JPH0366724A - 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 - Google Patents
半導体封止用エポキシ樹脂組成物Info
- Publication number
- JPH0366724A JPH0366724A JP20322089A JP20322089A JPH0366724A JP H0366724 A JPH0366724 A JP H0366724A JP 20322089 A JP20322089 A JP 20322089A JP 20322089 A JP20322089 A JP 20322089A JP H0366724 A JPH0366724 A JP H0366724A
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- Japan
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- epoxy resin
- resin composition
- molecule
- epoxy
- resin
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関する
。さらに詳しくは、基材となるエポキシ樹脂に、1分子
中fζ2個以上の水酸基を有するフェノール樹脂と特定
の環状フェノール化合物とを特定の割合で含有させるこ
とにより、耐熱性、耐湿性および耐冷熱衝撃性を向上さ
せた半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関する。
。さらに詳しくは、基材となるエポキシ樹脂に、1分子
中fζ2個以上の水酸基を有するフェノール樹脂と特定
の環状フェノール化合物とを特定の割合で含有させるこ
とにより、耐熱性、耐湿性および耐冷熱衝撃性を向上さ
せた半導体封止用エポキシ樹脂組成物に関する。
IC,LSIなどの半導体装置においては、その半導体
素子をシリコーン樹脂、エポキシ樹脂などによって封止
することはすでによく知られたことであり、これらの封
止樹脂のなかでも、特開昭63−77930号公報に示
されるように、基材樹脂としてクレゾールノボラ・ソク
型エポキシ樹脂と硬化剤としてのフェノールノボラ゛ソ
ク樹脂とを組合わせたエポキシ樹脂組成物は、封止後の
耐湿性、高温電気特性、成形性などがすぐれ、比較的安
価であるので汎用されている。
素子をシリコーン樹脂、エポキシ樹脂などによって封止
することはすでによく知られたことであり、これらの封
止樹脂のなかでも、特開昭63−77930号公報に示
されるように、基材樹脂としてクレゾールノボラ・ソク
型エポキシ樹脂と硬化剤としてのフェノールノボラ゛ソ
ク樹脂とを組合わせたエポキシ樹脂組成物は、封止後の
耐湿性、高温電気特性、成形性などがすぐれ、比較的安
価であるので汎用されている。
しかし、この種の樹脂で封止された樹脂封止パ・ソケー
ジ1こあっては、IC%LSI qどの半導体装置にお
ける実装手段の多機化に伴ない、小窒化や薄型化への指
向が進んでいるので、ここで使用されるエポキシ樹脂組
成物は耐熱性、耐湿性、低膨張係数、低弾性率および高
ガラス転移温度などの特性の向上が望まれている。特に
、耐熱性について。
ジ1こあっては、IC%LSI qどの半導体装置にお
ける実装手段の多機化に伴ない、小窒化や薄型化への指
向が進んでいるので、ここで使用されるエポキシ樹脂組
成物は耐熱性、耐湿性、低膨張係数、低弾性率および高
ガラス転移温度などの特性の向上が望まれている。特に
、耐熱性について。
その傾向が著しい。例えば、基板への実装後、溶融半田
内にデイ゛ソブすると、封止樹脂にクラ゛ソクを生じた
り、あるいは素子特性が変動するといった問題が生じる
。
内にデイ゛ソブすると、封止樹脂にクラ゛ソクを生じた
り、あるいは素子特性が変動するといった問題が生じる
。
また、150℃以上の耐熱性が要求される目動車搭載用
の素子には、適用が極めて困難であった。
の素子には、適用が極めて困難であった。
そこで、耐熱性を向上させるために5例えば、’Rh硬
化’i’NMM VoC8,No、1 、p25 (1
987)に示されるよう1と、エポキシ樹脂の硬化剤で
あるフェノールノボラ・ソク樹脂に代えて、ポリーP−
ビニルフェノールの適用が検討されている。
化’i’NMM VoC8,No、1 、p25 (1
987)に示されるよう1と、エポキシ樹脂の硬化剤で
あるフェノールノボラ・ソク樹脂に代えて、ポリーP−
ビニルフェノールの適用が検討されている。
上記ポリ−p−ビニルフェノールによる耐熱性の改善は
樹脂組成物の流動性の低下につながる可能性がある、い
わば成形性を低下させることζこなり、満足できる樹脂
封止ができないなどの問題点があった。
樹脂組成物の流動性の低下につながる可能性がある、い
わば成形性を低下させることζこなり、満足できる樹脂
封止ができないなどの問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、樹脂組成物の成形性を低下させることなく
副熱性、副湿性および耐冷熱衝撃性を有する半導体耐圧
用エポキシ樹脂組成物を提供することを目的とするもの
である。
れたもので、樹脂組成物の成形性を低下させることなく
副熱性、副湿性および耐冷熱衝撃性を有する半導体耐圧
用エポキシ樹脂組成物を提供することを目的とするもの
である。
この発明は、
(4)1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキ
シ樹脂、 申)1分子中に2個以上のフェノール性水酸基を有する
フェノール樹脂、 C)一般式(1)で表わされる環状フェノール化合物お
よび D)無機充填剤からなり、上記間成分ε上記C)成分と
の重量比が(B) / (C)−ILL5〜13の範囲
であることに特徴づけられる半導体封止用エポキシ樹脂
組成物により達成される。
シ樹脂、 申)1分子中に2個以上のフェノール性水酸基を有する
フェノール樹脂、 C)一般式(1)で表わされる環状フェノール化合物お
よび D)無機充填剤からなり、上記間成分ε上記C)成分と
の重量比が(B) / (C)−ILL5〜13の範囲
であることに特徴づけられる半導体封止用エポキシ樹脂
組成物により達成される。
この発明の半導体封止用エポキシ樹脂組成物は。
基材となるエポキシ樹脂に対して、1分子中に2個以上
のフェノール性水酸基を有するフェノール樹脂と特定の
環状フェノール化合物とを特定の割合で含有させること
により、樹脂組成物の流動性を損なうことなく、耐熱性
、耐湿性および耐冷熱衝撃性を向上させたものである。
のフェノール性水酸基を有するフェノール樹脂と特定の
環状フェノール化合物とを特定の割合で含有させること
により、樹脂組成物の流動性を損なうことなく、耐熱性
、耐湿性および耐冷熱衝撃性を向上させたものである。
この発明に用いられる、(A) 1分子中に2個以上の
エポキシ基を有するエポキシ樹脂としては、例えばノボ
ラ・ソク系エポキシ樹脂、トリグリシジルフェニルメタ
ン系エポキシ樹脂、ビスフェノールA?エポキシ樹脂、
脂環式系エポキシ樹脂など、種々のクイブのエポキシ樹
脂があげられるが、これらのなかでもノボ→゛ノク系エ
ポキシ樹脂やトリグリシジルフェニルメタン系エポキシ
樹脂Lt i =特性に優れているので好ましい。これ
らは単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
エポキシ基を有するエポキシ樹脂としては、例えばノボ
ラ・ソク系エポキシ樹脂、トリグリシジルフェニルメタ
ン系エポキシ樹脂、ビスフェノールA?エポキシ樹脂、
脂環式系エポキシ樹脂など、種々のクイブのエポキシ樹
脂があげられるが、これらのなかでもノボ→゛ノク系エ
ポキシ樹脂やトリグリシジルフェニルメタン系エポキシ
樹脂Lt i =特性に優れているので好ましい。これ
らは単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
さらに、必要に応して臭素化ノボラ・ソク系エポキシ樹
脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂などの臭素
化エポキシ樹脂を併用してもよい。
脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂などの臭素
化エポキシ樹脂を併用してもよい。
この場合、これらの臭素化エポキシ樹脂の□用量は、前
記エポキシ樹脂100重量部に対して50重量部以下で
あるのが好ましい。
記エポキシ樹脂100重量部に対して50重量部以下で
あるのが好ましい。
この発明に用いられる、(B) m分子中に2個以上の
フェノール性水酸基を有するフェノール樹脂としては、
例えば、フェノール、クレゾール、キシレノール、ビス
フェノールA、レゾルシンなどのフェノール系化合物と
ホルムアルデヒドまたは/、<ラホルムアルデヒドとを
酸性触媒下で縮合反応させることによりえられたもので
あり、未反応モノマーは得られたフェノール樹脂中、0
.5重量%以下であるのが好ましい。
フェノール性水酸基を有するフェノール樹脂としては、
例えば、フェノール、クレゾール、キシレノール、ビス
フェノールA、レゾルシンなどのフェノール系化合物と
ホルムアルデヒドまたは/、<ラホルムアルデヒドとを
酸性触媒下で縮合反応させることによりえられたもので
あり、未反応モノマーは得られたフェノール樹脂中、0
.5重量%以下であるのが好ましい。
この発明に用いられる。〇一般式(1)で表わされる環
状フェノール化合物は。
状フェノール化合物は。
溶媒中において、アルカリ金属の水酸化物の存在下で、
p−4ert−ブチルフェノールとパラホルムアルデヒ
ドとの縮合あるいはp−1ert−ブチルフェノールと
ホルムアルデヒドとの綜合により得られる。
p−4ert−ブチルフェノールとパラホルムアルデヒ
ドとの縮合あるいはp−1ert−ブチルフェノールと
ホルムアルデヒドとの綜合により得られる。
上記溶媒としては、キシレン、トルエンなどが単独ある
いは混合して用いることができる。
いは混合して用いることができる。
上記アルカリ金属の水酸化物としては、水酸化カリウム
、水酸化ナトリウム、水酸化ルビジウムなどを用いるこ
とができる。
、水酸化ナトリウム、水酸化ルビジウムなどを用いるこ
とができる。
この発明になる半導体封止用エポキシ樹脂組成物の構成
成分である。前記中)成分とC)成分との配合割合は、
重量比で中1/(C)−1,5〜13、好ましくは2〜
8の範囲である。(Bl/(C)が1.5未満では。
成分である。前記中)成分とC)成分との配合割合は、
重量比で中1/(C)−1,5〜13、好ましくは2〜
8の範囲である。(Bl/(C)が1.5未満では。
上記エポキシ樹脂組成物の流動性が低下するので、作業
性が悪くなり、(ロ)/(C)が13をこえると上記エ
ポキシ樹脂組成物のガラス転移温度を十分に高くするこ
とかでλず、耐熱性の改善が行なえないので、いずれも
好ましくfxい。
性が悪くなり、(ロ)/(C)が13をこえると上記エ
ポキシ樹脂組成物のガラス転移温度を十分に高くするこ
とかでλず、耐熱性の改善が行なえないので、いずれも
好ましくfxい。
この発明に用いられる。0無機充填剤としては、例えば
結晶性シリカ粉、溶融シリカ粉、アルミナ粉、タルク、
石英ガラス粉、炭酸カルシウム粉、ガラス繊維flどが
あげられる。これら無機質充填剤の添加量は組成物中に
50〜85%CMIIE%、以下同様)含有されるのが
好ましい。50%未満では線膨脹係数および硬化収縮を
低下させる効果が小さく fxす、また85%をこえる
と流動性が低下し1作業性が低下する傾向にあるので、
50〜85%の範囲内で要求特性に応じて配合量を適宜
選択するのが好ましい。
結晶性シリカ粉、溶融シリカ粉、アルミナ粉、タルク、
石英ガラス粉、炭酸カルシウム粉、ガラス繊維flどが
あげられる。これら無機質充填剤の添加量は組成物中に
50〜85%CMIIE%、以下同様)含有されるのが
好ましい。50%未満では線膨脹係数および硬化収縮を
低下させる効果が小さく fxす、また85%をこえる
と流動性が低下し1作業性が低下する傾向にあるので、
50〜85%の範囲内で要求特性に応じて配合量を適宜
選択するのが好ましい。
さらにまた、この発明にrlる半導体封止用エポキシ樹
脂組成物には、必要に応じて、イミダゾール系化合物、
第三級アミン類、リン系化合物などの硬化促進剤、カー
ボンブラックなどの着色剤、カルナパワ・ソクス、合成
ワ・ソクス、2どの離型剤、三酸化アンチモンrJどの
難燃助剤、γ−グリシロキシプロビルトリメトキシシラ
ンなどの力・ソプリング剤、シリコーンゴム、フッ素ゴ
ム、などのゴム成分を、組成物中での含有量が10%を
こえない範囲でそれぞれに添加してもよい。
脂組成物には、必要に応じて、イミダゾール系化合物、
第三級アミン類、リン系化合物などの硬化促進剤、カー
ボンブラックなどの着色剤、カルナパワ・ソクス、合成
ワ・ソクス、2どの離型剤、三酸化アンチモンrJどの
難燃助剤、γ−グリシロキシプロビルトリメトキシシラ
ンなどの力・ソプリング剤、シリコーンゴム、フッ素ゴ
ム、などのゴム成分を、組成物中での含有量が10%を
こえない範囲でそれぞれに添加してもよい。
また、この発明の半導体封止用エポキシ樹脂組成物は、
一般に使用されている公知の混合装置、例、t ハ、ロ
ール、ニーダ、ライカル機、ヘンシェルミキサー(三井
三池製作所製商品名)などを用いて容易に調製すること
ができる。
一般に使用されている公知の混合装置、例、t ハ、ロ
ール、ニーダ、ライカル機、ヘンシェルミキサー(三井
三池製作所製商品名)などを用いて容易に調製すること
ができる。
次に、この発明に係る半導体封止用エポキシ樹脂組成物
の実施例につき、その比較例と併せて詳細に説明する。
の実施例につき、その比較例と併せて詳細に説明する。
環状フェノール化合物の製造例
p−t@rL−ブチルフェノール55゜6gr 、パラ
ホルムアルデヒド!8gr 、 10規定苛性カリウム
溶液0.8ml およびキシレン300grを水採取
管を備えた11の4・ソロフラスコに仕込み、N2ガス
気流下において、攪拌機により攪拌しながら120℃〜
+40Cに昇温し、キシレン還流下で5時間反応させ、
白色沈殿物を得た。この沈殿物をフィルターで採取し。
ホルムアルデヒド!8gr 、 10規定苛性カリウム
溶液0.8ml およびキシレン300grを水採取
管を備えた11の4・ソロフラスコに仕込み、N2ガス
気流下において、攪拌機により攪拌しながら120℃〜
+40Cに昇温し、キシレン還流下で5時間反応させ、
白色沈殿物を得た。この沈殿物をフィルターで採取し。
トルエン、エーテル、アセトンおよびイオン交換水で洗
浄した後、クロロホルムで再結晶し、150℃で減圧乾
燥8hr行なった。
浄した後、クロロホルムで再結晶し、150℃で減圧乾
燥8hr行なった。
このようにして得た化合物は、っぎの特性測定の結果、
前記一般式で表わされる環状フェノール化合物であるこ
とを確認した。赤外吸収スペクトル: 3300cm
I JとOH基に基づく吸収、融点: 411〜412
℃、および元素分析二〇 、 81.45 (計算値8
1.44)、H、8,71(計算値8.70)〔実施例
1〜6.比較例1〜5〕 第1表に示す組成になるようにエポキシ樹−脂、硬化剤
、無機充填剤およびその他の成分を調製し。
前記一般式で表わされる環状フェノール化合物であるこ
とを確認した。赤外吸収スペクトル: 3300cm
I JとOH基に基づく吸収、融点: 411〜412
℃、および元素分析二〇 、 81.45 (計算値8
1.44)、H、8,71(計算値8.70)〔実施例
1〜6.比較例1〜5〕 第1表に示す組成になるようにエポキシ樹−脂、硬化剤
、無機充填剤およびその他の成分を調製し。
80〜110℃の熱ロールで3〜7分間混練したのち粉
砕し、プレス装置を用いて3100〜1500 kg/
am”の圧力下でタブレ゛ソトを作製した。続いて、
このようにして得たタブレ・ソトを用いて、金型温度が
180℃±5℃、プランジャー圧力が80kg10n”
、成形時間が90geaの条件でトランスファー成形し
、各種の信頼性評価用モニターチ・ソプと各種の評価用
試験片とをそれぞれに作用し、かつこれらの各信頼性評
価用モニターチップおよび各評価用試験片に対して、1
75℃、 ghrO後硬化処理を施した。
砕し、プレス装置を用いて3100〜1500 kg/
am”の圧力下でタブレ゛ソトを作製した。続いて、
このようにして得たタブレ・ソトを用いて、金型温度が
180℃±5℃、プランジャー圧力が80kg10n”
、成形時間が90geaの条件でトランスファー成形し
、各種の信頼性評価用モニターチ・ソプと各種の評価用
試験片とをそれぞれに作用し、かつこれらの各信頼性評
価用モニターチップおよび各評価用試験片に対して、1
75℃、 ghrO後硬化処理を施した。
また、前記のように処理された各評価用試験片を用いて
1曲げ弾性率1曲げ強度、線膨張係数。
1曲げ弾性率1曲げ強度、線膨張係数。
ガラス転移温度および流動性のそれぞれについて測定し
た。その結果を次の第2表ξこ示す。
た。その結果を次の第2表ξこ示す。
さらlこ、前記のように処理された各信頼性評価用モニ
ターチ・ソプを用いて、耐熱信頼性試験、耐湿信頼性試
験および劇冷熱衝撃性試験を次の手段で行なった。その
結果を第3表に示す。
ターチ・ソプを用いて、耐熱信頼性試験、耐湿信頼性試
験および劇冷熱衝撃性試験を次の手段で行なった。その
結果を第3表に示す。
“耐熱信頼性試験”
空気中、250℃の条件で、モニターチップに不良が発
生するまでの時間を測定した。
生するまでの時間を測定した。
・耐湿信頼性試験”
PCT (Pressure Cooker Tes&
) 130℃、2.7気圧の条件で% 1000hr
後でのモニターチップの不良数によって評価した。
) 130℃、2.7気圧の条件で% 1000hr
後でのモニターチップの不良数によって評価した。
”耐冷熱衝撃試験”
一65℃で3Qminと150℃で30toinとを1
サイクルとし、200サイクル後でのモニターチ・ソプ
の不良数によって評価した。
サイクルとし、200サイクル後でのモニターチ・ソプ
の不良数によって評価した。
すなわち、前記第2表から判るように、この実施例での
半導体封止用エポキシ樹脂組成物を用いた場合には、装
置自体の曲げ弾性率9曲げ強度および線膨張係数などの
基本的特性とか、組成物の流動性2どを著しく変えるこ
となく、そのガラス転移温度を高くでキ、シかも、前記
第3表から判るように、装置自体の耐熱性、耐湿性およ
び耐冷熱衝撃性についても非常2ζ優れた特性を有する
ものである。
半導体封止用エポキシ樹脂組成物を用いた場合には、装
置自体の曲げ弾性率9曲げ強度および線膨張係数などの
基本的特性とか、組成物の流動性2どを著しく変えるこ
となく、そのガラス転移温度を高くでキ、シかも、前記
第3表から判るように、装置自体の耐熱性、耐湿性およ
び耐冷熱衝撃性についても非常2ζ優れた特性を有する
ものである。
以上の説明から明らかなように、この発明の半導体封止
用エポキシ樹脂組成物は、基材となるエポキシ樹脂に対
して、硬化剤として1分子中に2個以上の7エノール性
水酸基を有するフェノール樹脂と特定の環状フェノール
化合物とを特定の割合で含有させたので、樹脂封止パ゛
ソケージなどの樹脂封止に必要とされる樹脂組成物の流
動性が保持され、しかもそのものの硬化物は高いガラス
転移温度を有し、耐熱性、耐湿性および耐冷熱衝撃性に
優れる。
用エポキシ樹脂組成物は、基材となるエポキシ樹脂に対
して、硬化剤として1分子中に2個以上の7エノール性
水酸基を有するフェノール樹脂と特定の環状フェノール
化合物とを特定の割合で含有させたので、樹脂封止パ゛
ソケージなどの樹脂封止に必要とされる樹脂組成物の流
動性が保持され、しかもそのものの硬化物は高いガラス
転移温度を有し、耐熱性、耐湿性および耐冷熱衝撃性に
優れる。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (A)1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキ
シ樹脂、 (B)1分子中に2個以上のフェノール性水酸基を有す
るフェノール樹脂、 (C)一般式(1)で表わされる環状フェノール化合物
、および ▲数式、化学式、表等があります▼(1) 式中、Rは水素原子あるいは▲数式、化学式、表等があ
ります▼基 [を表わし、n=4,6あるいは8の整数を表わす。] (D)無機充填剤からなり、上記(B)成分と上記(C
)成分との重量比が(B)/(C)=1.5〜13の範
囲であることを特徴とする半導体封止用エポキシ樹脂組
成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20322089A JPH0366724A (ja) | 1989-08-03 | 1989-08-03 | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20322089A JPH0366724A (ja) | 1989-08-03 | 1989-08-03 | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0366724A true JPH0366724A (ja) | 1991-03-22 |
Family
ID=16470449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20322089A Pending JPH0366724A (ja) | 1989-08-03 | 1989-08-03 | 半導体封止用エポキシ樹脂組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0366724A (ja) |
-
1989
- 1989-08-03 JP JP20322089A patent/JPH0366724A/ja active Pending
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