JPH036485A - 物体検出装置 - Google Patents
物体検出装置Info
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- JPH036485A JPH036485A JP1140515A JP14051589A JPH036485A JP H036485 A JPH036485 A JP H036485A JP 1140515 A JP1140515 A JP 1140515A JP 14051589 A JP14051589 A JP 14051589A JP H036485 A JPH036485 A JP H036485A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は例えば用紙等の物体検出装置に関するもので
、特に透過率の高い被検出物をも検出可能な物体検出装
置に関する。
、特に透過率の高い被検出物をも検出可能な物体検出装
置に関する。
(従来の技術)
従来より使用されている用紙等の被検出物を検出する装
置は、例えば第4図及び第5図に示すように構成されて
いる。第4図は従来の物体検出装置のブロック構成図を
示すもので、入力端子11からの入力信号を受けて、発
光回路12から光が発生される。そして、この発光回路
12で発生された光を受光回路13が受ける。前記発光
回路12と受光回路13は検出部」4を構成しており、
これら発光回路】2と受光回路13間で光結合が行われ
る。そして、検出されるべく被検出物15は、前記検出
部】4、すなわち発光回路12と受光回路13間に挿入
されるもので、これに応じて受光回路13の出力が変化
するようになっている。前記受光回路I3の出力は、増
幅回路16で所定の値に増幅され、更に出力回路17を
経た後、出力端子18から出力される。
置は、例えば第4図及び第5図に示すように構成されて
いる。第4図は従来の物体検出装置のブロック構成図を
示すもので、入力端子11からの入力信号を受けて、発
光回路12から光が発生される。そして、この発光回路
12で発生された光を受光回路13が受ける。前記発光
回路12と受光回路13は検出部」4を構成しており、
これら発光回路】2と受光回路13間で光結合が行われ
る。そして、検出されるべく被検出物15は、前記検出
部】4、すなわち発光回路12と受光回路13間に挿入
されるもので、これに応じて受光回路13の出力が変化
するようになっている。前記受光回路I3の出力は、増
幅回路16で所定の値に増幅され、更に出力回路17を
経た後、出力端子18から出力される。
第5図は、前記検出部14の構成例を示した断面図で、
断面が凹字状の筐体19内で凹部20を挾んで、例えば
発光回路12としての発光ダイオード21と受光回路1
3としてのフォトトランジスタ22が、所定間隔で対向
して配置されている。また、筐体19の四部20側で発
光ダイオード21とフォトトランジスタ22の対向する
位置には、窓28及び24が設けられており、検出実行
部25を構成している。
断面が凹字状の筐体19内で凹部20を挾んで、例えば
発光回路12としての発光ダイオード21と受光回路1
3としてのフォトトランジスタ22が、所定間隔で対向
して配置されている。また、筐体19の四部20側で発
光ダイオード21とフォトトランジスタ22の対向する
位置には、窓28及び24が設けられており、検出実行
部25を構成している。
このような構成の物体検出装置に於いて、被検出物15
、例えば用紙等の検出の有無は、検出部14、すなわち
筐体19の凹部20に前記被検出物15を挿入すること
によって行われる。検出実行部25の窓23及び24を
隔てて配置された発光ダイオード21からフォトトラン
ジスタ22へは、一定の光が供給されており、この光を
被検出物15が遮ることにより、電流量が変化して検出
の有無が判断される。すなわち、第6図の受光回路13
(フォトトランジスタ22)の出力特性図を参照すると
、例えば被検出物15が存在していない、つまり検出実
行部25に被検出物15が何も無い場合、曲線Aで示さ
れる特性となる。ここで、被検出物15が遮光性の高い
用紙であった場合、前記曲線Aに対して電流量の少ない
曲線Bで示される特性が得られる。したがって、被検出
物15の存在の有無は、受光回路13の電流量の差によ
って決定される。
、例えば用紙等の検出の有無は、検出部14、すなわち
筐体19の凹部20に前記被検出物15を挿入すること
によって行われる。検出実行部25の窓23及び24を
隔てて配置された発光ダイオード21からフォトトラン
ジスタ22へは、一定の光が供給されており、この光を
被検出物15が遮ることにより、電流量が変化して検出
の有無が判断される。すなわち、第6図の受光回路13
(フォトトランジスタ22)の出力特性図を参照すると
、例えば被検出物15が存在していない、つまり検出実
行部25に被検出物15が何も無い場合、曲線Aで示さ
れる特性となる。ここで、被検出物15が遮光性の高い
用紙であった場合、前記曲線Aに対して電流量の少ない
曲線Bで示される特性が得られる。したがって、被検出
物15の存在の有無は、受光回路13の電流量の差によ
って決定される。
(発明が解決しようとする課題)
しかしなから、前述したように受光回路13の電流量の
差によって被検出物15の有無を決定すると、被検出物
15が光透過性を有したものである場合に問題が生じる
。例えば、被検出物15が0HP(オーバヘッドプロジ
ェクタ)紙等の光透過性の高いフィルムの場合、検出実
行部25に被検出物15が存在していたとしても、発光
ダイオード21からフォトトランジスタ22へ光が殆ど
到達してしまう。
差によって被検出物15の有無を決定すると、被検出物
15が光透過性を有したものである場合に問題が生じる
。例えば、被検出物15が0HP(オーバヘッドプロジ
ェクタ)紙等の光透過性の高いフィルムの場合、検出実
行部25に被検出物15が存在していたとしても、発光
ダイオード21からフォトトランジスタ22へ光が殆ど
到達してしまう。
このため、前記フィルムでは第6図の曲線Cに示される
ように、被検出物無しの場合に近い電流値となる。しか
も、この電流値は、検出実行部25の光結合特性による
ものでばらつきが大きく、被検出物15の透過率によっ
て変化する。したがって、実際には、検出実行部25に
被検出物■5が存在しても、検出部I4では被検出物1
5は存在しないものとして、多数の検出エラーが生じる
ことがある。
ように、被検出物無しの場合に近い電流値となる。しか
も、この電流値は、検出実行部25の光結合特性による
ものでばらつきが大きく、被検出物15の透過率によっ
て変化する。したがって、実際には、検出実行部25に
被検出物■5が存在しても、検出部I4では被検出物1
5は存在しないものとして、多数の検出エラーが生じる
ことがある。
この検出エラーを解決するため、第7図に示すような被
検出物15を機械的で間接的に検出する物体検出装置が
使用されている。すなわち、第5図の従来例と同様、発
光ダイオード21及びフォトトランジスタ22が、筐体
19′内に対向して配置されている。そして、この筐体
19′ の上部には、アクチュエータ26の支軸27と
係合する取付は部28が設けられている。前記アクチュ
エータ2Bは、支軸27を中心にしたかって、対向配置
されている発光ダイオード21及びフォトトランジスタ
22間の検出実行部25を遮光可能に回動する。つまり
、被検出物15が搬送されると、その先端がアクチュエ
ータ26の一端に接する。すると、このアクチュエータ
26の他端が前記検出実行部25を遮って、フォトトラ
ンジスタ22の出力電流を変化させる。コレクタによっ
て、被検出物15が存在したことを明らかにしている。
検出物15を機械的で間接的に検出する物体検出装置が
使用されている。すなわち、第5図の従来例と同様、発
光ダイオード21及びフォトトランジスタ22が、筐体
19′内に対向して配置されている。そして、この筐体
19′ の上部には、アクチュエータ26の支軸27と
係合する取付は部28が設けられている。前記アクチュ
エータ2Bは、支軸27を中心にしたかって、対向配置
されている発光ダイオード21及びフォトトランジスタ
22間の検出実行部25を遮光可能に回動する。つまり
、被検出物15が搬送されると、その先端がアクチュエ
ータ26の一端に接する。すると、このアクチュエータ
26の他端が前記検出実行部25を遮って、フォトトラ
ンジスタ22の出力電流を変化させる。コレクタによっ
て、被検出物15が存在したことを明らかにしている。
しかしなから、このアクチュエータ26を使用する方法
で装置は、被検出物15と検出実行部25との間にアク
チュエータを介するため、検出制度が悪いという問題が
あった。また、検出装置の製造コストの上昇という問題
も生じるものであった。
で装置は、被検出物15と検出実行部25との間にアク
チュエータを介するため、検出制度が悪いという問題が
あった。また、検出装置の製造コストの上昇という問題
も生じるものであった。
更に、前記検出エラーを解決するため、例えば発光ダイ
オードの出力とフォトトランジスタの感度のばらつきに
よる光結合特性のばらつきを抑えて、リニア検出を可能
にする方法が考えられるが、この方法によれば部品の選
別を要するうえ、これによる派生品の発生等、コスI・
アップにつながるという問題が生じる。
オードの出力とフォトトランジスタの感度のばらつきに
よる光結合特性のばらつきを抑えて、リニア検出を可能
にする方法が考えられるが、この方法によれば部品の選
別を要するうえ、これによる派生品の発生等、コスI・
アップにつながるという問題が生じる。
この発明は前記のような点に鑑みてなされたもので、被
検出物が透過率の高いものであっても検出精度を上昇さ
せて検出エラーを減少させ、コストアップが生じること
のない物体検出装置を提供することを目的とする。
検出物が透過率の高いものであっても検出精度を上昇さ
せて検出エラーを減少させ、コストアップが生じること
のない物体検出装置を提供することを目的とする。
[発明の構成〕
(課題を解決するための手段)
すなわちこの発明の物体検出装置では、入力信号により
発生された発光手段からの光を受光して光電流を発生す
るもので、検出されるべく被検出物が前記発光手段から
の光を遮ることにより前記被検出物の電流の変化に応じ
た信号を出力する受光手段と、この受光手段からの信号
を所定の時定数で微分する微分手段と、この微分手段で
微分された信号を所定の基準電位との比較結果に応じて
前記被検出物を表す信号を供給する比較手段と、この比
較手段から供給された前記被検出物を表す信号を切換え
ることにより前記被検出物の検出の有無を認識する切換
手段とを具備することにより、検出精度の高い物体検出
装置を実現する。
発生された発光手段からの光を受光して光電流を発生す
るもので、検出されるべく被検出物が前記発光手段から
の光を遮ることにより前記被検出物の電流の変化に応じ
た信号を出力する受光手段と、この受光手段からの信号
を所定の時定数で微分する微分手段と、この微分手段で
微分された信号を所定の基準電位との比較結果に応じて
前記被検出物を表す信号を供給する比較手段と、この比
較手段から供給された前記被検出物を表す信号を切換え
ることにより前記被検出物の検出の有無を認識する切換
手段とを具備することにより、検出精度の高い物体検出
装置を実現する。
(作用)
前記物体検出装置にあっては、入力信号により光を発生
する発光手段と、この発光手段からの光を検出されるべ
く被検出物が遮ることにより発光手段からの光を受光し
て光電流を発生して信号を出力する受光手段とによって
、前記被検出物の透過率に応じた信号が出力され、この
受光手段からの信号を所定の時定数で微分する微分手段
と、この微分手段で微分された信号を所定の基準電位と
の比較結果に応じて前記被検出物を表す信号を供給する
比較手段とによって、前記透過率によらずに前記被検出
物を検出したことが確実にされ、この比較手段から供給
された前記被検出物を表す信号を切換える切換手段によ
って、前記被検出物の始端及び終端が明らかにされ、故
に前記透過率によらずに前記被検出物の精度の高い検出
を確実にすることができる。
する発光手段と、この発光手段からの光を検出されるべ
く被検出物が遮ることにより発光手段からの光を受光し
て光電流を発生して信号を出力する受光手段とによって
、前記被検出物の透過率に応じた信号が出力され、この
受光手段からの信号を所定の時定数で微分する微分手段
と、この微分手段で微分された信号を所定の基準電位と
の比較結果に応じて前記被検出物を表す信号を供給する
比較手段とによって、前記透過率によらずに前記被検出
物を検出したことが確実にされ、この比較手段から供給
された前記被検出物を表す信号を切換える切換手段によ
って、前記被検出物の始端及び終端が明らかにされ、故
に前記透過率によらずに前記被検出物の精度の高い検出
を確実にすることができる。
(実施例)
以下図面を参照して、この発明の一実施例を説明する。
尚、同実施例に於いて、前述の従来例と同じ部分には同
一の参照番号を付して、その説明を省略する。
一の参照番号を付して、その説明を省略する。
第1図はこの発明の一実施例に従った物体検出装置のブ
ロック構成図を示すもので、入力端子11からの入力信
号を受けて、発光回路12から光が発生される。この発
光回路12は、受光回路13と共に検出部14を構成し
ており、発光回路12で発生された光は光結合によって
受光回路13に供給される。
ロック構成図を示すもので、入力端子11からの入力信
号を受けて、発光回路12から光が発生される。この発
光回路12は、受光回路13と共に検出部14を構成し
ており、発光回路12で発生された光は光結合によって
受光回路13に供給される。
そして、検出されるべく被検出物15は、前記検出部1
4の発光回路12と受光回路13間に挿入され、こ0 れに応じて受光回路13の出力が変化するようになって
いる。尚、検出部14の構成は第5図に示す従来例と同
じであるから、ここでは説明を省略する。
4の発光回路12と受光回路13間に挿入され、こ0 れに応じて受光回路13の出力が変化するようになって
いる。尚、検出部14の構成は第5図に示す従来例と同
じであるから、ここでは説明を省略する。
前記受光回路13の出力は、増幅回路16で所定の値に
増幅された後、微分回路29に供給される。そして、微
分回路29で微分された信号は、比較回路30a及び3
0bに供給される。これら比較回路30a及び30bは
、それぞれ前記被検出物15が検出部14に挿入された
とき、その被検出物15の始端及び終端の値と所定の基
準値とを比較するためのものである。比較回路30a及
び30bから出力される信号は、切換回路31に供給さ
れて前記被検出物の有無が判別され、更にこの判別結果
の信号が出力回路17を介して出力端子18から出力さ
れる。
増幅された後、微分回路29に供給される。そして、微
分回路29で微分された信号は、比較回路30a及び3
0bに供給される。これら比較回路30a及び30bは
、それぞれ前記被検出物15が検出部14に挿入された
とき、その被検出物15の始端及び終端の値と所定の基
準値とを比較するためのものである。比較回路30a及
び30bから出力される信号は、切換回路31に供給さ
れて前記被検出物の有無が判別され、更にこの判別結果
の信号が出力回路17を介して出力端子18から出力さ
れる。
第2図は、前述した微分回路29、比較回路30a及び
30b1切換回路31の回路例を示したものである。
30b1切換回路31の回路例を示したものである。
増幅回路16から入力される信号は、直列接続された抵
抗Rs及びコンデンサCsを介して演算増幅器32の負
入力端子に入力される。演算増幅器321 の正入力端は接地されており、出力端には前記負入力端
との間に帰還抵抗Rfが接続されている。
抗Rs及びコンデンサCsを介して演算増幅器32の負
入力端子に入力される。演算増幅器321 の正入力端は接地されており、出力端には前記負入力端
との間に帰還抵抗Rfが接続されている。
この演算増幅器32の出力信号は、コンパレータ33a
の正入力端及びコンパレータ 33bの負入力端に、そ
れぞれ供給される。
の正入力端及びコンパレータ 33bの負入力端に、そ
れぞれ供給される。
コンパレータ 33aの負入力端、及びコンパレータ3
3bの正入力端には、それぞれ図示極性の電源34a及
び34bが接続されている。また、コンパレータ 33
aの出力端からの信号はフリップフロップ35のリセッ
ト入力へ、コンパレータ 33bの出力端からの信号は
フリップフロップ35のセット入力へ、それぞれ供給さ
れる。そして、このフリップフロップ35のQ出力が、
被検出物15を判別した信号として出力回路17に供給
される。
3bの正入力端には、それぞれ図示極性の電源34a及
び34bが接続されている。また、コンパレータ 33
aの出力端からの信号はフリップフロップ35のリセッ
ト入力へ、コンパレータ 33bの出力端からの信号は
フリップフロップ35のセット入力へ、それぞれ供給さ
れる。そして、このフリップフロップ35のQ出力が、
被検出物15を判別した信号として出力回路17に供給
される。
次に、この発明の動作を第3図(a)〜(e)を参照し
て説明する。尚、第3図(a)及び(b)に於いて、実
線は透過性の高いフィルム等の被検出物を表し、点線は
遮光性の高い被検出物を表しているものとする。
て説明する。尚、第3図(a)及び(b)に於いて、実
線は透過性の高いフィルム等の被検出物を表し、点線は
遮光性の高い被検出物を表しているものとする。
このような構成の物体検出装置に於いて、被検 2
出物15、例えば用紙等の検出の有無は、検出部14に
前記被検出物15を挿入することによって行われるもの
で、前述したように、発光回路12からの光を被検出物
15が遮ることにより、受光回路13に於ける電流量が
変化して検出の有無が判断される。
前記被検出物15を挿入することによって行われるもの
で、前述したように、発光回路12からの光を被検出物
15が遮ることにより、受光回路13に於ける電流量が
変化して検出の有無が判断される。
そして、この受光回路13の出力信号を増幅回路16に
よって所定の増幅率で増幅すると、第3図(a)に示さ
れる特性が現れる。
よって所定の増幅率で増幅すると、第3図(a)に示さ
れる特性が現れる。
すなわち、時刻t。から時刻t1までは増幅回路16か
ら所定の電流値の信号が出力されている。
ら所定の電流値の信号が出力されている。
そして、時刻t1で透過性の高いフィルム等の被検出物
15が検出実行部25に到達して検出部14内の発光回
路12からの光を遮ると、受光回路13に供給される電
流量が減少する。次いで、時刻t2にて被検出物15の
終端が前記検出実行部25を通過したならば、再び受光
回路13の光電流、増幅回路16の出力電流が増加する
。
15が検出実行部25に到達して検出部14内の発光回
路12からの光を遮ると、受光回路13に供給される電
流量が減少する。次いで、時刻t2にて被検出物15の
終端が前記検出実行部25を通過したならば、再び受光
回路13の光電流、増幅回路16の出力電流が増加する
。
この増幅回路16から出力された信号は、抵抗Rs、コ
ンデンサCsで決定される時定数に従って微分される。
ンデンサCsで決定される時定数に従って微分される。
第3図(b)を参照すると、時刻 3
tl及び時刻t2で、それぞれ図示の如く前記光電流の
変化量に応じたパルスαまたはα′(tl)、βまたは
β’ (t2)が発生する。これらの信号の振幅は、
被検出物15の透過率によって異なるものである。
変化量に応じたパルスαまたはα′(tl)、βまたは
β’ (t2)が発生する。これらの信号の振幅は、
被検出物15の透過率によって異なるものである。
ところで、時刻t1にて、被検出物15の始端が検出実
行部25に到達すると、被検出物15が挿入されたこと
を示す信号αまたはα′によって、コンパレータ 33
bに於ける信号αまたはα′のピーク値が電源34bの
基準電位v7□より下がる。すると、これによって第3
図(C)に示されるようなパルス(=号α′を出力する
。このとき、コンパレータ33aに於いては、電源34
aの基準電位が(+)のVTIになっているため、出力
は変化しない(第3図(d)参照)。
行部25に到達すると、被検出物15が挿入されたこと
を示す信号αまたはα′によって、コンパレータ 33
bに於ける信号αまたはα′のピーク値が電源34bの
基準電位v7□より下がる。すると、これによって第3
図(C)に示されるようなパルス(=号α′を出力する
。このとき、コンパレータ33aに於いては、電源34
aの基準電位が(+)のVTIになっているため、出力
は変化しない(第3図(d)参照)。
次に、時刻t2にて、検出物15の終端が検出実行部2
5を通過すると、第3図(b)に示される信号βまたは
β′がコンパレータ 33aに入力される。
5を通過すると、第3図(b)に示される信号βまたは
β′がコンパレータ 33aに入力される。
ここで、信号βまたはβ′のピーク値が電源34aの基
準電位VT1を越えると、コンパレータ 33aの 4 出力に第3図(d)に示されるようなパルス信号β′が
出力される。このとき、コンバレー9 33bに於いて
は、電源84bの基準電位が(−)のVT2になってい
るため、出力は変化しない(第3図(c)参照)。
準電位VT1を越えると、コンパレータ 33aの 4 出力に第3図(d)に示されるようなパルス信号β′が
出力される。このとき、コンバレー9 33bに於いて
は、電源84bの基準電位が(−)のVT2になってい
るため、出力は変化しない(第3図(c)参照)。
このようにして変化するコンパレータ 33a及び33
bの出力信号は、それぞれフリップフロップ35のリセ
ット入力及びセット入力に供給される。すなわち、同フ
リップフロップ35のセット入力に第3図(C)の信号
を、そしてリセット入力に同図(d)の信号が、それぞ
れ供給される。フリップフロップ35は、被検出物15
が検出されると(時刻t1)そのセット入力に信号(α
′)が入るので、Q出力は「1」の状態になる。これに
対して、被検出物15が検出実行部25を通過した時(
時刻t2)は、リセット入力に信号(β′)が入るので
、出力は「0」の状態になる。すなわち、被検出物15
の有無が、「1」の場合に有り、「0」の場合に無し、
という状態で判別可能になる。
bの出力信号は、それぞれフリップフロップ35のリセ
ット入力及びセット入力に供給される。すなわち、同フ
リップフロップ35のセット入力に第3図(C)の信号
を、そしてリセット入力に同図(d)の信号が、それぞ
れ供給される。フリップフロップ35は、被検出物15
が検出されると(時刻t1)そのセット入力に信号(α
′)が入るので、Q出力は「1」の状態になる。これに
対して、被検出物15が検出実行部25を通過した時(
時刻t2)は、リセット入力に信号(β′)が入るので
、出力は「0」の状態になる。すなわち、被検出物15
の有無が、「1」の場合に有り、「0」の場合に無し、
という状態で判別可能になる。
このフリップフロップ35の出力信号は、出力口5
路17に供給され、この信号によって出力回路17が駆
動される。ここで、例えば反転回路等によってフリップ
フロップ35の出力を反転させたものが、第3図(e)
に示される特性図である。この場合、被検出物15の無
い状態(時刻t。−tl及び時刻t2以降)はハイレベ
ルであり、被検出物15を検出した状態(時刻t1〜t
2)はローレベルとして判別される。
動される。ここで、例えば反転回路等によってフリップ
フロップ35の出力を反転させたものが、第3図(e)
に示される特性図である。この場合、被検出物15の無
い状態(時刻t。−tl及び時刻t2以降)はハイレベ
ルであり、被検出物15を検出した状態(時刻t1〜t
2)はローレベルとして判別される。
以上のような回路構成によれば、遮光性の高い被検出物
は勿論、フィルム等の透過率の高い被検出物であっても
、コンパレータによって被検出物の有無が確実に捕らえ
られるので、検出エラーを改善することができる。
は勿論、フィルム等の透過率の高い被検出物であっても
、コンパレータによって被検出物の有無が確実に捕らえ
られるので、検出エラーを改善することができる。
また、検出部に於いては、急峻な光電流の変化を検出す
ることによって被検出物の有無を検出するため、従来の
ような長寿命に於ける結合特性に対しても、有効なもの
である。
ることによって被検出物の有無を検出するため、従来の
ような長寿命に於ける結合特性に対しても、有効なもの
である。
尚、微分回路、比較回路、切換回路の回路構成は、前述
した実施例に限られるものではなく、発明の要旨から逸
脱しない範囲に於いて、種々変形6 可能なものである。
した実施例に限られるものではなく、発明の要旨から逸
脱しない範囲に於いて、種々変形6 可能なものである。
[発明の効果コ
以上のように、この発明によれば、受光半導体素子の採
用によって、従来は直接検出が困難であった透過率の高
い被検出物を、アクチュエータを使用すること無く検出
することが可能となり、これによってコストダウンを図
ることもできる。
用によって、従来は直接検出が困難であった透過率の高
い被検出物を、アクチュエータを使用すること無く検出
することが可能となり、これによってコストダウンを図
ることもできる。
また、アクチュエータを使用しないため、その分解能が
アクチュエータ使用の物体検出装置に比べて格段に上昇
する。
アクチュエータ使用の物体検出装置に比べて格段に上昇
する。
第1図はこの発明の一実施例に係る物体検出装置のブロ
ック構成図、第2図は第1図の微分回路、比較回路及び
切換回路の一例を示す回路構成図、第3図(a)〜(e
)は動作を説明する出力特性図、第4図は従来の物体検
出装置の一例を示すブロック構成図、第5図は第4図の
検出部の構成例を示した断面図、第6図は第4図の受光
回路の出力特性図、第7図は従来の物体検出装置の他の
例を示す側面図である。 7 12・・・発光回路、13・・・受光回路、14・・・
検出部、15・・・被検出物、16・・・増幅回路、1
7・・・出力回路、29・・・微分回路、30a、
Bob・・・比較回路、31・・・切換回路。
ック構成図、第2図は第1図の微分回路、比較回路及び
切換回路の一例を示す回路構成図、第3図(a)〜(e
)は動作を説明する出力特性図、第4図は従来の物体検
出装置の一例を示すブロック構成図、第5図は第4図の
検出部の構成例を示した断面図、第6図は第4図の受光
回路の出力特性図、第7図は従来の物体検出装置の他の
例を示す側面図である。 7 12・・・発光回路、13・・・受光回路、14・・・
検出部、15・・・被検出物、16・・・増幅回路、1
7・・・出力回路、29・・・微分回路、30a、
Bob・・・比較回路、31・・・切換回路。
Claims (7)
- (1)入力信号により光を発生する発光手段と、 この発光手段からの光を受光して光電流を発生するもの
で、検出されるべく被検出物が前記発光手段からの光を
遮ることにより前記被検出物の電流の変化に応じた信号
を出力する受光手段と、この受光手段からの信号を所定
の時定数で微分する微分手段と、 この微分手段で微分された信号を所定の基準電位との比
較結果に応じて前記被検出物を表す信号を供給する比較
手段と、 この比較手段から供給された前記被検出物を表す信号を
切換えることにより前記被検出物の検出の有無を認識す
る切換手段と を具備することを特徴とする物体検出装置。 - (2)前記所定の基準電位は少なくとも第1及び第2の
基準電位から成り、前記比較手段は前記微分手段で微分
された信号と前記第1の基準電位とを比較した結果第1
の信号を供給する第1の比較手段と、前記微分手段で微
分された信号と前記第2の基準電位とを比較した結果第
2の信号を供給する第2の比較手段で構成されることを
特徴とする請求項1に記載の物体検出装置。 - (3)前記第1及び第2の比較手段はそれぞれ前記被検
出物の検出の際の前記被検出物の始端及び終端を表す前
記第1及び第2の信号をそれぞれ供給することを特徴と
する請求項2に記載の物体検出装置。 - (4)前記第1及び第2の比較手段は第1及び第2のコ
ンパレータで構成されるもので、前記第1のコンパレー
タは前記微分手段からの信号が前記第1の基準電位より
低ければ前記第1の信号を供給し、前記第2のコンパレ
ータは前記微分手段からの信号が前記第2の基準電位よ
り高ければ前記第2の信号を供給することを特徴とする
請求項3に記載の物体検出装置。 - (5)前記第1及び第2の比較手段は第1及び第2のコ
ンパレータで構成されるもので、前記第1のコンパレー
タは前記微分手段からの信号が前記第1の基準電位より
高ければ前記第1の信号を供給し、前記第2のコンパレ
ータは前記微分手段からの信号が前記第2の基準電位よ
り低ければ前記第2の信号を供給することを特徴とする
請求項3に記載の物体検出装置。 - (6)前記切換手段は前記比較手段から供給される前記
第1の信号に切換えることによって前記被検出物が検出
されたことを表し、前記第2の信号に切換えることによ
って前記被検出物が検出されないことを表すことを特徴
とする請求項2に記載の物体検出装置。 - (7)前記切換手段はフリップフロップで構成されるこ
とを特徴とする請求項6に記載の物体検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1140515A JPH036485A (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 物体検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1140515A JPH036485A (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 物体検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH036485A true JPH036485A (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=15270450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1140515A Pending JPH036485A (ja) | 1989-06-02 | 1989-06-02 | 物体検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH036485A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0587946A (ja) * | 1991-09-26 | 1993-04-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 錠剤検出装置 |
| JP2012062197A (ja) * | 2010-08-20 | 2012-03-29 | Seiko I Infotech Inc | エッジ検出装置、エッジ検出方法、記録装置及び記録方法 |
-
1989
- 1989-06-02 JP JP1140515A patent/JPH036485A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0587946A (ja) * | 1991-09-26 | 1993-04-09 | Sanyo Electric Co Ltd | 錠剤検出装置 |
| JP2012062197A (ja) * | 2010-08-20 | 2012-03-29 | Seiko I Infotech Inc | エッジ検出装置、エッジ検出方法、記録装置及び記録方法 |
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