JPH0361879A - 磁束検出装置 - Google Patents
磁束検出装置Info
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- JPH0361879A JPH0361879A JP19855989A JP19855989A JPH0361879A JP H0361879 A JPH0361879 A JP H0361879A JP 19855989 A JP19855989 A JP 19855989A JP 19855989 A JP19855989 A JP 19855989A JP H0361879 A JPH0361879 A JP H0361879A
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- magnetic flux
- squid
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A0発明の目的
(1)産業上の利用分野
本発明はスクイッド(S Q U I D 、 Sup
ercond−ucttng Quatituw+ I
nterferece Device 、超(云導量子
干渉磁束計)を用いた磁束検出装置に関する。
ercond−ucttng Quatituw+ I
nterferece Device 、超(云導量子
干渉磁束計)を用いた磁束検出装置に関する。
この種の磁束検出装置は、医療や資源探査等の分野にお
いて磁界を高精度に検出する際等に使用される。
いて磁界を高精度に検出する際等に使用される。
伐)従来の技術
スクイッドは超伝導状態におし1てジゴセフソン素子に
流れる電流が磁界の変化に極めて高感度に依存するとい
う現象を利用するものであり、従来、電子計測(197
4年2月号、第19〜25頁r3QυIDについて」、
電子計測学会発1テ)および電子通信学会論文誌(19
82/6VOL。
流れる電流が磁界の変化に極めて高感度に依存するとい
う現象を利用するものであり、従来、電子計測(197
4年2月号、第19〜25頁r3QυIDについて」、
電子計測学会発1テ)および電子通信学会論文誌(19
82/6VOL。
J65−CN0.6、第475〜482頁「ニオブ薄膜
ブリッジを用いたSQUIDm束計とその性能評価」)
等に紹介されている。これらの刊行物にはDCCスクイ
ッドよびRFスクイッドを用いた磁束検出装置が記載さ
れている。そこに記載された磁束検出装置は、スクイッ
ドに誘導的に結合された検出コイルに入っている磁束を
検出している。前記検出コイルが置かれている場所の磁
界は検出された磁束を検出コイルの面積で割ることによ
って得られる。
ブリッジを用いたSQUIDm束計とその性能評価」)
等に紹介されている。これらの刊行物にはDCCスクイ
ッドよびRFスクイッドを用いた磁束検出装置が記載さ
れている。そこに記載された磁束検出装置は、スクイッ
ドに誘導的に結合された検出コイルに入っている磁束を
検出している。前記検出コイルが置かれている場所の磁
界は検出された磁束を検出コイルの面積で割ることによ
って得られる。
次に第3図により、前記刊行物に記載された従来のRF
スクイッドを用いた磁界検出装置の一例について説明す
る。
スクイッドを用いた磁界検出装置の一例について説明す
る。
第3図において、X方向の外部磁束Φ8の変化を検出す
るための検出コイル01は磁束伝達部02を介してイン
プットコイル03と接続され、それらは閉回路を構成し
ている。このインプットコイル03はスクイッド04と
誘導的に結合するように配置されている。このスクイッ
ド04は一部にジョセフソン接合部04aを有する超伝
導体からなるリングである。前記スクイッド04と誘導
的に結合するように配置されたRFコイル05はコンデ
ンサ06とともに共振回路07を形成している。また、
前記スクイッド04と誘導的に結合するようにフィード
バックコイル08が配置されている。前記符号01〜0
8で示された構成要素は一点鎖線で示した低温槽09内
に収納されじ3昇温度以下に保たれている。また、前記
符号03〜08で示された構成要素は一点鎖線で示した
シールドケース09a内に収納されて外部磁界から遮蔽
されている。
るための検出コイル01は磁束伝達部02を介してイン
プットコイル03と接続され、それらは閉回路を構成し
ている。このインプットコイル03はスクイッド04と
誘導的に結合するように配置されている。このスクイッ
ド04は一部にジョセフソン接合部04aを有する超伝
導体からなるリングである。前記スクイッド04と誘導
的に結合するように配置されたRFコイル05はコンデ
ンサ06とともに共振回路07を形成している。また、
前記スクイッド04と誘導的に結合するようにフィード
バックコイル08が配置されている。前記符号01〜0
8で示された構成要素は一点鎖線で示した低温槽09内
に収納されじ3昇温度以下に保たれている。また、前記
符号03〜08で示された構成要素は一点鎖線で示した
シールドケース09a内に収納されて外部磁界から遮蔽
されている。
前記共振回路07は高周波(たとえば、22M&)で発
振するRFバイアス電流源010により微弱高周波電力
の供給を受け、22M)(zで共振する。共振回路07
の22MHz信号は前記インプットコイル03およびフ
ィードバックコイル08の磁束の和の値に従いスクイッ
ド04により振幅変調される。この振幅変調された信号
すなわち磁束検出信号はRFアンプおよび検波器011
により増幅、検波されてロック・イン・アンプ012に
入力される。
振するRFバイアス電流源010により微弱高周波電力
の供給を受け、22M)(zで共振する。共振回路07
の22MHz信号は前記インプットコイル03およびフ
ィードバックコイル08の磁束の和の値に従いスクイッ
ド04により振幅変調される。この振幅変調された信号
すなわち磁束検出信号はRFアンプおよび検波器011
により増幅、検波されてロック・イン・アンプ012に
入力される。
前記ロック・イン・アンプ012は、バンファアンブ0
13、位相検波器014、および参照信号発振器015
等から槽底されている。そして、参照信号発振器015
は検出精度を高めるための参照信号(たとえば50 K
Hz)を発生しており、この参照信号は前記フィードバ
ックコイル08に印加されている。そしてロック・イン
・アンプ012は、前記RFアンプおよび検波器011
からの入力信号の中、50KHzで変調された信号のみ
を検波して積分型アンプ016に出力する。この積分型
アンプ016の出力する直流信号はフィードバックライ
ン017を通り、前記フィードバックコイル08でフィ
ードバック磁束Φ8′を発生させている。このフィード
バック磁束Φ8′は前記外部磁束Φ8を打消す大きさと
向きを有している。
13、位相検波器014、および参照信号発振器015
等から槽底されている。そして、参照信号発振器015
は検出精度を高めるための参照信号(たとえば50 K
Hz)を発生しており、この参照信号は前記フィードバ
ックコイル08に印加されている。そしてロック・イン
・アンプ012は、前記RFアンプおよび検波器011
からの入力信号の中、50KHzで変調された信号のみ
を検波して積分型アンプ016に出力する。この積分型
アンプ016の出力する直流信号はフィードバックライ
ン017を通り、前記フィードバックコイル08でフィ
ードバック磁束Φ8′を発生させている。このフィード
バック磁束Φ8′は前記外部磁束Φ8を打消す大きさと
向きを有している。
また、前記積分型アンプ016の出力信号は抵抗R0の
両端から磁束検出信号voとして取り出されている。
両端から磁束検出信号voとして取り出されている。
次に、前述の第3図に示した従来の磁束検出装置の作用
を説明する。
を説明する。
先ず第3図において、スクイッド04に作用する全磁束
をΦとし、この磁束Φが変化した場合について考える。
をΦとし、この磁束Φが変化した場合について考える。
この場合、スクイッド04内部の磁束は磁束量子Φ。(
−2,07X10す5Wb)の整数倍しかとり得ないの
で、もともとスフインド04内にあった磁束の値を保つ
ために、前記磁束Φの変化分がスクイッド04内に入る
のを打ち消すように遮蔽電流1.(第4図参照)が流れ
る。
−2,07X10す5Wb)の整数倍しかとり得ないの
で、もともとスフインド04内にあった磁束の値を保つ
ために、前記磁束Φの変化分がスクイッド04内に入る
のを打ち消すように遮蔽電流1.(第4図参照)が流れ
る。
この遮蔽電流■、は、スクイッド04の臨界電流■。に
達するまでは超伝導で流れるが、臨界電流1cに達する
と常伝導となってスクイッド04内に磁束が出入する。
達するまでは超伝導で流れるが、臨界電流1cに達する
と常伝導となってスクイッド04内に磁束が出入する。
この遮蔽電流Isの大きさはΦ/Φ。の値に対して第4
図のような関係にあり、磁束量子Φ。を単位とする周期
関数となっている。
図のような関係にあり、磁束量子Φ。を単位とする周期
関数となっている。
ところで、前記スクイッド04に作用する磁束のうち、
前記フィードバック磁束Φ8′を0とし、検出精度を上
げるための前記50KHzの参照信号による交流磁束を
無視した場合、すなわち、スクイッド04に作用する磁
束としてRFバイアス電流源010によりRFコイル0
5に流れる高周波電流で発生する交流磁束Φ、 sin
ωtと前記外部磁束(直流磁束)Φ8のみが作用する場
合について考える。この場合、前記交流磁束Φ* si
nωtの振幅Φ、を変化させたときの誘導電圧■は、前
記磁束Φや−Oの場合(およびΦ8−nΦ。、n=1.
2.・・・の場合)に第5図の実線のようになり、前
記磁束Φx −(1/2)Φ。の場合(およびΦ8−n
Φ。+(1/2)Oo s n−1,2゜・・・の場合
)に第5図の破線のようになる。
前記フィードバック磁束Φ8′を0とし、検出精度を上
げるための前記50KHzの参照信号による交流磁束を
無視した場合、すなわち、スクイッド04に作用する磁
束としてRFバイアス電流源010によりRFコイル0
5に流れる高周波電流で発生する交流磁束Φ、 sin
ωtと前記外部磁束(直流磁束)Φ8のみが作用する場
合について考える。この場合、前記交流磁束Φ* si
nωtの振幅Φ、を変化させたときの誘導電圧■は、前
記磁束Φや−Oの場合(およびΦ8−nΦ。、n=1.
2.・・・の場合)に第5図の実線のようになり、前
記磁束Φx −(1/2)Φ。の場合(およびΦ8−n
Φ。+(1/2)Oo s n−1,2゜・・・の場合
)に第5図の破線のようになる。
この第5図においてΦ、−Φ、に固定した場合、インプ
ラトコ・イル03で発生する磁束Φ8が変化すると、前
記共振回路07の誘導電圧Vは次のようになる。すなわ
ち、 Φ8−nΦ。のときV−VA ΦK = (n + 1 / 2 ) Oo O)とき
V−VBnΦ。くΦつ<(n+1/2)Φ。のときまた
は(n+1/2)Φ。くΦ、 < (n+1)Φ。のと
きV、<V<V。
ラトコ・イル03で発生する磁束Φ8が変化すると、前
記共振回路07の誘導電圧Vは次のようになる。すなわ
ち、 Φ8−nΦ。のときV−VA ΦK = (n + 1 / 2 ) Oo O)とき
V−VBnΦ。くΦつ<(n+1/2)Φ。のときまた
は(n+1/2)Φ。くΦ、 < (n+1)Φ。のと
きV、<V<V。
但し、n−0,1,2,・・・
この場合、インプットコイル03で発生する磁束ΦXす
なわち前記検出コイル01で検出された外部磁束に対し
て、前記共振回路o7の誘導電圧Vは、第6図に示すよ
うに磁束量子Φ0単位でV、とV、との間を周期的に変
化し、三角波パターンを描くことになる。
なわち前記検出コイル01で検出された外部磁束に対し
て、前記共振回路o7の誘導電圧Vは、第6図に示すよ
うに磁束量子Φ0単位でV、とV、との間を周期的に変
化し、三角波パターンを描くことになる。
ところで実際はフィードバックコイルo8には、前記イ
ンプットコイル03で発生する磁束Φつの変化を打ち消
す大きさのフィードバック磁束Φ買′が発生するように
帰還電流が流れる。
ンプットコイル03で発生する磁束Φつの変化を打ち消
す大きさのフィードバック磁束Φ買′が発生するように
帰還電流が流れる。
したがって、前記積分型アンプ016の出力信号および
前記磁束検出信号voは常時前記インプットコイル03
の磁束Φχの変化に対応して変化する。
前記磁束検出信号voは常時前記インプットコイル03
の磁束Φχの変化に対応して変化する。
そして前記磁束検出信号v0を高精度で検出することに
より、磁束量子Φ。単位の1/1000〜115000
程度の精度で磁束の変化を検出することかできる。この
場合、磁束量子Φ。を検出コイルの面積Sで割って得ら
れる磁界の大きさをその検出装置の「単位磁界」と定義
すれば単位磁界の1/1000−115000程度の精
度で外部磁界の変化を検出することができる。なお、前
記単位磁界はスクイッドの面積Sを大きくする程小さな
値となるので、前記面積Sを大きくすることにより磁界
の検出精度を高めることができる。
より、磁束量子Φ。単位の1/1000〜115000
程度の精度で磁束の変化を検出することかできる。この
場合、磁束量子Φ。を検出コイルの面積Sで割って得ら
れる磁界の大きさをその検出装置の「単位磁界」と定義
すれば単位磁界の1/1000−115000程度の精
度で外部磁界の変化を検出することができる。なお、前
記単位磁界はスクイッドの面積Sを大きくする程小さな
値となるので、前記面積Sを大きくすることにより磁界
の検出精度を高めることができる。
なおまた、磁束量子Φ。単位よりも高精度で磁束Φ、を
検出する必要が無い場合すなわち磁束Φ8の変化を磁束
量子Φ。単位で検出する場合(すなわち、外部磁界の変
化を単位磁界の精度で検出する場合)には、第3図に示
す積分型アンプ016の出力信号をフィードバックコイ
ル08にフィードバックさせる必要はない、この場合の
磁束検出信号は第6図に示すVと同じ形になる。すなわ
ち、第6図から分かるように、前記検出コイルO1に入
っている外部磁束Φ、が変化した場合、前記磁束検出信
号は、検出コイル01内の磁束がnΦ。
検出する必要が無い場合すなわち磁束Φ8の変化を磁束
量子Φ。単位で検出する場合(すなわち、外部磁界の変
化を単位磁界の精度で検出する場合)には、第3図に示
す積分型アンプ016の出力信号をフィードバックコイ
ル08にフィードバックさせる必要はない、この場合の
磁束検出信号は第6図に示すVと同じ形になる。すなわ
ち、第6図から分かるように、前記検出コイルO1に入
っている外部磁束Φ、が変化した場合、前記磁束検出信
号は、検出コイル01内の磁束がnΦ。
となる度にVA (三角波パターンの山の値)となり
、(n+1/2)Φ。となる度にvm(三角波パターン
の谷の値)となるので、磁束検出信号をレコーダ等によ
り記録して前記三角波パターンの山または谷の数を計数
することにより検出コイル01を貫通する磁束数の変化
を磁束量子Φ。単位で(すなわち外部磁界の変化を前記
単位磁界の精度)で計測することができる。
、(n+1/2)Φ。となる度にvm(三角波パターン
の谷の値)となるので、磁束検出信号をレコーダ等によ
り記録して前記三角波パターンの山または谷の数を計数
することにより検出コイル01を貫通する磁束数の変化
を磁束量子Φ。単位で(すなわち外部磁界の変化を前記
単位磁界の精度)で計測することができる。
(3)発明が解決しようとする課題
ところで、前記第3図の磁束検出装置では、検出を開始
したときにすでに検出コイル01内に外部磁束にΦ。(
第6図参照)が入っていた場合には、その状態からの検
出コイル01内の磁束の変化しか検出することができな
い、この場合(第6図の(k+1)Φ。から(k+m)
Φ0までの三角波の山の個数mを計数した場合)、検出
コイル01が置かれている場所の磁束の変化分が検出で
きるだけで磁束の大きさ(すなわち、0を基準とする磁
束の大きさ)を検出することはできないという問題点が
ある。
したときにすでに検出コイル01内に外部磁束にΦ。(
第6図参照)が入っていた場合には、その状態からの検
出コイル01内の磁束の変化しか検出することができな
い、この場合(第6図の(k+1)Φ。から(k+m)
Φ0までの三角波の山の個数mを計数した場合)、検出
コイル01が置かれている場所の磁束の変化分が検出で
きるだけで磁束の大きさ(すなわち、0を基準とする磁
束の大きさ)を検出することはできないという問題点が
ある。
以上は、RFスクイッドを用いた磁束検出装置に関する
説明であるが、DCCスクイッドDoubleJunc
Hon 5QID)を用いた磁束検出装置も同様に、検
出を開始したときにすでに検出コイル内に外部磁束が入
っていた場合には、その状態からの検出コイル内の磁束
の変化しか検出することができない、そしてやはりこの
場合、検出コイルが置かれている場所の磁束の大きさを
検出することはできないという問題点がある。
説明であるが、DCCスクイッドDoubleJunc
Hon 5QID)を用いた磁束検出装置も同様に、検
出を開始したときにすでに検出コイル内に外部磁束が入
っていた場合には、その状態からの検出コイル内の磁束
の変化しか検出することができない、そしてやはりこの
場合、検出コイルが置かれている場所の磁束の大きさを
検出することはできないという問題点がある。
磁束検出装置が磁束検出を開始する際に、検出コイル内
の磁束をOにしておく適゛当な手段があれば、検出コイ
ルが置かれている場所の磁束の太きさ(Oを基準とする
値)を検出することができるのであるが、いまだ、その
ような適当な手段は知られていない。
の磁束をOにしておく適゛当な手段があれば、検出コイ
ルが置かれている場所の磁束の太きさ(Oを基準とする
値)を検出することができるのであるが、いまだ、その
ような適当な手段は知られていない。
そこで、検出コイル01を貫通する磁束ΦXの大きさ(
0を基準とする値)を検出する方法としては、第3図に
示すようなスクイッド04を用いた精度の高い磁束検出
装置と他の精度の粗い磁束検出装置とを組み合わせて使
用する方法が考えられる。この方法では、前記粗い磁束
検出装置により磁束量子Φ0単位で磁束の真の値がnΦ
。と(n+1)Φ。との間に在ることを検出し、その間
のどの値であるかは前記精度の高い磁束検出装置によっ
て検出することにより、磁束ΦXの大きさを高精度で検
出することができる。しかしながら、このような方法で
は粗い精度の磁束検出装置を別途準備しなければならな
いという問題点がある。
0を基準とする値)を検出する方法としては、第3図に
示すようなスクイッド04を用いた精度の高い磁束検出
装置と他の精度の粗い磁束検出装置とを組み合わせて使
用する方法が考えられる。この方法では、前記粗い磁束
検出装置により磁束量子Φ0単位で磁束の真の値がnΦ
。と(n+1)Φ。との間に在ることを検出し、その間
のどの値であるかは前記精度の高い磁束検出装置によっ
て検出することにより、磁束ΦXの大きさを高精度で検
出することができる。しかしながら、このような方法で
は粗い精度の磁束検出装置を別途準備しなければならな
いという問題点がある。
さらに、前記従来の磁束検出装置では、スクイッドを外
部磁束から完全に遮蔽することが容易でなく、シールド
ケース09a内に侵入する外部磁束により検出精度が低
下するという問題点もあった。
部磁束から完全に遮蔽することが容易でなく、シールド
ケース09a内に侵入する外部磁束により検出精度が低
下するという問題点もあった。
本発明は前述の事情に鑑み、磁束検出装置が磁束検出を
開始する際に、検出コイル内の磁束をOにできるように
して高精度の磁束検出を行えるようにすることを課題と
する。
開始する際に、検出コイル内の磁束をOにできるように
して高精度の磁束検出を行えるようにすることを課題と
する。
B0発明の構成
(1)課題を解決するための手段
前記課題を解決するために、本発明の磁束検出装置は、
超伝導体で作られたコアと、このコアの表面に絶縁層を
介して配設されるとともに前記コアよりも臨界温度の高
い超伝導体で作られた磁界検出用のスクイッドとが、外
部磁界を遮蔽しない低温槽内に配置されたことを特徴と
する特(21作 用 前述の構成を備えた本発明の磁束検出装置において、超
伝導体のコアをその臨界温度よりも低い温度に保持する
と磁束検出用スクイッド内を貫通する磁束は零となる。
超伝導体で作られたコアと、このコアの表面に絶縁層を
介して配設されるとともに前記コアよりも臨界温度の高
い超伝導体で作られた磁界検出用のスクイッドとが、外
部磁界を遮蔽しない低温槽内に配置されたことを特徴と
する特(21作 用 前述の構成を備えた本発明の磁束検出装置において、超
伝導体のコアをその臨界温度よりも低い温度に保持する
と磁束検出用スクイッド内を貫通する磁束は零となる。
次に超伝導体のコアの温度をその臨界温度より低い値か
らコアの臨界温度を越えて磁束検出用のスクイッドの臨
界温度より低い値まで変化させる。これによりコアは超
伝導状態から常伝導状態となり磁束検出用のスクイッド
を貫通する磁束は零から外部磁束の大きさまで変化する
。このスクイッド内の磁束変化は従来公知の手段により
電気信号として取り出され、処理される。そして、磁束
検出用のスクイッドを貫通する磁束の変化は、貫通磁束
がOの状態を基準として検出される。
らコアの臨界温度を越えて磁束検出用のスクイッドの臨
界温度より低い値まで変化させる。これによりコアは超
伝導状態から常伝導状態となり磁束検出用のスクイッド
を貫通する磁束は零から外部磁束の大きさまで変化する
。このスクイッド内の磁束変化は従来公知の手段により
電気信号として取り出され、処理される。そして、磁束
検出用のスクイッドを貫通する磁束の変化は、貫通磁束
がOの状態を基準として検出される。
なお、前記磁束検出用のスクイッド内の磁束変化を電気
信号として取り出す従来公知の手段は前述の雑誌にも記
載されており、たとえば、スクイッドがDCCスクイッ
ドある場合には、一対のジョセフソン接合により分割さ
れた2個の円弧状超伝導体間に前記ジョセフソン接合を
通って流れる直流電流により生じる電圧を直接取り出す
手段があり、また、スクイッドがRFスクイッドである
場合には、RFスクィッドと誘導的に結合するように配
置されたRFコイルがある。
信号として取り出す従来公知の手段は前述の雑誌にも記
載されており、たとえば、スクイッドがDCCスクイッ
ドある場合には、一対のジョセフソン接合により分割さ
れた2個の円弧状超伝導体間に前記ジョセフソン接合を
通って流れる直流電流により生じる電圧を直接取り出す
手段があり、また、スクイッドがRFスクイッドである
場合には、RFスクィッドと誘導的に結合するように配
置されたRFコイルがある。
(3)実施例
次に、本発明の磁束検出装置の実施例について説明する
。
。
第1図は本発明の磁束検出装置の第1実施例の説明図で
ある。
ある。
第1図において、超伝導体で造られた円筒状のコアlの
上面には薄い絶縁層2を介して磁束検出用のスクイッド
3が配設されている。このスクイッド3は1個のジョセ
フソン接合を有する超伝導体のリングにより形成された
RFスクイッドであり、薄膜技術により形成されている
。また、スクイッド3は前記コア1よりも臨界温度の高
い超伝導体が用いられる0、たとえばコア1にスズ5n
(Tcc=3.7’ K)を用いるならば、RFスクイ
ッド3にはニオブNb (T、、−90K)を用いる。
上面には薄い絶縁層2を介して磁束検出用のスクイッド
3が配設されている。このスクイッド3は1個のジョセ
フソン接合を有する超伝導体のリングにより形成された
RFスクイッドであり、薄膜技術により形成されている
。また、スクイッド3は前記コア1よりも臨界温度の高
い超伝導体が用いられる0、たとえばコア1にスズ5n
(Tcc=3.7’ K)を用いるならば、RFスクイ
ッド3にはニオブNb (T、、−90K)を用いる。
また、前記コア1の下面には薄い絶縁層(図示せず)を
介して、コア1の加熱手段であるヒータ4が配設されて
いる。このヒータ4はスイッチSWを介して加熱用電源
Bに接続されている。またスイッチSWはコア1の検出
温度に基づいて作動するコア温度制御装置Sによってオ
ン−オフ制御されるようになっている。
介して、コア1の加熱手段であるヒータ4が配設されて
いる。このヒータ4はスイッチSWを介して加熱用電源
Bに接続されている。またスイッチSWはコア1の検出
温度に基づいて作動するコア温度制御装置Sによってオ
ン−オフ制御されるようになっている。
前記スクイッド3と誘導的に結合するように配置された
RFコイル5はコンデンサ6とともに共振回路7を構成
している。また、前記スクイッド3と誘導的に結合する
ようにフィードバックコイル8が配置されている。前記
l〜8で示された構成要素は一点鎖線で示される低温槽
9内に置かれ臨界温度以下に保たれている。
RFコイル5はコンデンサ6とともに共振回路7を構成
している。また、前記スクイッド3と誘導的に結合する
ようにフィードバックコイル8が配置されている。前記
l〜8で示された構成要素は一点鎖線で示される低温槽
9内に置かれ臨界温度以下に保たれている。
第1図において符号10〜17およびRoで示した構成
要素はそれぞれ、前記第3図において符号010−01
7およびRoで示した従来の構成要素と変わりがないの
で、説明は省略する。
要素はそれぞれ、前記第3図において符号010−01
7およびRoで示した従来の構成要素と変わりがないの
で、説明は省略する。
なお、この第1図に示した実施例においても、前記第3
図に示した従来例と同様に、積分型アンプ16の出力信
号は抵抗R0の両端から磁束検出信号V。として取り出
されている。
図に示した従来例と同様に、積分型アンプ16の出力信
号は抵抗R0の両端から磁束検出信号V。として取り出
されている。
次に、前記第1実施例の作用を説明する。
まずコア1および磁束検出用スクイッド3の臨界温度を
それぞれTcc、Tck、また低温槽9により冷却され
ているコア1およびスクイッド3等の温度をTとする。
それぞれTcc、Tck、また低温槽9により冷却され
ているコア1およびスクイッド3等の温度をTとする。
(1) 外部磁界B、のもとで、スイッチSWをOF
Fにしたまま、T<TccくT。にすることにより、コ
ア1が超伝導状態に転位し、スクイッド3が囲む面積内
の磁束が排除される。いわゆるマイスナー効果である。
Fにしたまま、T<TccくT。にすることにより、コ
ア1が超伝導状態に転位し、スクイッド3が囲む面積内
の磁束が排除される。いわゆるマイスナー効果である。
(2)次にヒータ4を用いてコア1を加熱しTccくT
NT。とし、コア1を超伝導から常伝導状態に転位させ
ることにより、排除されていた外部磁束Φ翼がスクイッ
ド3に入ろうとする。このとき前記スクイッド3に入ろ
うとする外部磁束Φ、を打ち消す方向の外部磁束Φ8°
を発生する出力電圧v0すなわち磁束検出信号v0が得
られる。この磁束検出信号■。を高精度で読み取ること
により磁束量子Φ。単位の1000分の1の精度で磁束
の変化を検出することができる。なお、前記磁束検出信
号■。をフィードバックコイル8に帰還させない場合、
またはフィードバックコイル8を省略した場合等には前
記排除されていた外部磁束Φ8が磁束量子Φ。単位でス
クイッド3に入る。このとき、前述の第6図に示すよう
な三角波パターンの磁束検出信号V、が出力される。こ
の三角波パターンの山または谷の数を計数することによ
り磁束量子Φ。単位で磁束を検出することができる。
NT。とし、コア1を超伝導から常伝導状態に転位させ
ることにより、排除されていた外部磁束Φ翼がスクイッ
ド3に入ろうとする。このとき前記スクイッド3に入ろ
うとする外部磁束Φ、を打ち消す方向の外部磁束Φ8°
を発生する出力電圧v0すなわち磁束検出信号v0が得
られる。この磁束検出信号■。を高精度で読み取ること
により磁束量子Φ。単位の1000分の1の精度で磁束
の変化を検出することができる。なお、前記磁束検出信
号■。をフィードバックコイル8に帰還させない場合、
またはフィードバックコイル8を省略した場合等には前
記排除されていた外部磁束Φ8が磁束量子Φ。単位でス
クイッド3に入る。このとき、前述の第6図に示すよう
な三角波パターンの磁束検出信号V、が出力される。こ
の三角波パターンの山または谷の数を計数することによ
り磁束量子Φ。単位で磁束を検出することができる。
そして、前記検出した外部磁束Φ8をスクイッド3の面
積で割ることにより外部磁界の大きさを検出することが
できる。
積で割ることにより外部磁界の大きさを検出することが
できる。
次に第2図により本発明の第2実施例を説明する。
この第2実施例は、前記第1実施例の符号1〜4で示さ
れた構成要素が符号1′〜4′で示すように構成された
点で第1実施例と相違するが、他の点では同一である。
れた構成要素が符号1′〜4′で示すように構成された
点で第1実施例と相違するが、他の点では同一である。
第2図において、超伝導体で造られた円筒状のコア1′
の側面には薄い絶縁層2′を介して磁束検出用のスクイ
ッド3′が配設されている。このスクイッド3′は1個
のジョセフソン接合を有する超伝導体のリングにより形
威されたRFスクイッドであり、薄膜技術により形威さ
れている。また、スクイッド3′は前記コア1′よりも
臨界温度の高い超伝導体が用いられる。
の側面には薄い絶縁層2′を介して磁束検出用のスクイ
ッド3′が配設されている。このスクイッド3′は1個
のジョセフソン接合を有する超伝導体のリングにより形
威されたRFスクイッドであり、薄膜技術により形威さ
れている。また、スクイッド3′は前記コア1′よりも
臨界温度の高い超伝導体が用いられる。
また、前記コア1′の上面には薄い絶縁層(図示せず)
を介して、コア1′の加熱手段であるヒータ4′が配設
されている。
を介して、コア1′の加熱手段であるヒータ4′が配設
されている。
この第2実施例も前記第1実施例と同様の作用を奏する
。
。
前述の本発明の各実施例によれば、スクイッドそのもの
を検出コイルとして使用し、従来の検出コイルと、この
検出コイルおよび従来のスクイッド間に設ける磁束伝達
部とを省略したので、構成が簡素になるとともに、磁束
検出作業の開始時に磁束伝達部や検出コイルを貫通して
いる残留磁束の影響を除くことができる。したがって磁
束そのものの大きさを高精度に検出することができる。
を検出コイルとして使用し、従来の検出コイルと、この
検出コイルおよび従来のスクイッド間に設ける磁束伝達
部とを省略したので、構成が簡素になるとともに、磁束
検出作業の開始時に磁束伝達部や検出コイルを貫通して
いる残留磁束の影響を除くことができる。したがって磁
束そのものの大きさを高精度に検出することができる。
以上本発明の実施例について説明したが、本発明は前記
実施例に限定されるものではなく、種々の変形例が考え
られる。
実施例に限定されるものではなく、種々の変形例が考え
られる。
例えばコア1,1′は円柱状ではなく角柱状にすること
も可能であり、磁束検出用スクイッド3゜3′は蒸着に
よる以外に単に超伝導線を巻くことによっても作ること
が可能である。また、薄い円板状のセラミック等の絶縁
体の表面にジョセフソン接合を有する超伝導リングを形
威し、これを超伝導体で構成したコアの表面に張り付け
ることも可能である。さらに、ヒータ4.4′は、コア
1゜1′以外の適当な位置に配設することも可能であり
、また、省略することも可能である。そして、ヒータ4
.4′を省略した場合には、適当に温度調節された冷媒
等を用いることにより、低温槽9内の温度TをT <
T cc < T c kからTccくT<Tckに上
昇させて、その状態に保持するようにすればよい。さら
にまた、スクイッド3は直交3軸方向に3個配置するこ
とにより3次元空間内の磁界の向き、大きさを検出する
ことが可能である。そして、さらにフィードバックコイ
ル8を省略して、フィードバックライン17をRFコイ
ル5に接続することも可能である。
も可能であり、磁束検出用スクイッド3゜3′は蒸着に
よる以外に単に超伝導線を巻くことによっても作ること
が可能である。また、薄い円板状のセラミック等の絶縁
体の表面にジョセフソン接合を有する超伝導リングを形
威し、これを超伝導体で構成したコアの表面に張り付け
ることも可能である。さらに、ヒータ4.4′は、コア
1゜1′以外の適当な位置に配設することも可能であり
、また、省略することも可能である。そして、ヒータ4
.4′を省略した場合には、適当に温度調節された冷媒
等を用いることにより、低温槽9内の温度TをT <
T cc < T c kからTccくT<Tckに上
昇させて、その状態に保持するようにすればよい。さら
にまた、スクイッド3は直交3軸方向に3個配置するこ
とにより3次元空間内の磁界の向き、大きさを検出する
ことが可能である。そして、さらにフィードバックコイ
ル8を省略して、フィードバックライン17をRFコイ
ル5に接続することも可能である。
C1発明の効果
前述のように、本発明の磁束検出装置によれば、スクイ
ッド素子を用いた簡単な構成により外部磁束の変化を高
精度で検出できるだけでなく、外部磁束の大きさそのも
のを高精度で検出することができ、医療や資源探査等の
分野において広く応用することができる。
ッド素子を用いた簡単な構成により外部磁束の変化を高
精度で検出できるだけでなく、外部磁束の大きさそのも
のを高精度で検出することができ、医療や資源探査等の
分野において広く応用することができる。
第1図は本発明の磁束検出装置の一実施例の構成図、第
2図は本発明の他の実施例の要部の構成図、第3図はス
クイッドを用いた従来の磁束検出装置の説明図、第4へ
・6図はスクイッドを用いた磁束検出装置の作用説明図
である。 1.1′・・・コア、2,2′・・・絶縁層、3,3′
・・・磁束検出用スクイッド、4.4′・・化−タ、9
・・・低温槽
2図は本発明の他の実施例の要部の構成図、第3図はス
クイッドを用いた従来の磁束検出装置の説明図、第4へ
・6図はスクイッドを用いた磁束検出装置の作用説明図
である。 1.1′・・・コア、2,2′・・・絶縁層、3,3′
・・・磁束検出用スクイッド、4.4′・・化−タ、9
・・・低温槽
Claims (1)
- 超伝導体で作られたコアと、このコアの表面に絶縁層を
介して配設されるとともに前記コアよりも臨界温度の高
い超伝導体で作られた磁界検出用のスクイッドとが、外
部磁界を遮蔽しない低温槽内に配置された磁束検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19855989A JPH0361879A (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 磁束検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19855989A JPH0361879A (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 磁束検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0361879A true JPH0361879A (ja) | 1991-03-18 |
Family
ID=16393197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19855989A Pending JPH0361879A (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 磁束検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0361879A (ja) |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP19855989A patent/JPH0361879A/ja active Pending
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