JPH0366673B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (A) 分野 本発明は画素マトリツクスで表現される表示あ
るいは記録装置における画素マトリツクスの走査
方式に係り特に画素マトリツクスを走査する走査
端における一画素ピツチ分の走査線幅をスポツト
の幅としては重なり合う複数の単位の走査端に分
担しておき、必要に応じて一画素ピツチ幅を走査
する走査端のマーク走査線幅を可変に成す様制御
する走査線幅可変の表示記録のための走査方式に
かんする。

(B) 従来技術 従来より、輝度変調された主走査線と副走査の
組合せによつて文字や図形等を表示あるいは記録
する方式においては各々の走査ピツチに対して走
査線を形成するための画素書込み点（スポツト）
の直径を走査ピツチより大きくして各々の走査方
向を多少重ねることにより、走査ピツチよりやや
太い走査を形成している。

これは走査線幅が走査ピツチと同等あるいはそ
れ以下であると走査ピツチの誤差等により文字や
図形を表現するための塗りつぶし部分につぶし残
りが生ずるためである。 しかしこうした方式を
採用すた場合実書込み（陽画表現で黒、マークと
称す）の線幅が太く、ブランク（同表現での白）
の線幅が細くなる。すなわち１走査ピツチ実書込
みをあけたとしてもブランク部分の線幅は走査ピ
ツチ以下となり、かつこの線幅は先に述べた様に
装置に内在する諸誤差の影響を受ける。

したがつてこうした方式では１走査ピツチ幅分
のブランクを表現上必要とする文字や図形は記録
出来ないことになるが、この問題は特に文字や図
形をネガ（陰画）形式で記録せねばならない写植
の原板等においては、上記ブランク部分が最終的
にポジ（陽画）になつた時の黒になるため黒の線
幅が細くなり、誤差を含めて最悪の場合には線が
欠けることも考えられる。もちろん主副走査のピ
ツチをもつて細かくしてブランクの部分を表現す
るのに必ず複数本の走査ピツチ幅を介在させれば
上記の問題は解消するが、取りあつかうための画
素数は走査ピツチの二乗比で増大し、バツクアツ
プするメモリーも、走査数も対応して増大するこ
ととなる。またいずれにしても画素の配置ピツチ
を設定してしまえばブランクの走査線幅は自由に
選択できない。

(C) 目的 本発明はこうした背景にかんがみ成されたもの
であり目的とするところは表示記録面を構成する
画素密度（たて画素ピツチ×よこ画素ピツチ）を
変えることなく一画素ピツチを分担走査する走査
線の幅を走査中に可変に制御出来る様にすること
であり、本発明の特徴は上記目的を実現するため
主、副走査方向に各々走査方向配列ピツチＰの一
画素単位で分割された表示記録面の画素点に対
し、主副走査を行いつつ、画素データの画素に対
応するマーク又はブランクを記録面に画像データ
として記録するための走査手段と、走査に同期し
た画素データの配給手段と、少なくとも副走査方
向に隣接する画素点に対し重ね代を持つてマーク
を記録するため上記配列ピツチＰに対応して副走
査方向に配置され、かつ上記配列ピツチＰよりも
大きなマーク画素記録幅に構成され、かつ副走査
方向に隣接する一画素走査端複数個分を群副走査
の単位とした副走査束で構成して成る表示記録の
ための走査装置において、上記一画素を分担する
一画素走査端を上記配列ピツチＰの整数ξ分の一
の配列ピツチＰで副装置方向に隣接して配置され
た単位走査端ξ個で構成し、 かつ上記単位走査端の各々のスキツド幅ｑの値
は、上記群副走査の送り誤差δ、マーク記録のに
でみ幅をα、スキツド幅ｑの値を決定する上で必
要な補正値をβ（ただし、βは０＜β≦ｐの範囲
で設定する）、（ｑ−ｐ）＝ε＋α、とする時ε＋
α＝ｐ−β（）、ε＋α＞δ（）を満たす様な
スキツド幅ｑに構成することにより一単位走査端
分がマークからブランクに変化した場合の単位画
素走査端のマーク幅変化量（の関係）を設定
し、かつ送り誤差δに対しては隣接マーク間を隙
間なくぬり込む様（の関係）に確保し、 かつ副走査方向の画素パターンの変化を監視す
る手段により副走査方向の走査順の一画素パター
ンの変化を監視し、画素パターンが副走査順にブ
ランクからマークに、または、マーク、ブラン
ク、マークと続けて変化する場合、そのマークに
変わる変化点を検出して、ブランクの次の副走査
順に位置するマークを記録する一画素走査端中の
ブランクと隣接する単位走査端をブランクに変更
して記録走査することである。

(D) 実施例 第１図は本発明の概念説明図で概念で構成され
る走査面とスポツトの説明図。図中ｘ，ｙは各々
主副走査、マス目の中心は画素中心、ｘ，ｙ方向
に各々付加した番号は各々の走査系の画素位置を
定義するためのアドレス、Px，Pyは各々主副走
査方向の画素の配列ピツチ、Dx，Dyは上記画素
アドレスを走査する画素点（走査端がマークを書
込むときのマークスポツト）の各々の方向から見
た寸法を示す。

なお図中マルでうめた画素はマークのスポツト
を、マルのない部分はブランクを表し、例えば第
１図の様に主副走査によつて走査されながら書き
込まれるものとする。従来技術ではこうしたマト
リツクス走査書込みにおいてPxあるいはPyより
それぞれDx，Dyが大きいため（Dx−Px）＝εx，
（Dy−Py）＝εyと定義すると、ブランク部分の線
幅は、nPx−εxあるいはmPy−εyとなりマーク
部分（実書込側）の線幅はnPx＋εxあるいは
mPy＋εyよりせまるなる。なおｎ，ｍは介在す
るピツチの数である。

第２図は本発明の一実施例の説明図で画素走査
を行う走査端を説明するものである。そして図中
Ａは単位走査端、Ｂは画素走査端説明用のもので
ある。図中Ｙは副走査方向における一走査束；す
なわち副走査方向の複数個の画素アドレス分を束
にして同時に主走査する走査端の副走査ピツチ分
担幅を示し、U1〜U12は夫々単位走査端を示し、
第１図の画素アドレスの一つとして定義される単
位画素の一つは、上記U1〜U12の単位走査端の
連続するξ個（ただしξ＞１）によつて走査され
るものとし、上記ξ個の単位走査端の１グループ
は夫々が画素走査上より見れば一画素を走査する
様に（第２図Ｂ参照）割り当てられ、制御される
ものとする。なお説明は主として副走査方向を例
にとつて行う。したがつてPyをＰと略称する。
なお単位走査端のスポツトの大きさをｙ方向につ
いてｑと定義し、Ｐ／ξ＝ｐを定義し、ｑ−ｐ＝
ε＋αと定義する。ただしεはにじみのない場合
の単位走査端のマークスポツトの幅とｐとの差、
αはその実際に書込まれる場合のにじみ代であ
る。この様な構成のもとにξ個を一画素走査端と
して面走査する場合ξ個の単位走査端で構成する
マークスポツトの幅はξp＋（ε＋α）、そしてブ
ランクの幅はξp−（ε＋α）となることは明らか
であるが、このとき一画素ピツチを分担する単位
走査端の数ξをある制御目的に対応してある設定
条件下に可変に成し得れば：すなわち例えば各画
素に対するマークスポツトの走査幅Dyとブラン
クの走査幅2P−Dyを同じにしようとするならば
この例ではDy−Ｐ＝０とするべく、例えばｐ＝
ε＋αなる様構成し、かつ上記設定条件下でマー
クを走査する時だけ一画素走査端を構成する単位
走査端の構成数を１つ少く、ξ−１とする様に制
御することにより実現出来るし、２つ以上少くす
る様制御すれば、重ね代の関係で一画素幅として
のマークの幅がブランクの幅よりも大きくしか出
来なかつたと云う従来例における制約条件に支配
されずに一画素ピツチを走査するブランクの幅を
マークの幅より大きくすることも可能である。な
おこの関係の変形として今Ｐ＝ξpの条件で考え
たが、一画素ピツチをξのｋ倍の単位走査端で分
担させ、kp＝ε＋αとし走査幅を制御するとき
にＰ（ｋ±ｊ）を単位（ただしｊ＝１，２，３…
…）としても、もちろん本発明の意図を外れるも
のではない。また別の変形として上記実施例は
Dy−Ｐ＝０なる条件を実現する方法について説
明したが画素ピツチＰが定められた条件下でマー
クの１ピツチ線幅Dyとブランクの１ピツチ線幅
（2P−Dy）とを夫々の和2Pを保存したまま夫々
が設計上要求される配分幅になる様案分すること
は先の例の如く一画素をkξの単位画素に分割し
て一画素走査端がマークを走査するとき単位走査
端の数をkξ−ｉ（ただし｜ｉ｜＝１，２，３，
…）とすることによつても実現出来るが、一般的
にはｐ−（ε＋α）＝βと定義すればβ＝０のとき
ｐ分の補正を行えばマークとブランクの走査線幅
は一致しβ≠０のときはマークとブランクの走査
線幅は一致しない。しかし上記βの設定量として
上記ｐより小さい値を設定すること、すなわち０
＜β≦ｐの範囲でβを設定することにより画素ピ
ツチｐは変えない条件下で、しかも一画素走査端
を分担する単位走査端の構成数ξあるいはkξを
増加させることなく、ｐ以下の寸法の単位でマー
クスポツト部分とブランク部分の走査幅を変更す
ることが可能となる。なおｐをいくつか束ねたｙ
ピツチの走査束による副走査の重なり部分では走
査束を副走査する際の割り出し誤差を±δ／２と
考えると、上記誤差によつて先の走査束による走
査端のマークと、次の走査束の走査端によるマー
クとの間で重ね代を確保してすきまなくマークで
ぬり込むためには重なり代α＋εがδより大きく
なければならない。すなわちα＋ε＞δ、の関係
が必要である。

以上の条件を満たした単位走査端と走査束をも
つて走査面を走査しつつ、必要に応じて一画素走
査幅を通常のξ本による走査幅からマークの場合
についてξ−１本あるいは（−２，−３……本）
あるいは（＋１，＋２，＋３……）本、とする制御
をすることにより所定の画素の部分を所定のマー
ク幅あるいはブランク幅で走査することが出来る
わけであるし、この条件ではｐ＝ε＋αあるいは
ｐ−β＝ε＋αただし０＜β≦ｐであるから選択
されるξの数が一つの装置における走査領域で異
なる場合、すなわち走査領域の中で部分的に画素
走査ピツチを変えて描写のための解像力を変える
必要がある場合においても、上記β＝０ならばマ
ークとブランクの幅は一定に成し得るし、０＜β
≦ｐの場合についてもマーク幅とブランク幅の差
は一定に成し得る点、こうした走査領域によつて
解像力を可変にする要求に対しても従来例の如く
重ね代の設定、走査端の大きさの設定、装置にお
ける走査端の交換等の設計検討も、改造作業も行
うことなく、単位走査端を分配して別の一画素走
査端を設定してこれにより形成される走査束に従
来例でも必要なその領域走査用の画素書込みのた
めのパターン情報を与えるだけで変更の対応が出
来る。なお上記の様なＰそのものを走査中に可変
とする要求がなく、構成数であるξが一つのシス
テムで一つしかない場合については、画素と画素
のさかい目に位置する単位走査端についてのみξ
個毎のピツチがＰであり、かつその走査端に隣接
する単位画素のうち手前側なら手前側、次側なら
次側、どちらかについてこれと先の単位走査端の
マーク幅を重ねて合成した合成マーク幅が先に実
施例の中で定義した2p＋α＋εと等価であれば、
すなわちマークスポツトの幅であるｑの値を単位
走査端の中心から、さかい目でない側に大きくし
ても境目でない側での単位走査端のマークスポツ
トの重なり代が大きくなるだけであるからマーク
スポツトの当該部分が画素の境目を分担しないか
ぎり；すなわちそれが一画素中のどちらかの境目
よりもはみ出さないかぎり、任意の値を取り得る
わけであるが境目においては先の実施例の関係を
満たしている点これも本発明の中に含まれよう。

第３図は本発明の一実施例の説明図で装置イメ
ージでの実施態様の説明図である。

図中１は走査される面を形成する回転ドラム
Ayは一走査束の走査端、ｙは走査束の副走査単
位、２は走査ヘツド、３は光学系、２Ａは走査端
を形成する書込み素子群で複数個の単位書込素子
が一画素分の走査端形成用として用意され、これ
がさらに１ケ以上集まつて走査束形成用の書込み
素子群を形成している。

そして上記走査束が複数本の一画素走査端より
成り、これが主走査ｘにつれ副走査は上記複数本
分だけ束にして走査するいわゆるマルチ走査端で
ある。

なお５以上は書込、走査の制御関係部で５は文
字パターン発生器等のパターンメモリ、６は書込
あるいは表示情報を格納するデータフアイル、７
は上記５と６より画素パターン情報を編集する編
集処理部、８は編集されたパターン情報を少くと
も同主走査時点で少くとも１走査束以上格納する
ビデオバツフア、９は単位走査端を形成する単位
書込素子を夫々一画素走査端を形成する様グルー
プ分けで、ビデオバツフア８からの走査パターン
情報を、１グループとして同一の画素を形成する
ところの単位書込素子群に、主走査順に一副走査
束にわたつて割り付ける割り付け配分部、１３は
副走査モニタでここではビデオバツフアに主走査
順に少くとも１副走査束以上分格納されているパ
ターン情報を同一主走査時について副走査方向に
監視し特定の変化パターンがあることを検出する
部分である。そして１４は走査幅補正部で、副走
査モニタ１３で特定パターンを検出した時該当パ
ターンのマークを書込む一画素走査端の単位走査
端構成数ξを、となりのブランク走査端に隣接す
る側で増減させる作業をするものである。また１
０は時間補正部で、第２図の如く重ね代を要する
単位走査を形成するための書込素子が同一基板上
に一線に形成出来ない場合空間上の配置ずれ量を
主走査方向の時間のずれとして補正し、回転ドラ
ム上の記録あるいは表示されるために走査される
画素あるいは単位走査端の位置としては同一にな
らべて、走査面上の画素としては第１図のアドレ
スに対応する様な画素走査面にするためのもので
ある。こうした構成において走査端から書込み中
の状態において、主走査順に副走査束分格納され
ているビデオバツフア８内のパターンを副走査モ
ニタ１３において同一主走査について副走査アド
レス順にモニタし副走査方向の変化パターンとし
て例えばブランクからマークあるいはマーク、ブ
ランク、マークを検出した時、走査幅補正部１４
でブランクに次いで出現するマークのブランク
と、接する側に位置する単走査端を形成する単位
書込素子がマークを書込まない様にすればブラン
ク側の走査幅がmp−（α＋ε）＋ｐとなり重ね代
の制約と画素ピツチの制約にとらわれず、画素に
よる文字、図形の最少線幅を設計要求に合わせて
設定することが可能となる。

(E) 補足 なお走査束の端部における画素幅は走査束の幅
ｙの送り誤差±δ／２の両幅分すなわち走査束を
副走査する走査ヘツド２の送り量の誤差に対応す
る分だけ走査端と走査端の重なり代が変化するが
走査中の画素パターンの中で副走査方向順に見て
…マーク、ブランク、マーク…のパターンが丁度
走査束の重なり部分に来た時は、そのブランクが
走査束の先の走査の最後のアドレスにある場合
（ケース１）、後の走査の最初のアドレスにある場
合（ケース２）いずれにしても送り誤差分だけ幅
変動の影響を受け、前の走査が＋δ／２、あとの
走査が−δ／２の場合には実施例の補正を行つて
も該ブランクの走査中（塗りつぶし残り幅）は
ξp−（ε＋α）＋ｐ−δとなり走査束の中におけ
る該走査幅よりδ分だけせまくなり、写真製版の
マスク等の用途でブランク部分が最終印刷物の黒
を表現せねばならない場合であつて該黒の最少線
幅を確保する必要のある場合はさらに工夫を要す
ることとなる。一方こうした写真製版用途での走
査パターンに限定して考えると、例えば明朝体の
活字の画素パターン構成を考えると、明朝体の横
の細線（原版ではブランク）に比して白ぬきの部
分（原版ではマーク）の幅が通常は大きく設計さ
れており、したがつて実運用上は細線の線幅を確
保しさえすれば、それを実現するために白抜き部
分に影響を繰り込むことは実用上悪影響が少な
い。また送り誤差による重なりがひろがり側にな
つて、該ブランクの走査幅がξp−（ε＋α）＋ｐ
＋δになることも実用上は許容される。こうした
場合第４図の様に走査束の端部の一画素走査端の
うち副走査アドレスの若い側について一画素走査
を構成する単位走査端の配置を若干変形すること
により実施例における走査幅の制御を変えること
なく上記端部におけるブランクの走査幅を補正す
ることが出来る。

第４図は本発明の一実施例の補足図であり、第
２図と対比されるものである。なおこの図の一画
素走査端はξ＝３に対応するものである。また図
中Ａの方は単位走査端により表現、Ｂの方は走査
束と一画素走査端による表現である。そして矢印
部分が走査束の端部すなわち副走査ｙによる走査
の区切り部で送り誤差±δ／２の影響を受ける部
分を示す。第２図と対比して異なつているのは走
査束の図では左側（アドレスの若い側）の＊印を
つけた二つの一画素走査端を構成する単位走査端
において、一画素走査端のアドレスの若い側に接
する端部の単位走査端のスポツト幅がアドレス順
方向で見て夫々ｑ＋γ，ｑ−γとなる様構成され
補正代γ分だけ重なりが移動していることであ
る。

この様に構成すると例えばケース１の如く先順
の走査の手前でマークで最後がブランク、そして
後順の走査の最初がマークであるパターンを走査
し、先の実施例の補正をかけるとすると補正によ
るマーク走査幅の変化はｐではなくｐ＋γとなり
この場合のブランク走査幅はξp−（ε＋α）＋ｐ
＋γ±δの中に位置することとなりδが負すなわ
ちブランク走査幅がつまる場合においてもγ分だ
け太ることとなつて最少線幅がγの設定値分余分
に確保出来る。またケース２の如く先順の走査の
最後がマークで後順の走査の最初がブランク、次
がマークの場合は同様に一画素走査端のアドレス
順で云つて若い端から２番目の一画素走査端の内
部についてもスポツト幅を夫々ｑ＋γ，ｑ−γと
することによりケース１と全く同様にして最少線
幅を確保出来る。こうした方法を用いると送り誤
差そのものは減少出来ないが走査のつなぎ合せ部
分において走査束の送り誤差によつて発生する線
幅の変動に対して、補正制御方法や画素ピツチを
変えることなく対応補正が可能でつなぎ合せ部で
の最少線幅を、つなぎ合せ部での問題として補正
出来る。

(F) 効果 以上述べたように本発明によれば表示あるいは
記録を行う面の画素密度、すなわちパターンメモ
リの単位エリヤドツト構成数を変えることなく、
マークあるいはブランクの最少線幅あるいは所望
線幅をパターンモニタと走査幅補正と云う比較的
簡単な手法により実現出来るし、走査中に解像度
要求の変更があつても、単位走査端のグループ分
を変えるだけで対応出来るし、さらにはグループ
分けを変えることにより文字、図形の拡大縮少が
可能となる上、これらを行うにあたつてグループ
の構成数ξを変えてもマークとブランクの単位線
幅を同一に出来ると云う特徴ある効果を生ずるも
のである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の概念説明図、第２図は本発明
の一実施例の説明図、第３図は本発明の一実施例
の説明図、第４図は本発明の一実施例の補足図、
図中ｘは主走査、ｙは副走査、Px，Pyは夫々主
副走査方向の走査ピツチ、Dx，Dyは同マークス
ポツトの径、U1〜U12は単位走査端、ｑは単位
走査端のマークスポツトの寸法、ｐは単位走査端
の配置ピツチ、１は回転ドラム、２は走査ヘツ
ド、Ayは走査端、９は割り付け配分部、１３は
パターンモニタ、１４は走査幅補正部。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 主、副走査方向に各々走査方向配列ピツチＰ
   の一画素単位で分割された表示記録面の画素点に
   対し、主副走査を行いつつ、画素データの画素に
   対応するマーク又はブランクを記録面に画像デー
   タとして記録するための走査手段と、走査に同期
   した画素データの給配手段と、少なくとも副走査
   方向に隣接する画素点に対し重ね代を持つてマー
   クを記録するため上記配列ピツチＰに対応して副
   走査方向に配置され、かつ上記配列ピツチＰより
   も大きなマーク画素記録幅に構成され、かつ副走
   査方向に隣接する一画素走査端複数個分を群副走
   査の単位とした副走査束で構成して成る表示記録
   のための走査装置において、上記一画素を分担す
   る一画素走査端を上記配列ピツチＰの整数ξ分の
   一の配列ピツチＰで副走査方向に隣接して配置さ
   れた単位走査端ξ個で構成し、 かつ上記単位走査端の各々のスキツド幅ｑの値
   は上記群副走査の送り誤差δ、マーク記録時のに
   じみ幅をα、スキツド幅ｑの値を決定する上で必
   要な補正値をβ（ただし、βは０＜β≦ｐの範囲
   で設定する）、（ｑ−ｐ）＝ε＋αとする時ε＋α
   ＝ｐ−β（）、ε＋α＞δ（）を満たす様なス
   キツド幅ｑに構成することにより一単位走査端分
   がマークからブランクに変化した場合の単位画素
   走査端のマーク幅変化量（の関係）を設定し、
   かつ送り誤差δに対しては隣接マーク間を隙間な
   くぬり込む様（の関係）に確保し、 かつ副走査方向の画素パターンの変化を監視す
   る手段により副走査方向の走査順の一画素パター
   ンの変化を監視し、画素パターンが副走査順にブ
   ランクからマークに、または、マーク、ブラン
   ク、マークと続けて変化する場合、そのマークに
   変わる変化点を検出して、ブランクの次の副走査
   順に位置するマークを記録する一画素走査端中の
   ブランクと隣接する単位走査端をブランクに変更
   して記録走査することを特徴とする記録のための
   走査方式。 ２ 上記補正値βが０であることを特徴とする特
   徴請求の範囲第１項記載の表示記録のための走査
   方式。 ３ 上記副走査束を構成する隣接した一画素走査
   端の配列ピツチＰが選択可能であり一画素を構成
   する単位走査端の構成数ξを変えて実現すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項
   記載の表示記録のための走査方式。 ４ 上記副走査束における一画素走査端の配列ピ
   ツチＰと一画素を構成する単位走査端の構成数ξ
   が固定されている時、少なくとも一画素走査端の
   区切り目に位置する単位走査端はξ個毎に配列ピ
   ツチＰで配列し、かつ少なくとも副走査束の副走
   査順の若い側の端と次の一画素走査端の先頭に位
   置する単位走査端のスキツド幅を正の補正量γを
   加えた（ｑ＋γ）として次順の単位走査端の幅を
   （ｑ−γ）とし、かつ両単位走査端で合成される
   マーク幅の大きさが（2p＋ε＋α）となる条件
   は保存したまま、副走査束の副走査順の若い側の
   端に位置する単位走査端のスキツド幅と次の単位
   走査端のスキツド幅の寸法を変えて構成すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項、第２項、ま
   たは第３項記載の表示記録のための走査方式。