JPH0362327A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野］ 本発明は、再生専用型、追記型等の各種光ディスクへの
情報の記録、再生等に使用する光ピックアップ装置に関
するものである。

〔従来の技術〕

第１４図に示すように、従来の光ピックアップ装置にお
いて、半導体レーザ１の出射光は第１回折素子２により
０次回折光（以下、メインビームと呼ぶ）と、紙面とほ
ぼ直交する平面内で上記メインビームに対し所定の角度
を威して離間する±１次回折光（以下、１対のサブビー
ムと呼ぶ）とに分割され、第２回折素子３に導かれる。

ここで、３つのビームはそれぞれ更に回折され、各Ｏ次
回指光がコリメートレンズ４を通過し、対物レンズ５に
よって光ディスク６上に集光される。

その際、メインビームは、例えば、光ディスク６がコン
パクトディスクであれば、ピットとして記録された記録
情報を読み取るべく、光ディスク６上のピットに集光さ
れ、その反射強度に基づいて記録情報の再生が行われる
。又、メインビームに基づいて、後述の如く、フォーカ
スエラー信号が得られる。

一方、１対のサブビームは、上記のメインビームに対し
、光ディスク６のトラック方向に互いに逆向きに比較的
大きく離れ、かつ、光ディスク６のラジアル方向にはメ
インビームから互いに逆向きに僅かずつずれた位置に集
光される。そして、１対のサブビームの反射強度からト
ラッキングエラー信号が得られる。

光ディスク６から反射されたメインビーム及びサブビー
ムは、対物レンズ５及びコリメートレンズ４を通過し、
第２回折素子３にて回折され、各１次回折光が光検出器
７に導かれる。

第１５図（ａ）に示すように、第２回折素子３は、この
第２回折素子３の回折方向に延びる分割線３ｃにより２
つの領域３ａ・３ｂに分割されている。各領域３ａ・３
ｂには、それぞれ格子３ｄ・３ｄ・・・、３ｅ・３ｅ・
・・が互いに異なるピッチで分割線３Ｃに対し直角方向
に形成されている。

一方、第１５図（ｂ）に示すように、光検出器７は、そ
れぞれ第２回折素子３における回折方向に延びる６つの
光検出部７ａ〜７ｆに分割されている。そして、フォー
カスエラーがない合焦状態では、第２回折素子３の領域
３ａで回折されたメインビームは分割線７ｇ上に集光さ
れて光スボッ）Ｐ＋　’を形成し、領域３ｂで回折され
たメインビームは分割線７ｈ上に集光されて光スポット
Ｐ２を形成する。又、第２回折格子３で回折された１対
のサブビームはそれぞれ光検出部７ｅ・７ｆに集光され
る。

そして、各光検出部７ａ〜７ｆから得られる出力信号５
ａ−３ｆに基づいて、フォーカスエラー信号ＦＥＳはＦ
ＥＳ＝　（Ｓａ＋５ｄ）−（Ｓｂ十Ｓｃ）の演算で得ら
れ、トラッキングエラー信号ＲＥＳはＲＥＳ＝Ｓｅ−３
ｆの演算で得られ、ピット信号（記録情報）ＲＦはＲＦ
＝Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄの演算で得られる。

なお、第２回折素子３における格子３ｄ・３ｄ・・・、
３ｅ・３Ｃ・・・の断面形状としては、従来から利用さ
れている第１６図（ａ）に示すような矩形断面の他に、
同図（ｂ）に示す如くの光の利用効率の高いのこぎり形
のブレーズ形状も検討されている。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、上記の構成では、第１５図（ｂ）において、
フォーカスエラーの検出のために光検出部７ａと７０及
び７ｂと７ｄをそれぞれ長手方向に並べて配置し、２つ
の光スポットＰＩ′　・Ｐ２を第２回折素子３の回折方
向にかなり大きく離して集光するようになっているので
、光検出部７ａ〜７ｆが第２回折素子３での回折方向に
見てかなり縦長となる。しかもトラッキングエラー検出
用の光検出部７ｅ・７ｆをフォーカスエラー及び記録情
報の検出用の光検出部７ａ〜７ｄとは別途設けているの
で、光検出部７ａ〜７ｆの個数が増大する。その結果、
光検出部７ａ〜７ｆの占有面積が大きくなるとともに、
製造コストも増大する不具合がある。

又、第２回折素子３における格子３ｄ・３ｄ・・・、３
ｅ・３ｅ・・・の断面形状として第１６図（ｂ）に示す
ブレーズ形状を採用する場合、第２回折素子３０２つの
領域３ａ・３ｂでの回折角の差がかなり大きいので、格
子３ｄ・３ｄ・・・と格子３ｅ・３ｅ・・・のピッチを
大幅に相違させる必要がある。

そのため、領域３ａと３ｂとで同一断面のブレーズ形状
への加工が困難となるので、格子３ｄ・３ｄ・・・、３
ｅ・３ｅ・・・の加工作業が煩雑となるばかりでなく、
２つの領域３ａ・３ｂ間で格子３ｄ・３ｄ・・・、３ｅ
・３ｅ・・・の断面形状の相違により光の利用効率に差
が生じ、フォーカスエラーの検出が正確に行えなくなる
という問題が生じる。なお、領域３ａと３ｂでの光の利
用効率の差を低減させるためには、両領域３ａ・３ｂに
おけるブレーズ形状をそれぞれ最適形状とは異なる形状
に変化させる必要があるが、その場合は、充分に高い光
の利用効率が得られなくなる。

更に、上記の光ピックアップ装置では、いわゆる、３ビ
ーム法を採用しているため、半導体レーザｌの出射光を
３ビームに分割する第１回折素子２が必要となり、部品
点数の増加を招くという不具合を有していた。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る光ピックアップ装置は、上記の課題を解決
するために、光発生手段と、この光発生手段から出射さ
れる光を光ディスク上に集光させるとともに光ディスク
からの反射光を回折素子に導く光学系と、光ディスクか
らの反射光を光検出器側に回折させる回折素子と、上記
回折素子からの回折光を受光して電気信号に変換する光
検出器とを備えた光ピックアップ装置において、上記回
折素子はほぼ光ディスクのトラック方向に延びる分割線
と、ほぼ光ディスクのラジアル方向に延びる分割線とを
境界として４つの領域に分割され、かつ、対角線位置の
各２つの領域での回折光の焦点位置までの距離がそれぞ
れほぼ一致するように設定されるとともに、フォーカス
エラーの生じていない時に一方の対角線位置の２つの領
域での回折光の焦点位置が光検出器の手前側に位置し、
他方の対角線位置の２つの領域での回折光の焦点位置が
光検出器より遠方に位置し、両焦点位置のほぼ中間位置
に光検出器が位置するように設定されており、上記光検
出器には上記回折素子の各領域に対応する少なくとも各
１つの光検出部を含む少なくとも４つの光検出部が設け
られており、かつ、上記光検出器の全ての光検出部の出
力信号の和に基づいて光ディスク上に記録された情報の
検出を行う記録情報検出手段と、上記回折素子における
対角線位置の各２つの領域にそれぞれ対応する光検出部
の出力信号の和同士の差に基づいてフォーカスエラーを
検出するフォーカスエラー検出手段と、上記回折素子に
おける対角線位置の各２つの領域にそれぞれ対応する光
検出部の出力信号の和同士の差と、全ての光検出部の出
力信号の和との位相を比較することによりトラッキング
エラーを検出するトラッキングエラー検出手段とを備え
ていることを特徴とするものである。

〔作　用〕

上記の構成によれば、光学系の合焦時に回折素子におけ
る一方の対角線位置の２つの領域からの回折光は光検出
器より手前側で焦点を形成し、他方の対角線位置の２つ
の領域からの回折光は光検出器より遠方側で焦点を形成
するようにしているので、光学系の合焦時にいずれも光
検出器上で所定の面積を有する光スポットを形成するも
のである。そして、フォーカスエラーが生じると、一方
の対角線位置の２つの領域からの回折光による光スポッ
トが拡大又は縮小し、他方の対角線位置の２つの領域対
からの回折光による光スポットは逆に縮小又は拡大する
ことにより光検出器の各光検出部での受光量が変化する
ので、それに基づいて、フォーカスエラーの検出が行わ
れるものである。

又、トラッキングエラーの生じていない時には、光ディ
スク上のピット等の記録情報により回折素子上で生じる
光ディスクからの反射光の明暗パターンは、光ディスク
のトラック方向に延びる分割線を境界として左右対称と
なるので、対角線位置の各２つの領域にそれぞれ対応す
る光検出部の出力信号の和同士は等しくなり、その差は
“ＯＩＩとなる。

一方、トラッキングエラーが生じて、光ディスク上の光
スポットがトラック中央からいずれかの方向にずれると
、光ディスクからの反射光の回折素子上での明暗パター
ンは、光ディスクのトラック方向の分割線を境界として
左右非対称となる。

従って、対角線位置の各２つの領域にそれぞれ対応する
光検出部の出力信号の和同士は相違し、その差は正又は
負の値を持つ。その場合、上記回折素子上での明暗パタ
ーンは、光ディスク上の光スポットがトラック中央から
ずれる方向により反転するので、上記回折素子の対角線
位置の各２つの領域にそれぞれ対応する光検出部の出力
信号の和同士の差の極性は、光ディスク上の光スポット
がトラック中央からずれる方向により反転する。

なお、トラッキングエラーが生じている場合、上記回折
格子上の明暗パターンは、光ディスク上の光スポットが
ピット等の記録情報に沿って移動するに伴って変化し、
それに伴って、上記回折素子の対角線位置の各２つの領
域にそれぞれ対応する光検出部の出力信号の和同士の差
はほぼ正弦波を描く。この正弦波の位相は光ディスク上
の光スポットがトラック中央からずれ方向に応して変化
する。一方、全ての光検出部の出力信号の和も、光ディ
スク上の光スポットがピット等の記録情報に沿って移動
するに伴って正弦波を溝くが、この正弦波の位相はトラ
ッキングエラーが生じるか否かにかかわらずほぼ一定で
ある。従って、上記回折素子の対角線位置の各２つの領
域にそれぞれ対応する光検出部の出力信号の和同士の差
が描（正弦波と、全ての光検出部の出力信号の和が描く
正弦波との位相を比較することにより、トラッキングエ
ラーの検出を行うことができる。

そして、上記の構成では、回折素子の各光検出部からの
回折光を受光する光検出器の各光検出部を互いに比較的
接近した位置に設けることができ、かつ、フォーカスエ
ラー及び記録情報の検出とトラッキングエラーの検出と
を共通の光検出部で行うことにより光検出部の個数を削
減することができるので、光検出器の占有面積の減少及
び製造コストの低減を図ることができる。

又、光検出器における各光検出部が比較的接近した位置
に設けられるので、回折素子における各領域での回折角
の差を充分に小さくすることができる。それにより、回
折格子の各領域における格子の断面形状をブレーズ形状
とする場合、各領域のブレーズ形状をほぼ等しくするこ
とができるので、格子の製造が容易に行えるようになる
とともに、各領域での光の利用効率を充分高く、かつ、
利用効率の差を充分小さくすることができるようになる
。

又、上記の構成では、光発生手段の出射光をメインビー
ム及びサブビームに分割することなくフォーカスエラー
及びトラッキングエラーの検出を行うようにしているの
で、上記出射光をメインビームとサブビームとに分割す
る回折素子が不要となり、部品点数の削減を図ることが
できる。

〔実施例１〕 本発明の一実施例を第１図乃至第８図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。

本実施例に係る光ピックアップ装置１１はコンパクトデ
ィスク、ビデオディスク等の再生専用型の光ディスクの
再生装置として使用されるものである。第２図に示すよ
うに、光発生手段としての半導体レーザ１２の出射光は
回折素子１３を介してコリメートレンズ１４に到り、コ
リメートレンズ１４で平行光とされた後、対物レンズ１
５に到達する。上記のコリメートレンズ１４及び対物レ
ンズ１５は光学系を構成する。

対物レンズ１５を透過した光束は、光ディスク１６上に
予めピットとして記録された記録情報を読み取るべく、
光ディスク１６上のピットに集光される。

光ディスク１６から反射された光束は、対物レンズ１５
及びコリメートレンズ１４を通過し、回折素子１３にて
Ｘ方向に回折された１次回折光が光検出器１７に導かれ
るようになっている。

第１図（ｂ）に示すように、光検出器１７は、光ディス
ク１６のトラック方向であるＹ方向に延びる分割線１７
ｈと、光ディスク１６のラジアル方向であるＸ方向に延
びる分割線１７ｇとにより、それぞれ矩形状を或す４つ
の光検出部１７ａ〜１７ｄに分割されている。光検出部
１７ａ−１７ｄは、それぞれ回折素子１３の後述する各
領域１３ａ〜１３ｄに対応し、各領域１３ａ−１３ｄか
らの回折光を受光するようになっている。

第３図に示すように、回折素子１３は、光ディスク１６
のトラック方向に延びる分割線１３ｉと、光ディスク１
６のラジアル方向に延びる分割線１３ｊとにより４つの
領域１３ａ−１３ｄに分割されている。

回折素子１３の各領域１３ａ−１３ｄには、光ディスク
１６からの反射光をそれぞれＸ方向に回折させるための
格子１３ｅ・１３ｅ・・・〜１３ｈ・１３ｈが形成され
ている。半導体レーザ１２と光ディスク１６とを結ぶ光
軸Ｌｌを中心とする一方の対角線位置の２つの領域１３
ａ・１３ｃの格子１３ｅ−Ｌ３ｅ・・・　１３ｇ−１３
ｇ−は、フォーカスエラーのない上記光学系の合焦時に
、光ディスク１６から反射され、領域１３ａ−１３Ｃで
回折された光束が光検出器１７の手前の同一の点ｆ。

で無点を結ぶように、方向及びピッチが定められている
。

一方、上記光軸り、を中心とする他方の対角線位置の２
つの領域１３ｂ−１３ｄにおける格子１３ｆ・１３ｆ・
・・　１３ｈ・１３ｈ・・・は、上記の合焦時に光ディ
スク１６から反射され、領域１３ｂ・１３ｄで回折され
た光束が光検出器１７より遠方の同一の点ｆ２で焦点を
結ぶように方向及びピッチが定められている。上記の焦
点位置ｆＩとｆｚとはともに、上記の光軸り、と回折素
子１３との交点と、光検出器１７上の分割線１７ｇ・１
７ｈ同士の交点とを結ぶ回折光の光軸Ｌ２上に位置し、
かつ、上記の合焦時に、光検出器１７が焦点位置ｆ、−
ｆ２のほぼ中間位置に存在するように設定されている。

上記のように、一方の対角線位置の２つの領域１３ａ・
１３ｃからの回折光の焦点位置ｆ１までの距離と、他方
の対角線位置の２つの領域１３ｂ・１３ｄからの回折光
の焦点位置ｆ２までの距離を相違させるために、例えば
、領域１３ａ１３Ｃには光の収束機能（凸レンズ機能）
が付与され、領域１３ｂ・１３ｄには光の発散機能（凹
レンズ機能）が付与されている。

なお、各領域１３　ａ　〜１３　ｄの格子１３ｅ１３ｅ
・・・〜１３ｈ・１３ｈ・・・は、良く知られた２光束
干渉法により作成するか、又は電子計算機により干渉縞
の形状を求め、電子ビーム露光装置により乾板に直接干
渉縞を描いて作成することができる。その場合、格子１
３ｅ・１３ｅ・・・〜１３ｈ・１３ｈ・・・の断面形状
は、第１６図（ａ）に示す矩形形状、又は第１６図（ｂ
）に示すブレーズ形状とすることができる。

以下、記録情報、フォーカスエラー信号及びトラッキン
グエラー信号の検出につき述べる。

半導体レーザ１２から出射され、光ディスク１６で反射
されて、回折素子１３の領域１３ａで回折された光束は
焦点位置ｆ１で一旦収束し、反転することにより、光検
出器１７における光検出部１７ａに扇形の光スポットＰ
１を形成する。又、光ディスク１６から反射され、領域
１３ａと同一対角線上の領域１３ｃで回折された光束は
、上記と同一の焦点位Ｒｆ１で一旦収束し、反転するこ
とにより、光検出器１７の光検出部１７ｃに扇形の光ス
ポットＰ３を形成する。

一方、光ディスク１６から反射され、回折素子１３の領
域１３ｂで回折された光束は、光検出器１７の手前側で
収束することなく、光検出部１７ｂ上に扇形の光スポッ
トＰ２を形成する。更に、光ディスク１６から反射され
、回折素子１３における領域１３ｂと同一対角線上の領
域１３ｄで回折された光束は光検出器１７の手前側で収
束することなく、光検出部１７ｄ上に扇形の光スポット
Ｐ４を形成する。

そして、対物レンズ１５と光ディスク１６間の距離が適
正な合焦状態では、光検出器１７が２つの焦点位置ｆ、
・ｆ２のほぼ中間位置に存在しているので、第１図（ｂ
）に示すように、各光スボッ）ＰＩ−Ｐ４の大きさは等
しくなる。従って、各光検出部１７ａ〜１７ｄの出力信
号５ａ−３ｄは等しくなる。

一方、光ディスク１６が対物レンズ１５に接近し過ぎて
フォーカスエラー状態になると、上記の焦点位置ｆ、が
光検出器１７に接近する一方、焦点位置「２が光検出器
１７から遠ざかるので、第１図（ａ）のように、光スポ
ットＰ、・Ｐ、は縮小し、逆に、光スポットＰ２　・Ｐ
４は拡大する。

その場合、個々の光スポットＰ、〜Ｐ４の光量自体は大
きさにより変化しないが、実際には、第４図の如く、分
割線１７ｇ・１７ｈが所定の幅（例えば、５μｍ程度）
を有し、かつ、各光スポットＰ、〜Ｐ４の扇形の弦の部
分が分割線１７ｇ・１７ｈの中央線上に位置するととも
に、分割線１７ｇ・１７ｈ上では光信号に対する感度が
なくされるか又は減衰させられている。そして、第１図
（ａ）及び第４図の状態では、光スポラｌ−Ｐ、　　・
Ｐ３の方が光スポットＰ２　・Ｐ４に比して分割線１７
ｇ・１７ｈ上にはみ出している割合（面積率）が大きい
ため、光検出部１７ａ・１７ｃの出力信号５ａ−３ｃが
光検出部１７ｂ・１７ｄの出力信号５ｂ−３ｄより小さ
くなる。

逆に、光ディスク１６が対物レンズ１５から離れ過ぎて
フォーカスエラー状態となると、第１図（Ｃ）のように
、光スポットＰ、−Ｐ３が拡大する一方、光スポットＰ
２　・Ｐ４が縮小するため、光検出部１７ａ・１７ｃの
出力信号５ａ−３ｃが光検出部１７ｂ・１７ｄの出力信
号５ｂ−３ｄより大きくなる。

従って、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、回折素子１３
の一方の対角線位置の２つの領域１３ａ・１３ｃに対応
する光検出部１７ａ・１７ｃの出力信号５ａ−３ｃの和
と、回折素子１３の他方の対角線位置の２つの領域１３
ｂ・１３ｄに対応する光検出部１７ｂ・１７ｄの出力信
号５ｂ−３ｄの和との差、（以下、対角線差信号と呼ぶ
）により求められる。すなわち、フォーカスエラー信号
ＦＥＳは、図示しないフォーカスエラー検出手段により
ＦＥＳ＝　（Ｓａ＋５ｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）の演算によ
り求められ、このＦＥＳが“０”となるように図示しな
いフォーカスサーボ系により対物レンズ１５が駆動され
る。一方、ピットとして記録された記録情報ＲＦは、図
示しない記録情報検出手段により全ての光検出部１７ａ
〜１７ｄの出力信号Ｓ　ａ　−Ｓ　ｄの和（以下、和信
号と呼ぶ）として、ＲＦ＝Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄの演
算により得られる。

なお、後述の如く、光ディスク１６からの反射光の回折
素子１３上での光束Ｅ（第７図（ａ）〜（Ｃ）参照）の
明暗パターンは、光ディスク１６上の光スポラ１−Ｄ（
第６図（ａ）〜（Ｃ）参照）がピットＣ上を矢印Ａ方向
に通過する際にピットＣ上の位置により変動し、その結
果、各光検出部１７ａ〜１７ｄの出力信号Ｓ　ａ　％　
Ｓ　ｄの値も光スポラ）ＤがピットＣ上を移動するに伴
って変動する。従って、フォーカスエラー信号ＦＥＳの
生成に当たっては、各光検出部１７ａ−１７ｄの出力信
号Ｓ　ａ　−Ｓ　ｄの値は、例えば、光スポットＤがピ
ッｌ−Ｃを通過する間の平均値とすれば良い。

次に、トラッキングエラー信号ＲＥＳは、いわゆるヘテ
ロダイン法により求められる。

すなわち、第６図（ｂ）に示すように、光ディスク１６
上のピットＣが整列されたトラックの中央に光スポット
Ｄが照射されていて、トラッキングエラーが生じていな
い場合、光スポットＤがピットＣ上に差し掛かった時点
、つまり、ピットＣ上を通過し始めた時点での光ディス
ク１６からの反射光の回折素子１３上での光束Ｅの明暗
パターンは第７図（ｂ）の如くに、図中上部と下部で明
るく、中央部で暗くなる。この場合、光束Ｅの明暗パタ
ーンは左右対称であるため、上記の対角線差信号は“°
０”となる。

第６図（ａ）の如く、光ディスク１６上で光スポラｌ−
Ｄがトラック中央から図中左側にずれてトラッキングエ
ラーを生じた場合、光スポットＤがピットＣ上に差し掛
かった時点での回折素子１３上での光束Ｅの明暗パター
ンは第７図（ａ）の如く、図中左上部と右下部で明るく
なり、中央部で暗くなる。この時、光検出器１７上の光
検出部１７ａ・１７ｃの受光量は相対的に大きくなり、
方、光検出部１７ｂ・１７ｄの受光量は相対的に小さく
なるので、上記の対角線差信号（Ｓａ＋５ｃ）−（Ｓｂ
＋Ｓｄ）は正の値となる。

又、光スポラｌ−Ｄがトラック中央から左側にずれてい
る状態で光スポットＤがピ・ノドＣを通過し終える時点
での回折素子１３上での光束Ｅの明暗パターンは第７図
（ｃ）の如く、図中右上部と左下部で明るく、中央部で
暗くなる。この時、光検出部１７ａ・１７ｃの受光量は
相対的に小さくなり、光検出部１７ｂ・１７ｄの受光量
は相対的に大きくなるので、上記の対角線差信号（Ｓａ
＋５ｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は負の値となる。

従って、光ディスク１６上の光スポットＤがピットＣに
対し左側にずれている場合、上記の対角線差信号（Ｓａ
＋５ｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は、光ディスク１６上の光ス
ポットＤがピットＣ上を矢印六方向に移動するに伴って
概略第８図中（ｂ）の如くに、ほぼ正弦波状の曲線を猫
（。

一方、第６図（Ｃ）の如く、光ディスク１６上で光スポ
ットＤがトラック中央から図中右側にずれてトラッキン
グエラーを生じた場合、光スポットＤがピントＣ上に差
し掛かった時点での回折素子１３上での光束Ｅの明暗パ
ターンは第７図（Ｃ）の如くになる。この時、光検出部
１７ａ・１７Ｃの受光量は相対的に小さくなり、光検出
部１７ｂ・１７ｄの受光量は相対的に大きくなるので、
上記の対角線差信号は負の値となる。

又、光スポラｌ−Ｄがトラック中央から右側にずれてい
る状態で光スポットＤがピットＣを通過し終える時点で
の回折素子１３上での光束Ｅの明暗パターンは第７図（
ａ）の如くになる。この時、光検出部１７ａ・ｌｔｃの
受光量は相対的に大きくなり、光検出部１７ｂ−１７ｄ
の受光量は相対的に小さくなるので、上記の対角線差信
号は正の値となる。

従って、光ディスク１６上の光スポットＤがピッＩ−Ｃ
に対し右側にずれている場合、上記の対角線差信号（Ｓ
ａ＋５ｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は、光スポラ）Ｄがピッ）
Ｃ上を矢印六方向に移動するに伴って概略第８図中（Ｃ
）の如くに、ほぼ正弦波状の曲線を描く。但し、この場
合の正弦波の位相は、米スポットＤがピットＣに対し左
側にずれている場合とは１８０°異なっている。

一方、上記の和信号Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄは、光ディ
スク１６上で光スポットＤがピットＣを通過するに伴っ
て、第８図中（ａ）に示す如くの正弦波状の曲線を描く
。この正弦波の位相はフォーカスエラーが生じているか
否かにかかわらずほぼ一定である。そして、光ディスク
１６上で光スポラ）Ｄが左側にずれている場合に対角線
差信号が描く正弦波（第８図中（ｂ））は、和信号の正
弦波（第８図中（ａ））に対し位相が９０°遅れており
、一方、光ディスク１６上で光スポットＤが右側にずれ
ている場合に対角線差信号が溝く正弦波（第８図中（Ｃ
））は、和信号の正弦波に対し位相が９０°進んでいる
。

従って、図示しないトラッキングエラー検出手段にて対
角線差信号と和信号の位相を比較することにより、光ス
ポットＤがいずれの側にずれているかの検出が行える。

上記の位相の比較は、例えば、ヘテロゲイン検波回路に
より行うことができる。一方、トラッキングエラーが生
じていない時は、上記の如く、対角線差信号が“０”と
なる。

なお、第７図の明暗パターンは、ピットＣの深さが使用
するレーザ光の波長の１／４である場合のものである。

ここで、半導体レーザ１１から出射されるレーザ光の波
長の変動により、上記レーザ光の波長が、回折素子１３
で回折された光束が点ｆ、及びｆ２で収束するように設
定した基準波長より短くなった場合、領域１３ａ１３ｃ
からの回折光は点ｆ。

よりも光検出器１７に近い位置で収束し、領域１３ｂ・
１３ｄからの回折光は点ｆ２よりも光検出器１７に近い
位置で収束するため、光検出器１７上での各光スポット
Ｐ１〜Ｐ４はともに上記の基準波長時より小さくなる。

そのため、半導体レーザ１１の波長変動により、フォー
カスエラー信号ＦＥＳに影響を与えることはない。同様
に、上記レーザ光の波長が基準波長より長（なると、各
光スポットＰ　＋〜Ｐ４はともに上記の基準波長時より
大きくなるので、フォーカスエラー信号ＦＥＳに誤差は
生しない。

又、上記レーザ光に周波数変動が生じると、第５図（ａ
）及び（ｂ）に示すように、光スポットＰ１〜Ｐ４が光
検出器１７上でＸ方向、つまり、回折素子１３における
回折方向に移動する。ところが、この場合、光検出部１
７ａの出力信号Ｓａの増減量と光検出部１７ｃの出力信
号Ｓｃの増減量とが互いに相殺し合い、かつ、光検出部
１７ｂの出力信号ｓｂの増減量と光検出部１７ｄの出力
信号Ｓｄの増減量とが互いに相殺し合うので、全体とし
てフォーカスエラー信号ＦＥＳに誤差は生じない。

なお、本実施例では、光検出器１７の各光検出部１７ａ
〜１７ｄを互いに接近させて形成するようにし、かつ、
フォーカスエラーの検出とトラッキングエラーの検出を
共通の光検出部１７ａ〜１７ｄで行って光検出部１７ａ
〜１７ｄの個数を減少させるようにしたので、光検出部
１７ａ〜１７ｄの占有面積を減少させ、かつ、製造コス
トの低廉化も図ることができるようになる。

又、光検出部１７ａ〜１７ｄが互いに接近することによ
り、回折素子１３の各領域１３ａ〜１３ｄにおける回折
角がほぼ等しくなり、従って、格子１３ｅ・１３ｅ・・
・〜１３ｈ・１３ｈ・・・の断面形状を第１６図（ｂ）
に示すブレーズ形状とする場合、格子１３ｅ・１３ｅ・
・・〜１３ｈ・１３ｈ・・・のピッチをほぼ等しくでき
るので、回折素子１３の加工を円滑に行えるようになり
、かつ、光の利用効率の差がなく、充分に高い利用効率
が得られる最適なブレーズ形状に形成できる。

なお、回折素子１３からの回折光は凝似的に非点収差の
性質を有しているため、その焦点制御手法は、公知の非
点収差法を利用した手法を用いても良い。

〔実施例２〕 次に、第９図及び第１０図に基づいて、第２実施例を説
明する。

第９図に示すように、第２実施例では光検出器１７が、
第１実施例と同様、それぞれ光ディスク１６のトラック
方向及びラジアル方向に延びる分割線１７ｈ・１７ｇに
より４個の光検出部１７ａ〜１７ｄに分割されている。

但し、各光検出部１７ａ＝１７ｄは第１実施例に比して
Ｘ方向の幅が拡張されている。そして、光検出部１７ａ
〜１７ｄで光スポットＰ１　・Ｐ２と光スポットＰ、・
Ｐ４とがＸ方向の間隔を隔てて分離されるように回折素
子１３が構成されている。

すなわち、回折素子１３は第１実施例と同様、第３図の
如く、光ディスク１６のトラック方向及びラジアル方向
に延びる分割線１３ｉ及び１３ｊにより４個の領域１３
ａ−１３ｄに分割されている。第１０図にも示すように
、回折素子１３の領域１３ａで回折された光束は、光検
出器１７における光検出部１７ａ・１７ｂの手前側の焦
点位置ｆｌｂで焦点を結んだ後、反転して光検出部１７
ａ上に光スポラｌ−Ｐ、を形成するように、領域１３ａ
の格子１３ｅ・１３ｅ・・・が設計されている。

又、回折素子１３の領域１３ｃで回折された光束は、光
検出器１７の光検出部１７ｃ１７ｄの手前側の焦点位置
ｆ１ｍで焦点を結んだ後、反転して光検出部１７ｃ上に
光スポットＰ３を形成するようになっている。

更に、回折素子Ｉ３の領域１３ｂは、この領域１３ｂで
回折された光束の焦点位置が光検出器１７の光検出部１
７ａ・１７ｂの後方の点ｆｉｂとなるように形成され、
それにより、領域１３ｂからの回折光は反転することな
く、光検出部１７ｂに光スポットＰ２を形成するように
なっている。又、回折素子１３の領域１３ｄは、この領
域１３ｄからの回折光の焦点位置が光検出器１７の光検
出部１７ｃ・１７ｄの後方側の点ｆ、となるように形成
され、領域１３ｄからの回折光が反転することなく、光
検出器■７の光検出部１７ｄに光スポットＰ４を形成す
るようになっている。

この第２実施例で、フォーカスエラー信号ＦＥＳは第１
実施例と同様、各光検出部１７ａ〜１７ｄの出力信号を
５ａ−３ｄとして、対角線差信号（Ｓａ＋５ｃ）＝　（
Ｓｂ＋Ｓｄ）により求められる。

又、トラッキングエラー信号ＲＥＳも第１実施例と同様
、上記対角線差信号の位相と、和信号Ｓａ＋ｓｂ＋ｓｃ
＋ｓｄの位相とを比較することにより求められ、ビット
として記録された記録情報の再生信号ＲＦは上記和信号
により求められる。

そして、第２実施例では、光スポットＰ、−Ｐ２と光ス
ポットＰ３　・Ｐ４とをＸ方向の間隔を隔てて分離した
ので、半導体レーザ１１からのレーザ光の周波数変動に
より光スポットＰ、〜Ｐ４が仮想線の如くＸ方向に移動
しても、各光スポットＰｌ〜Ｐ４が対応する光検出部１
７ａ〜１７ｄ内に集光されるようになる。なお、第２実
施例では、回折素子１３の領域１３ａ・１３ｂにおける
回折角と領域１３ｃ・１３ｄにおける回折角とが若干相
違することになるが、従来のものよりはかなり回折角の
差が減少する。

〔実施例３〕 次に、第１１図に基づいて第３実施例を説明する。

第３実施例では、光検出器２０は光ディスク１６のラジ
アル方向であるＸ方向に延びる分１割線２０ｉによりＹ
方向に２分割されるとともに、光ディスク１６のトラッ
ク方向であるＹ方向に延びる３本の分割線２０ｊ〜２０
４２によりＸ方向に４分割され、８つの光検出部２０ａ
〜２０ｈが設けられている。

一方、回折素子１３は第１実施例と同様に、第３図の如
く、４分割され、領域１３ａで回折された回折光は焦点
位置ｆｌ　　（第２図）で−旦焦点を結んだ後、反転し
て光検出器２０上の光検出部２ｏｈ・２０ｇ上に光スポ
ットＰ、を形成するようになっている。

又、回折素子１３の領域１３ｃで回折された回折光は、
焦点位置ｆ、で一旦焦点を結んだ後、反転して光検出器
２０上の光検出部２０ａ・２０ｂ上に光スポットＰ３を
形威するようになっている。

一方、回折素子１３の領域１３ｂ及び１３ｄで回折され
る回折光の焦点位置はｆ２に設定されている。従って、
領域１３ｂで回折された回折光は反転することなく、光
検出部２０ｃ・２０ｄ上に光スポットＰ２を形威し、又
、光検出部２０ｄで回折された回折光は反転することな
く光検出部２０ｅ・２０ｆ上に光スポットＰ４を形成す
るようになっている。

今、光検出部２０ａ〜２０ｈの出力信号をそれぞれＳ　
ａ　−Ｓ　ｈとすると、フォーカスエラー信号ＦＥＳは
、回折素子１３の各領域１３ａ〜１３ｄにそれぞれ対応
する各２個の光検出部のうちの内側に位置する光検出部
２０ｂ・２０ｃ・２Ｏｆ・２０ｇの出力信号による対角
線差信号により、ＦＥＳ＝　（Ｓｃ＋５ｆ）−（Ｓｂｆ
Ｓｇ）の演算で求められ、又、ビット信号ＲＦは、和信
号によりＲＦ＝Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋５ｄｆＳｅ＋Ｓｆ＋
Ｓｇ十Ｓｈの演算で求められる。

次に、トラッキングエラー信号ＲＥＳは、上記回折素子
１３の各領域１３ａ〜１３ｄにそれぞれ対応する各２個
の光検出部のうちの内側に位置する光検出部２０ｂ・２
０ｃ・２０ｆ　　２０ｇの出力信号による対角線差信号
（Ｓｃ＋Ｓｆ）　−（Ｓｂ＋３ｇ）の位相と、上記和信
号の位相とを比較することにより求められる。なお、こ
の場合も、レーザ光の周波数変動により光スポットＰ１
〜Ｐ４がＸ方向に移動しても、フォーカスエラー信号Ｆ
ＥＳに誤差は生しない。

〔実施例４〕 次に、第１２図に基づいて第４実施例を説明する。

第４実施例の光検出器２１は全体として円形に形威され
ている。この光検出器２１は光ディスク１６のトラック
方向及びラジアル方向に延びる２つの分割線２１ｊ・２
１ｉ及び円形の分割線２１ｋにより８つの光検出部２１
ａ〜２１ｈに分割されている。

一方、回折素子１３は第１実施例と同様、第３図の４分
割構成を有し、領域１３ａからの回折光が第３実施例と
同様に反転して光検出部２１ｇ・２１ｈに光スポットＰ
、を形威し、領域１３ｃからの回折光が反転して光検出
部２１ａ・２１ｂに光スポットＰｚを形成するようにな
っている。

又、回折素子１３の領域１３ｂからの回折光は反転する
ことなく、光検出器２１の光検出部２１Ｃ・２１ｄに光
スポットＰ２を形成し、領域１３ｄからの回折光は反転
することなく、光検出部２１ｅ・２１ｆに光スポットＰ
４を形成するようになっている。

各光検出部２１ａ〜２１ｈの出力信号をＳａ〜ｓｈとす
ると、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、回折素子１３の
各領域１３ａ〜１３ｄにそれぞれ対応する光検出器２１
の各２つの光検出部のうち、内側に位置する光検出部２
１ｂ・２１ｃ・２１ｆ・２１ｇの対角線差信号として、
ＦＥＳ＝　（Ｓｃ＋５ｆ）−（Ｓｂ＋３ｇ）の演算で求
められる。

又、光学系の合焦時に、Ｓａ＋Ｓｄ＋Ｓｅ＋５ｈ＝ｓｂ
＋ｓｃ＋ｓｆ＋ｓｇとなるように光検出器２１上の光ス
ポットＰ、−Ｐ、の径を調整しておくと、ＦＥＳ−（Ｓ
ｄ−３ｃ）＋　（Ｓｅ−３ｆ）＋　（Ｓｇ−３ｈ）＋　
（Ｓｂ−３ａ）＝　（Ｓｄ＋Ｓｅ＋Ｓｇ＋Ｓｂ）　＝（
Ｓｃ＋Ｓｆ＋Ｓｈ＋Ｓａ）の演算によってもフォーカス
エラー信号ＦＥＳが求められる。この場合も、レーザ光
の周波数変動により光スポットＰ、〜Ｐ４がＸ方向に移
動しても、フォーカスエラー信号ＦＥＳに誤差は生じな
い。

一方、ピットとして記録された記録情報の再生信号ＲＦ
は和信号として、ＲＦ＝Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋ｓｄ＋ｓｅ
＋ｓｆ＋ｓｇ＋ｓｈの演算で求められる。

次に、トラッキングエラー信号ＲＥＳは、上記の対角線
差信号（Ｓｃ＋Ｓ　ｆ）−（Ｓｂ＋３ｇ）の位相と、上
記和信号の位相とを比較することにより求められる。

〔実施例５〕 次に、第１３図に基づいて第５実施例を説明する。

第５実施例では、光検出器２２が光ディスク１６のトラ
ック方向に延びる５本の分割線２２ｇ〜２２ｋにより６
つの光検出部２２ａ〜２２ｆに分割されている。

一方、回折素子１３は第３図の如く４個の領域１３ａ〜
１３ｄに分割されている。そして、領域１３ａでの回折
光は、光検出器２２の光検出部２２ａ〜２２ｃの手前側
の焦点位置で一旦焦点を結び、反転した後、光検出部２
２ｂ及び２２ｃ上に光スポットＰ１を形成するように、
領域１３ａの格子１３ｅ１３ｅ・・・が設計されている
。又、回折素子１３の領域１３ｃでの回折光は上記と同
一の焦点位置で一旦焦点を結び、反転して光検出器２２
の光検出部２２ａ及び２２ｂ上に光スポットＰ、を形成
するようになっている。

一方０１回折素子１３の領域１３ｂ及び１３ｄで回折さ
れた回折光の焦点位置は光検出器２２の光検出部２２ｄ
〜２２°ｆより遠方側に設定され、従って、領域１３ｂ
及び１３ｄでの回折光は反転することなく、光検出部２
２ｄ〜２２ｆ上に光スポットＰ２　・Ｐ４を形成するよ
うになっている。

本実施例においては、各光検出部２２ａ〜２２ｆの出力
信号をそれぞれ５ａ−３ｆとして、フォーカスエラー信
号ＦＥＳはＦＥＳ＝Ｓｂ−３ｅ又はＦＥＳ＝　（Ｓｂ＋
Ｓｄ＋５ｆ）−（Ｓａ＋Ｓｃ＋Ｓｅ）の演算で求められ
る。一方、ピットとして記録された記録情報の再生信号
ＲＦは、和信号としてＲＦ＝Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ＋
Ｓｅ＋Ｓｒの演算で求められる。

次に、トラッキングエラー信号ＲＥＳは、例えば、回折
素子１３の各領域１３　ａ−１３ｄにそれぞれ対応する
光検出部である光検出部２２ａ・２２ｃ・２２ｄ・２２
ｆの出力信号の対角線差信号（Ｓａ＋５ｃ）−（Ｓｄ＋
Ｓｆ）の位相と、上記和信号の位相とを比較することに
より求められる。

本実施例では、光スポットＰ、・Ｐ、と光スポットＰ２
　・Ｐ４とをＸ方向の間隔を隔てて分離したので、レー
ザ光の周波数変動により光スポットＰ、〜Ｐ４がＸ方向
に移動しても、光スポットＰ１・Ｐ３は光検出部２２ａ
〜２２ｃで受光され、光スポットＰ２　・Ｐ４は光検出
部２２ｄ〜２２ｆで受光されるようになる。

なお、本発明を具体化するに当たり、回折素子１３及び
光検出器１７・２０・２１・２２の分割は、上記の各実
施例で例示した以外の方法で行っても良い。

又、上記の各実施例では、再生専用型の光ディスク用の
光ピックアップ装置について述べたが、本発明は、いわ
ゆる追記型の光ディスク用の光ピックアップ装置にも適
用できるものである。

〔発明の効果〕

本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、光
発生手段と、この光発生手段から出射される光を光ディ
スク上に集光させるとともに光ディスクからの反射光を
回折素子に導く光学系と、光ディスクからの反射光を光
検出器側に回折させる回折素子と、上記回折素子からの
回折光を受光して電気信号に変換する光検出器とを備え
た光ピックアップ装置において、上記回折素子はほぼ光
ディスクのトラック方向に延びる分割線と、ほぼ光ディ
スクのラジアル方向に延びる分割線とを境界として４つ
の領域に分割され、かつ、対角線位置の各２つの領域で
の回折光の焦点位置までの距離がそれぞれほぼ一致する
ように設定されるとともに、フォーカスエラーの生じて
いない時に一方の対角線位置の２つの領域での回折光の
焦点位置が光検出器の手前側に位置し、他方の対角線位
置の２つの領域での回折光の焦点位置が光検出器より遠
方に位置し、両点点位置のほぼ中間位置に光検出器が位
置するように設定されており、上記光検出器には上記回
折素子の各領域に対応する少なくとも各１つの光検出部
を含む少なくとも４つの光検出部が設けられており、か
つ、上記光検出器の全ての光検出部の出力信号の和に基
づいて光ディスク上に記録された情報の検出を行う記録
情報検出手段と、上記回折素子における対角線位置の各
２つの領域にそれぞれ対応する光検出部の出力信号の和
同士の差に基づいてフォーカスエラーを検出するフォー
カスエラー検出手段と、上記回折素子における対角線位
置の各２つの領域にそれぞれ対応する光検出部の出力信
号の和同士の差と、全ての光検出部の出力信号の和との
位相を比較することによりトラッキングエラーを検出す
るトラッキングエラー検出手段とを備えている構成であ
る。

これにより、光学系の合焦時に回折素子における一方の
対角線位置の２つの領域からの回折光は光検出器より手
前側で焦点を形成し、他方の対角線位置の２つの領域か
らの回折光は光検出器より遠方側で焦点を形成するよう
にしているので、光学系の合焦時にいずれも光検出器上
で所定の面積を有する光スポットを形成するものである
。そして、フォーカスエラーが生じると、一方の対角線
位置の２つの領域からの回折光による光スポットが拡大
又は縮小し、他方の対角線位置の２つの領域対からの回
折光による光スポットは逆に縮小又は拡大することによ
り光検出器の各光検出部での受光量が変化するので、そ
れに基づいて、フォーカスエラーの検出が行われるもの
である。

又、トラッキングエラーの生じていない時には、光ディ
スク上のピット等の記録情報により回折素子上で生じる
光ディスクからの反射光の明暗パターンは、光ディスク
のトラック方向に延びる分割線を境界として左右対称と
なるので、対角線位置の各２つの領域にそれぞれ対応す
る光検出部の出力信号の和同士は等しくなり、その差は
°“０”となる。

一方、トラッキングエラーが生じて、光ディスク上の光
スポットがトラック中央からいずれかの方向にずれると
、光ディスクからの反射光の回折素子上での明暗パター
ンは、光ディスクのトラック方向の分割線を境界として
左右非対称となる。

従って、対角線位置の各２つの領域にそれぞれ対応する
光検出部の出力信号の和同士は相違し、その差は正又は
負の値を持つ。その場合、上記回折素子上での明暗パタ
ーンは、光ディスク上の光スポットがトラック中央から
ずれる方向により反転するので、上記回折素子の対角線
位置の各２つの領域にそれぞれ対応する光検出部の出力
信号の和同士の差の極性は、光ディスク上の光スポット
がトラック中央からずれる方向により反転する。

なお、トラッキングエラーが生している場合、上記回折
格子上の明暗パターンは、光ディスク上の光スポットが
ビット等の記録情報に沿って移動するに伴って変化し、
それに伴って、上記回折素子の対角線位置の各２つの領
域にそれぞれ対応する光検出部の出力信号の和同士の差
はほぼ正弦波を描く。この正弦波の位相は光ディスク上
の光スポットがトラック中央からずれ方向に応じて変化
する。一方、全ての光検出部の出力信号の和も、光ディ
スク上の光スポットがピット等の記録情報に沿って移動
するに伴って正弦波を描くが、この正弦波の位相はトラ
ッキングエラーが生しか否かにかかわらずほぼ一定であ
る。従って、上記回折素子の対角線位置の各２つの領域
にそれぞれ対応する光検出部の出力信号の和同士の差が
描く正弦波と、全ての光検出部の出力信号の和が描く正
弦波との位相を比較することにより、トラッキングエラ
ーの検出を行うことができる。

そして、上記の構成では、回折素子の各光検出部からの
回折光を受光する光検出器の各光検出部を互いに比較的
接近した位置に設けることができ、かつ、フォーカスエ
ラー及び記録情報の検出とトラッキングエラーの検出と
を共通の光検出部で行うことにより光検出部の個数を削
減することができるので、光検出器の占有面積の減少及
び製造コストの低減を図ることができる。

又、光検出器における各光検出部が比較的接近した位置
に設けられるので、回折素子における各領域での回折角
の差を充分に小さくすることができる。それにより、回
折格子の各領域における格子の断面形状をブレーズ形状
とする場合、各領域のブレーズ形状をほぼ等しくするこ
とができるので、格子の製造が容易に行えるようになる
とともに、各領域での光の利用効率を充分高く、かつ、
利用効率の差を充分小さくすることができるようになる
。

又、上記の構成では、光発生手段の出射光をメインビー
ム及びサブビームに分割することなくフォーカスエラー
及びトラッキングエラーの検出を行うようにしているの
で、上記出射光をメインビームとサブビームとに分割す
る回折素子が不要となり、部品点数の削減を図ることが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第８図は本発明の一実施例を示すものである
。 第１図（ａ）〜（Ｃ）は対物レンズを光軸方向に移動さ
せた場合の光検出器上の光スポットの変化を示す概略説
明図である。 第２図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第３図は回折素子の概略平面図である。 第４図は第１図（ａ）の要部を拡大して示す部分拡大説
明図である。 第５図（ａ）及び（ｂ）は半導体レーザのレーザ光に周
波数変動が生じた場合を示す概略説明図である。 第６図（ａ）〜（Ｃ）は光ディスク上の光スポットとピ
ットとの位置関係を示す説明図である。 第７図（ａ）〜（ｃ）は回折素子上の光スポットの明暗
パターンを示す説明図である。 第８図は光スポットがピット上を移動する際の再生信号
等の推移を示すグラフである。 第９図及び第１０図は第２実施例を示すものである。 第９図は光検出器を示す概略説明図である。 第１０図は光ピッ・クアップ装置の部分正面図である。 第１１図乃至第１３図はそれぞれ第３〜第５実施例にお
ける光検出器を示す概略説明図である。 第１４図乃至第１６図は従来例を示すものである。 第１４図は光ピックアップ装置の概略正面図である。 第１５図（ａ）は第２回折素子の概略平面図である。 第１５図（ｂ）は光検出器の概略説明図である。 第１６図（ａ）及び（ｂ）はそれぞれ第２回折素子の格
子の断面形状を示す部分縦断面図である。 １２は半導体レーザ（光発生手段）、１３は回折素子、
１３ａ〜１３ｄは領域、１３！１３ｊは分割線、１４は
コリメートレンズ（光学系）、１５は対物レンズ（光学
系）、１６は光ディスク１７・２０・２１・２２は光検
出器、１７ａ〜１７ｄ２０ａ　〜２０ｈ２１ａ　〜２１
ｈ２２ａ〜２２ ｆは光検出部である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光発生手段と、この光発生手段から出射される光を
   光ディスク上に集光させるとともに光ディスクからの反
   射光を回折素子に導く光学系と、光ディスクからの反射
   光を光検出器側に回折させる回折素子と、上記回折素子
   からの回折光を受光して電気信号に変換する光検出器と
   を備えた光ピックアップ装置において、 上記回折素子はほぼ光ディスクのトラック方向に延びる
   分割線と、ほぼ光ディスクのラジアル方向に延びる分割
   線とを境界として４つの領域に分割され、かつ、対角線
   位置の各２つの領域での回折光の焦点位置までの距離が
   それぞれほぼ一致するように設定されるとともに、フォ
   ーカスエラーの生じていない時に一方の対角線位置の２
   つの領域での回折光の焦点位置が光検出器の手前側に位
   置し、他方の対角線位置の２つの領域での回折光の焦点
   位置が光検出器より遠方に位置し、両焦点位置のほぼ中
   間位置に光検出器が位置するように設定されており、 上記光検出器には上記回折素子の各領域に対応する少な
   くとも各１つの光検出部を含む少なくとも４つの光検出
   部が設けられており、 かつ、上記光検出器の全ての光検出部の出力信号の和に
   基づいて光ディスク上に記録された情報の検出を行う記
   録情報検出手段と、 上記回折素子における対角線位置の各２つの領域にそれ
   ぞれ対応する光検出部の出力信号の和同士の差に基づい
   てフォーカスエラーを検出するフォーカスエラー検出手
   段と、 上記回折素子における対角線位置の各２つの領域にそれ
   ぞれ対応する光検出部の出力信号の和同士の差と、全て
   の光検出部の出力信号の和との位相を比較することによ
   りトラッキングエラーを検出するトラッキングエラー検
   出手段とを備えていることを特徴とする光ピックアップ
   装置。