JPH035689B2 - - Google Patents

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JPH035689B2
JPH035689B2 JP57229266A JP22926682A JPH035689B2 JP H035689 B2 JPH035689 B2 JP H035689B2 JP 57229266 A JP57229266 A JP 57229266A JP 22926682 A JP22926682 A JP 22926682A JP H035689 B2 JPH035689 B2 JP H035689B2
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JP
Japan
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capacitor
transistor
circuit
gate
mos capacitor
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JP57229266A
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JPS59123320A (ja
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Hideki Arakawa
Hiromi Kawashima
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Priority to EP83308013A priority patent/EP0113590B1/en
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Publication of JPH035689B2 publication Critical patent/JPH035689B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/28Modifications for introducing a time delay before switching
    • H03K17/284Modifications for introducing a time delay before switching in field effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/023Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of differential amplifiers or comparators, with internal or external positive feedback
    • H03K3/0231Astable circuits

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  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (A) 発明の技術分野 本発明は、タイマ回路、特にMOS集積回路上
のキヤパシタ放電回路にトランジスタを直列に挿
入しておき、当該トランジスタをパルスに対応し
て繰返しオンせしめ、上記キヤパシタの放電を制
御せしめるようにしたタイマ回路を有する集積回
路に関するものである。
(B) 技術の背景の問題点 かかるタイマ回路は例えば以下に説明する様な
装置で必要とされている。即ち現在E2PRMは
消去10ms、書込10msが標準的な時間である。
これをマイコン・システムに組込んだ場合、この
ままではあわせて20ms間CPUは他の仕事をで
きない。またこの仕事をCPUから切りはなすに
は、アドレス、データをラツチする回路等を必要
とし複雑な回路構成となつてしまう。そこで、こ
れらの回路をオンチツプで組込むことにより、マ
イコン・システムは簡単になるとともにコストダ
ウンをはかることができる。これらの回路をオン
チツプに組み込むことはすでに行なわれている
が、問題はこの数10msのタイマである。従来は
5600pF程度の外付キヤパシタが使用されている
が、これでは使いにくいし、そのためのピンが1
本占有される。
また、これらの回路を組み込むにあたつて、機
能の拡張をはかり、自動消去を行ない、Write後
ベリフアイを行なつている。このため1コ1コの
パルスには3〜5msのタイマが必要とされる。
従来、MOS集積回路上で上述の様に遅延回路
やタイマ回路を必要とした場合、一般にはデプレ
ツシヨン・トランジスタとMOSキヤパシタとの
CR時定数による遅延を利用している。しかし、
例えば3msec程度のタイマを構成しようとする
と、W/L=5/500程度のデプレツシヨン・ト
ランジスタとW/L=500/500程度のMOSキヤ
パシタとが必要となり、特にMOSキヤパシタの
占める寸法がきわめて大となる。尚、WはMOS
トランジスタのチヤネル幅、Lはチヤネル長であ
り、単位はμmである。
(C) 発明の目的と構成 本発明は、上記の点を解決すことを目的として
おり、キヤパシタに充電されている電荷をパルス
信号に対応して微小量ずつ放電せしめ得るチヤー
ジポンプ回路により、上記の点を解決することを
目的としている。そしてそのため、本発明のタイ
マ回路は第1のキヤパシタの充電又は放電経路に
直列にMOSトランジスタを接続すると共に、当
該MOSトランジスタのゲートに対して第2のキ
ヤパシタの一端を接続しかつ当該第2のキヤパシ
タの他端に対して繰返しパルスを印加するよう構
成し、 上記パルスが最大のレベルの時において上記ゲ
ートへの印加電圧が上記MOSトランジスタのし
きい値電圧を超えるように、上記第2のキヤパシ
タの容量値と上記MOSトランジスタのゲートの
容量値との関係が設定されてなり、 上記繰返しパルスに応答して上記MOSトラン
ジスタを繰返し導通せしめ、該第1のキヤパシタ
の電位が所定の電位に達するまでの時間を設定時
間とした ことを特徴としている。以下図面を参照しつつ説
明する。
(D) 発明の実施例 第1図Aは本発明に用いるポンプ回路の一実施
例構成、第1図Bは第1図Aの等価回路、第1図
CはクロツクパルスとトランジスタTTのゲート
電圧の関係を示す図、第2図Aは第1図図示のポ
ンプ回路を利用した一実施例タイマ回路、第2図
Bは第2図A図示構成の一部変形回路を説明する
説明図、第3図は第2図Aの動作説明図、第4図
は同じくタイマ回路の他の一実施例、第5図は第
4図の動作説明図を示す。
本発明の場合、上記タイマ回路を構成するに当
つて、MOSキヤパシタに対する例えば充電と放
電との両者の時間を利用して、比較的大きい時間
を作り得るようにし、上記放電を利用するに当つ
て電荷を微小量ずつ放電せしめるポンプ回路を用
いるようにしている。
第1図Aは当該ポンプ回路の一実施例構成を示
しており、図中の符号TTはエンハンスメント・
トランジスタ、TCはMOSキヤパシタ、Vはタイ
マ回路を構成する主MOSキヤパシタの端子電圧、
GNDは接地、Clockは放電用クロツク・パルス
を表わしている。
図示の場合、エンハンスメント・トランジスタ
TTが主MOSキヤパシタの放電回路上に挿入さ
れ、上記トランジスタTTのゲートに対してMOS
キヤパシタTCが接続されている。第1図Aの回
路は第1図Bに示す等価回路であらわされ、クロ
ツクパルスClockとエンハンスメント・トランジ
スタTTのゲート電圧VGは第1図Cの関係にある。
ここでMOSキヤパシタTCを構成するトランジス
タ及びエンハンスメント・トランジスタTTのチ
ヤネル幅をWTC,WTT、チヤネル長をLTC,LTT
ゲート酸化膜の誘電率をεOX、ゲート酸化膜の厚
さをtOXとすると容量CTC,CTTは次式でもとまる。
CTC=εOX・εO・LTC・WTC/tOX …第1式 CTT=εOX・εO・LTT・WTT/tOX …第2式 また、クロツクパルスの電圧がVCCになつた時
のエンハンスメント・トランジスタTTのゲート
電圧VGは第3式であらわされる。
VG=CTC/CTC+CTT・VCC…第3式 従つて、エンハンスメント・トランジスタTT
のしきい値電圧をVthとした時にVG>Vthを満足
する様にMOSキヤパシタTCを構成するトランジ
スタのゲート面積を適当に選ぶことによつて上記
クロツクパルスがVCCレベルになつたときのみ、
エンハンスメント・トランジスタTTの閾値電圧
Vthを超えた電圧を当該トランジスタTTのゲート
に印加せしめることができ、当該印加された期間
のみ上記端子電圧Vを接地する放電回路を形成せ
しめるようにすることができる。即ち、図示しな
い主MOSキヤパシタの電荷を微小量ずつ放電せ
しめることができ、これを用いてタイマ回路を構
成するに当つて上記主MOSキヤパシタの寸法を
小さくすることが可能となる。
第2図Aは、第1図図示のポンプ回路を利用し
た一実施例タイマ回路を示している。図中の符号
T1,T2,T3,T4は夫々トランジスタ、C1は主
MOSキヤパシタ、C2はMOSキヤパシタであつて
第1図図示のMOSキヤパシタTCに対応するも
の、OP1は#1比較回路であつて図示電圧Nc
例えば+3〔V〕以上に達したときLレベルの出
力を発するもの、OP2は#2比較回路であつて図
示の電圧Ncが例えば+1〔V〕以下に達したとき
Lレベルの出力を発するもの、FFはフリツプ・
フロツプ、Nd、Nuは夫々フリツプ・フロツプの
出力、Iovはインバータ回路、Clockはクロツク・
パルスであつて第1図図示のクロツク・パルスに
対応するものを表わしている。なお言うまでもな
く、第2図A図示においてMOSキヤパシタC2
トランジスタT3とが第1図図示のポンプ回路を
構成している。以下第2図Aの動作を第3図に示
す波形図を参照して説明する。
リセツト状態においては、トランジスタT2
オン状態にあり、電圧Ncは0〔V〕、FF出力Nu
Hレベル、そしてトランジスタT1はオン状態に
ある。該リセツト状態の下において計時開始とな
り、スタート入力Reset/StartがLレベルとなつ
て、トランジスタT2がオフされると、トランジ
スタT1からの電流によつて主MOSキヤパシタC1
が充電されはじめる。
電圧Ncの電位が上昇してゆき、3〔V〕を超え
ると比較回路OP1の出力がHレベルからLレベル
へ変化する。即ちFFの出力NdがLレベルからH
レベルに変化しかつ出力NuがHレベルからLレ
ベルに変化する。
これによつて、トランジスタT1はオフされか
つトランジスタT4がオフ状態に切換えられ、主
MOSキヤパシタC1の放電が開始される。即ちト
ランジスタT1がオフされたことによつて、主
MOSキヤパシタC1に対する充電が停止され、一
方例えば所定周期のクロツク・パルスClockが
MOSキヤパシタC2に印加される都度、トランジ
スタT3のゲート電位が一時的に上昇し、トラン
ジスタT3が上記クロツク・パルスの存在期間に
対応して一時的にオンされる。即ち、主MOSキ
ヤパシタC1に充電されている電荷が微小量ずつ
放電されてゆく。
幾回かの放電が繰返されたとき、電圧Ncは1
〔V〕にまで低下してゆく。そして電圧Ncが1
〔V〕に達したとき、比較回路OP2の出力がHレ
ベルからLレベルへ変化する。即ちFFの出力Nd
がHレベルからLレベルに変化しかつ出力Nu
LレベルからHレベルに変化する。これによつて
トランジスタT1がオンされ、主MOSキヤパシタ
C1に対する充電が再び開始されかつトランジス
タT4がオンされてトランジスタT3がオンされる
ことを禁止する。
このようにすることによつて、主MOSキヤパ
シタC1の端子電圧Ncは+3〔V〕から+1〔V〕
の間を繰返すことになり、1周期を3msecとし
ても、主MOSキヤパシタC1の寸法をW/L≒
50/50程度の小さいものとすることができる。
第2図Bは第2図Aに示す鎖線内を変更せしめ
る変形回路を示している。図中の符号は第2図A
と対応しており、FF出力NdがLレベルにある
間、トランジスタT3のゲート電位が上昇しない
ようにトランジスタT4のゲートが制御される点
において変わりはない。
第4図は第2図に対応したタイマ回路の他の一
実施例、第5図はその動作波形図を示している。
図中の符号C1,C2,T2,T3,T4,OP1,OP2
FF,Nd,Nc、Clockは第2図Aに対応してお
り、T5,T6,T7は夫々トランジスタ、C3
MOSキヤパシタ、VPPは電圧を表わしており、本
実施例では19〔V〕とする。またOP1の+端子に
はVPP−3〔V〕=16〔V〕を印加している。
図示トランジスタT5,T6,T7とキヤパシタC3
を含む回路構成は、クロツク・パルスClockに対
応して主MOSキヤパシタC1が例えば電荷△Q1
つ充電されてゆく。そして電圧Ncが16Vを越え
ると図示トランジスタT3,T4とキヤパシタC2
含む回路構成が作動状態になつたとき、主MOS
キヤパシタC1の電荷は△Q2づつ放電されてゆく。
このとき △Q2>△Q1 であるように選ばれており、第2図を参照して説
明したと同様な動作によつてフリツプ・フロツプ
FFの出力NdがLレベルにある間に主MOSキヤ
パシタC1はクロツク・パルスClockに対応して△
Q1づつ充電される。そしてフリツプ・フロツプ
FFの出力NdがHレベルになつてトランジスタT3
が動作する段階になるとき、主MOSキヤパシタ
C1の電荷はクロツク・パルスClockに対応して
(△Q2−△Q1)づつ放電されてゆく。この結果、
主MOSキヤパシタC1の容量が、第2図図示のも
のと同一であるとすれば、第3図図示の場合の繰
返し周期は第2図図示の場合のそれにくらべて十
分大となる。
(E) 発明の効果 以上説明した如く、本発明によれば、例えば3
msec程度のタイマ回路をMOS IC内に構成する
に当つても、主MOSキヤパシタの寸法をW/L
≒50/50以下に選ぶことが可能となる。また本発
明にかかるタイマ回路は、特にEEPROMの書込
み、消去時間を規定する場合や、外部信号を受け
て、演算等の仕事をなし、その間外部との信号の
やりとりをやめ、仕事がすむまで数msec以上か
かる様な集積回路でのタイマ回路として非常に有
効である。
【図面の簡単な説明】
第1図Aは本発明に用いるチヤージポンプの回
路一実施例構成、第1図Bは第1図Aの等価回
路、第1図Cはクロツクパルスとトランジスタの
ゲート電圧の関係を示す図、第2図Aは第1図図
示のポンプ回路を利用した一実施例タイマ回路、
第2図Bは第2図A図示構成の一部変形回路を説
明する説明図、第3図は第2図Aの動作を説明す
るための波形図、第4図はタイマ回路の他の一実
施例、第5図は第4図の動作を説明するための波
形図を示す。 図中、C1は主MOSキヤパシタ、TT(T3),TC
(C2)は放電ポンプ回路を表わしている。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 第1のキヤパシタの充電又は放電経路に直列
    にMOSトランジスタを接続すると共に、当該
    MOSトランジスタのゲートに対して第2のキヤ
    パシタの一端を接続しかつ当該第2のキヤパシタ
    の他端に対して繰返しパルスを印加するよう構成
    し、 上記パルスが最大のレベルの時において上記ゲ
    ートへの印加電圧が上記MOSトランジスタのし
    きい値電圧を超えるように、上記第2のキヤパシ
    タの容量値と上記MOSトランジスタのゲートの
    容量値との関係が設定されてなり、 上記繰返しパルスに応答して上記MOSトラン
    ジスタを繰返し導通せしめ、該第1のキヤパシタ
    の電位が所定の電位に達するまでの時間を設定時
    間とした ことを特徴とするタイマ回路。
JP57229266A 1982-12-29 1982-12-29 タイマ回路 Granted JPS59123320A (ja)

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US06/566,880 US4584494A (en) 1982-12-29 1983-12-29 Semiconductor timer
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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60223321A (ja) * 1984-04-20 1985-11-07 Toshiba Corp タイマ回路
FR2606530A1 (fr) * 1986-11-07 1988-05-13 Eurotechnique Sa Circuit integre pour la memorisation et le traitement d'informations de maniere confidentielle comportant un dispositif anti-fraude
US4764694A (en) * 1987-04-22 1988-08-16 Genrad, Inc. Interpolating time-measurement apparatus
US4812689A (en) * 1987-08-28 1989-03-14 Hypres, Inc. Incremental time delay generator
JPH01137817A (ja) * 1987-11-25 1989-05-30 Toshiba Corp 遅延回路
US4973865A (en) * 1989-12-20 1990-11-27 Vlsi Technology, Inc. Auto-delay gain circuit
JP2678115B2 (ja) * 1992-02-06 1997-11-17 三菱電機株式会社 タイマ回路
JP2669591B2 (ja) * 1992-10-30 1997-10-29 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション データ・ライン・ドライバ
US5457415A (en) * 1992-10-30 1995-10-10 International Business Machines Corporation Charge metering sampling circuit and use thereof in TFT/LCD
GB2289178B (en) * 1993-11-09 1998-05-20 Motorola Inc Circuit and method for generating a delayed output signal
US5627784A (en) * 1995-07-28 1997-05-06 Micron Quantum Devices, Inc. Memory system having non-volatile data storage structure for memory control parameters and method
US5579356A (en) * 1995-07-28 1996-11-26 Micron Quantum Devices, Inc. Timer circuit with programmable decode circuitry
US5629644A (en) * 1995-07-28 1997-05-13 Micron Quantum Devices, Inc. Adjustable timer circuit
DE60039101D1 (de) 2000-03-31 2008-07-17 St Microelectronics Srl Integrierter Generator einer langsamen Spannungsrampe
JP2007074794A (ja) * 2005-09-06 2007-03-22 Rohm Co Ltd 過電流保護回路、負荷駆動装置、モータ駆動装置、電気機器、電源装置
TWI400884B (zh) * 2010-05-28 2013-07-01 Macronix Int Co Ltd 時鐘積體電路
US8922254B2 (en) 2013-01-29 2014-12-30 Macronix International Co., Ltd. Drive circuitry compensated for manufacturing and environmental variation
US9444462B2 (en) 2014-08-13 2016-09-13 Macronix International Co., Ltd. Stabilization of output timing delay
US9419596B2 (en) 2014-09-05 2016-08-16 Macronix International Co., Ltd. Sense amplifier with improved margin
CN113098394B (zh) * 2021-03-31 2025-09-16 英韧科技股份有限公司 振荡器电路

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3150271A (en) * 1960-10-06 1964-09-22 Gen Dynamics Corp Transistor pump circuit with time constant multiplier
US3158757A (en) * 1962-04-23 1964-11-24 Northern Electric Co Long interval timer circuit
US3569842A (en) * 1968-07-29 1971-03-09 Bendix Corp Pulse delay circuit
JPS49137432U (ja) * 1973-03-26 1974-11-26
US3893036A (en) * 1973-07-27 1975-07-01 Tektronix Inc Precision function generator
DE2522463C3 (de) * 1975-05-16 1987-05-07 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Schmittrigger mit zwei Differenzverstärkern
US4017747A (en) * 1975-08-18 1977-04-12 Rca Corporation First timing circuit controlled by a second timing circuit for generating long timing intervals
CH617298A5 (ja) * 1976-05-07 1980-05-14 Ebauches Sa
US4503345A (en) * 1982-07-02 1985-03-05 Rockwell International Corporation MOS/LSI Time delay circuit

Also Published As

Publication number Publication date
EP0113590A3 (en) 1986-10-15
EP0113590A2 (en) 1984-07-18
EP0113590B1 (en) 1989-11-15
US4584494A (en) 1986-04-22
DE3380865D1 (en) 1989-12-21
JPS59123320A (ja) 1984-07-17

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