JPH0361875A - サージ電圧・電流発生器 - Google Patents
サージ電圧・電流発生器Info
- Publication number
- JPH0361875A JPH0361875A JP1196533A JP19653389A JPH0361875A JP H0361875 A JPH0361875 A JP H0361875A JP 1196533 A JP1196533 A JP 1196533A JP 19653389 A JP19653389 A JP 19653389A JP H0361875 A JPH0361875 A JP H0361875A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surge
- discharge
- high voltage
- electrode
- discharge electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract description 5
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 4
- 238000004088 simulation Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、ノイズに対する電子機器の許容度を試験す
るために使用するサージ電圧・電流発生器に関する。
るために使用するサージ電圧・電流発生器に関する。
［従来の技術］
電子技術の進歩により通信機器、制御機器の部品は小型
化と実装密度の向上が図られているが、ノイズ特に、そ
のうちの突発的なサージによる機器の誤動作、故障、破
壊といった被害が増大している。サージ（ＳＵＲＧＥ）
とは、雷等のように短時間に激しく変動する電圧／電流
のことを意味し、一過性で再現性のないものをさしてい
る。
化と実装密度の向上が図られているが、ノイズ特に、そ
のうちの突発的なサージによる機器の誤動作、故障、破
壊といった被害が増大している。サージ（ＳＵＲＧＥ）
とは、雷等のように短時間に激しく変動する電圧／電流
のことを意味し、一過性で再現性のないものをさしてい
る。
サージによる電子機器の誤動作、故障、破壊を防止する
ために、回路的な対策を立てることが重要であり、その
ためには人工的に発生したサージを繰り返し電子機器に
与えてその影響を詳しく調べる必要がある。
ために、回路的な対策を立てることが重要であり、その
ためには人工的に発生したサージを繰り返し電子機器に
与えてその影響を詳しく調べる必要がある。
従来では、衝撃ノイズに対する電子機器の許容度を試験
するために第５図に示すサージ電圧・電流発生器を使用
していた。
するために第５図に示すサージ電圧・電流発生器を使用
していた。
高圧電源部１で発生した高電圧ＨＶを放電ガン部２の充
電抵抗３を介し、リレースイッチ５を閉にして主コンデ
ンサ４に充電する。その後、リレースイッチ５を開に、
リレースイッチ９を閉にして放電抵抗６を介して放電電
極７に通電する。
電抵抗３を介し、リレースイッチ５を閉にして主コンデ
ンサ４に充電する。その後、リレースイッチ５を開に、
リレースイッチ９を閉にして放電抵抗６を介して放電電
極７に通電する。
高電圧ＨＶと放電ガン部２とは長い耐圧ケーブルにより
接続され、放電電極７は放電ガン部２にネジ等により固
定されている。放電ガン部２は高圧電淵部１に対してケ
ーブルの長さ以内で移動自在であり、試験者により放電
のために、電子機器の被試験体８に接触される。
接続され、放電電極７は放電ガン部２にネジ等により固
定されている。放電ガン部２は高圧電淵部１に対してケ
ーブルの長さ以内で移動自在であり、試験者により放電
のために、電子機器の被試験体８に接触される。
放電電極７は先端が鋭角に尖った円柱金属からなる。
今、放電ガン部２を被試験体８に接触させて放電電極７
と被試験体８との間で放電を行い人工的にサージ発生さ
せ、この人工サージをを被試験体８に印加して、被試験
体８のサージに対する許容度を調べる。その時のサージ
波形をモニター装置で観測したものが第６図に示すもの
である。
と被試験体８との間で放電を行い人工的にサージ発生さ
せ、この人工サージをを被試験体８に印加して、被試験
体８のサージに対する許容度を調べる。その時のサージ
波形をモニター装置で観測したものが第６図に示すもの
である。
第６図のＡで示す人工サージの第１ピーク値は時間Ｔ１
の０．３ｎｓの位置にあり、第２ピーク値はＴｎの約３
０ｎｓの位置にある。
の０．３ｎｓの位置にあり、第２ピーク値はＴｎの約３
０ｎｓの位置にある。
電子機器がパソコン等の場合は人体に纏った衣類による
静電気が原因の自然サージが発生し、パソコンに悪影響
を及ぼすものである。自然発生的な静電気サージの第１
ピーク値は時間Ｔ１の０．９ｎｓの位置にあるような、
第６図のＢに示す特性であることが経験的に知られてい
る。
静電気が原因の自然サージが発生し、パソコンに悪影響
を及ぼすものである。自然発生的な静電気サージの第１
ピーク値は時間Ｔ１の０．９ｎｓの位置にあるような、
第６図のＢに示す特性であることが経験的に知られてい
る。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、従来のサージ発生装置にあっては、自然
発生的な静電気サージの第１ピーク値は時間Ｔ１が０．
９ｎｓの位置にあるのに対して、人工サージの第１ピー
ク値は時間Ｔ１が０．３ｎｓの位置にあるため、シュミ
レーション精度性の高いサージ試験が期待できないとい
う欠点があった。
発生的な静電気サージの第１ピーク値は時間Ｔ１が０．
９ｎｓの位置にあるのに対して、人工サージの第１ピー
ク値は時間Ｔ１が０．３ｎｓの位置にあるため、シュミ
レーション精度性の高いサージ試験が期待できないとい
う欠点があった。
この人工サージが示す第１ピーク時間Ｔ１の０．３ｎｓ
を遅延させるために、放電電極７と放電抵抗６との接続
点Ｐにコイルやコアを介装しても、電流の変化速度があ
まりにも高速（１０の−９乗秒）のため、遅延制御が困
難であり、人工的に発生したサージを、自然発生的な静
電気サージと一致させることができなかった。
を遅延させるために、放電電極７と放電抵抗６との接続
点Ｐにコイルやコアを介装しても、電流の変化速度があ
まりにも高速（１０の−９乗秒）のため、遅延制御が困
難であり、人工的に発生したサージを、自然発生的な静
電気サージと一致させることができなかった。
このため、人工サージを繰り返し電子機器に与えてその
影響を詳しく調べても正確なノイズ対策にはならないと
いう問題があった。
影響を詳しく調べても正確なノイズ対策にはならないと
いう問題があった。
この発明は上記問題点を解決するためになされたもので
、人工サージの第１ピーク時間を自然発生的な静電気サ
ージの第１ピーク時間に制御して一致させることができ
るサージ電圧・電流発生器を提供することを目的にして
いる。
、人工サージの第１ピーク時間を自然発生的な静電気サ
ージの第１ピーク時間に制御して一致させることができ
るサージ電圧・電流発生器を提供することを目的にして
いる。
［課題を解決するための手段］
高電圧を発生する高圧電源部と、この高電圧が充電され
る放電ガン部と、放電ガン部に結合され前記充電された
高電圧を被試験体に対して放電する放電電極と、前記放
電ガン部と放電電極との間に該放電電極の表面積より広
い面積の導体板とを備える構成にした。
る放電ガン部と、放電ガン部に結合され前記充電された
高電圧を被試験体に対して放電する放電電極と、前記放
電ガン部と放電電極との間に該放電電極の表面積より広
い面積の導体板とを備える構成にした。
［作用］
高電圧の電荷が広い面積の導体板に拡散し、その後に放
電するので、放電時間が遅延され、人工的に発生したサ
ージを、自然発生的な静電気サージと一致させることが
できる。
電するので、放電時間が遅延され、人工的に発生したサ
ージを、自然発生的な静電気サージと一致させることが
できる。
［実施例］
以下、この考案を第１図に基づいて説明する。
高圧電源部１で発生した高電圧ＨＶを放電ガン部２の充
電抵抗３を介し、リレースイッチ５を閉にして主コンデ
ンサ４に充電する。その後、リレースイッチ５を開に、
リレースイッチ９を閉にして放電抵抗６及び導体板とし
ての遅延板１０を介して放電電極７に通電する。
電抵抗３を介し、リレースイッチ５を閉にして主コンデ
ンサ４に充電する。その後、リレースイッチ５を開に、
リレースイッチ９を閉にして放電抵抗６及び導体板とし
ての遅延板１０を介して放電電極７に通電する。
放電電極７は先端が鋭角に尖った円柱金属からなり、放
電電極７の後端部にはネジ山１３が形成されている。高
電圧ＨＶと放電ガン部２とは長い耐圧ケーブル１１によ
り接続され、放電ガン部２は所定位置に固定された高圧
電源部１に対してケーブル１１の長さ以内で移動自在で
ある。
電電極７の後端部にはネジ山１３が形成されている。高
電圧ＨＶと放電ガン部２とは長い耐圧ケーブル１１によ
り接続され、放電ガン部２は所定位置に固定された高圧
電源部１に対してケーブル１１の長さ以内で移動自在で
ある。
遅延板１０は導体の金属、例えば銅板等からなり、後述
するように各種サイズの遅延板１０が装着可能である。
するように各種サイズの遅延板１０が装着可能である。
一般に、電荷は第４図に示すように導体の表面に分布す
るので、遅延板１０の広い面積に散在した電荷が放電電
極７方に集合するのに時間を要し、散在面積が大きいほ
ど集合時間も長くなるので、遅延板１０を介装させて通
電に遅延を生じさせる。
るので、遅延板１０の広い面積に散在した電荷が放電電
極７方に集合するのに時間を要し、散在面積が大きいほ
ど集合時間も長くなるので、遅延板１０を介装させて通
電に遅延を生じさせる。
遅延板１０の中央部にはネジ穴１２を形成して、放電電
極７のネジ山１３をネジ穴１２に通して放電ガン部２の
先端にネジ込むことにより、これらは互いに固定されて
いる。
極７のネジ山１３をネジ穴１２に通して放電ガン部２の
先端にネジ込むことにより、これらは互いに固定されて
いる。
第３図に放電電極７、遅延板１０、放電ガン部２の具体
的な一例を示し、ガンタイプのケーシング１５は絶縁体
により構成され、前述した充電抵抗３、主コンデンサ４
、リレースイッチ５．９、放電抵抗６を内蔵し、リレー
スイッチ９はトリガスイッチ１６により開閉が切り替え
られる。ケーシング１５から延びるケーブル１１は高圧
電源部１に接続される。遅延板１０は部分球殻の椀形状
であり、各種火きさのものが装着可能である。
的な一例を示し、ガンタイプのケーシング１５は絶縁体
により構成され、前述した充電抵抗３、主コンデンサ４
、リレースイッチ５．９、放電抵抗６を内蔵し、リレー
スイッチ９はトリガスイッチ１６により開閉が切り替え
られる。ケーシング１５から延びるケーブル１１は高圧
電源部１に接続される。遅延板１０は部分球殻の椀形状
であり、各種火きさのものが装着可能である。
全放電ガン部２を被試験体８に接触させて放電電極７と
被試験体８との間で放電を行い人工的にサージ発生させ
、この人工サージを被試験体８に印加して、被試験体８
のサージに対する許容度を調べる。その時のサージ波形
をモニター装置で観測したものを第２図に示す、面積Ｓ
の遅延板１０を使用した時、人工サージの第１ピーク値
は時間Ｔ２がＣのグラフが示すように、０．６ｎｓの位
置になり、面積２Ｓの遅延板１０を使用した時、人工サ
ージの第１ピーク値は時間Ｔ３がＤのグラフが示すよう
に％０．９ｎｓの位置になった。
被試験体８との間で放電を行い人工的にサージ発生させ
、この人工サージを被試験体８に印加して、被試験体８
のサージに対する許容度を調べる。その時のサージ波形
をモニター装置で観測したものを第２図に示す、面積Ｓ
の遅延板１０を使用した時、人工サージの第１ピーク値
は時間Ｔ２がＣのグラフが示すように、０．６ｎｓの位
置になり、面積２Ｓの遅延板１０を使用した時、人工サ
ージの第１ピーク値は時間Ｔ３がＤのグラフが示すよう
に％０．９ｎｓの位置になった。
したがって、遅延板１０のサイズを適宜選択することに
よって、自然発生的な静電気サージの第１ピーク値の時
間に合わせて、人工サージの第１ピーク値の時間を０．
３ｎｓから０．９ｎｓの間で自由に設定することができ
る。
よって、自然発生的な静電気サージの第１ピーク値の時
間に合わせて、人工サージの第１ピーク値の時間を０．
３ｎｓから０．９ｎｓの間で自由に設定することができ
る。
［発明の効果］
以上説明してきたように、この発明によれば、ｉｎｓ以
下で立ち上がる高速の人工サージ電流波形を、その立ち
上がり時間を変更可能にし、自然発生的な静電気サージ
波形に近づけることができるので、シュミレーション精
度性の高いサージ試験が実現できるようになった。
下で立ち上がる高速の人工サージ電流波形を、その立ち
上がり時間を変更可能にし、自然発生的な静電気サージ
波形に近づけることができるので、シュミレーション精
度性の高いサージ試験が実現できるようになった。
第１図は本発明の実施例の構成を示す図、第２図は本発
明の特性を示す図、第３図は本発明のサージ電圧・電流
発生器の具体例の斜視図、第４図本発明の原理図、第５
図は従来の構成図、第６図は従来の特性図である。 １・・・高圧電源部、 ２・・・放電ガン部、３・・
・充電抵抗、 ４・・・主コンデンサ、５．９・・・
リレースイッチ、 ６・・・放電抵抗、 ７・・・放電電極、８・・・被
試験体、 １０・・・遅延板、１１・・・ケーブル、
１２・・・ネジ穴、１３・・・ネジ山、 １５
・・・ケーシング、１６・・・トリガスイッチ。 第 図 ０．３ｎｓ ０．６ｎｓ ０．９ｎｓ 第４図 第５図 第６図 ０．３ｎｓ ０．９ｎｓ
明の特性を示す図、第３図は本発明のサージ電圧・電流
発生器の具体例の斜視図、第４図本発明の原理図、第５
図は従来の構成図、第６図は従来の特性図である。 １・・・高圧電源部、 ２・・・放電ガン部、３・・
・充電抵抗、 ４・・・主コンデンサ、５．９・・・
リレースイッチ、 ６・・・放電抵抗、 ７・・・放電電極、８・・・被
試験体、 １０・・・遅延板、１１・・・ケーブル、
１２・・・ネジ穴、１３・・・ネジ山、 １５
・・・ケーシング、１６・・・トリガスイッチ。 第 図 ０．３ｎｓ ０．６ｎｓ ０．９ｎｓ 第４図 第５図 第６図 ０．３ｎｓ ０．９ｎｓ
Claims (1)
- 高電圧を発生する高圧電源部と、この高電圧が充電され
る放電ガン部と、この放電ガン部に結合され前記充電さ
れた高電圧を被試験体に対して放電する放電電極とを備
えたサージ電圧・電流発生器において、前記放電ガン部
と放電電極との間に該放電電極の表面積より広い面積の
導体板を配設したことを特徴とするサージ電圧・電流発
生器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1196533A JP2807268B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | サージ電圧・電流発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1196533A JP2807268B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | サージ電圧・電流発生器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0361875A true JPH0361875A (ja) | 1991-03-18 |
| JP2807268B2 JP2807268B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=16359323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1196533A Expired - Fee Related JP2807268B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | サージ電圧・電流発生器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2807268B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016001113A (ja) * | 2014-06-11 | 2016-01-07 | 株式会社ノイズ研究所 | 静電気発生ガン |
| JP2016075634A (ja) * | 2014-10-08 | 2016-05-12 | 株式会社ノイズ研究所 | 静電気放電試験装置 |
| CN111337814A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-06-26 | 吉林华微电子股份有限公司 | 半导体器件的耐量测试装置及方法 |
| CN113125889A (zh) * | 2021-04-21 | 2021-07-16 | 阳光电源股份有限公司 | 一种充电桩及其测试装置、系统和方法 |
| CN115697756A (zh) * | 2020-09-18 | 2023-02-03 | 瑞伟安知识产权控股有限公司 | 用于对车辆到负载充电器进行预充电的系统和方法 |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP1196533A patent/JP2807268B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016001113A (ja) * | 2014-06-11 | 2016-01-07 | 株式会社ノイズ研究所 | 静電気発生ガン |
| JP2016075634A (ja) * | 2014-10-08 | 2016-05-12 | 株式会社ノイズ研究所 | 静電気放電試験装置 |
| CN111337814A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-06-26 | 吉林华微电子股份有限公司 | 半导体器件的耐量测试装置及方法 |
| CN115697756A (zh) * | 2020-09-18 | 2023-02-03 | 瑞伟安知识产权控股有限公司 | 用于对车辆到负载充电器进行预充电的系统和方法 |
| CN113125889A (zh) * | 2021-04-21 | 2021-07-16 | 阳光电源股份有限公司 | 一种充电桩及其测试装置、系统和方法 |
| US12344113B2 (en) | 2021-04-21 | 2025-07-01 | Sungrow Power Supply Co., Ltd. | Charging pile and testing device, system and method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2807268B2 (ja) | 1998-10-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4845378A (en) | Emp generator | |
| US5523699A (en) | Method and apparatus for testing semiconductor device | |
| EP0147921B1 (en) | Method and apparatus for determining the electrostatic breakdown voltage of semiconductor devices | |
| WO1995008124A1 (en) | Electrostatic discharge generator | |
| JPH0361875A (ja) | サージ電圧・電流発生器 | |
| US4742427A (en) | Electrostatic discharge simulation | |
| JPH10332758A (ja) | インパルス試験器 | |
| JP2002048829A (ja) | インパルス電圧測定装置 | |
| Corley et al. | Tests of 6-MV triggered switches on APPRM at SNL | |
| Nguyen et al. | Modelling partial discharges in an insulation material at very low frequency | |
| US5923130A (en) | Repetitive and constant energy impulse current generator | |
| US5166624A (en) | Method for testing assembly susceptibility to electrostatic discharge events | |
| JP2593951Y2 (ja) | 静電気発生装置 | |
| JPH10260218A (ja) | インパルス試験器 | |
| Arndt et al. | Comparing cable discharge events to IEC 61000-4-2 or ISO 10605 discharges | |
| Bonisch et al. | Measurement and simulation of the behavior of a short spark gap used as ESD protection device | |
| Greason | Idealized model for charged device electrostatic discharge | |
| Richman | Progress report on a different kind of ESD standard | |
| Zhou et al. | Investigations into unintended ESD generator artifacts: Prepulse and postpulse | |
| Uydur et al. | Simulation and Experimental Development of 100 kV Impulse Voltage Generator | |
| US2210324A (en) | Ignition coil testing apparatus | |
| CN110196351A (zh) | 一种电起爆器电磁脉冲敏感度测量装置 | |
| JPH0798355A (ja) | 静電破壊試験方法及びその実施装置 | |
| US4803594A (en) | Wave-shaped electrostatic discharge | |
| Haddad et al. | A new rotating spark gap design |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |