JPH0365867B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、両面に電気回路を配したプリント基
板の検査装置に関する。

［従来例の構成とその問題点］ プリント配線基板を検査する場合、一般には第
１図に示すように、プリント配線基板又はプリン
ト基板３に１個又はそれ以上のガイド孔７を設
け、他方、検査装置のベース６には、当該ガイド
孔７に対向嵌合し得るガイドピン４を設け、当該
ベース６を上昇させてガイドピン４をガイド孔７
に嵌め込み、これにより、基板３を位置決めする
と共に上部ベース１に取り付けた検査用接触ピン
２に接触させ、基板３を検査する。

この場合、ガイド孔７の寸法や位置のバラツ
キ、基板の反りによつて、ガイドピン４がガイド
孔７に入らずに基板３を割つたりすることがあ
る。

［発明の目的］ 本発明は、プリント基板の寸法誤差や位置ずれ
による基板割れを防ぎ、然も両面同時に検査する
ことのできる検査装置を提供することを目的とす
る。

［発明の構成］ 本発明に係る検査装置は、検査用接触プローブ
がプリント基板に接触する方向とは直交又はほぼ
直交する面内で当該プリント基板を基準面に向け
てばね付勢し当該プリント基板を位置決めする位
置決めユニツトと、基板上面を検査する固定され
た複数の接触プローブと、基板方向に移動可能で
あり、基板下面を検査する第２の複数の接触プロ
ーブと、位置決めユニツトによつて位置決めされ
たプリント基板を上側の接触プローブに押圧し、
しかる後第２の接触プローブをプリント基板下面
に押圧する駆動部材とからなることを特徴とす
る。

また本発明は、前記駆動部材が、第２の接触プ
ローブを支持する接触ピンシヤフトに連結ピンを
介して連結され、当該第２の接触プローブを支持
する接触ピンシヤフトと一体的に移動する摺動パ
イプであつて、パイプ壁面に壁厚より径の大きい
ボールを嵌め込んだ摺動パイプと、当該摺動シヤ
フト内で上方にばね付勢され、その上位位置で前
記ボールを受容すべく側面に凹部を形成したシヤ
フトと、当該摺動パイプを案内すると共に、一定
距離だけ摺動パイプを上昇させた時点で当該ボー
ルを受容して当該摺動パイプと当該シヤフトとの
連結を解かせるボール受け溝を内壁に形成してな
るガイドとからなることを特徴とする。

［実施例の説明］ 以下、一実施例を示した図面を参照して本発明
を詳述する。第２図は、本発明に係る検査装置の
中央縦断面図を示す。第２図において、装置に固
定された上プレート２６に接触ピン固定板２７を
固定し、当該固定板２７には複数の（必要により
ばね付勢した）接触ピン２８を植立してある。接
触ピンシヤフト１７は接触ピン下固定板１５を一
体的に支持し、当該固定板１５上に検査用接触ピ
ン１４′を植立してある。第２図のＶ−Ｖ線から
見た第５図に示すように、基板２９の位置決め
は、下側ベース１６の上面端部に固定した基準ガ
イド１４を位置決め基準として全体を上昇させる
ことにより、基準ガイド１４に対向する下当たり
３０が上プレート２６の下面端部に固定した上当
たり２５によつて寸法ｃだけ内方に移動し、プリ
ント基板２９を位置決めする。このとき基板寸法
のバラツキを吸収するために補助ガイド８及びス
プリング３１を設けてある。

前記駆動部材は、摺動パイプ１１と、その内側
に上方ばね付勢して配置したシヤフト１２とを含
み、摺動パイプ１１とシヤフト１２とは、摺動パ
イプ１１の壁面に設けた貫通孔に配置した、当該
壁面の厚みより大きい直径のボール２３と、シヤ
フト１２の外面に当該ボール２３と相補的な形状
に凹ませた凹部２４との係合により連結される。
当該摺動パイプ１１は中空柱状のガイド２０に挿
嵌してあり、当該ガイド２０は装置筐体に固着さ
れた下プレート１９に固定されている。ガイド２
０の内面には、摺動パイプ１１を所定量上昇させ
た時点でボール２３を受容できるボール受け溝２
１を設けてある。ボール２３がこのボール受け溝
２１に入り込むと、摺動パイプ１１とシヤフト１
２との連結が解かれ、外力の下で摺動パイプ１１
のみが上昇する。摺動パイプ１１の上部に横方向
に配設したピン１８は、接触ピンシヤフト１７に
も嵌入しており、当該摺動シヤフト１１と接触ピ
ンシヤフト１７とを連結している。

第２図は待機状態であり、シヤフト１２は、ス
プリング３２によりその頂面がピン１８と衝合
し、その最上方位置を占める。ボール２３と凹部
２４との係合によりシヤフト１２は摺動パイプ１
１と間接的にロツクされている。

第３図に示すように、寸法ａ（＝a₁＋a₂）だけ
上方に摺動パイプ１１を持ち上げると、基板２９
は、前述の方法で位置決めされたのち、接触ピン
２８と接触する。そのときストツパーピン１３が
ガイド２０の下面に当たり、当該ストツパーピン
１３の嵌入しているシヤフト１２もストツプし、
直結された位置決めユニツトも上昇を停止する。

第４図に示すように、摺動パイプ１１がなお寸
法ｂだけ上昇すると、摺動パイプ１１の壁に内蔵
されたボール２３は、ボール受け溝２１に入り込
み、下側ベース１６のみが上昇して基板２９の下
面に接触ピン２８が接触し両面検査が可能とな
る。

［発明の効果］ 基板の端面により位置決めするので寸法バラツ
キが生じても基板を割ることがない。たとえばセ
ラミツク基板のように一度焼成する基板において
はガイド孔を設けても焼成のために寸法変化が生
じるので、このような位置決めを使用すると効果
がある。又セラミツク基板においては回路の高密
度化が要求され両面回路になる場合が多く、この
検査方法を採用するのは最も効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来のプリント基板を検査する方法を
示した図、第２図乃至第４図は本発明に係る検査
装置の一部縦断面図を示し、第２図は基板待機状
態図、第３図は基板位置決めと基板上面接触状態
の図、第４図は、上面及び下面の接触状態図、第
５図は基板位置決め状態の平面図である。 １１……摺動パイプ、１２……シヤフト、１４
……基準ガイド、１５……接触ピン下固定板、１
７……接触ピンシヤフト、２３……ボール、２４
……凹部、２５……上当たり、２６……上プレー
ト、２７……接触ピン固定板、２８……接触ピ
ン、２９……基板、３０……下当たり。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 検査用接触プローブがプリント基板に接触す
   る方向と直交又はほぼ直交する面内でこのプリン
   ト基板を基準面に向けてばね付勢により位置決め
   する位置決めユニツトと、このプリント基板の上
   面を検査する固定された第１の複数の接触プロー
   ブと、プリント基板方向に移動可能であり、プリ
   ント基板の下面を検査する第２の複数の接触プロ
   ーブと、プリント基板を位置決めして載置した位
   置決めユニツトを上昇させてプリント基板の上面
   を上方にある第１の接触プローブに押圧し、しか
   る後第２の接触プローブを下方よりプリント基板
   下面に押圧するように構成した駆動部材と、この
   駆動部材を案内し制御するガイドとからなる検査
   装置であつて、 前記駆動部材が、 第２の接触プローブを支持する接触ピンシヤフ
   トと、この接触ピンシヤフトを上端部において軸
   方向に摺動可能に嵌装する一方、前記位置決めユ
   ニツトを支持するシヤフトと、このシヤフトを軸
   方向に摺動可能に内挿してプリント基板方向にば
   ね付勢すると共に、このシヤフト側面を挿通する
   連結ピンで連結されて前記接触ピンシヤフトと一
   体的に移動する摺動パイプとを含み、 この摺動パイプの壁面には壁厚より径の大きい
   ボールを嵌め込んで、前記シヤフトの側面にこの
   ボールの壁厚より内方に突出する部分と係合する
   凹部を形成しこのシヤフトと摺動パイプが一体的
   に移動するようにする一方、前記ガイドの内面に
   は摺動パイプが所定量上昇した位置より前記ボー
   ルの外方への突出を許容してシヤフトと摺動パイ
   プとの係合を解除させるボール受け溝を形成し、 更にストツパーピンを前記シヤフトに直交させ
   て突設し、摺動パイプに軸方向に設けた長穴に挿
   通してこの長穴の上下端部において摺動パイプと
   シヤフトとの軸方向の相対移動範囲を画定すると
   共に、前記駆動部材の始動位置において、前記摺
   動パイプが最下端に位置したとき、前記ストツパ
   ーピンの上縁と前記ガイドの下縁とが離間してお
   り、この離間距離を前記第１の接触プローブとプ
   リント基板の上面が所要の押圧を得るに至るまで
   の摺動パイプの移動距離に相当する間隔とし、前
   記長穴の画定する摺動パイプとシヤフトとの相対
   移動範囲を、前記第１の接触プローブとプリント
   基板の上面が所要の押圧を確保した後、前記第２
   の接触プローブがプリント基板の下面と所要の押
   圧を得るに至るまでの摺動パイプの移動距離に相
   当する間隔とし、前記駆動部材の始動位置より摺
   動パイプとシヤフトとはボールにより係合されて
   一体的に上昇し、前記ストツパーピンの上縁と前
   記ガイドの下縁とが当接する位置より前記摺動パ
   イプとシヤフトとのボールによる係合が解除され
   るように前記ガイドの内面に設けたボール受け溝
   を位置づけ、その後、摺動パイプはシヤフトをそ
   の位置に残して更に上昇し前記連結ピンを介して
   一体的に移動する接触ピンシヤフトの支持する第
   ２の接触プローブをプリント基板の下面に押圧す
   るように構成したことを特徴とする両面基板位置
   決め検査装置。