JPH0358052B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0358052B2 JPH0358052B2 JP13426382A JP13426382A JPH0358052B2 JP H0358052 B2 JPH0358052 B2 JP H0358052B2 JP 13426382 A JP13426382 A JP 13426382A JP 13426382 A JP13426382 A JP 13426382A JP H0358052 B2 JPH0358052 B2 JP H0358052B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical path
- mirror
- interferogram
- movable
- path difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はフーリエ変換型分光光度計の干渉計部
分に関する。
分に関する。
フーリエ分光法は干渉計の一方の光路の光路長
を移動鏡を移動させてインターフエログラムを
得、インターフエログラムをフーリエ変換しても
との光のスペクトルを求めるもので、この場合得
られるインターフエログラムは干渉計の２つの光
路の光路差が０の点を中心として左右対称の形を
しているから、移動鏡の可動範囲が一定の場合、
干渉計の２光路の光路差０の点を移動鏡の可動範
囲の中心に位置させて左右対称形のインターフエ
ログラムを求めるよりも、光路差０の点を移動鏡
の可動範囲の端に位置させて左右対称であるイン
ターフエログラムの片側だけを求める方が、広い
範囲にわたる干渉データが得られ、波長分解が２
倍程度高められる。しかし発光分光分析の場合、
インターフエログラムは変動の大きな形を呈し、
分光精度を上げるためには０点を中心に置いた両
側インターフエログラムを採る必要がある。従つ
て片側インターフエログラムを採る方法は吸光分
析のような場合に適しており、発光分析の場合は
両側インターフエログラムを採る方法が適してい
る。そこで一台の干渉計で発光分析も吸光分析も
行えるようにするには片側インターフエログラム
も両側インターフエログラムも採れるようになつ
ていることが望まれる。しかし従従のフーリエ変
換型分光光度計の干渉計は移動鏡の光路差０の位
置が固定しており、片側インターフエログラムを
求める場合可動鏡の可動範囲の半分しか利用でき
ず、インターフエログラム測定の時間短縮の効果
はあつても分解向上の効果は全然得られなかつ
た。
を移動鏡を移動させてインターフエログラムを
得、インターフエログラムをフーリエ変換しても
との光のスペクトルを求めるもので、この場合得
られるインターフエログラムは干渉計の２つの光
路の光路差が０の点を中心として左右対称の形を
しているから、移動鏡の可動範囲が一定の場合、
干渉計の２光路の光路差０の点を移動鏡の可動範
囲の中心に位置させて左右対称形のインターフエ
ログラムを求めるよりも、光路差０の点を移動鏡
の可動範囲の端に位置させて左右対称であるイン
ターフエログラムの片側だけを求める方が、広い
範囲にわたる干渉データが得られ、波長分解が２
倍程度高められる。しかし発光分光分析の場合、
インターフエログラムは変動の大きな形を呈し、
分光精度を上げるためには０点を中心に置いた両
側インターフエログラムを採る必要がある。従つ
て片側インターフエログラムを採る方法は吸光分
析のような場合に適しており、発光分析の場合は
両側インターフエログラムを採る方法が適してい
る。そこで一台の干渉計で発光分析も吸光分析も
行えるようにするには片側インターフエログラム
も両側インターフエログラムも採れるようになつ
ていることが望まれる。しかし従従のフーリエ変
換型分光光度計の干渉計は移動鏡の光路差０の位
置が固定しており、片側インターフエログラムを
求める場合可動鏡の可動範囲の半分しか利用でき
ず、インターフエログラム測定の時間短縮の効果
はあつても分解向上の効果は全然得られなかつ
た。
本発明は干渉計の光路差０の点の位置を変更で
きるようにして、両側インターフエログラムも片
側インターフエログラムも得ることができ、かつ
片側インターフエログラムを求める場合にも移動
鏡の可動範囲の全域を利用できるようにして、片
側インターフエログラムを採ることによつて波数
分解の向上が得られるようにすることを目的とし
ている。
きるようにして、両側インターフエログラムも片
側インターフエログラムも得ることができ、かつ
片側インターフエログラムを求める場合にも移動
鏡の可動範囲の全域を利用できるようにして、片
側インターフエログラムを採ることによつて波数
分解の向上が得られるようにすることを目的とし
ている。
本発明は干渉計の一方の光路に鏡或は透明体を
出入できるようにして、その光路の光路長を長短
２種類に切換えられるようにし、移動鏡の光路差
０の点が移動鏡の可動範囲の中心に位置する場合
と、可動範囲の一方の端付近に位置する場合の二
つの測定モードが得られるようにしたフーリエ変
換型分光光度計を提供するものである。
出入できるようにして、その光路の光路長を長短
２種類に切換えられるようにし、移動鏡の光路差
０の点が移動鏡の可動範囲の中心に位置する場合
と、可動範囲の一方の端付近に位置する場合の二
つの測定モードが得られるようにしたフーリエ変
換型分光光度計を提供するものである。
第１図ａは移動鏡の可動範囲の中心が光路差０
である場合のインターフエログラムで、Ｂが光路
差０の点、Ａ，Ｃは移動鏡の可動範囲の端であ
る。第１図ｂは光路差０の点の位置をＣ点に近い
Ｇ点に切換えたときのインターフエログラムで、
従来は片側インターフエログラムを採る場合、第
１図ａでBCの範囲しか有効でなかつたが、本発
明によれば、第１図ｂで従来の片側インターフエ
ログラムGBの範囲を更にBAまで拡張でき、波
数分解の面では移動鏡の可動範囲を第１図ａにお
いて、Ｚ〜Ｄと２倍に拡大したのに匹適し、同じ
移動鏡の可動範囲で約２倍の波数分解の向上が得
られ、干渉計の能力を片側、両側の各インターフ
エログラムを得る場合に対し、夫々最大に利用し
得ることになる。
である場合のインターフエログラムで、Ｂが光路
差０の点、Ａ，Ｃは移動鏡の可動範囲の端であ
る。第１図ｂは光路差０の点の位置をＣ点に近い
Ｇ点に切換えたときのインターフエログラムで、
従来は片側インターフエログラムを採る場合、第
１図ａでBCの範囲しか有効でなかつたが、本発
明によれば、第１図ｂで従来の片側インターフエ
ログラムGBの範囲を更にBAまで拡張でき、波
数分解の面では移動鏡の可動範囲を第１図ａにお
いて、Ｚ〜Ｄと２倍に拡大したのに匹適し、同じ
移動鏡の可動範囲で約２倍の波数分解の向上が得
られ、干渉計の能力を片側、両側の各インターフ
エログラムを得る場合に対し、夫々最大に利用し
得ることになる。
第２図は本発明の一実施例を示す。１は光源、
２はビームスプリツタ、３は固定鏡、４は移動鏡
で、これらによつてマイケルソン型干渉計が構成
されている。Ｂ点は移動鏡の可動範囲の中心位置
であり、Ａ，Ｃは可動範囲の両端位置（正確には
走査範囲の両端）で、これらの位置は構造的に決
まつている。５は光検出器で、移動鏡を動かしな
がらその移動距離を横軸にとつて光検出器５の出
力を記録したものがインターフエログラムであ
る。６が本発明に固有の要素で、ビームスプリツ
タ２で分割された２光路のうち、固定鏡３に入射
し、反射される光路内に出入される両面平行平面
の透明体である。この透明体６が上記光路から退
避されている場合、移動鏡４が可動範囲の中心位
置Ｂにあるとき、ビームスプリツタ２と固定鏡３
との間を往復する光路と、ビームスプリツタ２と
移動鏡４との間を往復する光路の光路差が０で、
この場合には両側インターフエログラムが得られ
る。次に図のように透明体６を上記光路内に挿入
した場合には、透明体６の厚さをｄ、屈折率をｎ
とすると、ビームスプリツタと固定鏡との間の光
路長は固定鏡３を （ｎ−１）ｄ だけ後退させたのと同じ値だけ長くなり、移動鏡
４の光路差０の位置が上式の値だけ右に移つて図
で例えばＧの位置になり、この場合に片側インタ
ーフエログラムが得られる。
２はビームスプリツタ、３は固定鏡、４は移動鏡
で、これらによつてマイケルソン型干渉計が構成
されている。Ｂ点は移動鏡の可動範囲の中心位置
であり、Ａ，Ｃは可動範囲の両端位置（正確には
走査範囲の両端）で、これらの位置は構造的に決
まつている。５は光検出器で、移動鏡を動かしな
がらその移動距離を横軸にとつて光検出器５の出
力を記録したものがインターフエログラムであ
る。６が本発明に固有の要素で、ビームスプリツ
タ２で分割された２光路のうち、固定鏡３に入射
し、反射される光路内に出入される両面平行平面
の透明体である。この透明体６が上記光路から退
避されている場合、移動鏡４が可動範囲の中心位
置Ｂにあるとき、ビームスプリツタ２と固定鏡３
との間を往復する光路と、ビームスプリツタ２と
移動鏡４との間を往復する光路の光路差が０で、
この場合には両側インターフエログラムが得られ
る。次に図のように透明体６を上記光路内に挿入
した場合には、透明体６の厚さをｄ、屈折率をｎ
とすると、ビームスプリツタと固定鏡との間の光
路長は固定鏡３を （ｎ−１）ｄ だけ後退させたのと同じ値だけ長くなり、移動鏡
４の光路差０の位置が上式の値だけ右に移つて図
で例えばＧの位置になり、この場合に片側インタ
ーフエログラムが得られる。
第３図は本発明の他の実施例を示す。この実施
例は上述実施例における透明体６の代りに平面鏡
７をビームスプリツタ２と固定鏡３との間に出入
できるように設けたものである。この実施例では
鏡７を光路内に挿入することによりビームスプリ
ツタ２と固定鏡３との間の光路長が片道Ｘだけ短
かくなり、移動鏡４の光路差０の位置はＢ点より
Ａ側へＸだけ移つた点A′になる。
例は上述実施例における透明体６の代りに平面鏡
７をビームスプリツタ２と固定鏡３との間に出入
できるように設けたものである。この実施例では
鏡７を光路内に挿入することによりビームスプリ
ツタ２と固定鏡３との間の光路長が片道Ｘだけ短
かくなり、移動鏡４の光路差０の位置はＢ点より
Ａ側へＸだけ移つた点A′になる。
第１図ａは両側インターフエログラムの一例、
同図ｂは本発明装置で得られる片側インターフエ
ログラムの一例、第２図は本発明の一実施例装置
の平面図、第３図は本発明の他の一実施例装置の
平面図である。 １…光源、２…ビームスプリツタ、３…固定
鏡、４…移動鏡、５…光検出器、６…光路長を切
換える素子透明体、７…光路長を短縮するための
鏡。
同図ｂは本発明装置で得られる片側インターフエ
ログラムの一例、第２図は本発明の一実施例装置
の平面図、第３図は本発明の他の一実施例装置の
平面図である。 １…光源、２…ビームスプリツタ、３…固定
鏡、４…移動鏡、５…光検出器、６…光路長を切
換える素子透明体、７…光路長を短縮するための
鏡。
Claims (1)
- １ 干渉計において、分割された２光路のうちの
一方の光路内に、その光路の光路長を変えるため
の素子を出入可能に設け、移動鏡の可動範囲の中
央位置が上記２光路の光路差０となる状態と、可
動範囲の一方の端近くの位置が光路差０となる状
態の２態様が得られるようにしたことを特徴とす
るフーリエ変換型分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13426382A JPS5924225A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | フ−リエ変換型分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13426382A JPS5924225A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | フ−リエ変換型分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5924225A JPS5924225A (ja) | 1984-02-07 |
| JPH0358052B2 true JPH0358052B2 (ja) | 1991-09-04 |
Family
ID=15124205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13426382A Granted JPS5924225A (ja) | 1982-07-30 | 1982-07-30 | フ−リエ変換型分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5924225A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62254023A (ja) * | 1986-04-25 | 1987-11-05 | Santetsuku Kk | 波長分散測定方法及びその装置 |
| JP2821089B2 (ja) * | 1994-06-27 | 1998-11-05 | 株式会社菊水製作所 | 回転式粉末圧縮成形機 |
| US9429474B2 (en) * | 2012-10-08 | 2016-08-30 | Si-Ware Systems | Fourier transform micro spectrometer based on spatially-shifted interferogram bursts |
-
1982
- 1982-07-30 JP JP13426382A patent/JPS5924225A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5924225A (ja) | 1984-02-07 |
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