止できる。
状態で与えられた場合は第1ガイドレール1に形
成した突条1Aの突出量を大きく選定し逃げを形
成しておくことによりリード10Aの先端が側壁
1Bに接触することを防止できる。
これに対しリード10Aが外側に折曲がつた場
合はリード10Aの先端が第2ガイドレール2の
内側に接触し、引掛り事故が起きる欠点がある。
特に幅狭IC10が400ミル、幅広IC20が600ミ
ルのように互に幅の寸法が近接している場合には
第1レール1と第2レール2との間の対向隔Gを
大きく採れない欠点がある。このために従来は第
2ガイドレール2の厚みを薄くし、可及的にIC
10のリード10Aの各先端が第2ガイドレール
2の内側面に接触し難い構造を持つている。
合はリード10Aの先端が第2ガイドレール2の
内側に接触し、引掛り事故が起きる欠点がある。
特に幅狭IC10が400ミル、幅広IC20が600ミ
ルのように互に幅の寸法が近接している場合には
第1レール1と第2レール2との間の対向隔Gを
大きく採れない欠点がある。このために従来は第
2ガイドレール2の厚みを薄くし、可及的にIC
10のリード10Aの各先端が第2ガイドレール
2の内側面に接触し難い構造を持つている。
一方ガイドレールの継目部分においてICが引
掛らないようにするには継目部分の切断面に面取
りを施す必要がある。第6図には第1ガイドレー
ル1の端部に面取ICを形成した場合を示す。
掛らないようにするには継目部分の切断面に面取
りを施す必要がある。第6図には第1ガイドレー
ル1の端部に面取ICを形成した場合を示す。
第2ガイドレール2にも面取を形成する必要が
あるが第2ガイドレール2は先に説明した理由に
より肉厚が約0.8mmメートル程度と極めて薄いた
め面取を形成することができない欠点がある。ま
た第2ガイドレール2の肉厚が薄く、この第2ガ
イドレールに幅狭IC10のリード10Aがしば
しば接触するため第2ガイドレール2の磨耗が速
く耐久性が悪い欠点もある。
あるが第2ガイドレール2は先に説明した理由に
より肉厚が約0.8mmメートル程度と極めて薄いた
め面取を形成することができない欠点がある。ま
た第2ガイドレール2の肉厚が薄く、この第2ガ
イドレールに幅狭IC10のリード10Aがしば
しば接触するため第2ガイドレール2の磨耗が速
く耐久性が悪い欠点もある。
「問題点を解決するための手段」
この考案では幅狭ICは従来と同じ構造の突条
でガイドする第1ガイドレールを設けると共に幅
広ICはリードの外側の基部と対接するガイドレ
ールの突条によつてガイドする構造としたもので
ある。
でガイドする第1ガイドレールを設けると共に幅
広ICはリードの外側の基部と対接するガイドレ
ールの突条によつてガイドする構造としたもので
ある。
この考案の構造によれば上端の内側に形成され
た突条を有する第2ガイドレールは幅広ICのリ
ードの外側に配置される。この結果第2ガイドレ
ールは幅狭ICのリードから大きく離れた位置設
けられる。よつて第2ガイドレールに幅狭ICの
リードが接触するおそれがなくなるため、第2ガ
イドレールの肉厚を大きく採ることができる。従
つて第2ガイドレールにも面取を形成することが
でき引掛り事故が起き難いICガイドレールを提
供できる。また第2ガイドレールの肉厚を大きく
採れるから耐久性が向上し、寿命が長いICガイ
ドレールを提供できる。
た突条を有する第2ガイドレールは幅広ICのリ
ードの外側に配置される。この結果第2ガイドレ
ールは幅狭ICのリードから大きく離れた位置設
けられる。よつて第2ガイドレールに幅狭ICの
リードが接触するおそれがなくなるため、第2ガ
イドレールの肉厚を大きく採ることができる。従
つて第2ガイドレールにも面取を形成することが
でき引掛り事故が起き難いICガイドレールを提
供できる。また第2ガイドレールの肉厚を大きく
採れるから耐久性が向上し、寿命が長いICガイ
ドレールを提供できる。
「実施例」
第1図にこの考案の一実施例を示す。図中1は
第1ガイドレール、2は第2ガイドレールを示
す。
第1ガイドレール、2は第2ガイドレールを示
す。
第1ガイドレール1は幅狭IC10及び幅広IC
20の腹面を滑走させる滑走面と、幅狭IC10
のガイドを行なう。幅狭IC10のガイド方法は
従来と同じように第1ガイドレール1の上端の両
側に突条1Aを形成し、この突条1Aが幅狭IC
10のリード10Aの内側の面と対接しガイドす
る。突条1Aのリード10Aに対する対接位置は
リード10Aの幅広の部分と対接させる。
20の腹面を滑走させる滑走面と、幅狭IC10
のガイドを行なう。幅狭IC10のガイド方法は
従来と同じように第1ガイドレール1の上端の両
側に突条1Aを形成し、この突条1Aが幅狭IC
10のリード10Aの内側の面と対接しガイドす
る。突条1Aのリード10Aに対する対接位置は
リード10Aの幅広の部分と対接させる。
この考案においては第2ガイドレール2を幅広
IC20のリード20Aの外側に設け、幅広IC2
0のリード20Aの基部と対接させる。このため
には第2ガイドレール2は第1ガイドレール1よ
り上方に突出させ、その先端から内側に向つて突
条2Aを形成し、この突条2Aを幅広IC20の
リード20Aの基部に対接させる。
IC20のリード20Aの外側に設け、幅広IC2
0のリード20Aの基部と対接させる。このため
には第2ガイドレール2は第1ガイドレール1よ
り上方に突出させ、その先端から内側に向つて突
条2Aを形成し、この突条2Aを幅広IC20の
リード20Aの基部に対接させる。
このような構造にすることにより第2ガイドレ
ール2は第1ガイドレール1の両側から大きく離
れた位置に設けることができる。
ール2は第1ガイドレール1の両側から大きく離
れた位置に設けることができる。
この結果幅狭IC10のリード10Aが多少大
きく外側に折曲つていたとしてもリード10Aが
第2ガイドレール2に接触することはない。従つ
て幅狭IC10の引掛り事故が起きる率を低くで
きる。
きく外側に折曲つていたとしてもリード10Aが
第2ガイドレール2に接触することはない。従つ
て幅狭IC10の引掛り事故が起きる率を低くで
きる。
更にこの考案によれば第2ガイドレール2は幅
広IC20のリード20Aの外側に設ける構造の
ため第2ガイドレールの肉厚は制限を受けること
なく充分厚い肉厚に採ることができる。よつて第
2図に示すように第1ガイドレール1と同様にガ
イドレールの継目部分において第2ガイドレール
にも面取2Cを形成することができる。この結果
幅広IC20も引掛り事故の発生率を低くするこ
とができる。また第2ガイドレール2の肉厚を厚
く採ることができるから仮に幅広IC20のリー
ド20Aの先端が第2ガイドレール2に摺接した
としても耐久性が高いため寿命の長いICガイド
レールを提供することができる。
広IC20のリード20Aの外側に設ける構造の
ため第2ガイドレールの肉厚は制限を受けること
なく充分厚い肉厚に採ることができる。よつて第
2図に示すように第1ガイドレール1と同様にガ
イドレールの継目部分において第2ガイドレール
にも面取2Cを形成することができる。この結果
幅広IC20も引掛り事故の発生率を低くするこ
とができる。また第2ガイドレール2の肉厚を厚
く採ることができるから仮に幅広IC20のリー
ド20Aの先端が第2ガイドレール2に摺接した
としても耐久性が高いため寿命の長いICガイド
レールを提供することができる。
また突条1A及び2Aの双方の突出量には制限
がないため大きく突出させることができる。つま
りリード10A及び20Aの折曲りが多少大きく
ても逃げを大きく採ることができるためレール1
及び2の側面に接触する率を下げることができ
る。この点でも引掛り事故が起き難いICガイド
レールを提供できる。
がないため大きく突出させることができる。つま
りリード10A及び20Aの折曲りが多少大きく
ても逃げを大きく採ることができるためレール1
及び2の側面に接触する率を下げることができ
る。この点でも引掛り事故が起き難いICガイド
レールを提供できる。
尚上述では幅狭IC10を400ミル、幅広IC20
を600ミルの規格として説明したがこの関係300ミ
ルと400ミルの規格に適用することもできる。
を600ミルの規格として説明したがこの関係300ミ
ルと400ミルの規格に適用することもできる。
「考案の作用効果」
以上説明したようにこの考案によれば少なくと
も幅狭ICと幅広ICの二種類の規格のICをガイド
するICガイドレールにおいて幅広ICをガイドす
る第2ガイドレール2をそのICのリードの外側
に配置し、リードの外側の基部と対接させてガイ
ドする構造としたから第2ガイドレール2は肉厚
に制限を受けることなく自由に肉厚を選定するこ
とができる。この結果第2ガイドレール2の肉厚
を大きく採ることができ第2ガイドレールにその
継目部分に面取を形成することができる。よつて
ICの引掛り事故が起き難いICガイドレールを提
供できる。
も幅狭ICと幅広ICの二種類の規格のICをガイド
するICガイドレールにおいて幅広ICをガイドす
る第2ガイドレール2をそのICのリードの外側
に配置し、リードの外側の基部と対接させてガイ
ドする構造としたから第2ガイドレール2は肉厚
に制限を受けることなく自由に肉厚を選定するこ
とができる。この結果第2ガイドレール2の肉厚
を大きく採ることができ第2ガイドレールにその
継目部分に面取を形成することができる。よつて
ICの引掛り事故が起き難いICガイドレールを提
供できる。
また第2ガイドレールの肉厚を大きく採ること
ができるから耐久性が向上し、寿命の長いICガ
イドレールを提供できる。
ができるから耐久性が向上し、寿命の長いICガ
イドレールを提供できる。
第1図はこの考案の一実施例を説明するための
断面図、第2図はその平面図、第3図は従来の
ICガイドレールの構造を説明するための断面図、
第4図はデイアルライン形ICの構造を説明する
ための側面図、第5図はデイアルライン形ICの
リードの折曲り状況を説明するための正面図、第
6図は第3図に示した従来のICガイドレールの
継目部分の平面図である。 1……第1ガイドレール、2……第2ガイドレ
ール、1A,2A……突条、1B,2B……面
取、10……幅狭IC、20……幅広IC、10A,
20A……リード。
断面図、第2図はその平面図、第3図は従来の
ICガイドレールの構造を説明するための断面図、
第4図はデイアルライン形ICの構造を説明する
ための側面図、第5図はデイアルライン形ICの
リードの折曲り状況を説明するための正面図、第
6図は第3図に示した従来のICガイドレールの
継目部分の平面図である。 1……第1ガイドレール、2……第2ガイドレ
ール、1A,2A……突条、1B,2B……面
取、10……幅狭IC、20……幅広IC、10A,
20A……リード。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 A 互に並列に所定の間隔で設けられ、ほゞ同一
面とされた上端部の外側に突出形成された突条
を有し、これらの突条が幅狭ICのリード内側
の基部近傍部分をガイドする第1ガイドレール
と、 B この第1ガイドレールより上方に突出させ、
その両側に並行して設けられほゞ同一面とされ
た上端の内側にそれぞれ突出形成された突条を
有し、これらの突条が幅広ICのリードの外側
の基部近傍部分をそれぞれガイドする第2ガイ
ドレールと、 から成るIC用ガイドレール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986032635U JPH0355524Y2 (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986032635U JPH0355524Y2 (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62144814U JPS62144814U (ja) | 1987-09-12 |
| JPH0355524Y2 true JPH0355524Y2 (ja) | 1991-12-11 |
Family
ID=30839501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986032635U Expired JPH0355524Y2 (ja) | 1986-03-07 | 1986-03-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0355524Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59117150U (ja) * | 1983-01-26 | 1984-08-07 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置のic滑走レ−ル |
-
1986
- 1986-03-07 JP JP1986032635U patent/JPH0355524Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62144814U (ja) | 1987-09-12 |
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