JPH0363723B2 - - Google Patents
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- JPH0363723B2 JPH0363723B2 JP8322782A JP8322782A JPH0363723B2 JP H0363723 B2 JPH0363723 B2 JP H0363723B2 JP 8322782 A JP8322782 A JP 8322782A JP 8322782 A JP8322782 A JP 8322782A JP H0363723 B2 JPH0363723 B2 JP H0363723B2
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- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 claims description 36
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 18
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000000877 morphologic effect Effects 0.000 description 2
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000004566 IR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000010186 staining Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は輻射線吸収スペクトル分析を応用し
た走査型顕微鏡に関するものである。
た走査型顕微鏡に関するものである。
従来の顕微鏡においては主に被検体(試料)に
可視光を照射し、その透過光または反射光をレン
ズ系で結像させて、2次元的な形態を観察するも
のである。従来の顕微鏡においても染色や位相差
法やその他の方法によつて試料の質的な観察をあ
る程度行なうことができるが、それはあくまでも
形態的な観察に準ずるものである。
可視光を照射し、その透過光または反射光をレン
ズ系で結像させて、2次元的な形態を観察するも
のである。従来の顕微鏡においても染色や位相差
法やその他の方法によつて試料の質的な観察をあ
る程度行なうことができるが、それはあくまでも
形態的な観察に準ずるものである。
ところで物質における分子の振動のエネルギー
状態は分子内の原子同志の原子間距離や原子価
角、質量、結合力によつて固有な値を持つてお
り、分子のエネルギー状態が振動数νの光を吸収
して、hν(h…プランク定数)のエネルギー差を
持つた他の固有なエネルギー状態へ離散的に遷移
する。この現象を利用して分子、原子の定性分析
を行なうのが例えば赤外線吸収スペクトル分析法
であり、現在最も広くかつ活発に応用されてい
る。ところが従来の赤外分析法は、試料に比較的
太い赤外ビームを照射し、スペクトルの吸収を見
るため、例えば焼結体や多結晶体または層状合金
またはIC用の半導体薄膜等のように種々な成分
が混然一体となつているものは、それぞれの成分
の吸収スペクトルの効果が重畳されてしまい、ど
のような組成分が混在するかは、ある程度判定可
能であるが、どのような状態で分布、又は配置さ
れているかは判定不可能である。
状態は分子内の原子同志の原子間距離や原子価
角、質量、結合力によつて固有な値を持つてお
り、分子のエネルギー状態が振動数νの光を吸収
して、hν(h…プランク定数)のエネルギー差を
持つた他の固有なエネルギー状態へ離散的に遷移
する。この現象を利用して分子、原子の定性分析
を行なうのが例えば赤外線吸収スペクトル分析法
であり、現在最も広くかつ活発に応用されてい
る。ところが従来の赤外分析法は、試料に比較的
太い赤外ビームを照射し、スペクトルの吸収を見
るため、例えば焼結体や多結晶体または層状合金
またはIC用の半導体薄膜等のように種々な成分
が混然一体となつているものは、それぞれの成分
の吸収スペクトルの効果が重畳されてしまい、ど
のような組成分が混在するかは、ある程度判定可
能であるが、どのような状態で分布、又は配置さ
れているかは判定不可能である。
本発明の目的は、試料に照射する輻射線例えば
赤外ビームを凹面反射鏡で収束させ、試料上を2
次元的に走査を行ないながら吸収スペクトル効果
を検出し、その波長に対応した色彩の画像として
表示することにより、上記の欠点を解決し構成物
質の定性分析及び定量分析そして形態観察が同時
に可能な走査型分光分析顕微鏡を提供しようとす
るものである。
赤外ビームを凹面反射鏡で収束させ、試料上を2
次元的に走査を行ないながら吸収スペクトル効果
を検出し、その波長に対応した色彩の画像として
表示することにより、上記の欠点を解決し構成物
質の定性分析及び定量分析そして形態観察が同時
に可能な走査型分光分析顕微鏡を提供しようとす
るものである。
本発明の走査型分光分析顕微鏡は、輻射線発生
手段と、この発生手段から発生した輻射線を試料
上で相対的に2次元走査させる手段と、走査素点
毎に試料から得られる輻射線吸収スペクトルを検
出し電気信号に変換する光電変換手段と、この光
電変換手段から出力される信号に上記輻射線吸収
スペクトルに対応した色情報を付加しカラー表示
信号を形成する手段と、このカラー表示信号に基
づいてカラー画像を表示する表示手段とからなる
ことを特徴とするものである。
手段と、この発生手段から発生した輻射線を試料
上で相対的に2次元走査させる手段と、走査素点
毎に試料から得られる輻射線吸収スペクトルを検
出し電気信号に変換する光電変換手段と、この光
電変換手段から出力される信号に上記輻射線吸収
スペクトルに対応した色情報を付加しカラー表示
信号を形成する手段と、このカラー表示信号に基
づいてカラー画像を表示する表示手段とからなる
ことを特徴とするものである。
以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明の原理的な構成図である。1は
輻射線例えば赤外線発生部で後記の実施例で示す
ように輻射線発生源を含みそれからの輻射線を収
束させるための反射型対物レンズ等で構成されて
いる。試料2を通つて吸収を受けた輻射線は分光
器3で分光された後、検出器4で検出され、走査
素点単位に時系列の電気信号に変換される。そし
て試料2を走査部5で2次元に走査しながら以上
の検出を繰り返し行なう。
輻射線例えば赤外線発生部で後記の実施例で示す
ように輻射線発生源を含みそれからの輻射線を収
束させるための反射型対物レンズ等で構成されて
いる。試料2を通つて吸収を受けた輻射線は分光
器3で分光された後、検出器4で検出され、走査
素点単位に時系列の電気信号に変換される。そし
て試料2を走査部5で2次元に走査しながら以上
の検出を繰り返し行なう。
ところで、上述の検出器4により検出される走
査素点毎の時系列信号は走査素点位置すなわち検
出位置x,yと吸収スペクトルの振幅と波長の4
次元の情報からなつているため、テレビジヨンモ
ニタ上で画像表示する際は吸収スペクトルの波長
に対する次元は波長に対応して色調を変えたカラ
ーで表示する。そのために検出器4で検出した信
号は増幅部6で増幅した後、カラー表示変換部7
でカラー表示に適した信号に変換する。そして、
つぎにスキヤンコンバータ部8でテレビジヨン走
査方式によるカラーテレビジヨン信号に変換して
カラーテレビジヨンモニタ9により表示する。表
示方法の詳細については第5図及び第6図を用い
て後述する。
査素点毎の時系列信号は走査素点位置すなわち検
出位置x,yと吸収スペクトルの振幅と波長の4
次元の情報からなつているため、テレビジヨンモ
ニタ上で画像表示する際は吸収スペクトルの波長
に対する次元は波長に対応して色調を変えたカラ
ーで表示する。そのために検出器4で検出した信
号は増幅部6で増幅した後、カラー表示変換部7
でカラー表示に適した信号に変換する。そして、
つぎにスキヤンコンバータ部8でテレビジヨン走
査方式によるカラーテレビジヨン信号に変換して
カラーテレビジヨンモニタ9により表示する。表
示方法の詳細については第5図及び第6図を用い
て後述する。
第2図に本発明の実施例の構成の一例をブロツ
ク線図で示す。同図において10は赤外線用の光
源である。その赤外線用光源10からの赤外線
は、平面鏡11と12及びコリメータ鏡13,1
4によつて対照光束15と試料光束16に分けら
れて平行光となり、その試料光束16は反射型対
物レンズ17によつて試料18上に収束し、試料
18を透過する時に試料独自のスペクトル吸収を
受けて下方に対向する反射型対物レンズ19にて
集光され、平行光束20になおされて平面鏡21
によりチヨツパ22に導かれる。一方対照光束1
5は試料光束16の試料保持用シエル23による
吸収分を補正するための補正用シエル24を通つ
た後、平面鏡25を介してチヨツパ22に導かれ
る。チヨツピングの比率は光源の発光スペクトル
の変動に充分追従する比率としてある。チヨツピ
ングされた光束は凸面鏡26を介して回析格子2
7に導かれ、分光される。分光されたスペクトル
はアレイ型検出器28によつて光電変換される。
このアレイ型検出器28をゲート発振回路29か
らのクロツク信号により前記試料の走査速度を十
分無視できる高速で駆動して光電変換出力を読み
出せば、第3図に示した如く各走査素点(走査位
置)における吸収スペクトルの波形に対応した時
系列信号を順次得ることができる。すなわち、第
3図において、T1の期間の信号はアレイ型検出
器28で読み出された試料の吸収スペクトルに対
応した前記時系列信号でありT2の期間の信号は、
チヨツピングによつて挿入された赤外線用光源1
0の発光スペクトルに対応する信号である。また
T3の期間はアレイ型検出器28によつて読み出
す間の休み時間に相当する。なお、この実施例で
は、構成を簡単に図示するため分光手段に凹面の
回析格子を使用しているが、光学系を組み合わせ
て平面回析格子を用いるようにしてもよいことは
勿論である。
ク線図で示す。同図において10は赤外線用の光
源である。その赤外線用光源10からの赤外線
は、平面鏡11と12及びコリメータ鏡13,1
4によつて対照光束15と試料光束16に分けら
れて平行光となり、その試料光束16は反射型対
物レンズ17によつて試料18上に収束し、試料
18を透過する時に試料独自のスペクトル吸収を
受けて下方に対向する反射型対物レンズ19にて
集光され、平行光束20になおされて平面鏡21
によりチヨツパ22に導かれる。一方対照光束1
5は試料光束16の試料保持用シエル23による
吸収分を補正するための補正用シエル24を通つ
た後、平面鏡25を介してチヨツパ22に導かれ
る。チヨツピングの比率は光源の発光スペクトル
の変動に充分追従する比率としてある。チヨツピ
ングされた光束は凸面鏡26を介して回析格子2
7に導かれ、分光される。分光されたスペクトル
はアレイ型検出器28によつて光電変換される。
このアレイ型検出器28をゲート発振回路29か
らのクロツク信号により前記試料の走査速度を十
分無視できる高速で駆動して光電変換出力を読み
出せば、第3図に示した如く各走査素点(走査位
置)における吸収スペクトルの波形に対応した時
系列信号を順次得ることができる。すなわち、第
3図において、T1の期間の信号はアレイ型検出
器28で読み出された試料の吸収スペクトルに対
応した前記時系列信号でありT2の期間の信号は、
チヨツピングによつて挿入された赤外線用光源1
0の発光スペクトルに対応する信号である。また
T3の期間はアレイ型検出器28によつて読み出
す間の休み時間に相当する。なお、この実施例で
は、構成を簡単に図示するため分光手段に凹面の
回析格子を使用しているが、光学系を組み合わせ
て平面回析格子を用いるようにしてもよいことは
勿論である。
一方、試料の18の吸収スペクトルを検出する
位置の移動は、試料保持用シエル23をX走査部
30を構成する加振器およびy走査部31を構成
するパルスモータによつて二次元的に移動させる
ことにより行ない、これにより試料18が試料光
束16の収束光によつて二次元的に走査されるよ
うに構成してある。またx走査部30から走査基
準信号を位置検出部32に供給し、ここでx方向
の所定の各走査素点の位置を表わすデイジタルコ
ード化した位置信号を発生させるとともに、前記
走査基準信号に関連したタイミングの信号をコン
トロールゲート発生部33に供給して、前記チヨ
ツパー22を駆動するためのパルスモータ34の
制御信号、前記ゲート発振回路29の制御信号、
前記チヨツパー22のチヨツピングにより第3図
のT3の期間に挿入される光源10の発光スペク
トルに対応する信号を抜き出すための制御信号お
よびy走査部を構成するパルスモータを制御する
ための制御信号のそれぞれ発生させている。な
お、35はパルスモータ34の駆動をチヨツパー
22に伝達するためのギヤーボツクスである。
位置の移動は、試料保持用シエル23をX走査部
30を構成する加振器およびy走査部31を構成
するパルスモータによつて二次元的に移動させる
ことにより行ない、これにより試料18が試料光
束16の収束光によつて二次元的に走査されるよ
うに構成してある。またx走査部30から走査基
準信号を位置検出部32に供給し、ここでx方向
の所定の各走査素点の位置を表わすデイジタルコ
ード化した位置信号を発生させるとともに、前記
走査基準信号に関連したタイミングの信号をコン
トロールゲート発生部33に供給して、前記チヨ
ツパー22を駆動するためのパルスモータ34の
制御信号、前記ゲート発振回路29の制御信号、
前記チヨツパー22のチヨツピングにより第3図
のT3の期間に挿入される光源10の発光スペク
トルに対応する信号を抜き出すための制御信号お
よびy走査部を構成するパルスモータを制御する
ための制御信号のそれぞれ発生させている。な
お、35はパルスモータ34の駆動をチヨツパー
22に伝達するためのギヤーボツクスである。
一方、アレイ型検出器で検出された各走査素点
の吸収スペクトル波形に対応した時系列信号は、
雑音指数のすぐれた対数ビデオ増幅器36で増幅
される。ここで対数ビデオ増幅器36を用いた理
由を説明すると、吸収スペクトルの振幅は試料の
種類及び厚さおよび組成分によつて大きく変わ
る。これに対処して増幅器のダイナミツクレンジ
内に増幅を保持するために試料18の厚さをその
都度保持用シエル23から外して研磨やスライス
によりいちいち調整していたのでは手間がかか
る。故にダイナミツクレンジの広い対数増幅器を
用いて増幅した後に必要な信号が存在するレンジ
を利得調整回路37とダイナミツクレンジ調整回
路38により取り出すようにしている。(対数増
幅された信号のせまい範囲を取り出せばリニア増
幅したものと同じことになる。)これらの処理を
受けた信号はAD変換回路39でデイジタル信号
に変換された後、選択回路40において前記位置
検出部32から導かれた位置信号によりチヨツパ
ー22で第3図のT2の期間に適当な周期で挿入
されている光源10の発光スペクトルに対応した
波形の信号部分を選択して取り出し、ラインメモ
リ(シリアルダイナミツクメモリ)41に記憶す
る。そしてこの信号により試料18の吸収スペク
トル信号に対応する各時系列信号(第3図のT1
の期間の信号)を除算回路42で割算することに
より赤外線用光源10の波長に対する出力の平坦
性を補正する。この除算回路42の出力は、次の
加算回路43において、前記位置検出部31で検
出され、そしてデイジタルコード化された位置信
号をその位置信号に対応する試料位置における検
出スペクトル信号の時系列信号の直前の休み時間
の部分、例えば第3図のaで示した時系列信号の
位置信号についてはその直前のbで示した部分に
挿入した後、磁気デイスク記録部44に一担記録
する。
の吸収スペクトル波形に対応した時系列信号は、
雑音指数のすぐれた対数ビデオ増幅器36で増幅
される。ここで対数ビデオ増幅器36を用いた理
由を説明すると、吸収スペクトルの振幅は試料の
種類及び厚さおよび組成分によつて大きく変わ
る。これに対処して増幅器のダイナミツクレンジ
内に増幅を保持するために試料18の厚さをその
都度保持用シエル23から外して研磨やスライス
によりいちいち調整していたのでは手間がかか
る。故にダイナミツクレンジの広い対数増幅器を
用いて増幅した後に必要な信号が存在するレンジ
を利得調整回路37とダイナミツクレンジ調整回
路38により取り出すようにしている。(対数増
幅された信号のせまい範囲を取り出せばリニア増
幅したものと同じことになる。)これらの処理を
受けた信号はAD変換回路39でデイジタル信号
に変換された後、選択回路40において前記位置
検出部32から導かれた位置信号によりチヨツパ
ー22で第3図のT2の期間に適当な周期で挿入
されている光源10の発光スペクトルに対応した
波形の信号部分を選択して取り出し、ラインメモ
リ(シリアルダイナミツクメモリ)41に記憶す
る。そしてこの信号により試料18の吸収スペク
トル信号に対応する各時系列信号(第3図のT1
の期間の信号)を除算回路42で割算することに
より赤外線用光源10の波長に対する出力の平坦
性を補正する。この除算回路42の出力は、次の
加算回路43において、前記位置検出部31で検
出され、そしてデイジタルコード化された位置信
号をその位置信号に対応する試料位置における検
出スペクトル信号の時系列信号の直前の休み時間
の部分、例えば第3図のaで示した時系列信号の
位置信号についてはその直前のbで示した部分に
挿入した後、磁気デイスク記録部44に一担記録
する。
磁気デイスク記録部44から読み出された信号
は位置信号分離回路45によつて位置信号を分離
した後、この位置信号によつてRGBフイルタ関
数発生回路46から第4図bにR,G,Bで示し
たように同期発生させられたR(赤)、G(緑)、B
(青)用のフイルタ関数信号を各別に乗算器47,
48,49に導いて、その各乗算器47,48,
49に加えられる第4図aに示した吸収スペクト
ル波形に対応した時系列信号Sと掛け合わせる。
これにより時系列信号SにR,G,Bそれぞれの
色情報が付加された3色の色信号成分が形成され
る。なお、この第4図bに示したRGBのフイル
タ関数信号の発生のタイミングtOと発生の時間幅
TOを可変することにより吸収スペクトルのどこ
の波長範囲をカラーに対応させて表示するかを可
変設定することができる。
は位置信号分離回路45によつて位置信号を分離
した後、この位置信号によつてRGBフイルタ関
数発生回路46から第4図bにR,G,Bで示し
たように同期発生させられたR(赤)、G(緑)、B
(青)用のフイルタ関数信号を各別に乗算器47,
48,49に導いて、その各乗算器47,48,
49に加えられる第4図aに示した吸収スペクト
ル波形に対応した時系列信号Sと掛け合わせる。
これにより時系列信号SにR,G,Bそれぞれの
色情報が付加された3色の色信号成分が形成され
る。なお、この第4図bに示したRGBのフイル
タ関数信号の発生のタイミングtOと発生の時間幅
TOを可変することにより吸収スペクトルのどこ
の波長範囲をカラーに対応させて表示するかを可
変設定することができる。
なお、第4図aに示した吸収スペクトル波形信
号Sは、理解を助けるためアナログ波形で示して
いる。また、同図bのR、G、Bフイルタ関数信
号の波形(カツトオフ特性等)は、表示方法によ
つて変えることができるようになつている。
号Sは、理解を助けるためアナログ波形で示して
いる。また、同図bのR、G、Bフイルタ関数信
号の波形(カツトオフ特性等)は、表示方法によ
つて変えることができるようになつている。
しかして、このように各走査素点における吸収
スペクトルに対応した時系列信号を、その吸収ス
ペクトルの波長に対応した3色の色信号成分に形
成して得た各色信号成分は、それぞれ積分器5
0,51,52およびサンプルホールド回路5
3,54,55に導き、切り換えスイツチ56,
57,58を同時に切り換えることによつて、積
分器50,51,52を経た信号、あるいは同一
のタイミングでサンプルホールドされた信号の何
れかの出力信号として取り出し、これを(赤)
R、(緑)G、(青)Bの各色信号としてスキヤン
コンバータ部59に入力させ、このスキヤンコン
バータ部59によりカラー表示信号を形成し、こ
の信号に基いて、カラーテレビジヨンモニタ60
上にカラー画像を表示する。すなわち、カラーに
対応させた吸収スペクトルの波長領域の範囲全部
を混合色として表示する時は、切り換えスイツチ
56,57,58を積分器50,51,52側に
倒し、乗算器47,48,49の出力の平均値を
RGBの信号として、スキヤンコンバータ部59
内のフレームメモリに前記位置信号分離回路45
で分離された位置信号に対応して記憶する。そし
てそのフレームメモリからテレビの走査に対応し
た走査方式と走査速度で読み出し、この読み出し
た映像信号にテレビジヨン同期信号、キヤラクタ
信号並びに第5図及び第6図を用いて後述する再
生画像の選択された位置のスペクトル波形に対応
した映像信号を加算した後、カラーテレビジヨン
モニタ60上に表示する。
スペクトルに対応した時系列信号を、その吸収ス
ペクトルの波長に対応した3色の色信号成分に形
成して得た各色信号成分は、それぞれ積分器5
0,51,52およびサンプルホールド回路5
3,54,55に導き、切り換えスイツチ56,
57,58を同時に切り換えることによつて、積
分器50,51,52を経た信号、あるいは同一
のタイミングでサンプルホールドされた信号の何
れかの出力信号として取り出し、これを(赤)
R、(緑)G、(青)Bの各色信号としてスキヤン
コンバータ部59に入力させ、このスキヤンコン
バータ部59によりカラー表示信号を形成し、こ
の信号に基いて、カラーテレビジヨンモニタ60
上にカラー画像を表示する。すなわち、カラーに
対応させた吸収スペクトルの波長領域の範囲全部
を混合色として表示する時は、切り換えスイツチ
56,57,58を積分器50,51,52側に
倒し、乗算器47,48,49の出力の平均値を
RGBの信号として、スキヤンコンバータ部59
内のフレームメモリに前記位置信号分離回路45
で分離された位置信号に対応して記憶する。そし
てそのフレームメモリからテレビの走査に対応し
た走査方式と走査速度で読み出し、この読み出し
た映像信号にテレビジヨン同期信号、キヤラクタ
信号並びに第5図及び第6図を用いて後述する再
生画像の選択された位置のスペクトル波形に対応
した映像信号を加算した後、カラーテレビジヨン
モニタ60上に表示する。
次に吸収スペクトルのうち、単一のスペクト
ル、すなわちそのスペクトルの波長に対応した特
定色によつて表示したい時は、切り換えスイツチ
56,57,58をサンプルホールド回路53,
54,55側に切り換え、位置信号分離回路45
からの位置信号を基準にして、乗算器50,5
1,52の出力の表示したい特定波長位置に相当
するタイミングのサンプリングパルスを得、これ
により各乗算器50,51,52の出力を同時に
サンプルホールドしてR、G、Bの各信号を得
る。このR、G、Bの各信号をスキヤンコンバー
タ部59に導いてカラーテレビジヨン信号に変換
してカラーテレビジヨンモニタ60上に表示す
る。このようにして表示した画像は、前記特定波
長位置におけるスペクトルに対応した特定色の一
色表示となり、特定波長位置におけるスペクトル
と大小に応じた明暗によつて表示された試料の二
次元像となる。
ル、すなわちそのスペクトルの波長に対応した特
定色によつて表示したい時は、切り換えスイツチ
56,57,58をサンプルホールド回路53,
54,55側に切り換え、位置信号分離回路45
からの位置信号を基準にして、乗算器50,5
1,52の出力の表示したい特定波長位置に相当
するタイミングのサンプリングパルスを得、これ
により各乗算器50,51,52の出力を同時に
サンプルホールドしてR、G、Bの各信号を得
る。このR、G、Bの各信号をスキヤンコンバー
タ部59に導いてカラーテレビジヨン信号に変換
してカラーテレビジヨンモニタ60上に表示す
る。このようにして表示した画像は、前記特定波
長位置におけるスペクトルに対応した特定色の一
色表示となり、特定波長位置におけるスペクトル
と大小に応じた明暗によつて表示された試料の二
次元像となる。
以上の実施例の構成においては、AD変換回路
39以降のデイジタル回路をハードシステムで構
成したが、ミニコンピユータを用いて信号処理を
行なうようにしても何ら差し支えなく、さらに高
級な画像処理を行なう場合には、ミニコンピユー
タを用いることが不可欠となるものと考えられ
る。
39以降のデイジタル回路をハードシステムで構
成したが、ミニコンピユータを用いて信号処理を
行なうようにしても何ら差し支えなく、さらに高
級な画像処理を行なう場合には、ミニコンピユー
タを用いることが不可欠となるものと考えられ
る。
次に第5図にカラーテレビジヨンモニタ上の表
示方法としての一実施例を示す。これらの表示の
ための信号処理はスキヤンコンバータ部59内の
ビデオプロセス部にて処理される。まず第5図は
表示したい吸収スペクトルの範囲全部を混合色と
してカラーテレビジヨンモニタ60上に表示した
時で、61はそれによりカラー表示された試料の
二次元画像である。画面の右側には62,63で
示したように、パネル上のジヨイステイツクによ
り表示画像の選択された位置64,65における
例えば赤外吸収スペクトル波形をそれぞれ表示す
る。選択する位置64,65は当然ジヨイステイ
ツクにより画面上を自由に移動させることができ
る。
示方法としての一実施例を示す。これらの表示の
ための信号処理はスキヤンコンバータ部59内の
ビデオプロセス部にて処理される。まず第5図は
表示したい吸収スペクトルの範囲全部を混合色と
してカラーテレビジヨンモニタ60上に表示した
時で、61はそれによりカラー表示された試料の
二次元画像である。画面の右側には62,63で
示したように、パネル上のジヨイステイツクによ
り表示画像の選択された位置64,65における
例えば赤外吸収スペクトル波形をそれぞれ表示す
る。選択する位置64,65は当然ジヨイステイ
ツクにより画面上を自由に移動させることができ
る。
すなわち、ジヨイステイツクにより指定された
画面上の位置には表示マークが現われるようにな
つており、同時にその位置に対応する吸収スペク
トル波形をもつ時系列信号が、磁気デイスク記録
部44からスキヤンコンバータ部59内のビデオ
プロセス部に取り込まれて、カラーテレビジヨン
信号に重畳されるようになつている。
画面上の位置には表示マークが現われるようにな
つており、同時にその位置に対応する吸収スペク
トル波形をもつ時系列信号が、磁気デイスク記録
部44からスキヤンコンバータ部59内のビデオ
プロセス部に取り込まれて、カラーテレビジヨン
信号に重畳されるようになつている。
画面右側に表示した吸収スペクトルに対応した
波形図62,63中、太い実線66および67で
画いた範囲が、カラー信号に変換されているカラ
ー画像表示しているスペクトル範囲を示すように
しており、スペクトルに対応して色を連続的に変
化し、かつ点滅表示するようになつている。その
カラー表示スペクトル範囲66,67は、前述し
たようにその位置と範囲において、任意に設定す
ることができる。表示画面の下方の範囲部分68
は、日付、試料名、その他のキヤラクタを表示す
る部分である。第6図は吸収スペクトルのうち単
一のスペクトルをそのスペクトルに対応した特定
の一色で表示する場合の表示方法の一例図であ
る。69,70は第5図の例と同様にジヨイステ
イツクで選択された位置71,72の吸収スペク
トル波形である。そしてその波形上の輝点73,
74,75,76の4点はこれもまたパネル上の
ツマミでそれぞれ独自に可変設定できるようにな
つており、この4点の位置の吸収スペクトルのそ
れぞれ対応した各異なる特定色によつて、各別に
4つの画像77,78,79,80に分割し同一
画面を4分割して同時に表示するようにしたもの
である。そしてこの4個の輝点も判別しやすいよ
うに、その設定位置に対応した色で点滅するよう
に構成されている。
波形図62,63中、太い実線66および67で
画いた範囲が、カラー信号に変換されているカラ
ー画像表示しているスペクトル範囲を示すように
しており、スペクトルに対応して色を連続的に変
化し、かつ点滅表示するようになつている。その
カラー表示スペクトル範囲66,67は、前述し
たようにその位置と範囲において、任意に設定す
ることができる。表示画面の下方の範囲部分68
は、日付、試料名、その他のキヤラクタを表示す
る部分である。第6図は吸収スペクトルのうち単
一のスペクトルをそのスペクトルに対応した特定
の一色で表示する場合の表示方法の一例図であ
る。69,70は第5図の例と同様にジヨイステ
イツクで選択された位置71,72の吸収スペク
トル波形である。そしてその波形上の輝点73,
74,75,76の4点はこれもまたパネル上の
ツマミでそれぞれ独自に可変設定できるようにな
つており、この4点の位置の吸収スペクトルのそ
れぞれ対応した各異なる特定色によつて、各別に
4つの画像77,78,79,80に分割し同一
画面を4分割して同時に表示するようにしたもの
である。そしてこの4個の輝点も判別しやすいよ
うに、その設定位置に対応した色で点滅するよう
に構成されている。
このように、この実施例によれば吸収スペクト
ルに対応した色彩で試料の各部を二次元的にカラ
ー表示することに併せて、画面上の選択位置にお
ける吸収スペクトルを同時に表示することによ
り、その選択位置の吸収スペクトルを感覚的にわ
かり易く表示することができる等の効果がある。
ルに対応した色彩で試料の各部を二次元的にカラ
ー表示することに併せて、画面上の選択位置にお
ける吸収スペクトルを同時に表示することによ
り、その選択位置の吸収スペクトルを感覚的にわ
かり易く表示することができる等の効果がある。
なお、上記の実施例においては、輻射線に赤外
線を用いた場合について説明したが、本発明はそ
れに限定されるものではなく、可視線、紫外線、
X線等を用いた分光分析顕微鏡としても容易に実
施することが可能である。
線を用いた場合について説明したが、本発明はそ
れに限定されるものではなく、可視線、紫外線、
X線等を用いた分光分析顕微鏡としても容易に実
施することが可能である。
以上実施例に基いて説明したように、本発明に
よれば各種の輻射線による試料の形態観察が可能
であるばかりではなく、試料の二次元面における
各部の輻射線吸収スペクトルを二次元的にその吸
収スペクトル波長に対応した色で画像表示するも
のであるから、画像の色とその面積とを判断する
ことにより試料の定性分析及び定量分析をその画
像画面上で容易に行なうことができる。
よれば各種の輻射線による試料の形態観察が可能
であるばかりではなく、試料の二次元面における
各部の輻射線吸収スペクトルを二次元的にその吸
収スペクトル波長に対応した色で画像表示するも
のであるから、画像の色とその面積とを判断する
ことにより試料の定性分析及び定量分析をその画
像画面上で容易に行なうことができる。
第1図は、本発明の原理的な構成を示すブロツ
ク線図、第2図は、本発明の実施例の一例の構成
を示すブロツク線図、第3図は、アレイ型検出器
から読み出される時系列信号波形の一例図、第4
図は、吸収スペクトルと色信号の関係を説明する
ための波形図、第5図および第6図は、カラーテ
レビジヨンモニタ上のそれぞれ異なる表示例の説
明図である。 1……輻射線発生部、2,18……試料、3…
…分光器、4……検出器、5……走査部、6……
増幅部、7……カラー表示変換部、8,59……
スキヤンコンバータ部、9,60……カラーテレ
ビジヨンモニタ、10……赤外線用光源、11,
12,21,25……平面鏡、13,14……コ
リメータ鏡、15……対照光束、16……試料光
束、17,19……反射型対物レンズ、20……
平行光束、22……チヨツパ、23……試料保持
用シエル、24……補正用シエル、26……凸面
鏡、27……回析格子、28……アレイ型検出
器、29……ゲート発振回路、30……x走査
部、31……y走査部、32……位置検出部、3
3……コントロールゲート発生部、34……パル
スモータ、35……ギヤーボツクス、36……対
数ビデオ増幅器、37……利得調整回路、38…
…ダイナミツクレンジ調整回路、39……AD変
換器、40……選択回路、41……ラインメモ
リ、42……除算回路、43……位置信号加算回
路、44……磁気デイスク記録部、45……位置
信号分離回路、46……RGBフイルタ関数発生
回路、47,48,49……乗算器、50,5
1,52……積分器、53,54,55……サン
プルホールド回路、56,57,58……切り換
えスイツチ、61……試料のカラー表示画像、6
2,63,85,86……吸収スペクトル波形、
64,65,80,79……選択位置、66,6
7……カラー表示範囲、68……キヤラクタ等表
示部、72,73,74,75……波形上の輝
点、76,77,78,79……吸収スペクトル
の特定の4点のスペクトルのよつて4分割された
各画像。
ク線図、第2図は、本発明の実施例の一例の構成
を示すブロツク線図、第3図は、アレイ型検出器
から読み出される時系列信号波形の一例図、第4
図は、吸収スペクトルと色信号の関係を説明する
ための波形図、第5図および第6図は、カラーテ
レビジヨンモニタ上のそれぞれ異なる表示例の説
明図である。 1……輻射線発生部、2,18……試料、3…
…分光器、4……検出器、5……走査部、6……
増幅部、7……カラー表示変換部、8,59……
スキヤンコンバータ部、9,60……カラーテレ
ビジヨンモニタ、10……赤外線用光源、11,
12,21,25……平面鏡、13,14……コ
リメータ鏡、15……対照光束、16……試料光
束、17,19……反射型対物レンズ、20……
平行光束、22……チヨツパ、23……試料保持
用シエル、24……補正用シエル、26……凸面
鏡、27……回析格子、28……アレイ型検出
器、29……ゲート発振回路、30……x走査
部、31……y走査部、32……位置検出部、3
3……コントロールゲート発生部、34……パル
スモータ、35……ギヤーボツクス、36……対
数ビデオ増幅器、37……利得調整回路、38…
…ダイナミツクレンジ調整回路、39……AD変
換器、40……選択回路、41……ラインメモ
リ、42……除算回路、43……位置信号加算回
路、44……磁気デイスク記録部、45……位置
信号分離回路、46……RGBフイルタ関数発生
回路、47,48,49……乗算器、50,5
1,52……積分器、53,54,55……サン
プルホールド回路、56,57,58……切り換
えスイツチ、61……試料のカラー表示画像、6
2,63,85,86……吸収スペクトル波形、
64,65,80,79……選択位置、66,6
7……カラー表示範囲、68……キヤラクタ等表
示部、72,73,74,75……波形上の輝
点、76,77,78,79……吸収スペクトル
の特定の4点のスペクトルのよつて4分割された
各画像。
Claims (1)
- 1 輻射線発生手段と、この発生手段から発生し
た輻射線を試料上で相対的に2次元走査させる手
段と、走査素点毎に試料から得られる輻射線吸収
スペクトルを検出し電気信号に変換する光電変換
手段と、この光電変換手段から出力される信号に
上記輻射線吸収スペクトルに対応した色情報を付
加しカラー表示信号を形成する手段と、このカラ
ー表示信号に基いてカラー画像を表示する表示手
段とからなることを特徴とする走査型分光分析顕
微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8322782A JPS58200209A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 走査型分光分析顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8322782A JPS58200209A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 走査型分光分析顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58200209A JPS58200209A (ja) | 1983-11-21 |
| JPH0363723B2 true JPH0363723B2 (ja) | 1991-10-02 |
Family
ID=13796430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8322782A Granted JPS58200209A (ja) | 1982-05-19 | 1982-05-19 | 走査型分光分析顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58200209A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005504313A (ja) * | 2001-10-01 | 2005-02-10 | ユーディー テクノロジー コーポレーション | 実時間ir分光法の装置および方法 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0713707B2 (ja) * | 1985-04-26 | 1995-02-15 | オリンパス光学工業株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
| JPH07117454B2 (ja) * | 1986-12-22 | 1995-12-18 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
| JPH0752122B2 (ja) * | 1988-06-21 | 1995-06-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 色彩輝度計 |
| JPH05273149A (ja) * | 1992-03-27 | 1993-10-22 | Toppan Printing Co Ltd | カラー転写リボンの検査方法及び装置 |
| US6957099B1 (en) * | 1999-02-23 | 2005-10-18 | Teraview Limited | Method and apparatus for terahertz imaging |
| JP2003106997A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Jasco Corp | 顕微分光装置 |
| JP4611794B2 (ja) * | 2005-04-22 | 2011-01-12 | Hoya株式会社 | 蛍光観察装置 |
| DE102012106867B4 (de) * | 2012-07-27 | 2016-10-13 | Universität Hamburg | Vorrichtung und Verfahren zur resonator-verstärkten optischen Absorptionsmessung an Proben mit kleinem Absorptionswirkungsquerschnitt |
| US9940740B2 (en) | 2013-06-24 | 2018-04-10 | Shimadzu Corporation | Refractometer |
| JP2015178986A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-10-08 | 株式会社島津製作所 | 赤外顕微鏡 |
| JP6887751B2 (ja) * | 2015-12-25 | 2021-06-16 | 大塚電子株式会社 | 光学特性測定装置 |
-
1982
- 1982-05-19 JP JP8322782A patent/JPS58200209A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005504313A (ja) * | 2001-10-01 | 2005-02-10 | ユーディー テクノロジー コーポレーション | 実時間ir分光法の装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58200209A (ja) | 1983-11-21 |
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