JPH0359882A - ライン駆動回路 - Google Patents

ライン駆動回路

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JPH0359882A
JPH0359882A JP1194802A JP19480289A JPH0359882A JP H0359882 A JPH0359882 A JP H0359882A JP 1194802 A JP1194802 A JP 1194802A JP 19480289 A JP19480289 A JP 19480289A JP H0359882 A JPH0359882 A JP H0359882A
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進 大井
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はライン駆動(ドライバー)回路に係わり、特に
高負荷の配線を高速に駆動するB1−CMOS型のライ
ンドライバー回路に関する。
[従来の技術] 従来、この種のラインドライバー回路としては第4図に
示したように最終段にエミッタフォロワー型の回路40
1を置きドライブ能力を上げている。例えばエミッタフ
ォロワ401を成すすバイポーラトランジスタのベース
にCMOSのインバータ回路402の出力が入力されて
いる場合には、ベースの人力電位の低電位はグランドレ
ベル(OV)で、高電位は電源レベルVCC(TTL素
子では5V)となる。CMOSインバータ402の人力
が低レベル(Ov)の時はインバータを成すP−MOS
403がオンし、インバータの出力を高レベル(5v)
に持ち上げようとする。P −MOS40を流れる電流
はバイポーラトランジスタ4050ベースへと流れ込み
、そのβ(バイポーラトランジスタのエミッタ接地電流
増幅率)倍の電流でラインの電位が電源電位VDD(5
V)からバイポーラトランジスタのエミッタ・ベースの
順方向電位VF(約O,SV)落ちた電位(VDD−V
F)に上がるまで上昇する。一方CMOSインバータ4
02の人力が高レベル(5V)の時はインバータ402
を成すN−MO5404がオンし、バイポーラ405の
ベース電位を下げ、バイポーラ405をオフ状態にする
。ラインの電位はエミッタフォロワーの電流源として人
っているN−MO3404が電流を流すことによって最
終的にはグランドレベルまで下がっていく。
[発明が解決しようとする問題点コ 上述した従来のラインドライバー回路では、ライン41
0の電位はグランドレベル(OV)と電源電位VDDか
らエミッタベースの順方向電圧VF(〜0.8v)を引
いた約4.2Vのレベル間を振れることになる。これは
例えばラインにCという寄生容量が付いていた場合約T
=ΔVXC/I (ΔVニライン振幅、I:駆動電流)
=4.2XC/Iの遅延をもたらす。従ってこのライン
の大きな振幅は、ドライバー回路の高速化の障害となっ
ている。一方、従来回路のままで駆動電流を太きくして
高速化を計ろうとするとACパワーが増え、高集積化が
困難となる。バイポーラ405に入力するCMO5のイ
ンバータ402の出力が立ち上がる際、インバータのP
 −MOS 403が出力レベルが電源電位に近づいて
くると電流を充分供給できず、第3図に示すように波形
がなまってきて応答が遅くなる(TB2)という問題も
ある。
[問題点を解決するための手段] 本発明の要旨は、バイポーラ型トランジスタと電界効果
型トランジスタとで構成されたライン駆動回路において
、出力が高電位と低電位との間で切り替わる論理回路と
、該論理回路の出力の供給されるエミッタフォロワー型
バイポーラトランジスタと、上記バイポーラトランジス
タのベースと最高電位より低い固定電位源との間に接続
されたダイオードとを含むことである。
[発明の作用コ 上記構成によると、ダイオードがバイポーラトランジス
タのベース電位を固定電圧源の電位とダイオードの順方
向電圧との和に固定し、被駆動ラインは該軸よりバイポ
ーラトランジスタのエミッタベース順方向電位だけ低い
価にクランプされる。
[実施例コ 次に、本発明の実施例について図面を参煕して説明する
第1図は本発明をメモリーのワード線ドライバーに適用
した一実施例を示す回路図である。N。
RあるいはNANDとインバータ101によるデコーダ
(ここではインバータのみを示す)の出力がエミッタフ
ォロワ102のバイポーラトランジスタ1030ベース
に入る。一方、このベースには低電位側をVRIの電位
でクランプされたダイオード104の高電位側が接続さ
れている。
インバータの人力が低レベル(OV)の場合、つまりワ
ード線106を立ち上げる場合には、インバータ101
のP−MO5I07がバイポーラ103のベース電位を
引き上げて行くが、ベース電位がVRIとダイオード1
04の順方向電位VFDを合わせた電位(VRI+VF
D)になるとPMO3107は主にダイオード104側
に電流を供給することになり、バイポーラ1030ベー
ス電位はVR1+VFDになる。
従って、ワード線106の高電位は、VR1+VFD−
V F”; V Rlにクランプされ、従来回路に比べ
高電位を低くすることができる。このことによって第3
図に示した例(VR1=3V)のように、従来(TB2
)に比へ本回路の立ち上がり時間(TA)は、同じ駆動
電流のもとでは、短くなる。また、この立ち上がり時間
の減少はACパワーの低減をもたらす。一方、この例の
ようにメモリーに適用した場合、ワード線の高電位を幾
らか下げてもメモリセルのトランスファゲートのトラン
ジスタのgmを上げることによってメモリーセル自体の
動作に支障はないものと考えられる。
第2図は本発明の第2実施例を示す回路図である。ドラ
イバーの最終段の回路として単なるエミッタフォロワー
回路に替え、ラインが高電位の時、貫通電流が流れない
ようにバイポーラトランジスタを2段積んだB1−CM
OSドライバー201を用いた回路に本発明を適用した
ものである。第1実施例と同様、ドライバーのバイポー
ラトランジスタ203のベースには低電位側がVRIに
クランプされたダイオード204の高電位側が接続され
ているので、ラインの高電位が約VRIにクランプされ
る。下側のバイポーラトランジスタのベース電位を決め
るN−MOS20Bのゲート電圧もVRIとなるが、N
−MOS206を充分オンテきる電圧に設立しておけば
、下側のバイポーラ203は完全にオフとなり貫通電流
は流れない。
またここで、ラインの出力はNAND回路210につな
がっているが、NAND回路210のPMO9211,
212のソース電位にラインが高レベル(VRI)の時
にPMO5211,212がオンしないような電圧VR
2を与えておくことによって受側のNAND回路210
の貫通電流を防ぐことができる。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明のラインドライバー回路はエ
ミッタフォロワーを成すバイポーラの電位をダイオード
を介し最高電位の電源電圧より低い電位にクランプする
ことにより、駆動線の高電位を従来より下げ、CMOS
インバータ特有のライン立ち上がり時の波形のなまりを
無くし、高負荷配線を低ACパワーで、高速で駆動する
ことができる。本発明をより規模の大きな素子に適用す
ることで高速で高集積な素子が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1実施例を示す回路図、第2図は本
発明の第2実施例を示す回路図、第3図は本発明と従来
回路の波形を示すグラフ、第4図は従来例を示す回路図
である。 101.202◆・・◆・インバータ、102・◆・◆
・◆・・・エミッタフォロワー103.203・・・・
バイポーラトランジスタ、104.204・・・・ダイ
オード、 106・ ・ ・ ・ ・ ・・ ・ワード線、107
.211゜ 212・・・・・・・・PMO3型O3ンジスタ、10
8.206−−−−NMO5型トランジスタ、201◆
・◆◆・・◆B1−CMOSドライバー210・・・・
・ ・・NAND回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 バイポーラ型トランジスタと電界効果型トランジスタと
    で構成されたライン駆動回路において、出力が高電位と
    低電位との間で切り替わる論理回路と、 該論理回路の出力の供給されるエミッタフォロワー型バ
    イポーラトランジスタと、 上記バイポーラトランジスタのベースと最高電位より低
    い固定電位源との間に接続されたダイオードとを含むこ
    とを特徴とするライン駆動回路。
JP1194802A 1989-07-27 1989-07-27 ライン駆動回路 Expired - Fee Related JP2910066B2 (ja)

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JPH0359882A true JPH0359882A (ja) 1991-03-14
JP2910066B2 JP2910066B2 (ja) 1999-06-23

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0757476A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Nec Corp 半導体メモリ集積回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH0757476A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Nec Corp 半導体メモリ集積回路

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