JPH036431A - 光周波数変調特性の測定装置 - Google Patents
光周波数変調特性の測定装置Info
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- JPH036431A JPH036431A JP1141406A JP14140689A JPH036431A JP H036431 A JPH036431 A JP H036431A JP 1141406 A JP1141406 A JP 1141406A JP 14140689 A JP14140689 A JP 14140689A JP H036431 A JPH036431 A JP H036431A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光通信装置の測定に利用する。本発明は周波数
変調された光信号の変調特性を測定するために利用する
。本発明は半導体レーザから放出され周波数変調された
コヒーレント光通信用の光信号の変調特性を測定するに
適する。
変調された光信号の変調特性を測定するために利用する
。本発明は半導体レーザから放出され周波数変調された
コヒーレント光通信用の光信号の変調特性を測定するに
適する。
コヒーレント光通信では、周波数変調方式が優れている
ことが知られている。またこのために、半導体レーザを
直接変調することにより得られる周波数変調信号を用い
ると簡単な送信回路を得ることができる。ところが半導
体レーザの直接変調により得られる光信号の周波数変調
信号は、周波数変調成分とともに振幅変調成分をも含む
ので、この周波数変調特性の測定には振幅変調成分の影
響の少ない測定方法が必要である。
ことが知られている。またこのために、半導体レーザを
直接変調することにより得られる周波数変調信号を用い
ると簡単な送信回路を得ることができる。ところが半導
体レーザの直接変調により得られる光信号の周波数変調
信号は、周波数変調成分とともに振幅変調成分をも含む
ので、この周波数変調特性の測定には振幅変調成分の影
響の少ない測定方法が必要である。
従来、このような測定にはマツハツエンダ干渉計が用い
られている。第３図にその測定系の構成図を示す。第２
図は人力光周波数と出力光強度を表わす特性図である。
られている。第３図にその測定系の構成図を示す。第２
図は人力光周波数と出力光強度を表わす特性図である。
横軸に光周波数をとり縦軸に出力光の光強度を表わす。
この特性曲線の勾配の大きい点ａを選び、この点ａの周
波数ｆａを中心周波数として周波数変調された入力光を
マツハツエンダ干渉計に与えると、入力された光を２つ
に分け、その２つの光に光路差を与えて干渉させ周波数
変調成分を強度変化に変換するので、第２図（ａ）の実
線と破線で示したような光強度の変化に変換された２つ
の光信号が得られる。この光強度に変換された２つの光
信号をそれぞれ光電変換素子で電圧信号に変換し、２つ
の差分をとることにより振幅変調成分を打ち消すことが
できる。これを第２図（ｂ）に示す。
波数ｆａを中心周波数として周波数変調された入力光を
マツハツエンダ干渉計に与えると、入力された光を２つ
に分け、その２つの光に光路差を与えて干渉させ周波数
変調成分を強度変化に変換するので、第２図（ａ）の実
線と破線で示したような光強度の変化に変換された２つ
の光信号が得られる。この光強度に変換された２つの光
信号をそれぞれ光電変換素子で電圧信号に変換し、２つ
の差分をとることにより振幅変調成分を打ち消すことが
できる。これを第２図（ｂ）に示す。
この差分電気信号を観測することにより周波数変調応答
特性を観測することができる。前記光路差は温度変化な
どの環境の変化によって変化し、周波数ｆａ に対する
点が特性曲線の勾配の大きい位置でなくなってしまう。
特性を観測することができる。前記光路差は温度変化な
どの環境の変化によって変化し、周波数ｆａ に対する
点が特性曲線の勾配の大きい位置でなくなってしまう。
そこでマツハツエンダ干渉計にヒータを装着しておき、
ヒータにより加熱される温度に従って実効的に光路が変
化して光路差が変化するように構成する。差分電気信号
の一部を周波数変調成分に影響されないために、低域濾
波器を通して制御回路に人力し差分電気信号が常に平均
的に零電位になるように上記ヒータを制御する。
ヒータにより加熱される温度に従って実効的に光路が変
化して光路差が変化するように構成する。差分電気信号
の一部を周波数変調成分に影響されないために、低域濾
波器を通して制御回路に人力し差分電気信号が常に平均
的に零電位になるように上記ヒータを制御する。
また、別の方法として偏波保持ファイバを利用するもの
が考えられる。偏波保持ファイバには偏波を保持する２
つの直交軸が存在する。これらをそれぞれＸ軸、Ｙ軸と
する。光がＸ軸およびＹ軸を通ると微妙に異なった伝搬
時間で伝搬する。偏波保持ファイバのＸ軸、Ｙ軸に対し
て光の偏波が４５度の角度になるように光を入力し、光
の偏波のＸ軸成分、Ｙ軸成分が異なった伝搬時間で伝搬
する。偏波保持ファイバの光出力端に偏波アナライザを
おき、偏波保持ファイバの１つの偏波保持軸に対して光
の偏波が４５度の角度で出射するようにする。この出射
光信号を光電変換素子で電圧信号に変換する。
が考えられる。偏波保持ファイバには偏波を保持する２
つの直交軸が存在する。これらをそれぞれＸ軸、Ｙ軸と
する。光がＸ軸およびＹ軸を通ると微妙に異なった伝搬
時間で伝搬する。偏波保持ファイバのＸ軸、Ｙ軸に対し
て光の偏波が４５度の角度になるように光を入力し、光
の偏波のＸ軸成分、Ｙ軸成分が異なった伝搬時間で伝搬
する。偏波保持ファイバの光出力端に偏波アナライザを
おき、偏波保持ファイバの１つの偏波保持軸に対して光
の偏波が４５度の角度で出射するようにする。この出射
光信号を光電変換素子で電圧信号に変換する。
ところが、前記マツハツエンダ干渉計を利用した方法で
は、安定測定のためにヒータを装着した光導波路が必要
であるが、先導波路は加工が難しく容易に入手できない
。
は、安定測定のためにヒータを装着した光導波路が必要
であるが、先導波路は加工が難しく容易に入手できない
。
また、前記偏波保持光ファイバを利用する方法では、偏
波保持光ファイバは容易に入手できるが、上記の構成に
すると制御が不可能で安定測定ができない。そのうえ、
測定時に強度変調成分も同時に測定するため何らかの方
法で強度変調成分を除去しなければならない。これを解
決する方法として、個順保持ファイバへの入射角度を９
０度回転して再度測定し、再測定結果から周波数変調成
分のみを取り出す方法が考えられる。しかし、これでは
２回の測定とその処理が必要なため非常に時間を要する
。
波保持光ファイバは容易に入手できるが、上記の構成に
すると制御が不可能で安定測定ができない。そのうえ、
測定時に強度変調成分も同時に測定するため何らかの方
法で強度変調成分を除去しなければならない。これを解
決する方法として、個順保持ファイバへの入射角度を９
０度回転して再度測定し、再測定結果から周波数変調成
分のみを取り出す方法が考えられる。しかし、これでは
２回の測定とその処理が必要なため非常に時間を要する
。
本発明はこれを解決するもので、容易に人手できる偏波
保持光ファイバを利用し、かつ制御を行うことにより安
定な測定を可能にするとともに、その機構がきわめて簡
単であり取扱い工数の小さい装置を提供することを目的
とする。
保持光ファイバを利用し、かつ制御を行うことにより安
定な測定を可能にするとともに、その機構がきわめて簡
単であり取扱い工数の小さい装置を提供することを目的
とする。
本発明は、偏波保持光ファイバの光出力端に偏波保持光
ファイバのＸ軸またはＹ軸それぞれに対してほぼ４５度
の角度を成す２つの直交偏波成分をとり出せるように偏
波ビームスプリッタを設け、偏波ビームスプリッタから
の出力ポートにそれぞれ光電変換器を設けて、この２つ
の光電変換器の出力電気信号の差分を出力信号とする電
気回路手段を設けたことを特徴とする。
ファイバのＸ軸またはＹ軸それぞれに対してほぼ４５度
の角度を成す２つの直交偏波成分をとり出せるように偏
波ビームスプリッタを設け、偏波ビームスプリッタから
の出力ポートにそれぞれ光電変換器を設けて、この２つ
の光電変換器の出力電気信号の差分を出力信号とする電
気回路手段を設けたことを特徴とする。
また、偏波保持光ファイバのＸ軸またはＹ軸の実効的な
光路長を制御する手段を設け、この手段に前記出力電気
信号の差分に応じる制御人力、特に望ましくは差分の時
間平均値が零になるような制御回路を備えることができ
る。
光路長を制御する手段を設け、この手段に前記出力電気
信号の差分に応じる制御人力、特に望ましくは差分の時
間平均値が零になるような制御回路を備えることができ
る。
偏波ビームスプリッタの２つの出力光ボートには、人力
光の周波数変化に対して位相の異なる強度信号が得られ
る。また、偏波ビームスプリッタの２つの出力光ボート
には、入力光の振幅変化の影響がそのまま現れる。した
がって、この２つの光出力ボートに現れる信号を減算す
ることにより、人力光の振幅変化の影響は除かれるとと
もに、周波数変化に対する強度変化は２倍になる。また
、偏波保持ファイバのＸ軸またはＹ軸の実効的な光路長
を制御する手段を設け、この手段に前記出力電気信号の
差分に応じる制御入力、特に望ましくは差分の時間平均
値が零にな′るような制御回路を備えることができる。
光の周波数変化に対して位相の異なる強度信号が得られ
る。また、偏波ビームスプリッタの２つの出力光ボート
には、入力光の振幅変化の影響がそのまま現れる。した
がって、この２つの光出力ボートに現れる信号を減算す
ることにより、人力光の振幅変化の影響は除かれるとと
もに、周波数変化に対する強度変化は２倍になる。また
、偏波保持ファイバのＸ軸またはＹ軸の実効的な光路長
を制御する手段を設け、この手段に前記出力電気信号の
差分に応じる制御入力、特に望ましくは差分の時間平均
値が零にな′るような制御回路を備えることができる。
上記２つの出力ポートの光出力を受信しこの差をとるこ
とによる方法が、偏波保持ファイバを利用する測定方法
についても採用できるのは、偏波保持ファイバのＸ軸お
よびＹ軸それぞれに対して４５度の角度を成す２つの直
交偏波成分を同時にとりだせるように偏波ビームスプリ
ッタを設けることによって可能である。このことを式を
用いて説明する。
とによる方法が、偏波保持ファイバを利用する測定方法
についても採用できるのは、偏波保持ファイバのＸ軸お
よびＹ軸それぞれに対して４５度の角度を成す２つの直
交偏波成分を同時にとりだせるように偏波ビームスプリ
ッタを設けることによって可能である。このことを式を
用いて説明する。
入力ポートの信号を次式で表わす。
５（ｔ）＝Ａｃｏｓ （２ｙｒ ｆ を十Φ（ｔ））（
１）ここで、Ａは光の電界、ｆは光の周波数、Φ（１）
は周波数変調信号である。偏波保持ファイバのＸ軸およ
びＹ軸の信号はそれぞれ Ｓ ＋（ｔ）＝ Ａｃｏｓ （２πｆｔ＋Φ（ｔ） ）
／ −ｆｆ （２）Ｓ２（ｔ）＝Ａｃｏｓ （２ｙ
ｒ ｆ （ｔ ＋ ｒ）＋Φ（ｔ＋τ）／ＶＴ
（３）ここでτは、光信号がＸ軸またはＹ軸を通って
偏波保持ファイバから出力される時の時間差である。偏
波ビームスプリッタでＸ軸またはＹ軸それぞれに対して
４５度の角度を成す２つの直交偏波成分に分けて取り出
すのでそれぞれ ５ｓ（ｔ）＝ Ａｃｏｓ （２ｒｒ ｆ ｔ＋Φ（ｔ）
）／２−ＡＣＯ９（２πｆ（ｔ＋τ） ＋Φ←ｔ＋τ）／２ （４） Ｓ４（ｔ）＝ Ａｃｏｓ （２ｙｒ ｆ ｔ＋Φ（ｔ）
）／ ２ ＋Ａｃｏｓ （，２ｒｒ ｆ （ｔ ＋ ｒ
）十Φ（ｔ＋τ）／２（５） これらは電界であるのでこれを受光素子で検波すると ５ｓ（ｔ）２＝Ａ２／４−Ａ２／４ ｘｃｏｓ（２πｆτ十Φ（を十τ）−Φ（ｔ））（６） Ｓ６（ｔ）２＝Ａ２／４ ＋Ａ２／４ ｘｃｏｓ（２πｆτ十Φ（ｔ＋τ）−Φ（ｔ））〔７〕 となる。すなわち、２つの出力ポートのそれぞれによる
受信ではＡ２に含まれる強度変調成分も同時に測定する
ことになる。ところが両出カの差をとると Ｓ ｓ （ｔ）２Ｓ ｓ （ｔ）２ Ａ２／２ＣＯ３（２πｆτ＋Φ（を十τ）−Φ（ｔ））
（８） となるため式（６）、（７）に第１項に含まれる強度変
調成分は除去される。もっとも、第２項の成分は差をと
っても除去できずに残るがこれは十分小さいため問題に
ならない。
１）ここで、Ａは光の電界、ｆは光の周波数、Φ（１）
は周波数変調信号である。偏波保持ファイバのＸ軸およ
びＹ軸の信号はそれぞれ Ｓ ＋（ｔ）＝ Ａｃｏｓ （２πｆｔ＋Φ（ｔ） ）
／ −ｆｆ （２）Ｓ２（ｔ）＝Ａｃｏｓ （２ｙ
ｒ ｆ （ｔ ＋ ｒ）＋Φ（ｔ＋τ）／ＶＴ
（３）ここでτは、光信号がＸ軸またはＹ軸を通って
偏波保持ファイバから出力される時の時間差である。偏
波ビームスプリッタでＸ軸またはＹ軸それぞれに対して
４５度の角度を成す２つの直交偏波成分に分けて取り出
すのでそれぞれ ５ｓ（ｔ）＝ Ａｃｏｓ （２ｒｒ ｆ ｔ＋Φ（ｔ）
）／２−ＡＣＯ９（２πｆ（ｔ＋τ） ＋Φ←ｔ＋τ）／２ （４） Ｓ４（ｔ）＝ Ａｃｏｓ （２ｙｒ ｆ ｔ＋Φ（ｔ）
）／ ２ ＋Ａｃｏｓ （，２ｒｒ ｆ （ｔ ＋ ｒ
）十Φ（ｔ＋τ）／２（５） これらは電界であるのでこれを受光素子で検波すると ５ｓ（ｔ）２＝Ａ２／４−Ａ２／４ ｘｃｏｓ（２πｆτ十Φ（を十τ）−Φ（ｔ））（６） Ｓ６（ｔ）２＝Ａ２／４ ＋Ａ２／４ ｘｃｏｓ（２πｆτ十Φ（ｔ＋τ）−Φ（ｔ））〔７〕 となる。すなわち、２つの出力ポートのそれぞれによる
受信ではＡ２に含まれる強度変調成分も同時に測定する
ことになる。ところが両出カの差をとると Ｓ ｓ （ｔ）２Ｓ ｓ （ｔ）２ Ａ２／２ＣＯ３（２πｆτ＋Φ（を十τ）−Φ（ｔ））
（８） となるため式（６）、（７）に第１項に含まれる強度変
調成分は除去される。もっとも、第２項の成分は差をと
っても除去できずに残るがこれは十分小さいため問題に
ならない。
第１図は本発明実施例装置の構成図である。この装置は
、入力光として周波数変調された被測定光の偏波状態を
制御する偏波制御器１と、偏波制御器１の出力光が入射
する偏波保持ファイバ２と、偏波保持ファイバ２の出力
光のＸ軸およびＹ軸それぞれに対して４５度の角度を成
す２つの直交偏波成分であるＸ′軸およびＹ′軸方向成
分に分けて取り出す偏波ビームスプリッタ３と、偏波ビ
ームスプリッタ３の出力光の強度を電気信号に変換する
光電変換器４および５とを備える。偏波制御器１は偏波
保持ファイバ２の１つの偏波保持軸どちらかに対して４
５度の角度を成すように制御しておく。偏波ビームスプ
リッタ３を光のＸ′軸成分とＹ′軸成分とに分けて同時
にとり出すように設けられるところに特徴がある。２つ
の光電変換器４および５の出力電気信号の差分を出力信
号とする電気回路手段として、この光電変換器４をアノ
ード側の電位と光電変換器５のカソード側の電位とが加
算されるように直列に接続し、この差分の出力は増幅器
６を介して出力端子７に送出される。
、入力光として周波数変調された被測定光の偏波状態を
制御する偏波制御器１と、偏波制御器１の出力光が入射
する偏波保持ファイバ２と、偏波保持ファイバ２の出力
光のＸ軸およびＹ軸それぞれに対して４５度の角度を成
す２つの直交偏波成分であるＸ′軸およびＹ′軸方向成
分に分けて取り出す偏波ビームスプリッタ３と、偏波ビ
ームスプリッタ３の出力光の強度を電気信号に変換する
光電変換器４および５とを備える。偏波制御器１は偏波
保持ファイバ２の１つの偏波保持軸どちらかに対して４
５度の角度を成すように制御しておく。偏波ビームスプ
リッタ３を光のＸ′軸成分とＹ′軸成分とに分けて同時
にとり出すように設けられるところに特徴がある。２つ
の光電変換器４および５の出力電気信号の差分を出力信
号とする電気回路手段として、この光電変換器４をアノ
ード側の電位と光電変換器５のカソード側の電位とが加
算されるように直列に接続し、この差分の出力は増幅器
６を介して出力端子７に送出される。
また、偏波保持ファイバ２にはＸ軸とＹ軸の光路長の差
を制御する手段としてピエゾ素子８が設け０ られ、このピエゾ素子８の電圧を光電変換器４および５
の差分出力にしたがって制御する制御回路９が接続され
る。
を制御する手段としてピエゾ素子８が設け０ られ、このピエゾ素子８の電圧を光電変換器４および５
の差分出力にしたがって制御する制御回路９が接続され
る。
偏波保持ファイバ２の偏波保持軸ｘｓ＊ｉよびＹ軸には
、その光伝搬時間の差がτであるように実効的な長さに
差があるから、偏波ビームスプリッタ３の２つの出力光
には干渉が発生する。したがって、ポート１００人力光
と２つの光電変換器４および５の出力との間には、第２
図に示すような周波数光強度特性が得られる。第２図に
おいて実線の曲線は光電変換器４の出力特性であり、破
線の曲線は光電変換器５の出力特性である。
、その光伝搬時間の差がτであるように実効的な長さに
差があるから、偏波ビームスプリッタ３の２つの出力光
には干渉が発生する。したがって、ポート１００人力光
と２つの光電変換器４および５の出力との間には、第２
図に示すような周波数光強度特性が得られる。第２図に
おいて実線の曲線は光電変換器４の出力特性であり、破
線の曲線は光電変換器５の出力特性である。
第２図において、この曲線の勾配がほぼ一様である点ａ
を選び、ポート１０に人力する人力光としてこの点ａに
対応する周波数ｆ６を中心周波数とする周波数変調され
た光信号を与えると、光電変換器４および５の出力信号
はこの入力光の周波数の変化に応じてその出力が第２図
（ａ）のように変化する。この強度の変化は２つの光電
変換器４および５について逆方向であるから、これらを
減算することにより第２図（ｂ）のように２倍の振幅と
なる。
を選び、ポート１０に人力する人力光としてこの点ａに
対応する周波数ｆ６を中心周波数とする周波数変調され
た光信号を与えると、光電変換器４および５の出力信号
はこの入力光の周波数の変化に応じてその出力が第２図
（ａ）のように変化する。この強度の変化は２つの光電
変換器４および５について逆方向であるから、これらを
減算することにより第２図（ｂ）のように２倍の振幅と
なる。
この実施例では、ピエゾ素子８により加えられる圧力に
したがって実効的に光路が変化して、上記時間τが変化
するように構成されている。すなわち、制御回路９の人
力には２つの光電変換器４および５の差分の信号が与え
られる。この制御回路９の人力にはこの入力に与えられ
る上記差分の信号が常に平均的に零電位になるように制
御する制御回路９とが設けられる。
したがって実効的に光路が変化して、上記時間τが変化
するように構成されている。すなわち、制御回路９の人
力には２つの光電変換器４および５の差分の信号が与え
られる。この制御回路９の人力にはこの入力に与えられ
る上記差分の信号が常に平均的に零電位になるように制
御する制御回路９とが設けられる。
したがって、第２図に示す被測定信号の中心周波数ｆ６
が変動して、も、ａ点は実線と破線のちょうど交点にな
るように追従することになる。
が変動して、も、ａ点は実線と破線のちょうど交点にな
るように追従することになる。
上記例では偏波保持ファイバ２にはＸ軸およびＹ軸の光
路長の差を変化させる手段としてピエゾ素子８を用いた
が、これに限らず、偏波保持ファイバの偏波保持Ｘ軸お
よびＹ軸の実効的な光路差を変化させるさまざまな方法
を用いて同様に本発明を実施することができる。
路長の差を変化させる手段としてピエゾ素子８を用いた
が、これに限らず、偏波保持ファイバの偏波保持Ｘ軸お
よびＹ軸の実効的な光路差を変化させるさまざまな方法
を用いて同様に本発明を実施することができる。
偏波保持軸に対する角度は正確に４５度でなくわずかに
ずれても本発明は成立する。
ずれても本発明は成立する。
１
２
〔発明の効果〕
以上述べたように、簡単に得られる偏波保持光ファイバ
を用いて簡単な回路で光周波数変調特性を測定できる装
置が得られる。これはマツハツエンダ干渉計を用いるも
のに比べて、簡便であるとともに安定な測定を行うこと
ができる効果がある。
を用いて簡単な回路で光周波数変調特性を測定できる装
置が得られる。これはマツハツエンダ干渉計を用いるも
のに比べて、簡便であるとともに安定な測定を行うこと
ができる効果がある。
第１図は従来例装置の構成図。
第２図は従来例装置および本発明実施例装置の動作説明
用波形図。 第３図は本発明実施例装置の構成図。 １・・・偏波制御器、２・・・偏波保持ファイバ、３・
・・偏波ビームスプリッタ、４．５・・・光電変換器、
６・・・増幅器、７・・・出力端子、訃・・ピエゾ素子
、９・・・光路長制御回路、１１・・・半導体レーザ、
１２・・・ミラー１３・・・モータ。 ３
用波形図。 第３図は本発明実施例装置の構成図。 １・・・偏波制御器、２・・・偏波保持ファイバ、３・
・・偏波ビームスプリッタ、４．５・・・光電変換器、
６・・・増幅器、７・・・出力端子、訃・・ピエゾ素子
、９・・・光路長制御回路、１１・・・半導体レーザ、
１２・・・ミラー１３・・・モータ。 ３
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、偏波保持光ファイバと、 この偏波保持光ファイバの一つの偏波保持軸に対してほ
ぼ４５度の偏波面で被測定光を入射させる偏波制御器と
、 前記偏波保持光ファイバの出射光を二つの偏波方向の成
分に分波する偏波ビームスプリッタと、この偏波ビーム
スプリッタの二つの出射光の強度をそれぞれ電気信号に
変換する二つの光電変換器と、 この二つの光電変換器の各出力の差分を検出する回路と を備えたことを特徴とする光周波数変調特性の測定装置
。 ２、前記偏波保持光ファイバ内の二つの偏波保持軸方向
成分の伝搬速度を前記差分が零になるように制御する手
段を設けた請求項１記載の光周波数変調特性の測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1141406A JP2802390B2 (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 光周波数変調特性の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1141406A JP2802390B2 (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 光周波数変調特性の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH036431A true JPH036431A (ja) | 1991-01-11 |
| JP2802390B2 JP2802390B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=15291267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1141406A Expired - Fee Related JP2802390B2 (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 光周波数変調特性の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2802390B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5841536A (en) * | 1997-08-01 | 1998-11-24 | The United States Of America As Represented By The Director Of The National Security Agency | Polarization interferometer apparatus using the polarization dependent phase lag in a birefringent retarder |
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| JPS5957136A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-02 | Fujitsu Ltd | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
| JPS5960239A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | Fujitsu Ltd | 光振幅・位相直視装置 |
| JPS6270720A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-04-01 | シ−エムエツクス・システムズ・インコ−ポレ−テツド | 干渉計用光学位相復号器 |
-
1989
- 1989-06-02 JP JP1141406A patent/JP2802390B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPS5960239A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-06 | Fujitsu Ltd | 光振幅・位相直視装置 |
| JPS6270720A (ja) * | 1985-07-23 | 1987-04-01 | シ−エムエツクス・システムズ・インコ−ポレ−テツド | 干渉計用光学位相復号器 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5841536A (en) * | 1997-08-01 | 1998-11-24 | The United States Of America As Represented By The Director Of The National Security Agency | Polarization interferometer apparatus using the polarization dependent phase lag in a birefringent retarder |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2802390B2 (ja) | 1998-09-24 |
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