JPH0355554A - 大面積回路素子の露光方法 - Google Patents

大面積回路素子の露光方法

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Publication number
JPH0355554A
JPH0355554A JP1193032A JP19303289A JPH0355554A JP H0355554 A JPH0355554 A JP H0355554A JP 1193032 A JP1193032 A JP 1193032A JP 19303289 A JP19303289 A JP 19303289A JP H0355554 A JPH0355554 A JP H0355554A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
area
exposed
exposure
driving circuit
lens field
Prior art date
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Pending
Application number
JP1193032A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Hayama
浩 葉山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0355554A publication Critical patent/JPH0355554A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70425Imaging strategies, e.g. for increasing throughput or resolution, printing product fields larger than the image field or compensating lithography- or non-lithography errors, e.g. proximity correction, mix-and-match, stitching or double patterning
    • G03F7/70458Mix-and-match, i.e. multiple exposures of the same area using a similar type of exposure apparatus, e.g. multiple exposures using a UV apparatus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、大面積回路素子、特に、周辺駆動回路部と大
面積画素部とを一体形戒した映像表示装置用大面積回路
素子などを製造する際に用いられる縮小投影型の露光方
法に関するものである。
〔従来の技術〕
薄型映像表示装置などへの応用を目的として、大面積回
路素子の研究開発が盛んである.従来、大面積回路素子
を製造する際には、大面積基板露光用に開発されたレン
ズ・フィールド面積が広いステップ・アンド・リピート
縮小投影型露光機が用いられてきた.しかし、縮小投影
型露光機ではレンズ・フィールド面積を広くすると露光
パターンの解像度が低下する性質を有している.そのた
め、周辺駆動回路部と大面積画素部とを一体形戒した映
像表示装置用高性能大面積回路素子などの製造に必要な
、高解像度と広いレンズ・フィールド面積を現在のレン
ズ加工技術や光源技術を用いて両立させることは不可能
である.周辺駆動回路部と大面積画素部とを一体形戒し
た映像表示装置用高性能大面積回路素子は、その画素部
では高いパターン解像度は必要ないもののその面積が広
く、反対に、その周辺駆動回路部では面積は少ないもの
の高い解像度が必要であるという相反した性質を持って
いる.従来、そのような大面積回路素子のフォトレジス
ト露光工程には、周辺駆動回路の形戒に十分な高解像度
を持った、レンズ・フィールド面積の小さい縮小投影型
露光装置を用いて、分割露光するという露光方法が用い
られてきた。第2図は従来例の縮小投影型露光法を用い
て、周辺駆動回路部1と大面積画素部とを一体形戒した
映像表示装置用高性能大面積回路素子3を露光した例を
示している.1は周辺駆動回路部、2は画素アレイ部、
3は映像表示装置用大面積回路素子、4はレンズ・フィ
ールド面積400−・パターン解像度1.5μmの分割
露光領域で”ある.例えば回路全体の面積が400−で
、その10%が周辺駆動回路部1、90%が画素アレイ
部2であるとし、一回の分割露光に0.5秒かかる場合
には、基板全体を露光するには50秒かかる。
〔発明が解決しようとする課題〕
そのために、第2図に示された従来の露光方法では大面
積回路素子のフォトレジスト露光工程に長時間を要して
いた。
本発明は、周辺駆動回路部と大面積画素部とを一体形成
した映像表示装置用高性能大面積回路素子などのフォト
レジスト露光工程を短時間で行なうことを可能にする縮
小投影型露光方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記した問題点を解決するため、本発明では、画素アレ
イ部と周辺駆動回路部とを異なった光学系で露光するこ
とを特徴とする大面積回路素子の縮小投影型露光方法を
用いる。すなわち、高解像度を必要とする領域はレンズ
・フィールド面積が小さくても解像度の高い光学系で露
光し、高解像度を必要としない領域は解像度は劣るがレ
ンズフィールド面積の広い光学系で露光する方法である
〔実施例〕
第1図は本発明による縮小投影型露光方法の実施例を示
したものである.1は周辺駆動回路部、2は画素アレイ
部、3は映像表示装置用大面積回路素子、4は第1の光
学系を用いて露光したレンズ・フィールド面積400−
・パターン解像度1.5μmの分割露光領域、5は第2
の光学系を用いて露光したレンズ・フィールド面積64
00一・パターン解像度4μmの分割露光領域である。
図示の如く、高解像度を必要としない画素アレイ部2は
解像度は劣るがレンズ・フィールド面積の広い光学系で
露光し、高解像度が要求される周辺駆動回路部1はレン
ズ・フィールド面積が小さくても解像度の高い光学系で
露光しているので、第2図に示した従来例での計算と同
じ面積の基板を考え、一つの分割露光に要する時間は二
つの露光光学系で同じで0.5秒であるとすると、本実
施例では8秒で面積4 0 0 calの基板全体を露
光できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、周辺駆動回路部と大面積画素部とを一
体形成した映像表示装置用高性能大面積回路素子などを
短時間で露光する事が可能になるから、高価格の縮小投
影型露光装置のスループットをあげることができる。そ
のため、低価格で高性能の大面積回路素子を製造するこ
とが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による大面積回路素子の縮小投影型露光
方法の実施例を示す図、第2図は従来の方法を示す図で
ある。 1・・・周辺駆動回路部、2・・・画素アレイ部、3・
・・映像表示用大面積回路素子、4・・・第1の分割露
光領域、5・・・第2の分割露光領域。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  画素アレイ部と周辺駆動回路部とを異なった光学系で
    露光することを特徴とする大面積回路素子の露光方法。
JP1193032A 1989-07-25 1989-07-25 大面積回路素子の露光方法 Pending JPH0355554A (ja)

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JP1193032A JPH0355554A (ja) 1989-07-25 1989-07-25 大面積回路素子の露光方法

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JPH0355554A true JPH0355554A (ja) 1991-03-11

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JP1193032A Pending JPH0355554A (ja) 1989-07-25 1989-07-25 大面積回路素子の露光方法

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JP (1) JPH0355554A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012147001A (ja) * 2012-03-13 2012-08-02 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012147001A (ja) * 2012-03-13 2012-08-02 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路の製造方法

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