JPH036110A - semiconductor amplifier circuit - Google Patents

semiconductor amplifier circuit

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JPH036110A
JPH036110A JP1140462A JP14046289A JPH036110A JP H036110 A JPH036110 A JP H036110A JP 1140462 A JP1140462 A JP 1140462A JP 14046289 A JP14046289 A JP 14046289A JP H036110 A JPH036110 A JP H036110A
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Makoto Hasegawa
誠 長谷川
Motoi Oba
大庭 基
Koji Higashida
康志 東田
Naotaka Hiraishi
平石 直貴
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To reduce output fluctuation against the fluctuation of a temperature and a source voltage, etc., by adding the control voltage of an automatic power control circuit of current detection type on the base of a transistor for amplification. CONSTITUTION:A reference voltage is generated by connecting plural diodes 3-5 in a forward direction, and keeping their currents constant with a constant current source circuit 6. Potential difference between a power source terminal 20 and the base of a PNP TR 14 is the sum of voltage drop at a resistor 2 for current detection and the voltage between the emitter and the base of the TR 14, and it is equal to the sum of the forward direction voltage of a diode 7 and the saturation voltage of a TR 8 and the voltage drop at a resistor 11 for voltage division. When the collector current of a TR 1 is increased due to the dispersion of the DC current amplification factor of the TR 1, the fluctuation of the source voltage, and temperature change, etc., the voltage drop at a resistor 2 is increased, and since the reference voltage is nearly constant, the voltage between the emitter and the base of the TR 14 is decreased, and the base current of the TR 1 supplied via a resistor 15 is reduced, which keeps its output constant.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、無線通信機器等に用いられる半導体増幅回路
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a semiconductor amplifier circuit used in wireless communication equipment and the like.

従来の技術 半導体集積回路による増幅回路には、通常作動増幅形回
路が用いられる。しかし出力電力が大きく、かつ低消費
電力が要求される場合には、エミクタ接地形の増幅回路
を採用する必要がある。以下、第4図を参照して従来の
増幅回路について説明する。
2. Description of the Related Art A normally operating amplification type circuit is used as an amplification circuit using a semiconductor integrated circuit. However, if the output power is large and low power consumption is required, it is necessary to use an emitter grounded amplifier circuit. A conventional amplifier circuit will be described below with reference to FIG.

第4図において、400は半導体増幅用トランジスタ、
401,402はベースバイアス抵抗、403はエミッ
タ抵抗、404はエミッタ接地容量、406はコレクタ
抵抗、406は信号成分阻止用バイパス容量、407は
電源端子、40Bは接地部、409が入力信号で、41
0が増幅出力信号である。
In FIG. 4, 400 is a semiconductor amplification transistor;
401 and 402 are base bias resistors, 403 is an emitter resistor, 404 is a common emitter capacitor, 406 is a collector resistor, 406 is a bypass capacitor for blocking signal components, 407 is a power supply terminal, 40B is a grounding section, 409 is an input signal, and 41
0 is the amplified output signal.

以上のような構成における回路動作については説明する
までもない、周知のトランジスタの増幅作用を得るため
の基本的な回路である。このような増幅回路を特に半導
体集積回路として構成する場合には、大きな容量値が得
られないため、エミッタ接地容量404による接地の効
果、バイパス容量406によるバイパス効果、また抵抗
406による信号成分の損失、半導体増幅用トランジス
タ400の入出力の整合などが問題となる。また、エミ
ッタを直接接地した場合には、エミッタの接地の効果は
改善されるがトランジスタ400の直流増幅率のバラツ
キにより流れる電流が大きく変わることになる。
There is no need to explain the circuit operation in the above configuration, which is a basic circuit for obtaining the amplification effect of a well-known transistor. Especially when such an amplifier circuit is constructed as a semiconductor integrated circuit, a large capacitance value cannot be obtained, so the grounding effect due to the common emitter capacitor 404, the bypass effect due to the bypass capacitor 406, and the loss of signal components due to the resistor 406 are reduced. , input/output matching of the semiconductor amplifying transistor 400, etc. becomes a problem. Further, when the emitter is directly grounded, the effect of grounding the emitter is improved, but the flowing current changes greatly due to variations in the DC amplification factor of the transistor 400.

またもう1つの例として、電圧、温度等の変動に対して
安定した出力を得るために特に電力増幅回路に用いられ
ている従来の回路について以下に、第6図を参照して説
明する。
As another example, a conventional circuit used particularly in a power amplifier circuit to obtain a stable output against fluctuations in voltage, temperature, etc. will be described below with reference to FIG.

第6図において、601は増幅用トランジスタ、602
は増幅用トランジスタ5C)1へ信号を渡す前段増幅器
、503は前段増幅器502のコレクタ電流を制御する
検出電流制御用PNP形トランジスタ、604はダイオ
ード、606は検出電流制御用PNP形トランジスタ5
03のベースバイアスを設定する可変抵抗器、506は
ダイオード、507はツェナーダイオード、608は電
流を制限する抵抗、509はダイオード504,506
と、可変抵抗器606と、ツェナーダイオード507に
流れる電流を設定する抵抗、510は電流検出用抵抗、
611は高周波信号成分を阻止するインダクタ、612
は容量、513.514は結合容量、616は増幅用ト
ランジスタ6010ベースバイアスを設定するベースバ
イアス端子、616は電源端子である。
In FIG. 6, 601 is an amplification transistor, 602
503 is a detection current control PNP transistor that controls the collector current of the preamplifier 502; 604 is a diode; 606 is a detection current control PNP transistor 5;
03 is a variable resistor that sets the base bias, 506 is a diode, 507 is a Zener diode, 608 is a resistor that limits the current, 509 is a diode 504, 506
, a variable resistor 606, a resistor for setting the current flowing through the Zener diode 507, 510 a current detection resistor,
611 is an inductor that blocks high frequency signal components; 612
is a capacitance, 513 and 514 are coupling capacitances, 616 is a base bias terminal for setting the base bias of the amplification transistor 6010, and 616 is a power supply terminal.

以上のような構成において、以下その動作について説明
する。
The operation of the above configuration will be explained below.

可変抵抗器6o6によって検出電流制御用PNP形トラ
ンジスタ603のベース電圧を設定している場合におい
て、電源電圧の変動や温度の変化によって増幅用トラン
ジスタ601のコレクタ電流が増し、出力が増すと、電
流検出用抵抗610による電圧降下が大きくなり、電源
−子616と検出電流制御用PNP形トランジスタ60
3のベース間の電圧が、ダイオード604と可変抵抗器
606で決められている電圧と等しくなるようになる。
When the base voltage of the detection current control PNP transistor 603 is set by the variable resistor 6o6, if the collector current of the amplification transistor 601 increases due to fluctuations in the power supply voltage or temperature changes, and the output increases, the current detection The voltage drop due to the resistor 610 increases, and the voltage drop between the power supply terminal 616 and the PNP type transistor 60 for controlling the detection current increases.
3 becomes equal to the voltage determined by the diode 604 and the variable resistor 606.

そのため検出電流制御用PNP形トランジスタ603の
エミッタ・ベース間電圧が下がり、前段増幅器602の
コレクタ電流を減少させるため、前段増幅器502の出
力が低下し、増幅用トランジスタ5010入力電力が減
少し、その出力が一定になる方向に動作する。増幅用ト
ランジスタ501のコレクタ電流が減少した場合は、前
記コレクタ電流が増加した場合と逆の動作を行い、前段
増幅器602の出力を増加させて、出カ一定の方向に動
作する。このような電流検出形の自動電力制御回路は高
周波電力増幅回路に用いられ、前段増幅器502の出力
電力を制御する形式をとっていた。
As a result, the emitter-base voltage of the detection current control PNP transistor 603 decreases, reducing the collector current of the preamplifier 602, which reduces the output of the preamplifier 502, reduces the input power to the amplification transistor 5010, and reduces the output power. moves in the direction where is constant. When the collector current of the amplifying transistor 501 decreases, the operation is opposite to the case where the collector current increases, and the output of the pre-stage amplifier 602 is increased to operate in a constant output direction. Such a current detection type automatic power control circuit is used in a high frequency power amplification circuit, and takes the form of controlling the output power of the preamplifier 502.

発明が解決しようとする課題 しかし、以上のような半導体増幅回路の構成では、特に
増幅用トランジスタ601のエミッタの接地が不十分と
なり、本来得られる出力電力や利得が得られず、またエ
ミッタを直接接地した場合には、特に半導体増幅用トラ
ンジスタ501の直流電流増幅率のバラツキにより、ま
た部品の素子値のバラツキや温度特性により、半導体増
幅用トランジスタの電流および出力変動が大きいという
課題を有しており、大きな出力と低消費電力が得られる
増幅回路が半導体集積回路によって実現できないという
課題を有していた。
Problems to be Solved by the Invention However, in the configuration of the semiconductor amplifier circuit as described above, the emitter of the amplification transistor 601 in particular is insufficiently grounded, making it impossible to obtain the output power and gain that should be obtained, and furthermore, the emitter cannot be directly connected to the ground. When grounded, there is a problem in that the current and output of the semiconductor amplification transistor vary greatly due to variations in the direct current amplification factor of the semiconductor amplification transistor 501, as well as variations in component element values and temperature characteristics. Therefore, there was a problem in that an amplifier circuit capable of obtaining large output and low power consumption could not be realized using a semiconductor integrated circuit.

本発明は上記課題を解決するもので、出力電力が大きく
でき低消費電力となる半導体集積回路による増幅回路を
実現し、温度、電源電圧、直流電流増幅率、負荷インピ
ーダンス等の変動に対して出力変動が小さい、電流検出
形の自動電力制御回路を具備した半導体増幅回路を提供
することを目的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems by realizing an amplifier circuit using a semiconductor integrated circuit that can increase output power and consume less power, and outputs power regardless of fluctuations in temperature, power supply voltage, DC current amplification factor, load impedance, etc. It is an object of the present invention to provide a semiconductor amplifier circuit equipped with a current detection type automatic power control circuit with small fluctuations.

課題を解決するための手段 本発明は、半導体増幅用トランジスタのエミッタを直接
接地し、主としてその直流増幅率の補正のため、電流検
出ループの一部にトランジスタの飽和電圧を利用し、ま
た基準電圧用に複数個のダイオード及び定電流回路を用
いた、電流検出形の自動電力制御回路を設け、その制御
電圧を半導体増幅用トランジスタ自身のベースに加える
ことにより、上記目的を達成するものである。
Means for Solving the Problems The present invention directly grounds the emitter of a semiconductor amplification transistor, uses the saturation voltage of the transistor in a part of the current detection loop mainly to correct the DC amplification factor, and also uses the saturation voltage of the transistor as a reference voltage. The above object is achieved by providing a current detection automatic power control circuit using a plurality of diodes and a constant current circuit, and applying the control voltage to the base of the semiconductor amplification transistor itself.

作用 本発明は上記構成により、電流検出ループに温度変化の
少ないトランジスタの飽和電圧を利用して温度特性を改
善し、また定電流電源により端子間降下電圧を一定とし
た複数個のダイオードを用いて電源電圧変動に対して一
定の比較基準電圧を半導体集積回路内に作り、電流検出
用抵抗により半導体増幅用トランジスタのコレクタ電流
の変動分を検出して検出電流制御用PNP形トランジス
タのエミッタ・ベース間電圧を変化させて、そのコレク
タ出力制御電流を半導体増幅用トランジスタ自身のベー
スバイアス電流へ供給することにより、特に、トランジ
スタの直流電流増幅率の変動に対して、また電源電圧、
温度、あるいは負荷インピーダンス等の変動に対して半
導体増幅用トランジスタに流れる電流を一定として出力
変動を小さくするという作用を有する。
According to the above configuration, the present invention improves temperature characteristics by using the saturation voltage of a transistor with little temperature change in the current detection loop, and uses a plurality of diodes to keep the voltage drop between the terminals constant using a constant current power supply. A constant comparison reference voltage is created in the semiconductor integrated circuit with respect to power supply voltage fluctuations, and a current detection resistor is used to detect fluctuations in the collector current of the semiconductor amplification transistor, and the current is detected between the emitter and base of the PNP transistor for current control. By changing the voltage and supplying the collector output control current to the base bias current of the semiconductor amplification transistor itself, it is possible to reduce
It has the effect of keeping the current flowing through the semiconductor amplification transistor constant against changes in temperature, load impedance, etc. and reducing output fluctuations.

実施例 以下、図面を参照しながら本発明の第1の実施例につい
て説明する。
EXAMPLE A first example of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の第1の実施例における半導体増幅回路
の回路図である。第1図において、1は半導体増幅用ト
ランジスタ、2は電流検出用抵抗、3〜6は複数個の順
方向のダイオード、6は定電流源回路、7はダイオード
、8は飽和電圧を利用するための飽和トランジスタ、9
はそのトランジスタ8のベース抵抗、10はダイオード
、11.12は電圧分圧用抵抗、13は電流制限用抵抗
、14は検出電流制御用PNP形トランジスタ、16は
その制御出力を供給する抵抗、16〜18は整合回路で
、半導体増幅用トランジスタ1の出力の整合をとってお
り、整合回路16はバイアス供給を兼ね、整合回路17
は信号成分阻止の働きを兼ねており、整合回路18はそ
の他の整合をとっている。また2oは電源、21は接地
、22は定電流源回路の電源、、23は半導体用トラン
ジスタ1の入力信号、24はそのコレクタ出力、26は
増幅出力信号、26は半導体集積回路部分である。
FIG. 1 is a circuit diagram of a semiconductor amplifier circuit according to a first embodiment of the present invention. In Fig. 1, 1 is a semiconductor amplification transistor, 2 is a current detection resistor, 3 to 6 are multiple forward diodes, 6 is a constant current source circuit, 7 is a diode, and 8 is for utilizing saturation voltage. saturation transistor, 9
is the base resistance of the transistor 8, 10 is a diode, 11.12 is a voltage dividing resistor, 13 is a current limiting resistor, 14 is a PNP transistor for detecting current control, 16 is a resistor for supplying the control output, 16- A matching circuit 18 matches the output of the semiconductor amplifying transistor 1, the matching circuit 16 also serves as a bias supply, and the matching circuit 17
also has the function of blocking signal components, and the matching circuit 18 performs other matching. Further, 2o is a power supply, 21 is a ground, 22 is a power supply for a constant current source circuit, 23 is an input signal of the semiconductor transistor 1, 24 is its collector output, 26 is an amplified output signal, and 26 is a semiconductor integrated circuit portion.

上記構成において、以下その動作について説明する。ま
ず、電源電圧が変動しても一定の端子間電圧を得て基準
電圧とするために通常はツェナーダイオードが用いられ
るが、本実施例では半導体集積回路で構成するため、複
数個のダイオード3〜6を順方向に接続し、そこに流れ
る電流を定電流源回路6で一定として基準電圧を作って
いる。
The operation of the above configuration will be explained below. First, a Zener diode is normally used to obtain a constant terminal voltage even when the power supply voltage fluctuates and use it as a reference voltage, but in this embodiment, since it is configured with a semiconductor integrated circuit, multiple diodes 6 are connected in the forward direction, and the current flowing there is kept constant by a constant current source circuit 6 to create a reference voltage.

ここで電源端子2oと検出電流制御用PNP形トランジ
スタ140ベースとの間の電位差は電流検出用抵抗2で
の電圧降下と検出電流制御用PNP形トランジスタ14
のエミッタ・ベース間電圧の和であり、それはダイオー
ド7の順方向電圧と飽和トランジスタ8の飽和電圧と分
圧用抵抗11での電圧降下との和に等しい。なお飽和ト
ランジスタ80ベース・バイアスは電源端子20から抵
抗9によって供給し、その飽和電圧と抵抗11.12で
の電圧降下の和はダイオード10の電圧降下と等しく、
また抵抗13で基準電圧と並列に設けたこれらの回路に
流れる電流を制限している。
Here, the potential difference between the power supply terminal 2o and the base of the detected current control PNP transistor 140 is the voltage drop at the current detection resistor 2 and the detected current control PNP transistor 14.
It is the sum of the emitter-base voltages of , which is equal to the sum of the forward voltage of the diode 7 , the saturation voltage of the saturation transistor 8 , and the voltage drop across the voltage dividing resistor 11 . Note that the base bias of the saturated transistor 80 is supplied from the power supply terminal 20 by the resistor 9, and the sum of its saturation voltage and the voltage drop across the resistor 11 and 12 is equal to the voltage drop across the diode 10.
Further, the resistor 13 limits the current flowing through these circuits provided in parallel with the reference voltage.

半導体増幅用トランジスタ1の直流電流増幅率のバラツ
キ、電源電圧の変動、温度変化、あるいは負荷インピー
ダンスの変動などによって増幅用トランジスタ1のコレ
クタ電流が増加した場合、電流検出用抵抗2での電圧降
下が増加し、基準電圧がほぼ一定であるため、その時に
は検出電流制御用pNp形トランジスタ14のエミッタ
・ベース間電圧が減少し、抵抗16を通じて供給される
半導体増幅用トランジスタ10ベース電流が減少し、そ
の出力を一定にする方向に動作することになり半導体集
積回路による電流検出形の自動電力制御回路が構成でき
たことになる。
When the collector current of the amplification transistor 1 increases due to variations in the DC current amplification factor of the semiconductor amplification transistor 1, fluctuations in the power supply voltage, temperature changes, or fluctuations in the load impedance, the voltage drop across the current detection resistor 2 increases. Since the reference voltage is approximately constant, the emitter-base voltage of the detection current control pNp transistor 14 decreases, and the base current of the semiconductor amplification transistor 10 supplied through the resistor 16 decreases. Since it operates in the direction of keeping the output constant, a current detection type automatic power control circuit using a semiconductor integrated circuit has been constructed.

ダイオード7はPNP形トランジスタ14のエミッタ・
ベース間の温度特性をほぼ打ち消すように設けられてお
り、また温度変化に対する飽和電圧の変化が小さいこと
を利用して飽和トランジスタ8を電流検出ループの一部
に用いている。半導体増幅用トランジスタ1の出力の整
合は、バイアス供給を兼ねたインダクタ16と信号成分
狙止の働きを持つ容量17と整合回路18とによってと
って増幅出力信号を端子26から得ている。また定電流
源回路6には、例えば第3図(a)のウィルソンのカレ
ントミラー回路、(b)の3トランジスタ形力レントミ
ラー回路、(c)の基本形カレントミラー回路等が用い
られ、その電源22は電源端子20と接続してもよいし
別々としてもよい。
The diode 7 is connected to the emitter of the PNP transistor 14.
The saturation transistor 8 is provided as a part of the current detection loop by taking advantage of the fact that it is provided so as to almost cancel out the temperature characteristics between the bases, and that the saturation voltage changes little with respect to temperature changes. Matching of the output of the semiconductor amplifying transistor 1 is achieved by an inductor 16 which also serves as a bias supply, a capacitor 17 which functions to target a signal component, and a matching circuit 18, and an amplified output signal is obtained from a terminal 26. The constant current source circuit 6 includes, for example, a Wilson current mirror circuit shown in FIG. 3(a), a three-transistor current mirror circuit shown in FIG. 22 may be connected to the power supply terminal 20 or may be separate.

半導体増幅用トランジスタ1のコレクタ電流が減少した
場合は、前記コレクタ電流が増加した場合の逆の動作で
出力を一定にする方向に動作する。
When the collector current of the semiconductor amplification transistor 1 decreases, it operates in the direction of keeping the output constant, which is the opposite of the operation when the collector current increases.

以上本実施例によれば、電流検出ループの一部にトラン
ジスタ8の飽和電圧を利用し、また基準電圧用に複数個
のダイオード3〜6及び定電流回路6を用いた、電流検
出形の自動電力制御回路を設け、その制御電圧を半導体
増幅用トランジスタ10ベースに加えることにより、特
にトランジスタの直流電流増幅率の変動に対して、また
電源電圧、温度、あるいは負荷インピーダンス等の変動
に対して半導体増幅用トランジスタ1に流れる電流を一
定として出力変動を小さくすることができ、増幅回路を
出力電力が大きくでき低消費電力化ができるエミッタ接
地形の増幅回路による半導体集積回路で構成できること
になり、小形、低消費電力、低価格が可能となる。
As described above, according to this embodiment, the current detection type automatic circuit uses the saturation voltage of the transistor 8 as part of the current detection loop, and also uses a plurality of diodes 3 to 6 and the constant current circuit 6 for the reference voltage. By providing a power control circuit and applying its control voltage to the base of the semiconductor amplification transistor 10, the semiconductor amplification circuit can be used particularly against fluctuations in the DC current amplification factor of the transistor, as well as fluctuations in power supply voltage, temperature, or load impedance. The current flowing through the amplification transistor 1 can be kept constant and output fluctuations can be reduced, and the amplification circuit can be configured with a semiconductor integrated circuit using a grounded emitter amplification circuit, which can increase output power and reduce power consumption. , low power consumption, and low cost.

次に本発明の第2の実施例について説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described.

第2図は本発明の第2の実施例における半導体増幅回路
の回路図である。第2図において、第1の実施例の構成
と異なる3つの点は、第1に、第1図のように飽和トラ
ンジスタ8をダイオード1゜と並列に設けるのではなく
、ダイオード7と直列に設けて、それに直列にダイオー
ド1oを設けそのダイオード10の端子間電圧を抵抗1
1.12で分割するようにしたものである。さらに、第
2魚目として、第1図のように半導体増幅用トランジス
タ1のコレクタと検出電流制御用PNP形トランジスタ
のエミッタを直接には接続せずに、そのPNP形トラン
ジスタのエミッタ出力端子32を設け、端子32と電源
端子の間に電流検出抵抗2、端子32と接地間に容量1
7、端子32と半導体増幅用トランジスタ1のコレクタ
出力端子24との間にインダクタ16を設けるようにし
たものである。また第3魚目として、検出電流検出用P
NP形トランジスタ14のコレクタ出力にNPN形トラ
ンジスタを接続して直流増幅し、その出力を抵抗31か
ら半導体増幅用トランジスタ1のベースへと供給するよ
うにした点である。
FIG. 2 is a circuit diagram of a semiconductor amplifier circuit according to a second embodiment of the present invention. In FIG. 2, three points differ from the configuration of the first embodiment. First, the saturation transistor 8 is not provided in parallel with the diode 1° as in FIG. 1, but is provided in series with the diode 7. Then, a diode 1o is connected in series with the diode 10, and the voltage between the terminals of the diode 10 is controlled by a resistor 1o.
1.12. Furthermore, as a second point, instead of directly connecting the collector of the semiconductor amplification transistor 1 and the emitter of the detection current control PNP transistor as shown in FIG. 1, the emitter output terminal 32 of the PNP transistor is connected. 2 current detection resistors are provided between the terminal 32 and the power supply terminal, and a capacitor 1 is provided between the terminal 32 and the ground.
7. An inductor 16 is provided between the terminal 32 and the collector output terminal 24 of the semiconductor amplification transistor 1. Also, as the third fish, P for detection current detection.
An NPN transistor is connected to the collector output of the NP transistor 14 for DC amplification, and the output is supplied from the resistor 31 to the base of the semiconductor amplification transistor 1.

上記構成の場合には、第1の実施例とほぼ同じであるの
で、その動作及びその効果の相違点のみを説明する。
Since the above configuration is almost the same as the first embodiment, only the differences in operation and effects will be explained.

まず、飽和トランジスタ8の電流検出ループにおける位
置を第2図のように変えると、電流検出ループの温度補
償特性が変わるので他の部品の温度特性により、本実施
例による方が温度変動に対する補償が良好となる場合も
ある。
First, if the position of the saturation transistor 8 in the current detection loop is changed as shown in Fig. 2, the temperature compensation characteristics of the current detection loop will change, so depending on the temperature characteristics of other parts, this embodiment will be better able to compensate for temperature fluctuations. It may be good in some cases.

また電流検出用PNP形トランジスタ14のエミッタ出
力は、特に半導体集積回路の出力が大きい場合には、本
実施例のように半導体増幅用トランジスタ1のコレクタ
とは別の端子として高周波信号がPNP形トランジスタ
14の方に加わらないようにした方が電流検出の動作の
高周波信号による影響を排除することができる。
In addition, the emitter output of the current detection PNP transistor 14 is connected to a terminal other than the collector of the semiconductor amplification transistor 1 as in this embodiment, especially when the output of the semiconductor integrated circuit is large. 14, the influence of the high frequency signal on the current detection operation can be eliminated.

また、検出電流制御用PNP形トランジスタ14と半導
体増幅用トランジスタ10ベースとの間に直流増幅用N
PN形トランジスタ30を設けることにより本実施例に
よれば、第1の実施例と比べてNPN形)ランデスタ3
00ベース・エミッタ間電圧分だけ高い電圧が必要であ
るが、検出電流制御用PNP形トランジスタ14の電流
容量はNPN形トランジスタ3oの直流増幅率の逆数で
よいことになり小さくて済むことになる。
Also, between the detection current control PNP transistor 14 and the base of the semiconductor amplification transistor 10, a DC amplification N
By providing the PN type transistor 30, according to this embodiment, compared to the first embodiment, the NPN type) landestor 3
Although a voltage as high as the 00 base-emitter voltage is required, the current capacity of the PNP transistor 14 for controlling the detection current can be a reciprocal of the DC amplification factor of the NPN transistor 3o, so it can be small.

発明の効果 以上のように本発明は、電流検出ループの一部にトラン
ジスタの飽和電圧を利用し、また基準電圧用に複数個の
ダイオード及び定電流回路を用いた、電流検出形の自動
電力制御回路を設け、その制御電圧を半導体増幅用トラ
ンジスタのベースに加えることにより、特にトランジス
タの直流電流増幅率の変動に対して、また電源電圧、温
度、あるいは負荷インピーダンス等の変動に対して半導
体増幅用トランジスタに流れる電流を一定として出力変
動を小さくすることができ、増幅回路を出力電力が大き
くでき低消費電力化ができるエミッタ接地形とした半導
体集積回路により構成できることになり、小形、低消費
電力、低価格等に対するその効果は大きい。
Effects of the Invention As described above, the present invention provides current detection type automatic power control that uses the saturation voltage of a transistor as part of the current detection loop, and also uses a plurality of diodes and a constant current circuit for the reference voltage. By providing a circuit and applying the control voltage to the base of a semiconductor amplification transistor, semiconductor amplification can be used particularly against fluctuations in the DC current amplification factor of the transistor, as well as fluctuations in power supply voltage, temperature, or load impedance. The current flowing through the transistor can be kept constant and output fluctuations can be reduced, and the amplifier circuit can be configured with a semiconductor integrated circuit with a grounded emitter, which can increase output power and reduce power consumption. The effect of lower prices is significant.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の第1の実施例における半導体増幅回路
の回路図、第2図は本発明の第2の実施例における半導
体増幅回路の回路図、第3図(a)、(b)、(c)は
同半導体増幅回路の要部である定電流源回路の例を示す
回路図、第4図は従来の半導体増幅回路の回路図、第6
図は従来の自動電力制御回路の回路図である。 1・・・半導体増幅用トランジスタ、2・・・電流検出
用抵抗、3〜5・・・複数個のダイオード、6・・・定
電流源回路、7・・・ダイオード、8・・・飽和トラン
ジスタ、11.12・・・分圧用抵抗、14・・・PN
P形トランジスタ。
FIG. 1 is a circuit diagram of a semiconductor amplifier circuit according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of a semiconductor amplifier circuit according to a second embodiment of the present invention, and FIGS. 3(a) and (b) , (c) is a circuit diagram showing an example of a constant current source circuit which is a main part of the semiconductor amplifier circuit, FIG. 4 is a circuit diagram of a conventional semiconductor amplifier circuit, and FIG.
The figure is a circuit diagram of a conventional automatic power control circuit. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Semiconductor amplification transistor, 2... Current detection resistor, 3-5... Plural diodes, 6... Constant current source circuit, 7... Diode, 8... Saturation transistor , 11.12... Resistor for voltage division, 14... PN
P-type transistor.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)半導体増幅用トランジスタのコレクタと電源の間
に設けた電流検出用抵抗と、検出電流制御用にPNP形
トランジスタのエミッタ・ベース間電圧を用い、前記電
源と定電流源回路との間に複数個の順方向ダイオードを
接続して基準電位差を作り、前記基準電位差間に順方向
にダイオード電圧およびトランジスタの飽和電圧及び抵
抗分圧電圧を設け、前記抵抗分圧電圧を前記検出電流制
御用PNP形トランジスタのベースに接続し、また前記
検出電流制御用トランジスタのコレクタからの出力制御
電圧を前記半導体増幅用トランジスタのベースへと接続
した電流検出形の自動電力制御回路とを具備することを
特徴とする半導体増幅回路。
(1) A current detection resistor provided between the collector of a semiconductor amplification transistor and a power supply, and a voltage between the emitter and base of a PNP transistor for detection current control, are used to connect the power supply and a constant current source circuit. A reference potential difference is created by connecting a plurality of forward diodes, a diode voltage, a saturation voltage of a transistor, and a resistor divided voltage are provided in the forward direction between the reference potential differences, and the resistor divided voltage is applied to the detection current control PNP. and a current detection type automatic power control circuit connected to the base of the semiconductor amplification transistor, and further connected to the output control voltage from the collector of the detection current control transistor to the base of the semiconductor amplification transistor. semiconductor amplifier circuit.
(2)半導体増幅用トランジスタのコレクタと前記電流
検出用抵抗との間にインダクタを設け、前記半導体増幅
用トランジスタのコレクタと検出電流制御用PNP形ト
ランジスタのエミッタを接続することを特徴とする請求
項1記載の半導体増幅回路。
(2) An inductor is provided between the collector of the semiconductor amplification transistor and the current detection resistor, and the collector of the semiconductor amplification transistor is connected to the emitter of the detected current control PNP transistor. 1. The semiconductor amplifier circuit according to 1.
(3)半導体増幅用トランジスタのコレクタと電流検出
用抵抗との間にインダクタを設け、前記電流検出用抵抗
と前記インダクタの接続点に、対接地に容量及び検出電
流制御用PNP形トランジスタのエミッタが接続された
ものであることを特徴とする請求項1記載の半導体増幅
回路。
(3) An inductor is provided between the collector of the semiconductor amplification transistor and the current detection resistor, and at the connection point between the current detection resistor and the inductor, a capacitance and the emitter of the detected current control PNP transistor are connected to the ground. 2. The semiconductor amplifier circuit according to claim 1, wherein the semiconductor amplifier circuit is connected.
(4)検出電流制御用PNP形トランジスタと半導体増
幅用トランジスタのベースとの間にNPN形トランジス
タを設け、前記検出電流制御用PNP形トランジスタの
エミッタにNPN形トランジスタのコレクタが接続され
、前記検出電流制御用PNP形トランジスタのコレクタ
に前記NPN形トランジスタのベースが接続され、前記
半導体増幅用トランジスタのベースに前記NPN形トラ
ンジスタのエミッタからの出力が接続されたことを特徴
とする請求項1記載の半導体増幅回路。
(4) An NPN transistor is provided between the detection current control PNP transistor and the base of the semiconductor amplification transistor, the collector of the NPN transistor is connected to the emitter of the detection current control PNP transistor, and the detection current 2. The semiconductor according to claim 1, wherein the base of the NPN transistor is connected to the collector of the control PNP transistor, and the output from the emitter of the NPN transistor is connected to the base of the semiconductor amplification transistor. Amplification circuit.
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